JPH02503236A - 表面検出装置 - Google Patents

表面検出装置

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JPH02503236A
JPH02503236A JP1502740A JP50274089A JPH02503236A JP H02503236 A JPH02503236 A JP H02503236A JP 1502740 A JP1502740 A JP 1502740A JP 50274089 A JP50274089 A JP 50274089A JP H02503236 A JPH02503236 A JP H02503236A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 表面検出装置 技術分野 本発明は、位置測定装置において用いられる表面検出装置に関する0本願発明は 添付した請求の範囲に詳細に記される。
図面の簡単な説明 添付した図面を参照して本発明装置の実施例を詳細に説明する。
第1図はプローブヘッドを部分断面で示す立面図である。
第2図は上記プローブヘッドを具えた座標測定機械の立面図である。
第3図は上記座標測定機械およびプローブヘッドの電気部品を制御するよう構成 されたコンピュータを示す系統図である。
第4図はその輪郭が上記測定機械およびプローブヘッドによりて測定されるワー クピースの斜視図である。
第5図は上記ワークピースの立面図である。
第6図は第5図の平面図である。
第7図は第6図の■−■線断面図である。
第8図は第6図の■−■線断面図である。
第9図は上記座標測定機械およびプローブヘッドの走査を制御するための制御シ ステムの図である。
′s10図は′s1図の詳細であり、第1図に示されるモータの変形を示す図で ある。
第11図は第5図と同様の図であり、上記プローブヘッドの撓みを示す図である 。
発明を実施するための最良の形態 第1図を参照するに、軸線10Aに沿って延在する細長いスタイラスlOは、球 形の検出部11を具え、この検出部を介してその輪郭が測定されるワークピース 12の表面12^との係合がなされる。2つの板ばね13,14はハウジング1 5とスタイラス10との間で固定され、これら板ばねはスタイラスを支持し、こ れによりスタイラスは軸線10Aの方向でハウジング15に相対して距11D1 に渡って直線的に変位することができる。ハウジング15とスタイラスlOとの 間に配置されるモータ旧は、スタイラスに軸線lO^の方向の力Flを作用する ように設けられる。また、変換器TIが、スタイラスのハウジング15に相対し た軸方向位置を検出するよう備えられをある程度ハウジング15から離すように 付勢している。スタイラス10上に設けられたストレインゲージシステム16は 、軸線10Aを横断する方向で検出部11に作用するあらゆる力F2を検出する ように設けられている。力Fl、F2は、球形の検出部11の中心である点Bを 通って作用するものとする。システム16の出力はSで示され、それぞれ軸線2 0Aに垂直および平行な分力SX、S、(あるいはs−、y)の合力である。
ハウジング15はモータM2を介してハウジング20に支持され、このモータM 2は、ハウジング15を軸線10Aに垂直な軸線20^の回りに角変位させる。
ハウジング15と20との間に配設される変換器T2は、上記角変位の角度D2 を検出するように設けられる。ハウジング20はモータM3を介してハウジング 30に支持され、モータM3は軸線20^に垂直な軸線30Aの回りにハウジン グ20を角変位させる。変換器T3は、上記軸線30^回りの角変位の角度D3 を検出するように設けられる。軸線20A。
30Aは好ましくは固定された関係を有し、この場合これら軸線は共通点Iで交 差する。ここまで記述されてきた装置はプローブヘッドPHを構成する。
プローブヘッドPHは、構造あるいはアーム17を構成し、アーム17は、みか け上固定されたものとみなされる部材40に固定された端部17Aと、検出部1 1によって示される自由端部17Bとを有している。アーム17は、また、端部 17^と軸!520Aとの間で延在する第1部分17C,軸線20^とハウジン グ15との間で延在する゛第2部分17D、およびスタイラス10によフて示さ れるtSS部分を有するものとみなすこともできる。
プローブヘッドPHは座標測定機械CMM (第2図)と共に用いるためのもの であり、この座標測定機械は、z軸方向に直線的な変位をするための部材50上 に支持される部材40%X軸方向に直線的な変位をするための部材60上に支持 される部材50、およびY軸方向に直線的な変位をするためのベース61上に支 持される部材60を具える。軸x、y、zは互いに垂直である。使用にあたって は、プローブヘッドは端部17Aを介して機械CMMに接続される。端部17^ は、好ましくは部材40に固定され、この場合、軸線3OAと2軸はその方向が 一致する。
部材40,50.60は、それぞれモータMX、MY、MZeよりx、y、z方 向に駆動され、これら部材のそれぞれx、y、z方向におけるそのときどきの位 置はそれぞれ変換器TX、TY、TZにより検出される。これら変換器の出力は それぞれTXA 、τYA、TZ^で示される。
モータM2.N3は、検出部11を所定の位置に置くために位置決めそ一ドで駆 動することもできるし、また検出部11を所定の力でワークピースと係合させる ため検出部を付勢するトルクモードで駆動することもできる。
ニア :/ k’ s−夕70(N3図)は、そ−夕M(X、Y、Z、2.3) を駆動するようにプログラムされる。また:コンピュータ70は必要であればモ ータM1についても、上記測定機械の座標における所定の位置に検出部11を位 置付けるように、または、ワークピース上の位置の座標を測定するか、あるいは 走査することによってワークピースの形状に沿った位置の座標を測定するように モータMlを駆動するようプログラムされてもよい。
プローブヘッドPHは、それに基づいて、モータ旧。
N2.N3を駆動したときのどのような変位も、また力F2に基づくスタイラス のどのような曲げも測定されるような基準状態を有するように調整される0本実 施例において、軸線10^、30Aが一直線をなし、軸線20^がY軸方向に延 在するときを基準状態とし、また、検出部11に力が作用しないか、あるいはあ らかじめ選択された力だけが作用する間の点IとBとの距離をR1とする。モー タMlがゼロ位置、すなわちモータMlの最大可動範囲のほぼ中間の位置にある ときの上記距離をR1としてもよい。
中心Bの位置は、いわゆる“機械座標”に関して知る必要があることが解る。こ の機械座標は、それぞれ互いに垂直な基準面XY、XZおよびYzからのx、y 、z方向の長さを与える。このため、点Iに対する点Bの極座標であるいわゆる “プローブ座標”について考慮される0点Bの機械座標を得るには、点Bの極座 標を機械座標に変換し、かつ点Iの機械座標を加える。
第4図〜第9図を参照するに、ワークピース12は、基準面XY、XZ、YZと の関係において示される(第4゜5.6図)0表面12Aは、XY平面に平行な 表面部分12A1および3つの基準面のいずれに対しても傾いている表面部分1 2A2を有する。これら表面部分12A1.12A2の互いの関係は、表面12 Aにおいて実際に起こり得る向きの変化の一例である0例えば、機械CMMは、 xz基準面に対して平行な平面(走査平面) XZIにおけるワークピースの輪 郭を測定しなければならないことがあり、この場合、その輪郭は線12Bで表わ される。プローブヘッドPHが示される最初の位置PH1はプローブヘッドが上 述した基準状態にある位置であり、また、走査のためのスタートの位置である。
2番目の位置PH2は、プローブヘッドPHが表面部分12A1と12A2との 接続部分12Gにあることを示している。
走査は、検出部11が線12Bに沿って動き、軸10Aが表面12Aの向きにか かわりなく実質的にこの面に垂直であり続けるように行われる。走査は、コンビ エータ70と組合された制御系100(第9図)の補助のもとに実行される。制 m系100は、制御ループLl、L2.L3を介してモータM(X、Y、Z、1 .2.3)のうち適切なものに作用し、また、制御系100は、10Bで示され る表面12^の向きと検出部11との相互作用であって、象徴的に線107゜1 08.109で示される種紙的相互作用によって、検出部11に作用する力に応 答する。相互作用107,108,109は、第9図に示される出力TIAおよ びSX、 Fを生成する。
以下の説明では、上述の力は点Bに作用するベクトルとして扱われる。また、上 述した輪郭は、線12Bに沿った点Bの機械座標に関する位置として測定される 0点Bの位置を定めるベクトルの位置が機械座標に変換されることはすぐに解る ことであり、それ自体良く知られたことである。従って、このことの詳細につい ては省略する。ベクトルFl、F2については既にわずかながら説明したが、以 下ベクトルに関し、まずプローブヘッドの位置P)IIを考慮して説明する。
ベクトルFlは、モータMlの圧力によって生成されるものであり、スタイラス の軸方向位置に応じた変換器TIの出力Tl^により検出される。以下において 明かとなるように、ベクトルF1は、モータM(X、Y、Z)を制御して点Iの 位置を制御することによって所定の公称値に維持される。
ベクトルF2は、表面12^のその方向が軸線10Aに垂直な表面12Aからの 反力であり、システム16からの出力に基づいた計算101により求められる。
すなわち、軸線20^に垂直な成分信号SXおよび軸線20Aに平行な成分信号 SYに基づいた計算によりて求められる0以上のことは、ベクトルFlが表面1 2^に垂直な限り、ベクトルF2は当然ゼロであることから言えることである。
ベクトルF3は、位置Bでの表面12Aの向きを規定するものであり、また、表 面12Aに垂直な表面12Aの反力を示す。ベクトルF3は、ベクトルFl、F 2に基づく演算102(第9図)によって求められる。プローブヘッドの位置P H1においては、ベクトルF3は単にベクトルFlと等しい大きさで反対の向き となる。
ベクトルF4は、ベクトルF3と直角の方向をなし、ベクトルF3の“ベクトル 回転”・演算によって求められる。従ってベクトルF4もまた表面12Aの向き を規定するものといえるが、表面12^における線12Bの実際の方向をこれに よって知ることはできない。
[12Bの方向は、ベクトルF4と走査平面XZIに垂直なベクトルF5との外 積によって与えられる。ベクトルF5は本例では隼にモータMYにおける一定の 位置を要求するものである。上記外積は計算104によって求められ、この計算 104の出力は線12Bの方向を規定するベクトルF6である。
演算105により、方向ベクトルF6に速度成分S7を加えベクトルF7を求め る。ベクトルF7は、速度と、検出部11を線12Bに沿って表面12^を移動 させるのに必要な方向との両方を規定する。
検出部11が接続部12Gに到達すると、相互作用106゜107はベクトルF 1.F2に以下のように影響する。ベクトルF1に注目すると、本実施例では相 互作用107はスタイラスをハウジング15の方向へ付勢するので、モータM1 はその名目上の位置から変位し、変換器T1の°出力TIAを変化させる。すな わち、ベクトルF1の大きさを変化させる。このようにモータM1はそのクッシ ョン作用によってスタイラスが損傷するのを防ぐが、モータM1ができる限り速 やかにその名目上の位置に戻るように、また、さらにスタイラスlOの損傷を避 けるために、ベクトルF1の出力はループL1を介して比較的速やかにモータM (X、Z)に連絡され、これによりプローブヘッドを表面12Aから上昇させる 。
ベクトルF2に注目すると、相互作用108により信号SX、 yが変化し、ベ クトルF2の大きさが異なったものとなる。この結果表面の向きを規定するベク トルF3に起こる変化は、比較的遅いループL2を介してモータM(2,,3) に連絡される。これによりアーム17は、軸線10^をベクトルF3の方向とす るような1つの回転方向において軸線20A、30Aの回りに回転される。すな わち、この回転によって軸線lO^は表面部分12^2に対して垂直となる。
プローブヘッドP)Iの角度の変化に伴なって2つの結果を生じる。第1に、ス タイラスと表面12A2との間の損紙的相互作用109が点I、B間の距離を変 化させることもある。この変化はループLlによって埋め合わされる。第2に、 プローブヘッドの角度の変化は点Bを平面XZI上の位置BOから離しがちにな る。この傾向は点Iの位置を移動させることによって埋め合わせる必要があり、 これにより点Bは位置BOに留まる。これに必要な点工の変位は、位置IIから I2へX、Y、Z方向において生じる必要がある(第6図〜第8図)、これは、 ベクトルF3の出力に接続し加算接続110を介してモータM(X、Y、Z)に 至るループL3によってもたらされる0位置!の変位は、ループL1またはルー プL3のうちいずれかより大きな変位を要請するループによるということは明か となるであろう。
第1θ図を参照するに、電磁モータM1の代わりにスタイラスをハウジング15 から離す方向に付勢するばね18によって構成されるモータMIAを具えてもよ い、また、スタイラスlOばばね13.14の代わりに精密リニアベアリング1 9によってその軸方向の動きを支持されてもよい。
以上で説明してきたように、システム16は、ベクトルF3を得る目的でベクト ルF2を測定するのに用いることもできる。しかしながら、システム16は、い ずれの場合にもアーム17の撓みを測定するのに用いることもできる。この測定 により、この測定がアーム17の撓みTZの位置測定値が修正される。3411 図を参照するに、スタイラスが撓むとすれば、点BがベクトルF1以外の力が作 用しない公称位置Blから撓み位置B2へ移動する。このことは、検出部11と 表面12^との間の摩擦あるいは検出部11と表面12A2との係合によって生 じ得ることである0本例において、X軸方向のみにおいて生じる撓みの大きさは 、R2で示され、弐R2−5x/Kxによって演算可能である。ここでS×はそ の方向が軸線10Aに垂直でXZ平面に含まれるシステム16の出力であり、K Xは同じ方向におけるスタイラスのばね定数である0機械座標における点Bの位 置82Xは、従ってB2X=IX−5x/に8となる。ここでIXは機械座標に おける点■の位置である。ところが表面12^のXY平面に対する傾斜およびモ ータM2の角変位D2を考慮し、さらに直線変位O1を考慮すると、位置Bl、 B3.B4によって示される全ての位置、従って点BのXおよびY方向の位置が 以下によりて与えられる。
B4X−IX+R1cosD2+R25inD2およびB4Z=IZ*R15i nD2+R2cosD2ここで、 IX一点lのX方向における位置。
IZ一点IのZ方向における位置。
R1一点I、B間の距離。
R2冨位置Bl、84間の距離。
D2−モータM2の角変位。
表面12AはXYおよびYZ平面の両方に対して傾斜しているから、モータM3 の角変位D3も考慮する必要があることは明らかであろう。
システム16は例えばモータ旧とハウジング20との間の接続部21 C’S  1図)のようなアームの長手方向に沿った位置のいずれに具えられていてもよい 。
システム16のようなシステムは、例えば米国特許4.158.919号(Mc Murtry)や、ドイツ連邦共和国公開公報1,638,048号(Indr asat)によって、それ自体公知のものである。
モータM2.M3のようなモータの構成は、本願人による国際特許出願PCT/ GB88101135 (出願人参照番号10010)において詳細に示される 。
(以下余白) 国際調査報告 国際調査報告 G!!ε90[])60 S^27154

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.位置測定装置(CMM)に用いられる表面検出装置(PH)であって、該装 置は、その操作において前記測定装置に固定される見かけ上固定された端部(1 7A),操作においてその位置が測定されるワークピース(12)と係合するた めの自由端部(17B),および該自由端部の前記係合による前記固定された端 部に対する変位(R2)を測定するための検出手段(16)を有する構造(17 )を具えたことを特徴とする表面検出装置。
  2. 2.位置測定装置(CMM)に用いられる表面検出装置(PH)であって、該装 置は、その操作において前記測定装置に固定される第1部分(17C),該第1 部分に支持され、該第1部分に対して軸線(20A)の回りを回転する第2部分 (17D),該第2部分(17D)を前記軸線回りに回転させる駆動手段(M2 ),操作においてその位置が測定されるワークピース(12)と係合する第3部 分(10),および該第3部分を支持し該第3部分の前記回転軸線(20A)に 垂直な軸線(10A)に沿った直線移動を行わせるための支持手段(13,14 ;19)を有する構造(17)を具えたことを特徴とする表面検出装置。
  3. 3.前記第2部分(17D)は、さらに先の回転軸線(20A)に垂直な軸線( 30A)の回りに回転できるよう前記第1部分(17C)に支持されたことを特 徴とする請求の範囲第2項に記載の表面検出装置。
  4. 4.請求の範囲第1項に記載の表面検出装置(PH)と前記位置測定装置(CM M)との組合せであって、該測定装置は、前記装置(PH)と前記ワークピース とを相対的に移動させるための駆動手段[M(X,Y,Z)],前記固定された 端部(17A)の位置を規定する測定値[I(X,Y,Z)]を測定するための 検出手段[T(X,Y,Z)]を具え、前記組合せは、前記測定値と前記変位( R2)との和[I(X,Y,Z)±R2]を定めるための演算手段(70)を具 えることを特徴とする表面検出装置と位置測定装置との組合せ。
  5. 5.請求の範囲第2項または第3項に記載の表面検出装置(PH)と前記位置測 定装置(CMM)との組合せであって、該測定装置は、前記装置(PH)と前記 ワークピース(12)とを相対的に移動させるための駆動手段[M(X,Y,Z )]を具え、前記装置(PH)は、前記第3部分(10)の前記ワークピース( 12)との該ワークピースの位置BOにおける前記係合によって当該第3部分( 10)に作用する力〔F1,F2)を検出するための検出手段(T1.16)を 具え、前記組合せは、前記位置における前記表面の部分の向きを規定するパラメ ータ(F3)を定めるための演算手段(102),前記装置(PH)における前 記第部分(17D)の前記駆動手段(M2および/またはM3)に前記パラメー タ(F3)を接続し、実質的に前記表面の向きに垂直な直線移動軸線(10A) を位置決めする一方向において前記駆動手段に作用する制御手段(L2)であっ て、前記直線軸線(10A)の位置決めは、前記第3部分(10)を前記位置( BO)から変位させる傾向を有するような制御手段(L2),および前記パラメ ータ(F3)を前記測定装置(CMM)の前記駆動手段[M(X,Y,Z)]に 接続し、前記変位を修正することにより前記第3部分(10)を前記位置(BO )に保つように、前記装置(PH)の前記第3部分(17C)を位置決めする一 方向において前記駆動手段に作用する制御手段(L3)を具えたことを特徴とす る表面検出装置と位置測定装置との組合せ。
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GB (1) GB8803847D0 (ja)
WO (1) WO1989007745A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH045512A (ja) * 1990-04-23 1992-01-09 Tokyo Seimitsu Co Ltd 座標測定機の測定方法
JP2006509193A (ja) * 2002-12-05 2006-03-16 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 高速走査用プローブ
JP2009526985A (ja) * 2006-02-16 2009-07-23 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 関節式プローブヘッド装置および方法

Families Citing this family (93)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2662793B1 (fr) * 1990-05-30 1994-03-18 Renault Installation de mesure en continu des defauts de forme d'une piece, et procede de mesure mis en óoeuvre dans cette installation.
US5174039A (en) * 1990-08-17 1992-12-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Displacement-measuring apparatus, and static-pressure bearing device for use in the displacement-measuring apparatus
US5349543A (en) * 1992-06-10 1994-09-20 International Business Machines Corporation Constant force probe
US5611147A (en) * 1993-02-23 1997-03-18 Faro Technologies, Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
US6535794B1 (en) 1993-02-23 2003-03-18 Faro Technologoies Inc. Method of generating an error map for calibration of a robot or multi-axis machining center
US5402582A (en) * 1993-02-23 1995-04-04 Faro Technologies Inc. Three dimensional coordinate measuring apparatus
US5731804A (en) 1995-01-18 1998-03-24 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for providing high bandwidth, low noise mechanical I/O for computer systems
WO1995002801A1 (en) * 1993-07-16 1995-01-26 Immersion Human Interface Three-dimensional mechanical mouse
US5734373A (en) * 1993-07-16 1998-03-31 Immersion Human Interface Corporation Method and apparatus for controlling force feedback interface systems utilizing a host computer
US5739811A (en) 1993-07-16 1998-04-14 Immersion Human Interface Corporation Method and apparatus for controlling human-computer interface systems providing force feedback
US5721566A (en) 1995-01-18 1998-02-24 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for providing damping force feedback
US6437771B1 (en) 1995-01-18 2002-08-20 Immersion Corporation Force feedback device including flexure member between actuator and user object
US5724264A (en) * 1993-07-16 1998-03-03 Immersion Human Interface Corp. Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object
US5767839A (en) * 1995-01-18 1998-06-16 Immersion Human Interface Corporation Method and apparatus for providing passive force feedback to human-computer interface systems
US5805140A (en) * 1993-07-16 1998-09-08 Immersion Corporation High bandwidth force feedback interface using voice coils and flexures
US5625576A (en) 1993-10-01 1997-04-29 Massachusetts Institute Of Technology Force reflecting haptic interface
US5821920A (en) * 1994-07-14 1998-10-13 Immersion Human Interface Corporation Control input device for interfacing an elongated flexible object with a computer system
US5623582A (en) 1994-07-14 1997-04-22 Immersion Human Interface Corporation Computer interface or control input device for laparoscopic surgical instrument and other elongated mechanical objects
US5510977A (en) * 1994-08-02 1996-04-23 Faro Technologies Inc. Method and apparatus for measuring features of a part or item
US6850222B1 (en) 1995-01-18 2005-02-01 Immersion Corporation Passive force feedback for computer interface devices
EP0731333B1 (de) * 1995-03-10 2001-01-31 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Mehrkoordinaten-Tastkopf mit gleichen Auslenkungen
US5691898A (en) 1995-09-27 1997-11-25 Immersion Human Interface Corp. Safe and low cost computer peripherals with force feedback for consumer applications
US7113166B1 (en) 1995-06-09 2006-09-26 Immersion Corporation Force feedback devices using fluid braking
US6166723A (en) * 1995-11-17 2000-12-26 Immersion Corporation Mouse interface device providing force feedback
US6697748B1 (en) 1995-08-07 2004-02-24 Immersion Corporation Digitizing system and rotary table for determining 3-D geometry of an object
US5959613A (en) 1995-12-01 1999-09-28 Immersion Corporation Method and apparatus for shaping force signals for a force feedback device
USD377932S (en) * 1995-10-31 1997-02-11 Immersion Human Interface Corporation Mechanical digitizing arm used to input three dimensional data into a computer
US6704001B1 (en) 1995-11-17 2004-03-09 Immersion Corporation Force feedback device including actuator with moving magnet
US6147674A (en) 1995-12-01 2000-11-14 Immersion Corporation Method and apparatus for designing force sensations in force feedback computer applications
US7027032B2 (en) 1995-12-01 2006-04-11 Immersion Corporation Designing force sensations for force feedback computer applications
US6028593A (en) 1995-12-01 2000-02-22 Immersion Corporation Method and apparatus for providing simulated physical interactions within computer generated environments
US6219032B1 (en) 1995-12-01 2001-04-17 Immersion Corporation Method for providing force feedback to a user of an interface device based on interactions of a controlled cursor with graphical elements in a graphical user interface
US8508469B1 (en) 1995-12-01 2013-08-13 Immersion Corporation Networked applications including haptic feedback
US6859819B1 (en) 1995-12-13 2005-02-22 Immersion Corporation Force feedback enabled over a computer network
US6078308A (en) 1995-12-13 2000-06-20 Immersion Corporation Graphical click surfaces for force feedback applications to provide user selection using cursor interaction with a trigger position within a boundary of a graphical object
DE19604354A1 (de) * 1996-02-07 1997-08-14 Zeiss Carl Fa Verfahren zur koordinatenmäßigen Vermessung von Werkstücken auf Bearbeitungsmaschinen
US7225404B1 (en) 1996-04-04 2007-05-29 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for determining forces to be applied to a user through a haptic interface
US6084587A (en) 1996-08-02 2000-07-04 Sensable Technologies, Inc. Method and apparatus for generating and interfacing with a haptic virtual reality environment
JPH1062150A (ja) * 1996-08-19 1998-03-06 Mitsutoyo Corp ボールプローブおよびこれを用いた座標測定機
US6024576A (en) 1996-09-06 2000-02-15 Immersion Corporation Hemispherical, high bandwidth mechanical interface for computer systems
US6212784B1 (en) * 1997-11-10 2001-04-10 Danny R. Pittman Three-dimensional robotic scribing system
US6191796B1 (en) 1998-01-21 2001-02-20 Sensable Technologies, Inc. Method and apparatus for generating and interfacing with rigid and deformable surfaces in a haptic virtual reality environment
US6421048B1 (en) 1998-07-17 2002-07-16 Sensable Technologies, Inc. Systems and methods for interacting with virtual objects in a haptic virtual reality environment
US6985133B1 (en) 1998-07-17 2006-01-10 Sensable Technologies, Inc. Force reflecting haptic interface
US6552722B1 (en) 1998-07-17 2003-04-22 Sensable Technologies, Inc. Systems and methods for sculpting virtual objects in a haptic virtual reality environment
JP3273026B2 (ja) * 1998-09-02 2002-04-08 株式会社ミツトヨ 表面追従型測定機
US6195618B1 (en) 1998-10-15 2001-02-27 Microscribe, Llc Component position verification using a probe apparatus
GB9907644D0 (en) 1999-04-06 1999-05-26 Renishaw Plc Surface sensing device with optical sensor
US6867770B2 (en) 2000-12-14 2005-03-15 Sensable Technologies, Inc. Systems and methods for voxel warping
US6958752B2 (en) 2001-01-08 2005-10-25 Sensable Technologies, Inc. Systems and methods for three-dimensional modeling
US6640459B1 (en) * 2001-02-15 2003-11-04 Fast Forward Devices, Llc Multidimensional contact mechanics measurement system
US7519493B2 (en) * 2002-02-14 2009-04-14 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
JP2005517909A (ja) * 2002-02-14 2005-06-16 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 多関節アームを有する可搬式座標測定器
US6952882B2 (en) * 2002-02-14 2005-10-11 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine
US6973734B2 (en) * 2002-02-14 2005-12-13 Faro Technologies, Inc. Method for providing sensory feedback to the operator of a portable measurement machine
US7246030B2 (en) * 2002-02-14 2007-07-17 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
USRE42082E1 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine
US7881896B2 (en) 2002-02-14 2011-02-01 Faro Technologies, Inc. Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner
US6957496B2 (en) * 2002-02-14 2005-10-25 Faro Technologies, Inc. Method for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine
US7073271B2 (en) * 2002-02-14 2006-07-11 Faro Technologies Inc. Portable coordinate measurement machine
US6671651B2 (en) 2002-04-26 2003-12-30 Sensable Technologies, Inc. 3-D selection and manipulation with a multiple dimension haptic interface
GB0322115D0 (en) * 2003-09-22 2003-10-22 Renishaw Plc Method of error compensation
GB0322362D0 (en) * 2003-09-24 2003-10-22 Renishaw Plc Measuring methods for use on machine tools
US7095418B2 (en) * 2003-10-30 2006-08-22 Sensable Technologies, Inc. Apparatus and methods for texture mapping
US7411576B2 (en) 2003-10-30 2008-08-12 Sensable Technologies, Inc. Force reflecting haptic interface
US7382378B2 (en) 2003-10-30 2008-06-03 Sensable Technologies, Inc. Apparatus and methods for stenciling an image
US7889209B2 (en) 2003-12-10 2011-02-15 Sensable Technologies, Inc. Apparatus and methods for wrapping texture onto the surface of a virtual object
US7626589B2 (en) 2003-12-10 2009-12-01 Sensable Technologies, Inc. Haptic graphical user interface for adjusting mapped texture
US7149596B2 (en) 2004-01-13 2006-12-12 Sensable Technologies, Inc. Apparatus and methods for modifying a model of an object to enforce compliance with a manufacturing constraint
DE602004025215D1 (de) * 2004-06-22 2010-03-11 Tesa Sa Tastsonde
EP1877732B1 (en) * 2005-04-26 2014-06-11 Renishaw plc Probe calibration
GB0508388D0 (en) * 2005-04-26 2005-06-01 Renishaw Plc Surface sensing device with optical sensor
DE102006019354B3 (de) 2006-04-24 2007-07-19 Rattunde & Co Gmbh Profilmessung von Rohrenden
EP2207006B2 (en) 2006-09-05 2022-01-26 Renishaw PLC Surface sensing device
WO2008132483A1 (en) 2007-04-30 2008-11-06 Renishaw Plc Analogue probe with temperature control and method of operation
GB0708319D0 (en) 2007-04-30 2007-06-06 Renishaw Plc A storage apparatus for a tool
DE102008049751A1 (de) * 2008-10-01 2010-04-08 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Vermessen eines Werkstücks, Kalibrierverfahren sowie Koordinatenmessgerät
US8020308B2 (en) * 2009-05-29 2011-09-20 General Electric Company Non-destructive inspection system having self-aligning probe assembly
EP2381212B1 (en) * 2010-04-26 2018-04-25 Tesa Sa Coordinate measuring system for rotationally symmetric workpieces
EP2385339A1 (en) * 2010-05-05 2011-11-09 Leica Geosystems AG Surface sensing device with optical monitoring system
US9671257B2 (en) * 2011-07-08 2017-06-06 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Correcting and/or preventing errors during the measurement of coordinates of a workpiece
US9802364B2 (en) 2011-10-18 2017-10-31 3D Systems, Inc. Systems and methods for construction of an instruction set for three-dimensional printing of a user-customizableimage of a three-dimensional structure
EP2629048B1 (fr) 2012-02-20 2018-10-24 Tesa Sa Palpeur
GB201309506D0 (en) 2013-05-28 2013-07-10 Renishaw Plc Methods of controlling a coordinate positioning machine
JP6049785B2 (ja) 2015-03-05 2016-12-21 株式会社ミツトヨ 測定プローブ
JP6039718B2 (ja) 2015-03-05 2016-12-07 株式会社ミツトヨ 測定プローブ
JP6049786B2 (ja) 2015-03-05 2016-12-21 株式会社ミツトヨ 測定プローブ
US10379670B1 (en) 2017-04-27 2019-08-13 Microsoft Technology Licensing, Llc Increasing low-force accuracy at a device
US9835433B1 (en) 2017-05-09 2017-12-05 Tesa Sa Touch trigger probe
US10459538B2 (en) 2017-05-15 2019-10-29 Microsoft Technology Licensing, Llc Pressure sensitive stylus
EP3531062A1 (en) * 2018-02-26 2019-08-28 Renishaw PLC Coordinate positioning machine
CN108692644B (zh) * 2018-03-26 2019-09-27 华中科技大学 一种复杂曲面三坐标测量装置及误差补偿方法
DE102019205145B4 (de) * 2019-04-10 2022-06-15 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Ausrichten von Komponenten relativ zu einem Koordinatenmessgerät

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58205801A (ja) * 1982-05-26 1983-11-30 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 測定ヘツド

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3805393A (en) * 1963-01-11 1974-04-23 J Lemelson Automatic inspection machine
GB1123344A (en) * 1964-08-25 1968-08-14 Edward John Roe Improved centring device or like fine movement indicator
DE1638048B2 (de) * 1968-02-07 1976-11-18 Indramat Gesellschaft für Industrie-Rationalisierung und Automatisierung mbH, 8770 Lohr Elektrischer, kontaktloser kopierfuehler fuer nachformeinrichtungen an werkzeugmaschinen
US3531868A (en) * 1968-04-18 1970-10-06 Ford Motor Co Surface scanner for measuring the coordinates of points on a three-dimensional surface
US3771230A (en) * 1970-07-29 1973-11-13 Dea Spa Device for positioning a working member relatively to a holder and workpiece
US3727119A (en) * 1971-02-01 1973-04-10 Information Dev Corp Servo controlled automatic inspection apparatus
GB1401034A (en) * 1971-07-07 1975-07-16 Dea Spa Tridimensional universal tracer point for continuous high-speed copying of profiles of models
US3750295A (en) * 1971-07-22 1973-08-07 Werkzeugmasch Veb Measuring machine
DE2242355C2 (de) * 1972-08-29 1974-10-17 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Elektronischer Mehrkoordinatentaster
US4153998A (en) * 1972-09-21 1979-05-15 Rolls-Royce (1971) Limited Probes
FR2298084A1 (fr) * 1975-01-17 1976-08-13 Erap Dispositif d'exploration palpatoires et de reconstruction de la forme d'un objet
GB1551218A (en) * 1975-05-13 1979-08-22 Rolls Royce Probe for use in displacement measuring apparatus
US4158919A (en) * 1976-03-24 1979-06-26 Rolls-Royce Limited Apparatus for measuring displacement in at least two orthogonal dimensions
SE406228B (sv) * 1977-09-20 1979-01-29 Johansson Ab C E Legesgivare avsedd for kontrollmetning av ytor
GB2037436B (en) * 1978-10-02 1983-04-27 Haltronic Systems Ltd Swivel probe
US4443946A (en) * 1980-07-01 1984-04-24 Renishaw Electrical Limited Probe for measuring workpieces
JPS58169001A (ja) * 1982-03-31 1983-10-05 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 2方向タツチセンサ
US4477973A (en) * 1982-07-14 1984-10-23 Micro Control Systems, Inc. Three dimensional graphics tablet
DE3309122A1 (de) * 1983-03-15 1984-09-20 Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf Tastkopf fuer messeinrichtungen
GB2144860B (en) * 1983-08-06 1987-01-14 Mauser Werke Oberndorf Measuring head of a multi-coordinate measuring machine
JPS60140110A (ja) * 1983-12-28 1985-07-25 Mitsubishi Electric Corp 物体表面の法線方向の測定方法及び装置
JPS60170709A (ja) * 1984-02-16 1985-09-04 Toshiba Corp 形状測定装置
DE3406045A1 (de) * 1984-02-20 1985-08-22 Mora Fabrik für Meßgeräte Helmut Freund GmbH, 8750 Aschaffenburg Abtastvorrichtung, welche am ende des querarmes eines mess- und anreissgeraetes anschliessbar ist
DE3740070A1 (de) * 1987-11-26 1989-06-08 Zeiss Carl Fa Dreh-schwenk-einrichtung fuer tastkoepfe von koordinatenmessgeraeten
GB8729638D0 (en) * 1987-12-19 1988-02-03 Renishaw Plc Mounting for surface sensing device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58205801A (ja) * 1982-05-26 1983-11-30 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 測定ヘツド

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH045512A (ja) * 1990-04-23 1992-01-09 Tokyo Seimitsu Co Ltd 座標測定機の測定方法
JP2006509193A (ja) * 2002-12-05 2006-03-16 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 高速走査用プローブ
JP2009526985A (ja) * 2006-02-16 2009-07-23 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 関節式プローブヘッド装置および方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE68911090D1 (de) 1994-01-13
WO1989007745A1 (en) 1989-08-24
EP0360853A1 (en) 1990-04-04
DE68911090T2 (de) 1994-03-17
JP2521167B2 (ja) 1996-07-31
US5040306A (en) 1991-08-20
EP0360853B1 (en) 1993-12-01
GB8803847D0 (en) 1988-03-16

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