JPH0248982B2 - - Google Patents
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- JPH0248982B2 JPH0248982B2 JP59181752A JP18175284A JPH0248982B2 JP H0248982 B2 JPH0248982 B2 JP H0248982B2 JP 59181752 A JP59181752 A JP 59181752A JP 18175284 A JP18175284 A JP 18175284A JP H0248982 B2 JPH0248982 B2 JP H0248982B2
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/2407—Tracks or pits; Shape, structure or physical properties thereof
- G11B7/24085—Pits
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/20—Driving; Starting; Stopping; Control thereof
- G11B19/24—Arrangements for providing constant relative speed between record carrier and head
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/10—Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Measuring tape travel
- G11B27/19—Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Measuring tape travel by using information detectable on the record carrier
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- G11B27/24—Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Measuring tape travel by using information detectable on the record carrier by sensing features on the record carrier other than the transducing track ; sensing signals or marks recorded by another method than the main recording
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
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- G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
- G11B7/00745—Sectoring or header formats within a track
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B27/3027—Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Measuring tape travel by using information detectable on the record carrier by using information signals recorded by the same method as the main recording on the same track as the main recording used signal is digitally coded
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光デイスク、および光デイスクにレ
ーザ光を絞つて照射し、信号の記録、再生を行な
う際のアドレスの再生方法に関するものである。
ーザ光を絞つて照射し、信号の記録、再生を行な
う際のアドレスの再生方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点
近年、大容量、高転送レートを目的とした光デ
イスクメモリの開発がさかんに行なわれている。
その中で、光デイスク表面にV字状の溝を形成
し、その対向斜面を1組の信号面として信号を記
録、再生を行ない、容量、転送レートを2倍にす
る方式が提案されている(特願昭57−147133号、
特願昭58−175259号)。この方式は第1図に示し
た様に、斜面AとB、或にはCとD等の互いに隣
り合う2斜面に、第2図の様に第1のレーザスポ
ツト1と第1のレーザとは独立に駆動できる第2
のレーザスポツト2とを絞つて照射することによ
り信号の記録、再生を行なうものである。信号の
記録は、記録媒体薄膜(例へばTeOx、X<2)
の反射率がレーザパワーの照射により変化するこ
とで行なわれる。信号の再生は隣り合う2斜面
(例へばCとD)を同時に読み出す。この再生方
式については前記特許出願の明細書に詳しく示さ
れている様に、V字状溝の形状を最適化すれば、
デイスクからの反射光のうち、±1次光を中心と
して受光することにより、各斜面の信号をそれぞ
れ再生できる。信号のアドレスピツトPiは第3図
に示す様にV字状の溝をカツテイングする際にデ
イスクの深さ方向に、変化を与えることで作る。
第3図でVCはV溝をカツテイングするためカツ
タ、Piはこのカツタを深さ方向にアドレスのビツ
トに対応して振動させてカツテイングされたアド
レスビツトを示している。実際のアドレスピツト
は第3図に示したよりはゆるやかにカツテイング
されるがここでは模式的に示している。アドレス
の再生はこの深さの変化で回折光強度が変化する
ことを利用して、再生用受光素子を用いて読むこ
とができる。しかし第4図の様に隣接するV字状
溝でAとBの斜面にカツテイングされたアドレス
とCとDにカツテイングされたアドレスがデイス
クの半径方向で重なつた様な場合、斜面BとCで
共有される山が両方のアドレスで変調されるので
アドレスを読み誤る可能性がある。以下この点に
ついて説明する。第5図はV溝デイスクの断面図
を示している。例へば、θ=161゜、PT=800nm、
d=134nmとすると、アドレスのカツテイング
のために深さ方向にε=200Åの変化を与えると
V溝の山5は半径方向11にγ=1200Å変化す
る。したがつて第6図の様に隣接するV溝で半径
方向にアドレスNとMが重なつてしまうような場
合が生じると、V溝の斜面BおよびCの共有する
山5はアドレスNとアドレスMによつて変調され
ることになり、第7図のようにV溝3にカツテイ
ングされたアドレスNを再生するためのレーザス
ポツト2にV溝4にカツテイングされたアドレス
Mの影響が生じ、アドレスNを読み誤る恐れがあ
つた。
イスクメモリの開発がさかんに行なわれている。
その中で、光デイスク表面にV字状の溝を形成
し、その対向斜面を1組の信号面として信号を記
録、再生を行ない、容量、転送レートを2倍にす
る方式が提案されている(特願昭57−147133号、
特願昭58−175259号)。この方式は第1図に示し
た様に、斜面AとB、或にはCとD等の互いに隣
り合う2斜面に、第2図の様に第1のレーザスポ
ツト1と第1のレーザとは独立に駆動できる第2
のレーザスポツト2とを絞つて照射することによ
り信号の記録、再生を行なうものである。信号の
記録は、記録媒体薄膜(例へばTeOx、X<2)
の反射率がレーザパワーの照射により変化するこ
とで行なわれる。信号の再生は隣り合う2斜面
(例へばCとD)を同時に読み出す。この再生方
式については前記特許出願の明細書に詳しく示さ
れている様に、V字状溝の形状を最適化すれば、
デイスクからの反射光のうち、±1次光を中心と
して受光することにより、各斜面の信号をそれぞ
れ再生できる。信号のアドレスピツトPiは第3図
に示す様にV字状の溝をカツテイングする際にデ
イスクの深さ方向に、変化を与えることで作る。
第3図でVCはV溝をカツテイングするためカツ
タ、Piはこのカツタを深さ方向にアドレスのビツ
トに対応して振動させてカツテイングされたアド
レスビツトを示している。実際のアドレスピツト
は第3図に示したよりはゆるやかにカツテイング
されるがここでは模式的に示している。アドレス
の再生はこの深さの変化で回折光強度が変化する
ことを利用して、再生用受光素子を用いて読むこ
とができる。しかし第4図の様に隣接するV字状
溝でAとBの斜面にカツテイングされたアドレス
とCとDにカツテイングされたアドレスがデイス
クの半径方向で重なつた様な場合、斜面BとCで
共有される山が両方のアドレスで変調されるので
アドレスを読み誤る可能性がある。以下この点に
ついて説明する。第5図はV溝デイスクの断面図
を示している。例へば、θ=161゜、PT=800nm、
d=134nmとすると、アドレスのカツテイング
のために深さ方向にε=200Åの変化を与えると
V溝の山5は半径方向11にγ=1200Å変化す
る。したがつて第6図の様に隣接するV溝で半径
方向にアドレスNとMが重なつてしまうような場
合が生じると、V溝の斜面BおよびCの共有する
山5はアドレスNとアドレスMによつて変調され
ることになり、第7図のようにV溝3にカツテイ
ングされたアドレスNを再生するためのレーザス
ポツト2にV溝4にカツテイングされたアドレス
Mの影響が生じ、アドレスNを読み誤る恐れがあ
つた。
発明の目的
本発明の目的は以上に述べた様に、V溝デイス
クに信号を記録再生するに際し、デイスク上の隣
接するV溝のアドレスが半径方向で重なつた場
合、アドレスの読み誤りが生じるという従来の問
題点を解決した光デイスクの提供およびこの光デ
イスクにおけるアドレスの正確な再生方法を提供
することである。
クに信号を記録再生するに際し、デイスク上の隣
接するV溝のアドレスが半径方向で重なつた場
合、アドレスの読み誤りが生じるという従来の問
題点を解決した光デイスクの提供およびこの光デ
イスクにおけるアドレスの正確な再生方法を提供
することである。
発明の構成
本発明は半径方向の断面がV字状の回折光であ
る光デイスクに、デイスクのアドレス領域として
アドレスのカツテイング長の少くとも2倍の長さ
を確保し、かつV字状溝の半径方向でアドレスが
重らぬ様カツテイングされた光デイスクである。
る光デイスクに、デイスクのアドレス領域として
アドレスのカツテイング長の少くとも2倍の長さ
を確保し、かつV字状溝の半径方向でアドレスが
重らぬ様カツテイングされた光デイスクである。
また本発明は前記デイスクのアドレスを再生す
る時に前記V溝の両斜面上に絞つて照射した2つ
のレーザが同一のアドレスを検出したときに真の
アドレスとして再生を行うものであり、上記の方
法でV字状溝を有す光デイスクのアドレスの正確
な再生を可能にするものである。
る時に前記V溝の両斜面上に絞つて照射した2つ
のレーザが同一のアドレスを検出したときに真の
アドレスとして再生を行うものであり、上記の方
法でV字状溝を有す光デイスクのアドレスの正確
な再生を可能にするものである。
実施例の説明
以下に本発明の実施例を図面を参照しながら説
明する。
明する。
第8図aは、等角速度駆動(以下CAVと略す)
でV溝デイスクに信号の記録再生を行なう場合の
V溝デイスク上にアドレスのカツテイングされた
状態を示している。この様にCAVで信号の記録
再生を行うときにはアドレス領域にはデイスクの
半径方向に並ぶ。AとB、CとD、EとF、がそ
れぞれ1組で第8図bの様にV溝の2斜面をそれ
ぞれ表わしている。第8図bの8はアドレス領域
を示している。信号のアドレス長、アドレスの始
まりを示すアドレスマーク、アドレスのエラーを
監視するためのエラーテエツクコード等を含めた
アドレスビツト数をLとすると、このアドレス領
域8は最低2Lビツトの情報をカツテイングする
ことができる物理的な長さを確保している。
でV溝デイスクに信号の記録再生を行なう場合の
V溝デイスク上にアドレスのカツテイングされた
状態を示している。この様にCAVで信号の記録
再生を行うときにはアドレス領域にはデイスクの
半径方向に並ぶ。AとB、CとD、EとF、がそ
れぞれ1組で第8図bの様にV溝の2斜面をそれ
ぞれ表わしている。第8図bの8はアドレス領域
を示している。信号のアドレス長、アドレスの始
まりを示すアドレスマーク、アドレスのエラーを
監視するためのエラーテエツクコード等を含めた
アドレスビツト数をLとすると、このアドレス領
域8は最低2Lビツトの情報をカツテイングする
ことができる物理的な長さを確保している。
第9図aではこのアドレス領域8を3,4,
6,7で示すように2等分し、半径方向で隣接す
るV溝で3,7のような領域に第8図bに示す様
に交互にアドレスのカツテイングすることによ
り、アドレスが重らぬ様にできるので再生ビーム
1および2でのアドレスの読み出しが可能とな
る。以下この点について説明する。今2組の隣接
する溝AとBおよびCとDに着目する。AとBで
構成される1組のV溝のアドレス領域を2等分し
た部分を第9図aに示す様に3と6とする。同様
に、CとDで構成される1組のアドレス領域を2
等分した部分を4と7とする。第9図aでは3と
7の部分にアドレスをカツテイングした様子を示
した。第9図bは第9図aの正面図で深さ方向に
アドレスをカツテイングたときのV溝のトラツク
幅PTの変化を示している。トラツクAとBに隣
接するトラツクCとDではアドレスをアドレス領
域の4ではなく7のアドレス領域にカツテイング
する。こうすることにより、トラツクBとCの境
界の山5はアドレスNとアドレスMによつて独立
に変化するのでアドレスNおよびアドレスMはレ
ーザスポツト1と2によつて正確に再生すること
ができる。
6,7で示すように2等分し、半径方向で隣接す
るV溝で3,7のような領域に第8図bに示す様
に交互にアドレスのカツテイングすることによ
り、アドレスが重らぬ様にできるので再生ビーム
1および2でのアドレスの読み出しが可能とな
る。以下この点について説明する。今2組の隣接
する溝AとBおよびCとDに着目する。AとBで
構成される1組のV溝のアドレス領域を2等分し
た部分を第9図aに示す様に3と6とする。同様
に、CとDで構成される1組のアドレス領域を2
等分した部分を4と7とする。第9図aでは3と
7の部分にアドレスをカツテイングした様子を示
した。第9図bは第9図aの正面図で深さ方向に
アドレスをカツテイングたときのV溝のトラツク
幅PTの変化を示している。トラツクAとBに隣
接するトラツクCとDではアドレスをアドレス領
域の4ではなく7のアドレス領域にカツテイング
する。こうすることにより、トラツクBとCの境
界の山5はアドレスNとアドレスMによつて独立
に変化するのでアドレスNおよびアドレスMはレ
ーザスポツト1と2によつて正確に再生すること
ができる。
次にアドレスの再生方法について述べる。信号
の再生はデイスク上に絞られた2つのスポツト
1,2の反射光を、従来例で説明した方法と同様
な方法で再生できる。2つのレーザスポツト1,
2の反射光9,10(第10図)はそれぞれ斜面
A、Bの信号を含んでおり第10図a、bに示す
2つの光検出器D1,D2で受光され、信号の再生
が行なわれる。アドレスの再生も基本的には信号
の再生と同様に行うことができ、光検出器D1,
D2で同じアドレスが検出されたときにアドレス
を読めばよい。例へば第11図で再生スポツト1
1,12がアドレス領域6を通過すると光検出器
D1はレーザスポツト11の反射光9によりアド
レスPを検出するが、光検出器D2はレーザスポ
ツト12の反射溝10によりアドレスQを検出す
るので読まないが、再生スポツト11,12がア
ドレス領域4を通過するときには光検出器D1、
D2はレーザスポツト11,12の反射光9,1
0により同じアドレスMを検出するので、アドレ
スとして再生することができる。第12図にアド
レス再生回路の構成を示す。第12図において、
D1、D2は光検出器、13,14はアドレス信号
の増幅器、15,16は信号の増幅器、17,1
8はアドレス復調器、19はアドレスの一致検出
回路、20は一致検出回路がアドレスの一致を検
出したとき、アドレス出力を出すアドレスバツフ
アである。第12図で反射光9,10は光検出器
D1、D2で検出され、その信号は13〜16までの増
幅器で増幅され、アドレスの場合にはデイスク上
の変調されたアドレスを復調するアドレス復調回
路17,18を通り、一致検出回路19に入力さ
れる。一致検出回路19では光検出器D1、D2に
入つてきたアドレスが同一であるか否かを検出
し、同一の場合にはアドレスバツフア20よりア
ドレスがコントローラにとりこまれる。この様に
2つのスポツトで同じアドレスを読むことによ
り、アドレスの正確な読み取りが可能になる。な
おV溝デイスク上のレーザスポツト11,12は
第11図に示した様にデイスクの半径方向にそろ
つている必要はなく第13図の様にトラツク方向
にSだけずれていてもよい。この場合にはレーザ
スポツト12′がレーザスポツト11′よりもアド
レスNを先に読むことになる。この場合には第1
4図に示した様に、レーザスポツト11′のアド
レス読み取り時間の遅れをデイレイ回路DLを入
れて補償しておけばよい。
の再生はデイスク上に絞られた2つのスポツト
1,2の反射光を、従来例で説明した方法と同様
な方法で再生できる。2つのレーザスポツト1,
2の反射光9,10(第10図)はそれぞれ斜面
A、Bの信号を含んでおり第10図a、bに示す
2つの光検出器D1,D2で受光され、信号の再生
が行なわれる。アドレスの再生も基本的には信号
の再生と同様に行うことができ、光検出器D1,
D2で同じアドレスが検出されたときにアドレス
を読めばよい。例へば第11図で再生スポツト1
1,12がアドレス領域6を通過すると光検出器
D1はレーザスポツト11の反射光9によりアド
レスPを検出するが、光検出器D2はレーザスポ
ツト12の反射溝10によりアドレスQを検出す
るので読まないが、再生スポツト11,12がア
ドレス領域4を通過するときには光検出器D1、
D2はレーザスポツト11,12の反射光9,1
0により同じアドレスMを検出するので、アドレ
スとして再生することができる。第12図にアド
レス再生回路の構成を示す。第12図において、
D1、D2は光検出器、13,14はアドレス信号
の増幅器、15,16は信号の増幅器、17,1
8はアドレス復調器、19はアドレスの一致検出
回路、20は一致検出回路がアドレスの一致を検
出したとき、アドレス出力を出すアドレスバツフ
アである。第12図で反射光9,10は光検出器
D1、D2で検出され、その信号は13〜16までの増
幅器で増幅され、アドレスの場合にはデイスク上
の変調されたアドレスを復調するアドレス復調回
路17,18を通り、一致検出回路19に入力さ
れる。一致検出回路19では光検出器D1、D2に
入つてきたアドレスが同一であるか否かを検出
し、同一の場合にはアドレスバツフア20よりア
ドレスがコントローラにとりこまれる。この様に
2つのスポツトで同じアドレスを読むことによ
り、アドレスの正確な読み取りが可能になる。な
おV溝デイスク上のレーザスポツト11,12は
第11図に示した様にデイスクの半径方向にそろ
つている必要はなく第13図の様にトラツク方向
にSだけずれていてもよい。この場合にはレーザ
スポツト12′がレーザスポツト11′よりもアド
レスNを先に読むことになる。この場合には第1
4図に示した様に、レーザスポツト11′のアド
レス読み取り時間の遅れをデイレイ回路DLを入
れて補償しておけばよい。
以下本発明の他の実施例例について図面を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
第15図にV溝光デイスクに等線速度駆動(以
下CLVと略す)の場合における本発明の実施例
を示す。第15図で斜線部がアドレス領域を示
し、21〜24がそれぞれV溝を表わしている。
この場合信号のアクセスの基本単位をlバイトと
すると、このlバイトが占める記録の物理的な長
さは光デイスクの外周、内周にかかわらずどこで
も一定である。この長さをRLとし、このRLは信
号のアドレスを含むものとする。前の実施例で示
したCAVの場合の様にアドレスが半径方向に全
ては並ばぬがこの場合にも第16図に示したアド
レス領域が半径方向に重なつてしまう様な場合が
ある。それはRLの整数倍が、光デイスクの中心
CEから注目しているV溝V1の半径γの2π倍(π
は円周率)となつたときである。つまりN・RL
=2πγ(N:整数) なるときである。第16図に示す様に隣接する溝
V0,V1,V2に注目する。このときあるV溝と隣
接するV溝の間隔を2Pとすると、今注目してい
る溝V1と一つ外側の溝V2又は1つ内側の溝V0の
円周の差δは、約2π・2Pある。今2P=1.6(μm)
とすると、δ10(μm)となる。V1にあるアド
レス26とV0にあるアドレス25又はV2にある
アドレス27は、アドレス長ARがδよりも長く
なれば半径方向で重なつてしまい、前の実施例で
述べたと同様の理由で、アドレス25,26,2
7を正確に読むことが難かしくなる。この難点を
解決するために本実施例では第17図に示す様に
アドレス領域の長さをカツテイングに必要な物理
的長さの2倍(2・AR)に、δを加えたものに
して、アドレス領域9の両端にアドレスのカツテ
イングする領域をもうけ、アドレス領域の中央付
近にアドレスをカツテイングしない領域8をもう
ける。
下CLVと略す)の場合における本発明の実施例
を示す。第15図で斜線部がアドレス領域を示
し、21〜24がそれぞれV溝を表わしている。
この場合信号のアクセスの基本単位をlバイトと
すると、このlバイトが占める記録の物理的な長
さは光デイスクの外周、内周にかかわらずどこで
も一定である。この長さをRLとし、このRLは信
号のアドレスを含むものとする。前の実施例で示
したCAVの場合の様にアドレスが半径方向に全
ては並ばぬがこの場合にも第16図に示したアド
レス領域が半径方向に重なつてしまう様な場合が
ある。それはRLの整数倍が、光デイスクの中心
CEから注目しているV溝V1の半径γの2π倍(π
は円周率)となつたときである。つまりN・RL
=2πγ(N:整数) なるときである。第16図に示す様に隣接する溝
V0,V1,V2に注目する。このときあるV溝と隣
接するV溝の間隔を2Pとすると、今注目してい
る溝V1と一つ外側の溝V2又は1つ内側の溝V0の
円周の差δは、約2π・2Pある。今2P=1.6(μm)
とすると、δ10(μm)となる。V1にあるアド
レス26とV0にあるアドレス25又はV2にある
アドレス27は、アドレス長ARがδよりも長く
なれば半径方向で重なつてしまい、前の実施例で
述べたと同様の理由で、アドレス25,26,2
7を正確に読むことが難かしくなる。この難点を
解決するために本実施例では第17図に示す様に
アドレス領域の長さをカツテイングに必要な物理
的長さの2倍(2・AR)に、δを加えたものに
して、アドレス領域9の両端にアドレスのカツテ
イングする領域をもうけ、アドレス領域の中央付
近にアドレスをカツテイングしない領域8をもう
ける。
この領域内で第17図の様に、アドレス領域9
のアドレスカツテイング領域の前半、後半、前半
の様に隣接するV溝でアドレス28,29,30
が半径方向に重らぬ様にカツテイングする。この
場合のアドレス28,29,30は必ずしも一連
のアドレスではないが、アクセスの基本単位lと
アドレスのフオーマツトが決定し、アドレスのカ
ツテイングに必要なビツト長が決まると、アドレ
ス領域とその領域にカツテイングするアドレスと
カツテイングする領域は一義的に前もつて決定す
ることができる。アドレスの再生は、前の実施例
で説明したと同様に行なうことができる。以上の
ようにアドレスをカツテイングすることで、V溝
光デイスクにCLVでカツテイングされたアドレ
スをより正確に読むことが可能となる。
のアドレスカツテイング領域の前半、後半、前半
の様に隣接するV溝でアドレス28,29,30
が半径方向に重らぬ様にカツテイングする。この
場合のアドレス28,29,30は必ずしも一連
のアドレスではないが、アクセスの基本単位lと
アドレスのフオーマツトが決定し、アドレスのカ
ツテイングに必要なビツト長が決まると、アドレ
ス領域とその領域にカツテイングするアドレスと
カツテイングする領域は一義的に前もつて決定す
ることができる。アドレスの再生は、前の実施例
で説明したと同様に行なうことができる。以上の
ようにアドレスをカツテイングすることで、V溝
光デイスクにCLVでカツテイングされたアドレ
スをより正確に読むことが可能となる。
発明の効果
以上の様に本発明はV溝光デイスクに、V溝形
成時に、アドレス領域を、アドレスのカツテイン
グに必要な長さの少くなくとも2倍の長さをと
り、信号のアドレスが隣接するV溝の半径方向で
重らない様に、アドレス領域内でアドレスをカツ
テイングする場所を決めることで、V溝光デイス
ク上の信号のより正確な読み取りを可能にするこ
とができ、その実用的効果は大なるものがある。
成時に、アドレス領域を、アドレスのカツテイン
グに必要な長さの少くなくとも2倍の長さをと
り、信号のアドレスが隣接するV溝の半径方向で
重らない様に、アドレス領域内でアドレスをカツ
テイングする場所を決めることで、V溝光デイス
ク上の信号のより正確な読み取りを可能にするこ
とができ、その実用的効果は大なるものがある。
また本発明は2つのレーザでそれぞれ再生した
アドレスが一致したときに真のアドレスとするこ
とにより、アドレスの正確な読取りを行なうこと
ができる。
アドレスが一致したときに真のアドレスとするこ
とにより、アドレスの正確な読取りを行なうこと
ができる。
第1図はV溝光デイスクの部分断面図、第2図
はV溝光デイスク上に照射されたレーザスポツト
を示す図、第3図はV溝光デイスクの深さ方向に
カツテイングされたアドレスのピツトおよびピツ
トをカツテイングするカツタを示す図、第4図は
隣接するV溝でアドレスが重なつた場合を示す
図、第5図は深さ方向にアドレスをカツテイング
したときのV溝の変化を示す図、第6図はV溝デ
イスクのアドレスが半径方向で重なつた場合を示
す図、第7図は従来例におけるV溝のアドレスと
その再生について示す正面図、第8図aはCAV
で信号再生する際の本発明の一実施例におけるア
ドレス領域を示す図、第8図bは本発明の一実施
例におけるデイスク上のアドレスを示す図、第9
図aは本発明の一実施例におけるアドレスピツト
を示す斜視図、第9図bは本発明の一実施例にお
けるデイスク上のアドレスを示す正面図、第10
図はV溝デイスクの信号再生のための光検出器と
反射レーザビームを示す図、第11図は本発明に
おけるデイスクのアドレス領域にアドレスが記録
された様子を示す図、第12図は本発明の一実施
例におけるアドレスおよび信号再生のための回路
構成を示す回路図、第13図は2つのレーザスポ
ツトがデイスク回転方向で離れている場合を示す
図、第14図は2つのレーザスポツトがデイスク
回転方向に離れている場合のアドレス再生回路を
示す回路図、第15図は等線速駆動(CLV)で
信号の記録再生を行なう場合の本発明の一実施例
におけるデイスク上のアドレスを示す図、第16
図は従来例においてCLVで信号の記録再生を行
う際のアドレスの重なりを示す図、第17図は本
発明におけるアドレス領域とアドレスがカツテイ
ングされた様子を示す図である。 1,2,11,12……レーザスポツト、3,
4,6,7……アドレスカツテイングエリア、8
……アドレス領域、5……V溝の山、9,10…
…反射されたレーザスポツト、17,18……ア
ドレス復調回路、19……一致検出回路、Pi……
アドレスピツト、VC……V溝とアドレスのカツ
タ、PT……V溝信号トラツクの幅、M,N,P,
Q……アドレス信号、D1,D2……光検出器、S
……2つのスポツト間の距離。
はV溝光デイスク上に照射されたレーザスポツト
を示す図、第3図はV溝光デイスクの深さ方向に
カツテイングされたアドレスのピツトおよびピツ
トをカツテイングするカツタを示す図、第4図は
隣接するV溝でアドレスが重なつた場合を示す
図、第5図は深さ方向にアドレスをカツテイング
したときのV溝の変化を示す図、第6図はV溝デ
イスクのアドレスが半径方向で重なつた場合を示
す図、第7図は従来例におけるV溝のアドレスと
その再生について示す正面図、第8図aはCAV
で信号再生する際の本発明の一実施例におけるア
ドレス領域を示す図、第8図bは本発明の一実施
例におけるデイスク上のアドレスを示す図、第9
図aは本発明の一実施例におけるアドレスピツト
を示す斜視図、第9図bは本発明の一実施例にお
けるデイスク上のアドレスを示す正面図、第10
図はV溝デイスクの信号再生のための光検出器と
反射レーザビームを示す図、第11図は本発明に
おけるデイスクのアドレス領域にアドレスが記録
された様子を示す図、第12図は本発明の一実施
例におけるアドレスおよび信号再生のための回路
構成を示す回路図、第13図は2つのレーザスポ
ツトがデイスク回転方向で離れている場合を示す
図、第14図は2つのレーザスポツトがデイスク
回転方向に離れている場合のアドレス再生回路を
示す回路図、第15図は等線速駆動(CLV)で
信号の記録再生を行なう場合の本発明の一実施例
におけるデイスク上のアドレスを示す図、第16
図は従来例においてCLVで信号の記録再生を行
う際のアドレスの重なりを示す図、第17図は本
発明におけるアドレス領域とアドレスがカツテイ
ングされた様子を示す図である。 1,2,11,12……レーザスポツト、3,
4,6,7……アドレスカツテイングエリア、8
……アドレス領域、5……V溝の山、9,10…
…反射されたレーザスポツト、17,18……ア
ドレス復調回路、19……一致検出回路、Pi……
アドレスピツト、VC……V溝とアドレスのカツ
タ、PT……V溝信号トラツクの幅、M,N,P,
Q……アドレス信号、D1,D2……光検出器、S
……2つのスポツト間の距離。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 半径方向の断面がV字状の溝を有し、前記V
字状溝に沿つて深さ方向にカツテイングされるア
ドレスのアドレス領域が前記アドレスのV字状溝
に沿つたカツテイング長の少なくとも2倍の長さ
を有し、かつ隣接するV字状溝で前記カツテイン
グされたアドレスが半径方向に重ならないように
アドレス領域内でアドレスがカツテイングされて
いることを特徴とする光デイスク。 2 アドレス領域が、V字状溝に沿つて前半の領
域と後半の領域に、2等分され、かつ前記前半ま
たは後半の領域に、隣接するV字状溝の半径方向
で重ならないように、交互にアドレスがカツテイ
ングされ、等角速度駆動されて記録または再生さ
れる特許請求の範囲第1項記載の光デイスク。 3 アドレス領域が、少なくともアドレスのカツ
テイング長の2倍の長さにV字状溝の幅の2π倍
の長さを加えた長さを有し、等線速度駆動されて
記録または再生される特許請求の範囲第1項記載
の光デイスク。 4 半径方向の断面がV字状の溝を有し、前記V
字状溝に沿つて深さ方向にカツテイングされるア
ドレスのアドレス領域が前記アドレスのV字状溝
に沿つたカツテイング長の少なくとも2倍の長さ
を有し、かつ隣接するV字状溝で前記カツテイン
グされたアドレスが半径方向に重ならないように
アドレス領域内でアドレスがカツテイングされて
いる光デイスクの隣り合う2つの斜面上に、独立
に駆動できる2つのレーザを絞つて照射し、前記
2斜面上に独立に信号を記録または再生する際
に、前記2つのレーザでそれぞれ再生したアドレ
スが一致した場合に真のアドレスとすることを特
徴とする光デイスクのアドレス再生方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181752A JPS6161237A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 光デイスクおよび光デイスクのアドレス再生方法 |
| US06/768,843 US4712204A (en) | 1984-08-31 | 1985-08-23 | Optical disk and method for reproducing reference signal therefrom |
| EP85110716A EP0176755B1 (en) | 1984-08-31 | 1985-08-26 | Optical disk and method for reproducing reference signal therefrom |
| DE8585110716T DE3574644D1 (de) | 1984-08-31 | 1985-08-26 | Optische platte und verfahren zur erzeugung eines signals davon. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181752A JPS6161237A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 光デイスクおよび光デイスクのアドレス再生方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6161237A JPS6161237A (ja) | 1986-03-29 |
| JPH0248982B2 true JPH0248982B2 (ja) | 1990-10-26 |
Family
ID=16106264
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59181752A Granted JPS6161237A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 光デイスクおよび光デイスクのアドレス再生方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6161237A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6163930A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-04-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 円盤状記録担体及び円盤状記録担体のアドレス信号再生装置 |
| JPH07105050B2 (ja) * | 1986-05-20 | 1995-11-13 | 松下電器産業株式会社 | 光デイスクのアドレス再生回路 |
| JPH01134727A (ja) * | 1987-11-19 | 1989-05-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクおよびそのアドレス記録再生回路 |
| JP2868682B2 (ja) | 1992-05-15 | 1999-03-10 | シャープ株式会社 | 光ディスク |
| JPH06333237A (ja) * | 1993-05-19 | 1994-12-02 | Nec Corp | 光学情報記録媒体及び光学情報の記録・消去・再生方法 |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP59181752A patent/JPS6161237A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6161237A (ja) | 1986-03-29 |
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