JPH0249573Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は被測定回路をサンプリング測定するサ
ンプリング測定装置に関するもので、その目的は
零ドリフトを有する被測定回路を零ドリフトの影
響を受けることなくサンプリング測定することの
できるサンプリング測定装置を提供することにあ
る。

以下図面を用いて本考案を詳説する。第１図は
本考案に係るサンプリング測定装置の一実施例を
示すブロツク線図である。第１図において、１は
第２図イに示すような周波数₀の基準クロツクを
発生する発振器、２は基準クロツクを１／Ｎ（Ｎ
は整数）に分周し第２図ロに示すような周波数
₀／Ｎの分周パルスを発生する分周器、３はパル
ス発生器で、発振器１の基準クロツクによりトリ
ガされ分周器２の分周パルスでON−OFF変調さ
れた第２図ハに示すようなパルスを発生するもの
である。４はサンプリングパルス発生器で、前記
基準クロツクが与えられこれに同期し任意に選定
し得る一定時間遅延したサンプリングパルスを発
生するものである。５は被測定回路で、その入力
端にパルス発生器の出力パルスが与えられること
により時間と共に変化する電気信号を送出するも
ので例えば信号伝送線などである。６はサンプラ
で、前記サンプリングパルスによつて駆動され被
測定回路５の出力をサンプルホールドするもので
ある。７は同期整流器で、サンプラ６の出力を前
記分周パルスで同期整流するものである。８は平
滑器である。

このような構成において、パルス発生器３は、
発振器１から出力される第２図イに示す基準クロ
ツク及び分周器２から出力される第２図ロに示す
出力パルスを受け、この出力パルスすなわち分周
パルスでON−OFF変調されて第２図ハに示すよ
うな変調パルスを発生する。被測定回路５は、こ
の変調パルスが与えられると、例えば第２図ホの
点線で示す如く、入力の変調パルスに対応した初
期値から指数関数的に減少し、基準クロツクの１
周期内に零に落着くような繰り返し波形を送出す
る。サンプリングパルス発生器４よりサンプリン
グパルスがサンプラ６に与えられる。なお、この
サンプリングパルスは第２図ニに示すような基準
クロツクよりt_d時間遅れて発生する。サンプラ６
はサンプリングパルスにより駆動され第２図ホに
示すように被測定回路５の出力をサンプルホール
ドする。すなわち、被測定回路５の零出力e₀と作
動時の出力e₁とをサンプルホールドする。このホ
ールド値は同期整流器７において分周器２の分周
パルスで同期整流される。すなわち、分周器２の
出力がHIGHレベルのときはサンプラ６のサンプ
ルホールド値が極性反転なしにそのまま取り出さ
れ、分周器２の出力がLOWレベルのときはサン
プラ６のサンプルホールド値が極性反転して取り
出される。したがつて、分周器２の出力がHIGH
レベルのときは第２図ホのホールド値e₁がそのま
ま出力され、分周器２の出力がLOWレベルのと
きは第２図ホのホールド値e₀（零レベルの値）を
極性反転した値（−e₀）が出力される。この出力
を平滑器８を通して平滑化することにより、第２
図ヘに示すような直流出力（e₁−e₀）が得られ
る。

なお、被測定回路５およびサンプラ６に全体と
してΔeの零ドリフトがあつた場合（通常、零ド
リフトはゆつくりと変化するものであり、分周器
２の出力の隣り合うHIGH，LOW間のように短
い期間では実質上変化しない程度のものである）
には、サンプラ６からの出力はそれぞれe₁＋Δe
とe₀＋Δeとなる。しかし、同期整流および平滑
化した直流出力はe₁＋Δe−（e₀＋Δe）＝e₁−e₀と
なり、結局この直流出力は零ドリフトの影響を受
けないものとなつている。

なお、サンプリング出力測定こどにサンプリン
グパルス発生器４において遅延時間t_dを漸次変化
させれば、被測定回路５の出力波形（第２図ホの
点線部）の各点を順次サンプリングすることがで
き、平滑器８からは被測定回路５の出力波形に対
応したサンプリング出力（直流出力）を得ること
ができる。この場合、遅延時間t_dを順次変更する
周期いわゆるサンプリング走査速度の周期は分周
パルスの１周期より長く選定される必要がある。

なお、分周パルスは基準クロツクを分周しかつ
同期したパルスに限つたことはなく、Ｎが極めて
大きい場合すなわち分周パルスの周波数が基準ク
ロツクの周波数に比べて極めて低い場合は分周パ
ルスは基準クロツクに非同期であつてよい。ま
た、平滑器８として積分形の平滑器を使用しかつ
分周パルスの周波数を電源周波数の1/2に選定す
れば、電源周波数のノイズ除去効果は飛躍的に増
大する。この場合倍調波ノイズは同期整流により
直流出力において零となる。

以上説明したように、本考案のサンプリング測
定装置によれば、一定周期の分周パルスでON−
OFF変調された変調パルスで被測定回路を作動
させ、これにより間欠的に繰り返し波形を出力さ
せ、所定の遅れ時間を有するサンプリングパルス
により被測定回路の出力を一定時間間隔でサンプ
ルホールドし、このホールド信号を前記分周パル
スで同期整流し次いで平滑することにより、被測
定回路及びサンプラーの零ドリフトに影響される
ことなく被測定回路の出力波形をサンプリングす
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案に係るサンプリング測定装置の
一実施例を示すブロツク線図、第２図は第１図装
置の各部の動作波形図である。 １……発振器、２……分周器、３……パルス発
生器、４……サンプリングパルス発生器、５……
被測定回路、６……サンプラ、７……同期整流
器、８……平滑器。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 基準クロツクを発生する発振器と、 前記基準クロツクを１／Ｎに分周した分周パル
   ス又は前記基準クロツクに同期もしくは非同期で
   基準クロツクの周波数に比べて充分に低い周波数
   のパルスを発生する分周器と、 前記基準クロツクによりトリガされ前記分周器
   の出力パルスでON−OFF変調されたパルスを発
   生するパルス発生器と、 前記基準クロツクと同期し所定の時間遅延した
   サンプリングパルスを発生すると共にその遅延時
   間を特定の周期で変化させ得るサンプリングパル
   ス発生器と、 このパルス発生器の出力を入力としその入力パ
   ルスに応答して時間と共に変化する電気信号を出
   力する被測定回路の出力を前記サンプリングパル
   スによつてサンプルホールドするサンプラと、 このサンプラの出力を前記分周器の出力パルス
   で同期整流する同期整流器と、 この同期整流器の出力を平滑化する平滑器を具
   備し、前記サンプリングパルス発生器の遅延時間
   を変えて任意のタイミングにおける被測定回路の
   出力波形に対応した値を平滑器より得るようにし
   たことを特徴とするサンプリング測定装置。