JPH025147A - 論理装置の診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は論理装置の診断方式に関し、特に、論理装置中
に含められたエラーインディケータフリップフロップの
状態と故障診断辞書の内容とから論理装置中の被疑故障
部品を指摘する論理装置の診断方式に関する。

〔従来の技術］ 演算処理装置、主記憶装置、入出力制御装置等の論理装
置において障害が発生したとき、その原因究明を容易に
すると共に速やかな保守を可能とするために、論理装置
を構成する互いに独立に交換可能な部品（パッケージ）
内に必要充分な個数のチェック回路とこのチェック回路
のエラー検出に応じてセットされるエラーインデイケー
タ７１Ｊツブフロツプ（以下、ＥＩＦと称す）とを設け
、障害が発生したときに論理装置のクロックを停止し、
サービスプロセッサが、何れのＥＩＦがセットされたか
を調べ、そのセットされたＥＩＦにより故障診断辞書を
検索して故障箇所を含む部品を求めて出力装置より出力
し、保守者がこの部品を交換することにより障害箇所の
保守、修理を行うことが、従来より実施されている。

そして、従来、上記の故障診断辞書には、被疑故障部品
名、この部品の実装位置、およびその部品が故障してい
る確率のレベル（例えば、高、中。

低の３レベル）から構成される被疑部品情報を各ＥＴＦ
に対応して記憶させると共に、ＥＩＦの組み合わせに対
応して被疑故障部品名、この部品の実装位置、およびそ
の部品が故障している確率のレベル（例えば、高、中、
低の３レベル）から構成される被疑部品情報を持たせ、
サービスプロセッサは、障害発生時に複数のＰＩＦがセ
・ノド状態になっていることを検出した場合には、その
セ、。

ト状態となったＥｉＦの組み合わせに対応して上記の故
障診断辞書に記憶されている被疑部品情報を検索し、こ
の被疑部品情報で示される被疑故障部品名およびその実
装位置を、その確率レベルに従って、被疑故障確率の高
い部品と低い部品にレベル分けして出力装置から出力し
ていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の論理装置の診断方式は、複数のＥＩＦが
セット状態となった障害発生時に、それに合致した被疑
故障部品の指摘を自動的に行うことができ、その分、保
守者の負担が軽減する。即ち、複数のＥＩＦがセット状
態となった場合、単にセント状態のＥＩＦに対応する個
々の被疑部品情報を出力装置に出力するだけでは、保守
者は、各被疑部品情報を調べて、より被疑故障確率の高
い被疑故障部品を自ら判断しなければならないが、上述
のように構成することにより、保守者は直ちに被疑故障
部品を認識することができる。しかしながら、ＥＩＦの
組み合わせに対応して被疑部品情報を予め故障診断辞書
中に記憶させておく必要があるので、故障診断辞書の作
成者はＥＩＦの組み合わせ及びその被疑部品情報を詳細
に調査、検討しなければならず、故障診断辞書の作成に
多くの時間を必要とする。

そこで、本発明の目的は、ＥＩＦの組み合わせに対応す
る被疑部品情報を故障診断辞書中に記憶させておかなく
ても、複数のＥＩＦがセット状態となった障害発生時に
それに合致した被疑故障部品の指摘を行うことができる
論理装置の診断方式を提供することにある。

（課題を解決するための手段） 本発明は上記の目的を達成するために、故障発生時にチ
ェック回路のエラー検出に応じてセットされるＥＩＦを
含む論理装置と、この論理装置と診断パスにより接続さ
れたサービスプロセッサとを備え、故障発生時に前記診
断バスを介して収集したＥＩＦの状態情報に基づいて前
記サービスプロセッサが被疑故障部品を指摘する論理装
置の診断方式において、各ＥＩＦに対応して被疑故障部
品の識別情報とこの被疑故障部品が故障している被疑故
障確率とを含む被疑部品情報を記憶する故障診断辞書を
有し、前記サービスプロセッサは、複数のＥＩＦがセッ
ト状態となった故障の診断時、各セット状態となったＥ
ＩＦに対応して前記故障診断辞書に記憶された被疑部品
情報に基づき、別々の被疑部品情報中に共通に現れる被
疑故障部品の故障している被疑故障確率を新たに求め、
この求めた被疑故障確率をその被疑故障部品の識別情報
と共に出力装置より出力する構成を有する。

〔作用〕

本発明の論理装置の診断方式においては、故障診断辞書
が、各ＥＴＦに対応して被疑故障部品の識別情報とこの
被疑故障部品が故障している被疑故障確率とを含む被疑
部品情報を記憶し、複数のＥｒＦがセット状態となった
故障の診断時、サービスプロセッサが、各セント状態と
なったＥＩＦに対応して前記故障診断辞書に記憶された
被疑部品情報に基づき、別々の被疑部品情報中に共通に
現れる被疑故障部品の故障している被疑故障確率を新た
に求め、この求めた被疑故障確率をその被疑故障部品の
識別情報と共に出力装置より出力する。

〔実施例］ 次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。

第１図を参照すると、本発明の論理装置の診断方式を適
用した情報処理システムの一例は、システム制御装置１
と、主記憶装置２と、演算処理装置３と、入出力制御装
置４と、これらに診断パス１００を介して接続されたサ
ービスプロセッサ５と、このサービスプロセッサ５に接
続された磁気ディスク装置６．プリンタ７および操作卓
８とで構成されている。磁気ディスク装置６には、故障
診断辞書６０３と、収集されたＥＩＦ情報を保持するＥ
■Ｆ情報格納域６０１と、収集されたＥＩＦ情報と前記
故障診断辞書６０３とによって診断された結果を保持す
る診断結果格納域６０２とが設けられている。また、サ
ービスプロセッサ５には、演算処理装置３等の論理装置
に障害が発生したとき、障害の発生した論理装置から診
断パス１００を介してＥＩＦの状態を示ずＥＩＦ情報を
収集して磁気ディスク装置６のＥＩＦ情報格納域６０１
に格納する収集プログラム５０１と、ＥＩＦ情報格納域
６０１に保持されたＥＩＦ情報と故障診断辞書６０３と
を用いて診断を行い、その結果を診断結果格納域６０２
に格納する診断プログラム５０２と、操作卓８の操作に
応答して磁気ディスク装置６の診断結果格納域６０２に
格納された診断結果および必要に応じてＥｒＦ情報格納
域６０１に格納されたＥＩＦ情報を編集してプリンタフ
に出力したり或いは操作卓８の表示装置に表示する表示
プログラム５０３とが内蔵されている。

第２図を参照すると、故障診断辞書６０３は、各ＥＩＦ
に対応して、１つ以上の被疑部品情報を記憶する論理的
な構造を持ち、各々の被疑部品情報は、被疑故障部品名
、この被疑故障部品の実装位置、この被疑故障部品が故
障している被疑故障確率（例えば％で示される）とから
構成される。

なお、被疑故障部品名と実装位置とで被疑故障部品の識
別情報が構成される。一般に、一つの情報処理システム
或いは一つの論理装置内には同じ名前の部品（パンケー
ジ）が多数使用されており、部品名だけでは個々の部品
を識別できないので、本実施例では実装位置をも加えて
部品の識別情報としている。従って、部品名がユニーク
となる場合、或いは実装位置だけで部品が特定できる場
合には、被疑故障部品の識別情報を被疑故障部品名だけ
、或いは実装位置だけで構成しても良い。

第２図に例示した各被疑部品情報は、論理装置の一つを
構成する演算処理装置３の内部に存在する例えば第３図
に示すようなハードウェア構成に対応している。即ち、
レジスタ１０．１１を含む実装位１１ｆｆｉＬ１の部品
ＰＫＧＩと、レジスタ２０を含む実装位置Ｌ２の部品Ｐ
ＫＧ２と、レジスタ３０　パリティチェック回路３１お
よびＥＩＦ３２を含む実装位置Ｌ３の部品ＰＫＧ３と、
レジスタ４０〜４２．セレクタ４３．パリティチェック
回路４４４５およびＥＩＦ４６．４７を含む実装位ＩＬ
４の部品ＰＫＧ４とが存在し、且つ、各素子間が同図に
示す如く結線されている場合、パリティチェック回路４
４でパリティエラーが検出されてＥＩＦ４６がセット状
態となったとき、部品ＰＫＣ；１．ＰＫＧ４が被疑故障
部品と考えられるので、その被疑故障確率を含めた２つ
の被疑部品情報が第２図に示す如（Ｅ［Ｆ４６に対応し
て故障診断辞書６０３に格納され、パリティチェック回
路３１でパリティエラーが検出されてＥＩＦ３２がセッ
ト状態となったとき、部品ＰＫＧ２．ＰＫＧ３が被疑故
障部品と考えられるので、その被疑故障確率を含めた２
つの被疑部品情報が第２図に示す如＜ＥＩＦ３２に対応
して故障診断辞書６０３に格納され、パリティチェック
回路４５でパリティエラーが検出されてＥｒＦ４７がセ
ット状態となったとき、部品ＰＫＣＩ、ＰＫＧ３．ＰＫ
Ｇ４が被疑故障部品と考えられるので、その被疑故障確
率を含めた３つの被疑部品情報が第２図に示ず如＜ＥＩ
Ｆ４７に対応して故障診断辞書６０３に格納されている
。なお、各被疑部品情報中の被疑故障確率は、パリティ
チェック回路に影響を与える各部品内の素子数の大小や
設計者の経験等に基づいて決定される。

次に、第１図に示す実施例の動作を、演算処理装置３に
故障が発生した場合を例にして以下説明する。

第１図を参照すると、演算処理装置３で故障が発生する
と、サービスプロセッサ５は、収集プログラム５０１を
実行することにより、診断パス１００を介して演算処理
装置３から各ＥＩＦの状態を示すＥＩＦ情報を収集し、
磁気ディスク装置６のＥＩＦ情報格納域６０１に格納す
る。次にサービスプロセッサ５は診断プログラム５０２
を実行することにより診断を行う。

第４図を参照すると、診断プログラム５０２による診断
は、先ず、ＥＴＦ情報格納域６０１からセント状態を示
すＥＩＦを一つ求め（Ｓ　１　）　、この求めたセット
状態のＥＩＦを索引として第２図に示した故障診断辞書
６０３を検索し、対応する被疑部品情報を取得し、これ
を診断結果格納域６０２に格納する（Ｓ３）、以上の処
理を、ＥＩＦ情報格納域６０１に格納された全てのセフ
）状態のＥＩＦに対し繰り返す。そして、セント状態の
全てのＥＩＦに対しその被疑部品情報の取得と格納とを
終了すると（３２でＹＥＳの場合）、セット状態のＥＩ
Ｆが複数存在していたか否かを判定しくＳ４）、存在し
なかった場合には、そのまま処理を終了する。反対に、
セット状態のＥＩＦが複数存在していた場合には、各セ
ット状態となったＥＩＦについて診断結果格納域６０２
に格納した各被疑部品情報を解析し、別々の被疑部品情
報中に共通に現れる被疑故障部品が存在すれば、その被
疑故障部品の故障している被疑故障確率を新たに求め、
この求めた被疑故障確率をその被疑故障部品名、実装位
置と一緒に診断結果格納域６０２に格納する（Ｓ５）。

そして、処理を終了する。

その後、操作卓８から診断結果の表示要求が入力される
と、サービスプロセンサ５は表示プログラム５０３を実
行することにより、磁気ディスク装置６の診断結果格納
域６０２に格納された診断結果を編集してプリンタ７か
ら出力する。従って、本実施例では、診断結果として、
七ット状態となったＥＩＦに対応する被疑部品情報と、
セット状態となったＥＩＦが複数あり且つ共通の被疑故
障部品が存在した場合には、診断プログラム５０２のス
テップＳ５で新たに求められた被疑故障確率と被疑故障
部品名および実装位置とがプリンタ７から出力されるこ
とになる。

次に、診断プログラム５０２のステップＳ５の処理をよ
り詳しく説明する。

例えば、第３図のハードウェア構成において、ＥＩＦ４
６とＥＩＦ４７とが共にセット状態となっているＥＩＦ
情報が収集された場合、第２図を参照すると、ＥＩＦ４
６に対応して、実装位置Ｌ４の部品ＰＫＧ４が被疑故障
確率６０％で、実装位置Ｌ１の部品ＰＫＧＩが被疑故障
確率４０％であることを示す２つの被疑部品情報が得ら
れ、ＥｒＦ４７に対応して、実装位置Ｌ４の部品ＰＫＧ
４が被疑故障確率６０％で、実行位ｚＬｔの部品ＰＫＧ
Ｉが被疑故障確率２５％で、実装位置Ｌ３の部品ＰＫＧ
３が被疑故障確率１５％であることを示す３つの被疑部
品情報が得られ、両者に部品ＰＫＧ４．ＰＫＣ；１が共
通に含まれることになる。

そこで、部品ＰＫＧ４の被疑故障確率９部品ＰＫＧ１の
被疑故障確率をそれぞれ次式によって求める。

・部品ＰＫＧ４の被疑故障確率 −（ＥＩＦ４６対応の被疑部品情報における部品ＰＫＧ
４の被疑故障確率６０％ ＋ＥＴＦ４１対応の被疑部品情報における部品ＰＫＧ４
の被疑故障確率６０％） ÷（Ｅ　Ｉ　Ｆ　４．６対応の被疑部品情報におけるＰ
ＩＦ４６．４７に共通に含まれる全被疑故障部品の被疑
故障確率の和１００％ ＋ＥＩＦ４７対応の被疑部品情報におけるＥＩＦ４６，
４７に共通に含まれる全被疑故障部品の被疑故障確率の
和８５％） ×１００＝６５％ ・部品ＰＫＣＩの被疑故障確率 ＝（ＥｒＦ４６対応の被疑部品情報における部品ＰＫＧ
Ｉの被疑故障確率４０％ ＋ＥＩＦ４７対応の被疑部品情報における部晶ＰＫＣＩ
の被疑故障確率２５％） ＋（ＥＩＦ４６対応の被疑部品情報におけるＥＩＦ４６
．４７に共通に含まれる全被疑故障部品の被疑故障確率
の和１００％ ＋ＥＩＦ４７対応の被疑部品情報におけるＥＩＦ４６，
４７に共通に含まれる全被疑故障部品の被疑故障確率の
和８５％） ｘｌｏｏ＝３５％ そして、部品ＰＫＧ４の名前、実装位ｉＬ４および上記
で求めた被疑故障確率６５％と、部品ＰＫＧＩの名前、
実装位置Ｌｌおよび上記で求めた被疑故障確率３５％を
、後の出力の為に診断結果格納域６０２に格納する。こ
の結果、保守者は診断結果の内容により、充分な保守時
間があれば部品ＰＫＧ４．部品ＰＫＣＩの順に１個ずつ
部品を交換して試験した方が良いことがわかり、保守時
間が少なければ部品ＰＫＧ４と部品ＰＫＣＩとを同時に
交換するのが良いことがわかる。

また、第３図のハードウェア構成において、Ｅ［Ｆ３２
とＥＩＦ４７とが共にセット状態となっているＥ　Ｉ　
Ｆ情報が収集された場合には、上述と同様な算出方法に
より、実装位置Ｌ３の部品ＰＫＧ３が被疑故障確率１０
０％して求められ、そのことが診断結果中で示されるこ
とになる。従って、保守者は部品ＰＫＧ３のみを交換す
れば良いと判断することができる。

以上本発明の実施例について説明したが、本発明は以上
の実施例にのみ限定されず、その他各種の付加変更が可
能である。例えば、複数の巳ＩＦが同時にセット状態と
なったＥＩＦ情報が収集されたとき、第４図のステップ
Ｓ５で新たに求めた被疑故障確率およびその被疑故障部
品の識別情報に加え、各ＥＬＦ対応の被疑部品情報も診
断結果として出力するようにしたが、後者の被疑部品情
報の出力を省略するようにしても良い。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明の論理装置の診断方式にお
いては、複数のＥＩＦがセット状態になっているとき、
個々のＥＩＦ対応の被疑部品情報を付き合わせ、同じ被
疑故障部品が存在するときは、個々のＥＩＦ対応の被疑
部品情報中で示される被疑故障確率に基づいて、上記の
共通する被疑故障部品が故障している被疑故障確率を新
たに算出して出力するようにしているので、故障診断辞
書にＥＩＦの組み合わせに対応した被疑部品情報を持た
せる必要がなくなり、故障診断辞書の作成が節単になる
。また、成る部品の故障している被疑故障確率を高、中
、低の如きレベルでなく、より細かな値で示しているの
で、保守の状況に応してどのような交換手順を採用した
ら良いかをきめ細かく判断することもできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を適用した情報処理システムの一例を示
すブロック図、 第２図は故障診断辞書の構成例を示す図、第３図は第２
図の故障診断辞書の作成対象となったハードウェア構成
例を示すブロック図および、第４図は診断プログラム５
０２の処理例の流れ図である。 図において、 ・・・システム制御装置　　２・・・主記憶装置・・・
演算処理装置　　　　４・・・入出力制御１装置・・・
サービスプロセッサ　６・・・磁気ディスク装置・・・
プリンタ　　　　　　８・・・操作卓００・・・診断パ
ス Ｏｌ・・・収集プログラム ０２・・・診断プログラム ０３・・・表示プログラム ０１・・・・ＥＩＦ情報格納域 ０２・・・診断結果格納域 ０３・・・故障診断辞書

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 故障発生時にチェック回路のエラー検出に応じてセット
   されるエラーインディケータフリップフロップを含む論
   理装置と、該論理装置と診断パスにより接続されたサー
   ビスプロセッサとを備え、故障発生時に前記診断パスを
   介して収集したエラーインディケータフリップフロップ
   の状態情報に基づいて前記サービスプロセッサが被疑故
   障部品を指摘する論理装置の診断方式において、 各エラーインディケータフリップフロップに対応して被
   疑故障部品の識別情報と該被疑故障部品が故障している
   被疑故障確率とを含む被疑部品情報を記憶する故障診断
   辞書を有し、 前記サービスプロセッサは、複数のエラーインディケー
   タフリップフロップがセット状態となった故障の診断時
   、各セット状態となったエラーインディケータフリップ
   フロップに対応して前記故障診断辞書に記憶された被疑
   部品情報に基づき、別々の被疑部品情報中に共通に現れ
   る被疑故障部品の故障している被疑故障確率を新たに求
   め、該求めた被疑故障確率をその被疑故障部品の識別情
   報と共に出力装置より出力することを特徴とする論理装
   置の診断方式。