JPH0254342A - 論理装置の診断方式 - Google Patents
論理装置の診断方式Info
- Publication number
- JPH0254342A JPH0254342A JP63205732A JP20573288A JPH0254342A JP H0254342 A JPH0254342 A JP H0254342A JP 63205732 A JP63205732 A JP 63205732A JP 20573288 A JP20573288 A JP 20573288A JP H0254342 A JPH0254342 A JP H0254342A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 229910016495 ErF3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 101001046426 Homo sapiens cGMP-dependent protein kinase 1 Proteins 0.000 description 1
- 101001046427 Homo sapiens cGMP-dependent protein kinase 2 Proteins 0.000 description 1
- 102100022422 cGMP-dependent protein kinase 1 Human genes 0.000 description 1
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- QGJSAGBHFTXOTM-UHFFFAOYSA-K trifluoroerbium Chemical compound F[Er](F)F QGJSAGBHFTXOTM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は論理装置の診断方式に関し、特に情報処理シス
テムにおける論理装置の診断方式に関する。
テムにおける論理装置の診断方式に関する。
（従来の技術）
従来、この種の診断方式においては、所定の診断処置に
よる診断結果である被疑故障部品名および当該部品の実
装位置が、故障確率の高さに応じて、例えば故障確率の
高い部品と低い部品のせいぜい数レベルにクラス分けさ
れて出力表示されていた。
よる診断結果である被疑故障部品名および当該部品の実
装位置が、故障確率の高さに応じて、例えば故障確率の
高い部品と低い部品のせいぜい数レベルにクラス分けさ
れて出力表示されていた。
（発明が解決しようとする課題）
上述した従来の診断方式では、故障確率をクラス分けし
ているため当該クラス内での被疑故障部品の故障確率が
不明確である。従って、故障確率の高い部品として複数
の部品が表示された場合には、指摘されたすべての部品
を一度に交換すべきかく第１の方法）、１個ずつ交換す
べきかく第２の方法）、又は指摘された部品の中の何個
かを交換すべきか（第３の方法）の判断が困難である。
ているため当該クラス内での被疑故障部品の故障確率が
不明確である。従って、故障確率の高い部品として複数
の部品が表示された場合には、指摘されたすべての部品
を一度に交換すべきかく第１の方法）、１個ずつ交換す
べきかく第２の方法）、又は指摘された部品の中の何個
かを交換すべきか（第３の方法）の判断が困難である。
この場合、１個ずつ部品を交換して、その都度故障が除
去されたか否かを確認する第２の方法を採用すると修理
が完了するまでの時間が長くなる。
去されたか否かを確認する第２の方法を採用すると修理
が完了するまでの時間が長くなる。
又、−度に交換する第１の方法を採用すると正常な部品
までも再検査する必要があるなめ保守コストが高くなる
。更に、第３の方法は第１と第２の方法の中間であるが
逆に言うと両方法の欠点をもっている。
までも再検査する必要があるなめ保守コストが高くなる
。更に、第３の方法は第１と第２の方法の中間であるが
逆に言うと両方法の欠点をもっている。
（課題を解決するための手段）
本発明による論理装置の診断方式はエラーチェック回路
によりエラーが検出されたときにセットされるエラーイ
ンディケータフリップフロップを有する少なくとも１つ
の論理装置と前記論理装置に診断パスを介して接続され
たプロセッサとを備え、前記診断パスを介して送出され
る前記エラーインデイケータ−フリップフロップの状態
を示す信号に基づいて前記論理装置を診断して被疑故障
部品を指摘する論理装置の診断方式において、前記エラ
ーインディケータフリップフロップの状態を示す信号に
対応して被疑故障部品の部品名と実装位置および前記部
品が故障している確率を記録する故障診断辞書を備え、
前記診断時に前記故障診断辞書を参照し、前記被疑故障
部品の部品名および実装位置とともに前記部品が故障し
ている確率をも診断結果として出力表示する。
によりエラーが検出されたときにセットされるエラーイ
ンディケータフリップフロップを有する少なくとも１つ
の論理装置と前記論理装置に診断パスを介して接続され
たプロセッサとを備え、前記診断パスを介して送出され
る前記エラーインデイケータ−フリップフロップの状態
を示す信号に基づいて前記論理装置を診断して被疑故障
部品を指摘する論理装置の診断方式において、前記エラ
ーインディケータフリップフロップの状態を示す信号に
対応して被疑故障部品の部品名と実装位置および前記部
品が故障している確率を記録する故障診断辞書を備え、
前記診断時に前記故障診断辞書を参照し、前記被疑故障
部品の部品名および実装位置とともに前記部品が故障し
ている確率をも診断結果として出力表示する。
（実施例）
次に本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明による論理装置の診断方式の一実施例を
示すシステム構造図である。
示すシステム構造図である。
本実施例によるシステムは、本システムの総括制御を行
うシステム制御装置（ＳＣＵ）１．主記憶装置（ＭＭＵ
）２、演算処理装置（ＥＰＵ）３、入出力制御装！（Ｉ
ＯＰ＞４、およびサービスプロセッサ（ＳＶＰ）５を備
える。サービスプロセッサ５は、収集プログラム５０１
、診断プログラム５０２、表示プログラム５０３に関す
る処理を行い１診断パス１００を介して上記各装置１〜
４と接続されているとともにディスク６、プリンタ７、
操作卓８とも接続されている。
うシステム制御装置（ＳＣＵ）１．主記憶装置（ＭＭＵ
）２、演算処理装置（ＥＰＵ）３、入出力制御装！（Ｉ
ＯＰ＞４、およびサービスプロセッサ（ＳＶＰ）５を備
える。サービスプロセッサ５は、収集プログラム５０１
、診断プログラム５０２、表示プログラム５０３に関す
る処理を行い１診断パス１００を介して上記各装置１〜
４と接続されているとともにディスク６、プリンタ７、
操作卓８とも接続されている。
第２図は第１図のディスク６内の故障診断辞書６０３内
の記録例で、第１図の演算処理装置３内のハードウェア
（ＨＷ）の一部に対応したブロック（第３図に示す）で
ある。
の記録例で、第１図の演算処理装置３内のハードウェア
（ＨＷ）の一部に対応したブロック（第３図に示す）で
ある。
第３図において、部品（ＰＫＧ）１内のレジスタ１０、
レジスタ１１および部品（ＰＫＧ）３内のレジスタ１２
を介したデータがパリティチエツクＰＣＩでパリティチ
エツクされ、エラーと判定された時にエラーインデイケ
ータフリップフロップ（ＥＩＦ）１がセットされる。又
、部品（ＰＫＧ）２内のレジスタ２０を介し、パリティ
チエツクＰＣ４でパリティチエツクされたデータは部品
（ＰＫＧ）２内のレジスタ２１および部品（ＰＫＧ）３
内のレジスタ２２を介した後、パリティチエツクＰＣ２
でパリティチエツクされエラーと判定された時にエラー
インディケータフリップフロップ（ＥＩＦ）２がセット
される０部品（ＰＫＧ）２内のレジスタ３０を介したデ
ータは部品（ＰＫＧ）３内のパリティチエツクＰＣＢで
パリティチエツクされ、エラーと判定された時にエラー
インデイケータフリップフロップ（ＥＩＦ）３がセット
される。
レジスタ１１および部品（ＰＫＧ）３内のレジスタ１２
を介したデータがパリティチエツクＰＣＩでパリティチ
エツクされ、エラーと判定された時にエラーインデイケ
ータフリップフロップ（ＥＩＦ）１がセットされる。又
、部品（ＰＫＧ）２内のレジスタ２０を介し、パリティ
チエツクＰＣ４でパリティチエツクされたデータは部品
（ＰＫＧ）２内のレジスタ２１および部品（ＰＫＧ）３
内のレジスタ２２を介した後、パリティチエツクＰＣ２
でパリティチエツクされエラーと判定された時にエラー
インディケータフリップフロップ（ＥＩＦ）２がセット
される０部品（ＰＫＧ）２内のレジスタ３０を介したデ
ータは部品（ＰＫＧ）３内のパリティチエツクＰＣＢで
パリティチエツクされ、エラーと判定された時にエラー
インデイケータフリップフロップ（ＥＩＦ）３がセット
される。
次に本実施例において演算処理装置３において故障が発
生した場合について説明する。
生した場合について説明する。
サービスプロセッサ５は、収集プログラム５０１の処理
手順に従って診断パス１００を介して、ＥＩＦ情報が収
集され、ディスク６内に格納される。続いて、サービス
プロセッサ５内の診断プログラム５０２によって、ＥＩ
Ｆ情報６０１に対応した被疑部品情報が、ディスク６内
の故障診断辞書６０３から得られる。こうして得られた
被疑部品情報が診断結果６０２としてディスク６内に格
納される。
手順に従って診断パス１００を介して、ＥＩＦ情報が収
集され、ディスク６内に格納される。続いて、サービス
プロセッサ５内の診断プログラム５０２によって、ＥＩ
Ｆ情報６０１に対応した被疑部品情報が、ディスク６内
の故障診断辞書６０３から得られる。こうして得られた
被疑部品情報が診断結果６０２としてディスク６内に格
納される。
操作卓８から表示指示が入力されると、ディスク６内の
診断結果６０２及びＥＩＦ情報６０１は、サービスプロ
セッサ５内の表示プログラム５０３に従ってプリンタ７
により出力表示される。
診断結果６０２及びＥＩＦ情報６０１は、サービスプロ
セッサ５内の表示プログラム５０３に従ってプリンタ７
により出力表示される。
この出力表示を第２図を参照しながら説明する。
ＥｒＦ３がセットされている場合には、１番目の被疑部
品として実装位置Ｌ２の部品ＰＫＧが被疑確率９５％と
して表示され、２番目の被疑部品として実装位置し３の
部品ＰＫＧ３が被疑確率２％として診断結果が出力され
る。この出力表示により部品ＰＫＧ２を１個のみを交換
するのがｆｉ適であることが容易にわかる。
品として実装位置Ｌ２の部品ＰＫＧが被疑確率９５％と
して表示され、２番目の被疑部品として実装位置し３の
部品ＰＫＧ３が被疑確率２％として診断結果が出力され
る。この出力表示により部品ＰＫＧ２を１個のみを交換
するのがｆｉ適であることが容易にわかる。
同様に、ＥｒＦ２がセットされている場合には、故障確
率５２％と４８％が表示されている部品ＰＫＧ３とＰＫ
Ｇ２とを同時に２個交換するのが最適であることがわか
る。
率５２％と４８％が表示されている部品ＰＫＧ３とＰＫ
Ｇ２とを同時に２個交換するのが最適であることがわか
る。
又、ＥＩＦＩがセットされている場合には、十分な保守
時間があれば部品ＰＫ’ＧＩ、ＰＫＧ３の順に１個ずつ
交換し、保守時間が少なければ、部品ＰＫＧ１とＰ Ｋ
Ｇ ３とを同時に２個交換するのが効率的であること
がわかる。
時間があれば部品ＰＫ’ＧＩ、ＰＫＧ３の順に１個ずつ
交換し、保守時間が少なければ、部品ＰＫＧ１とＰ Ｋ
Ｇ ３とを同時に２個交換するのが効率的であること
がわかる。
（発明の効果）
以上説明したように本発明は、診断結果として被疑故障
部品の個々について故障確率を表示しているので１部品
の交換手順の最適化が容易になり、総合的に論理装置の
故障の修理時間を短くでき、経済的、且つ効率的に故障
診断、修理が可能になるという効果がある。
部品の個々について故障確率を表示しているので１部品
の交換手順の最適化が容易になり、総合的に論理装置の
故障の修理時間を短くでき、経済的、且つ効率的に故障
診断、修理が可能になるという効果がある。
第１図は本発明による論理装置の一実施例を示すシステ
ム構成図、第２図は故障診断辞書の記憶概念図、第３図
は第２図の故障診断辞書に対応した論理装置のハードウ
ェアブロック図である。 １・・・システム制御装置、２・・・主記憶装置、３・
・・演算処理装置、４・・・入出力制御装置、５・・・
サービスプロセッサ、６・・・ディスク、７・・・プリ
ンタ、８・・・操作卓、１００・・・診断パス。
ム構成図、第２図は故障診断辞書の記憶概念図、第３図
は第２図の故障診断辞書に対応した論理装置のハードウ
ェアブロック図である。 １・・・システム制御装置、２・・・主記憶装置、３・
・・演算処理装置、４・・・入出力制御装置、５・・・
サービスプロセッサ、６・・・ディスク、７・・・プリ
ンタ、８・・・操作卓、１００・・・診断パス。
Claims (1)
- エラーチェック回路によりエラーが検出されたときにセ
ットされるエラーインディケータフリップフロップを有
する少なくとも１つの論理装置と、前記論理装置に診断
パスを介して接続されたプロセッサとを備え、前記診断
パスを介して送出される前記エラーインディケータフリ
ップフロップの状態を示す信号に基づいて前記論理装置
を診断して被疑故障部品を指摘する論理装置の診断方式
において、前記エラーインディケータフリップフロップ
の状態を示す信号に対応して被疑故障部品の部品名と実
装位置および前記部品が故障している確率を記録する故
障診断辞書を備え、前記診断時に前記故障診断辞書を参
照し、前記被疑故障部品の部品名および実装位置ととも
に前記部品が故障している確率をも診断結果として出力
表示することを特徴とする論理装置の診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63205732A JPH0254342A (ja) | 1988-08-19 | 1988-08-19 | 論理装置の診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63205732A JPH0254342A (ja) | 1988-08-19 | 1988-08-19 | 論理装置の診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0254342A true JPH0254342A (ja) | 1990-02-23 |
Family
ID=16511753
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63205732A Pending JPH0254342A (ja) | 1988-08-19 | 1988-08-19 | 論理装置の診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0254342A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04326238A (ja) * | 1991-04-25 | 1992-11-16 | Nec Corp | 交換機システム用障害推論装置 |
| JP2021527880A (ja) * | 2018-06-18 | 2021-10-14 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 医用イメージングシステムのフィールドサービスのための部品同時交換推奨システム |
-
1988
- 1988-08-19 JP JP63205732A patent/JPH0254342A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04326238A (ja) * | 1991-04-25 | 1992-11-16 | Nec Corp | 交換機システム用障害推論装置 |
| JP2021527880A (ja) * | 2018-06-18 | 2021-10-14 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 医用イメージングシステムのフィールドサービスのための部品同時交換推奨システム |
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