JPH0252201B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0252201B2 JPH0252201B2 JP20548583A JP20548583A JPH0252201B2 JP H0252201 B2 JPH0252201 B2 JP H0252201B2 JP 20548583 A JP20548583 A JP 20548583A JP 20548583 A JP20548583 A JP 20548583A JP H0252201 B2 JPH0252201 B2 JP H0252201B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- input
- output
- inspected
- waveform
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光反射型入力レベル相対出力方式を
使用した被検査体の数量のカウント出力方法に関
するものであり、重ね合せた多数の被検査体を正
確に且つ短時間の内にカウントし得るものである
が、用途はカウント用に限定されるものではな
く、例えば被検査体の表面の凹凸状態を検査する
等多目的に利用されるものである。
使用した被検査体の数量のカウント出力方法に関
するものであり、重ね合せた多数の被検査体を正
確に且つ短時間の内にカウントし得るものである
が、用途はカウント用に限定されるものではな
く、例えば被検査体の表面の凹凸状態を検査する
等多目的に利用されるものである。
以下、本発明を図面に従つて説明する。
図中１はレーザー光の様な光力の強い光を照射
し得る投光器で、後記する被検査体の上方に設置
される。２はランダムに並設した多数の被検査体
であり、任意方法により一方向に移動させる過程
に於てカウントされるものである。
し得る投光器で、後記する被検査体の上方に設置
される。２はランダムに並設した多数の被検査体
であり、任意方法により一方向に移動させる過程
に於てカウントされるものである。
３は投光器１から被検査体２に照射され反射す
る反射散乱光を受光するフオトダイオード等の受
光器、４はノイズフイルター回路５を介して前記
受光器３に電気的に結線した増幅回路、６は増幅
回路４に接続したＡ／Ｄ変換回路であり、上記投
光器１から被検査体２に照射され反射する反射散
乱光は、受光器３により受光されて図面第３図ｂ
に示すような電気的アナログ波形としてノイズフ
イルター回路５に入力し、更にこのノイズフイル
ター回路５及び増幅回路４により波形整形されて
図面第３図ｃに示すような電気的アナログ波形と
してこのＡ／Ｄ変換回路６に入力する。
る反射散乱光を受光するフオトダイオード等の受
光器、４はノイズフイルター回路５を介して前記
受光器３に電気的に結線した増幅回路、６は増幅
回路４に接続したＡ／Ｄ変換回路であり、上記投
光器１から被検査体２に照射され反射する反射散
乱光は、受光器３により受光されて図面第３図ｂ
に示すような電気的アナログ波形としてノイズフ
イルター回路５に入力し、更にこのノイズフイル
ター回路５及び増幅回路４により波形整形されて
図面第３図ｃに示すような電気的アナログ波形と
してこのＡ／Ｄ変換回路６に入力する。
７はマイクロプロセツサー８とROM９と
RAM１０とから構成されたマイクロコンピユー
ターで、アドレスバス１１とデータバス１２とリ
ード信号線１３とライト信号線１４により前記
Ａ／Ｄ換回路６に接続してあり、出力調整値設定
用DIPスイツチ１５を接続した入力ポート１６か
ら出力調整値を読み込んだり或いはＡ／Ｄ変換回
路６との間で入出力信号の授受を行なつたりしな
がら演算処理し、処理したデータを出力ポート１
７に出力するものであるが、以下、Ａ／Ｄ変換回
路６に入力した上記のアナログ波形がカウント信
号として出力ポート１７に出力される手順を図面
を第２図に示すフローチヤートに従つて説明す
る。
RAM１０とから構成されたマイクロコンピユー
ターで、アドレスバス１１とデータバス１２とリ
ード信号線１３とライト信号線１４により前記
Ａ／Ｄ換回路６に接続してあり、出力調整値設定
用DIPスイツチ１５を接続した入力ポート１６か
ら出力調整値を読み込んだり或いはＡ／Ｄ変換回
路６との間で入出力信号の授受を行なつたりしな
がら演算処理し、処理したデータを出力ポート１
７に出力するものであるが、以下、Ａ／Ｄ変換回
路６に入力した上記のアナログ波形がカウント信
号として出力ポート１７に出力される手順を図面
を第２図に示すフローチヤートに従つて説明す
る。
先ずステツプでDIPスイツチ１５の操作によ
り第４図中に示す電圧の初期値Ｓを入力ポート１
６を介してRAM１０に書き込んだ後、ステツプ
で予め設定した第４図中に示す出力調整値Ｃを
RAM１０に読み込む。次にステツプでＡ／Ｄ
変換のスタートが指令され、ステツプでＡ／Ｄ
データをマイクロコンピユーター７に読み込む。
ステツプでこの読み込まれたＡ／Ｄ変換取入値
Ａ（第４図のロ点値と仮定する。）とＡ／Ｄ変換過
去値Ｂ（第４図のイ点値）とを比較し、前者が大
きく然もこのＡ／Ｄ変換取入値Ａが初期値Ｓより
も大きく、Ａ／Ｄ変換過去値Ｂが初期値Ｓよりも
小さい場合、入力電圧は次第に増加し始め且つこ
の時点での電圧は第４図に示す初期値Ｓよりも大
きく、初期値Ｓに近いロ点値に該当し、波形が初
期値Ｓを越えての最低部付近であると判断される
ので、YESの条件が成立しステツプに進む。
そしてステツプでON出力値演算フラグ即ちカ
ウントパルスの正値変換認識フラグＤが０である
場合にYESの条件が成立しステツプに進む。
ステツプでＡ／Ｄ変換取入値Ａに出力調整値Ｃ
を加えた値をON出力値Ｆに代入し、ステツプ
で外部出力するためのデータフラグが１になるま
で再び演算されないようにするためON出力値演
算フラグＤにフラグ１を立てる。ステツプで
Ａ／Ｄ変換取入値ＡとＡ／Ｄ変換過去値Ｂとを比
較し、前者が小さい場合には入力電圧は次第に減
少し始めたものと判断される。つまり、波形電圧
値変化が負側になり始めることで山の最頂部を越
えた付近であると判断され、YESの条件が成立
しステツプに進む。ステツプでOFF出力値
演算フラグ即ちカウントパルスの負値変換認識フ
ラグＥが０である場合にはYESの条件が成立し
ステツプに進む。ステツプでＡ／Ｄ変換取入
値Ａから出力調整値Ｃを差引いた値をOFF出力
値Ｇに代入しステツプで外部出力データが０に
なるまで再び演算させないようにする為OFF出
力値演算フラグＥにフラグ１を立てる。ステツプ
でＡ／Ｄ変換取入値ＡとON出力値Ｆと比較し
前者が大きい場合には被検査体２の形状が立上が
つた形状であると判断しステツプに進む。ステ
ツプで外部出力するためのデータフラグＨを１
にし、ステツプでON出力値演算フラグＤを０
にし、やがて入力電圧が下がり始め、外部出力デ
ータが０になり再び入力電圧が上り始めても出力
調整値以上に上らなければ外部出力データが１に
ならぬようヒステリシス特性を持たす為にON出
力値ＦをＡ／Ｄ変換取入値Ａに入れ変える。ステ
ツプでＡ／Ｄ変換取入値ＡとOFF出力Ｇとを
比較し前者が小さい場合には被検査体２の形状が
立下がつた形状であると判断できステツプに進
む。ステツプで外部出力データを０にし、ステ
ツプでOFF出力値演算フラグＥを０にし、入
力電圧に出力調整値以内の変動があつても外部出
力データに変動を与えないようにヒステリシス特
性を持たせる為にOFF出力値ＧをＡ／Ｄ変換取
入値Ａに入れ替える。ステツプでＡ／Ｄ変換取
入値Ａを過去値としてＡ／Ｄ変換過去値Ｂに代入
し、ステツプで外部出力データＨの内容を出力
ポート１７に出力しステツプのループの始めに
戻る。
り第４図中に示す電圧の初期値Ｓを入力ポート１
６を介してRAM１０に書き込んだ後、ステツプ
で予め設定した第４図中に示す出力調整値Ｃを
RAM１０に読み込む。次にステツプでＡ／Ｄ
変換のスタートが指令され、ステツプでＡ／Ｄ
データをマイクロコンピユーター７に読み込む。
ステツプでこの読み込まれたＡ／Ｄ変換取入値
Ａ（第４図のロ点値と仮定する。）とＡ／Ｄ変換過
去値Ｂ（第４図のイ点値）とを比較し、前者が大
きく然もこのＡ／Ｄ変換取入値Ａが初期値Ｓより
も大きく、Ａ／Ｄ変換過去値Ｂが初期値Ｓよりも
小さい場合、入力電圧は次第に増加し始め且つこ
の時点での電圧は第４図に示す初期値Ｓよりも大
きく、初期値Ｓに近いロ点値に該当し、波形が初
期値Ｓを越えての最低部付近であると判断される
ので、YESの条件が成立しステツプに進む。
そしてステツプでON出力値演算フラグ即ちカ
ウントパルスの正値変換認識フラグＤが０である
場合にYESの条件が成立しステツプに進む。
ステツプでＡ／Ｄ変換取入値Ａに出力調整値Ｃ
を加えた値をON出力値Ｆに代入し、ステツプ
で外部出力するためのデータフラグが１になるま
で再び演算されないようにするためON出力値演
算フラグＤにフラグ１を立てる。ステツプで
Ａ／Ｄ変換取入値ＡとＡ／Ｄ変換過去値Ｂとを比
較し、前者が小さい場合には入力電圧は次第に減
少し始めたものと判断される。つまり、波形電圧
値変化が負側になり始めることで山の最頂部を越
えた付近であると判断され、YESの条件が成立
しステツプに進む。ステツプでOFF出力値
演算フラグ即ちカウントパルスの負値変換認識フ
ラグＥが０である場合にはYESの条件が成立し
ステツプに進む。ステツプでＡ／Ｄ変換取入
値Ａから出力調整値Ｃを差引いた値をOFF出力
値Ｇに代入しステツプで外部出力データが０に
なるまで再び演算させないようにする為OFF出
力値演算フラグＥにフラグ１を立てる。ステツプ
でＡ／Ｄ変換取入値ＡとON出力値Ｆと比較し
前者が大きい場合には被検査体２の形状が立上が
つた形状であると判断しステツプに進む。ステ
ツプで外部出力するためのデータフラグＨを１
にし、ステツプでON出力値演算フラグＤを０
にし、やがて入力電圧が下がり始め、外部出力デ
ータが０になり再び入力電圧が上り始めても出力
調整値以上に上らなければ外部出力データが１に
ならぬようヒステリシス特性を持たす為にON出
力値ＦをＡ／Ｄ変換取入値Ａに入れ変える。ステ
ツプでＡ／Ｄ変換取入値ＡとOFF出力Ｇとを
比較し前者が小さい場合には被検査体２の形状が
立下がつた形状であると判断できステツプに進
む。ステツプで外部出力データを０にし、ステ
ツプでOFF出力値演算フラグＥを０にし、入
力電圧に出力調整値以内の変動があつても外部出
力データに変動を与えないようにヒステリシス特
性を持たせる為にOFF出力値ＧをＡ／Ｄ変換取
入値Ａに入れ替える。ステツプでＡ／Ｄ変換取
入値Ａを過去値としてＡ／Ｄ変換過去値Ｂに代入
し、ステツプで外部出力データＨの内容を出力
ポート１７に出力しステツプのループの始めに
戻る。
上記のように、光力の強い光を被検査体２に照
射して、その反射散乱光を電圧変換し、更にノイ
ズフイルター回路５等を通過した電気的アナログ
波形（第３図ｃ）のうち左側端部を拡大した第４
図ａについて検討してみると、今ハ点をサンプリ
ングし、これをＡ／Ｄ変換した場合、この値が１
つ前のサンプリング値に出力調整軸Ｃを加えた値
より大きい場合、マイクロプロセツサー８は図面
に示してないＩ／Ｏに「１」を出力する。
射して、その反射散乱光を電圧変換し、更にノイ
ズフイルター回路５等を通過した電気的アナログ
波形（第３図ｃ）のうち左側端部を拡大した第４
図ａについて検討してみると、今ハ点をサンプリ
ングし、これをＡ／Ｄ変換した場合、この値が１
つ前のサンプリング値に出力調整軸Ｃを加えた値
より大きい場合、マイクロプロセツサー８は図面
に示してないＩ／Ｏに「１」を出力する。
波形に歪みＸがある場合は、ホ点のＡ／Ｄ変換
値は１つ前の二点のサンプリング値よりも小さ
い。しかし、二点のサンプリング値から出力調整
値Ｃを引いた値よりも大きい場合、マイクロプロ
セツサー８はＩ／Ｏに対して何も出力しないが、
Ｉ／Ｏは出力ポートとしてプログラミングされて
いるときはその出力をラツチする。従つてマイク
ロプロセツサーが何も出力しなくても、カウンタ
ーに対してはその前の値、即ちこの場合「１」を
出力し続ける。
値は１つ前の二点のサンプリング値よりも小さ
い。しかし、二点のサンプリング値から出力調整
値Ｃを引いた値よりも大きい場合、マイクロプロ
セツサー８はＩ／Ｏに対して何も出力しないが、
Ｉ／Ｏは出力ポートとしてプログラミングされて
いるときはその出力をラツチする。従つてマイク
ロプロセツサーが何も出力しなくても、カウンタ
ーに対してはその前の値、即ちこの場合「１」を
出力し続ける。
次にト点では１つ前のヘサンプリング値から出
力調整値Ｃを引いた値よりも小さくなる。この場
合、マイクロプロセツサー８はＩ／Ｏに対して
「０」を出力する。
力調整値Ｃを引いた値よりも小さくなる。この場
合、マイクロプロセツサー８はＩ／Ｏに対して
「０」を出力する。
リ点でのサンプリング値は１つ前のチ点値より
も大きいが、この値がチ点値に出力調整値Ｃを加
えた値よりも小さければ、マイクロプロセツサー
８は歪みＸ部の場合と同様にＩ／Ｏに対して何も
出力しない。従つてカウンターに対しては、その
前の値「０」が出力され続ける。
も大きいが、この値がチ点値に出力調整値Ｃを加
えた値よりも小さければ、マイクロプロセツサー
８は歪みＸ部の場合と同様にＩ／Ｏに対して何も
出力しない。従つてカウンターに対しては、その
前の値「０」が出力され続ける。
従つて、第４図ｂに示すようなデジタル信号が
Ｉ／Ｏに出力され、更にこの信号は第３図ｄに示
すような矩形波信号に変換されてＩ／Ｏから出力
ポート１７へ出力されるので、第３図ａに示すよ
うにランダムに並設した被検査体２…２の形状と
近似する形に再現された電気的アナログ波形（第
３図ｃ）に歪みＸがあつたとしても或いは大小の
変化の大きい波形であつたとしてもこのアナログ
波形は第３図ｄに示す被検査体の数量に相当する
数の矩形波信号として出力ポート１７から出力さ
れるものである。尚、マイクロコンピユータ７に
変えてICなどを使用したハード的ロジツク回路
を使用し得ることは言うまでもない。
Ｉ／Ｏに出力され、更にこの信号は第３図ｄに示
すような矩形波信号に変換されてＩ／Ｏから出力
ポート１７へ出力されるので、第３図ａに示すよ
うにランダムに並設した被検査体２…２の形状と
近似する形に再現された電気的アナログ波形（第
３図ｃ）に歪みＸがあつたとしても或いは大小の
変化の大きい波形であつたとしてもこのアナログ
波形は第３図ｄに示す被検査体の数量に相当する
数の矩形波信号として出力ポート１７から出力さ
れるものである。尚、マイクロコンピユータ７に
変えてICなどを使用したハード的ロジツク回路
を使用し得ることは言うまでもない。
従来の方法は受光器とか増幅器を使用すること
によつて得られたアナログ波形を予め設定した一
定の絶対レベルとの比較によりデジタル信号を出
力出来る様にして被検査体のカウントをしたので
あるから、波形の感度調整を如何に行なつたとし
ても絶対レベルから外れてしまう上下の波形はデ
ジタル信号として得ることが出来ない為、正確な
被検査体の数量のカウントが出来ない欠点があつ
た。然るに本発明は上記の様に、被検査体に照射
して反射する反射散乱光の減衰及び外乱光等によ
る振幅の変動等の影響を少くする様に、レーザー
光の様な光力の強い光を使用し、この光を一方向
に移動する被検査体に照射し、その反射散乱光を
フオトダイオード等の受光器で受光して被検査体
の外形形状をアナログ電圧振幅に再現し、そのア
ナログ電圧をノイズフイルター回路及び増幅回路
等により波形整形してＡ／Ｄ変換回路に入力し、
次にこのＡ／Ｄ変換回路により入力アナログ電圧
を逐次デジタル量に変換し、これをマイクロコン
ピユーター内に数値データとして取り込み又、被
検査体の形状に対応した適切な数値であり且つヒ
ステリシス特性の幅である出力調整値を上記コン
ピユーターの外部に設けたDIPスイツチ等のデー
タ設定用のスイツチにより入力ポートを介して該
マイクロコンピユーター内に取り込んでこれ等を
このマイクロコンピユーター内に書き込まれてい
るプログラムによつて高速演算処理し、入力波形
の振幅形状が被検査体と近似しているかを判断す
ることにより相対的に被検査体の入力波形を検査
すると共にそれに伴つた数量のカウント出力を正
確に行なう様にしたものであるから、受光器等に
よつて得られたアナログ波形が振動とかノイズ等
の影響により振幅のくずれのあるものであつたり
或いは波の大小の変化の大きい波形であつたとし
ても、言い変えれば多数の被検査体が互いに不揃
いのものであつたり高さが受光器で受光し得る範
囲内で異なつていたとしても正確にその数量をカ
ウントすることが出来る効果を発揮するものであ
る。
によつて得られたアナログ波形を予め設定した一
定の絶対レベルとの比較によりデジタル信号を出
力出来る様にして被検査体のカウントをしたので
あるから、波形の感度調整を如何に行なつたとし
ても絶対レベルから外れてしまう上下の波形はデ
ジタル信号として得ることが出来ない為、正確な
被検査体の数量のカウントが出来ない欠点があつ
た。然るに本発明は上記の様に、被検査体に照射
して反射する反射散乱光の減衰及び外乱光等によ
る振幅の変動等の影響を少くする様に、レーザー
光の様な光力の強い光を使用し、この光を一方向
に移動する被検査体に照射し、その反射散乱光を
フオトダイオード等の受光器で受光して被検査体
の外形形状をアナログ電圧振幅に再現し、そのア
ナログ電圧をノイズフイルター回路及び増幅回路
等により波形整形してＡ／Ｄ変換回路に入力し、
次にこのＡ／Ｄ変換回路により入力アナログ電圧
を逐次デジタル量に変換し、これをマイクロコン
ピユーター内に数値データとして取り込み又、被
検査体の形状に対応した適切な数値であり且つヒ
ステリシス特性の幅である出力調整値を上記コン
ピユーターの外部に設けたDIPスイツチ等のデー
タ設定用のスイツチにより入力ポートを介して該
マイクロコンピユーター内に取り込んでこれ等を
このマイクロコンピユーター内に書き込まれてい
るプログラムによつて高速演算処理し、入力波形
の振幅形状が被検査体と近似しているかを判断す
ることにより相対的に被検査体の入力波形を検査
すると共にそれに伴つた数量のカウント出力を正
確に行なう様にしたものであるから、受光器等に
よつて得られたアナログ波形が振動とかノイズ等
の影響により振幅のくずれのあるものであつたり
或いは波の大小の変化の大きい波形であつたとし
ても、言い変えれば多数の被検査体が互いに不揃
いのものであつたり高さが受光器で受光し得る範
囲内で異なつていたとしても正確にその数量をカ
ウントすることが出来る効果を発揮するものであ
る。
第１図は本発明に係る方法を示すブロツクダイ
ヤグラム。第２図はマイクロコンピユーターのソ
フトウエアを示すフローチヤート。第３図は被検
査体とノイズフイルター回路に入力するアナログ
波形とＡ／Ｄ変換回路に入力するアナログ波形と
出力信号との相関関係を示すグラフ。第４図は
Ａ／Ｄ変換回路に入力するアナログ波形とＩ／Ｏ
に出力されるデジタル信号との相関関係を示すグ
ラフである。 図中 １は投光器。２は被検査体。３は受光
器。４は増幅回路。５はノイズフイルター回路。
６はＡ／Ｄ変換回路。７はマイクロコンピユータ
ー。１５は出力調整値設定用DIPスイツチ。１６
は入力ポート。１７は出力ポート。
ヤグラム。第２図はマイクロコンピユーターのソ
フトウエアを示すフローチヤート。第３図は被検
査体とノイズフイルター回路に入力するアナログ
波形とＡ／Ｄ変換回路に入力するアナログ波形と
出力信号との相関関係を示すグラフ。第４図は
Ａ／Ｄ変換回路に入力するアナログ波形とＩ／Ｏ
に出力されるデジタル信号との相関関係を示すグ
ラフである。 図中 １は投光器。２は被検査体。３は受光
器。４は増幅回路。５はノイズフイルター回路。
６はＡ／Ｄ変換回路。７はマイクロコンピユータ
ー。１５は出力調整値設定用DIPスイツチ。１６
は入力ポート。１７は出力ポート。
Claims (1)
- １ レーザー光の様な光力の強い光を一方向に移
動する被検査体に照射し、その反射散乱光をフオ
トダイオード等の受光器で受光して被検査体の外
形形状をアナログ電圧振幅に再現し、そのアナロ
グ電圧をノイズフイルター回路及び増幅回路等に
より波形整理してＡ／Ｄ変換回路に入力し、次に
このＡ／Ｄ変換回路により入力アナログ電圧を逐
次デジタル量にＡ／Ｄ変換しこれをマイクロコン
ピユーター内に数値データとして取り込み、又被
検査体の形状に対応した適切な数値であり且つヒ
ステリシス特性の幅でもある出力調整値を上記コ
ンピユーターの外部に設けたDIPスイツチ等のデ
ータ設定用のスイツチにより入力ポートを介して
該マイクロコンピユーター内に取り込み、上記
Ａ／Ｄ変換した或るサンプリング値が一つ前のサ
ンプリング値に出力調整値を加えた値より大きい
場合にはマイクロプロセツサーは１／０に「１」
を出力し、又Ａ／Ｄ変換した或るサンプリング値
が一つ前のサンプリング値から出力調整値を引い
た値より小さい場合にはマイクロプロセツサーは
１／０に「０」を出力し、その他の場合にはマイ
クロプロセツサーは１／０に対して何も出力しな
いがカウンターに対しては従前の値を出力し続け
るようにすることによりデジタル信号を１／０に
出力し、更にこのデジタル信号を矩形波信号に変
換して１／０から出力ポートへ出力することによ
り、入力波形の振幅形状が被検査体と近似してい
るかを判断して相対的に被検査体の入力波形を検
査すると共にそれに伴つた数量のカウント出力を
正確に行うことを特徴とする、光反射型入力レベ
ル相対出力方式を使用した被検査体の数量のカウ
ント出力方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20548583A JPS6097204A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 光反射型入力レベル相対出力方式を使用した被検査体の数量のカウント出力方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20548583A JPS6097204A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 光反射型入力レベル相対出力方式を使用した被検査体の数量のカウント出力方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6097204A JPS6097204A (ja) | 1985-05-31 |
| JPH0252201B2 true JPH0252201B2 (ja) | 1990-11-09 |
Family
ID=16507630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20548583A Granted JPS6097204A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 光反射型入力レベル相対出力方式を使用した被検査体の数量のカウント出力方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6097204A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1240052A (en) * | 1984-11-30 | 1988-08-02 | Motoji Shiozumi | Method of and apparatus for determining glossinesses of surface of body |
| US4771443A (en) * | 1987-06-12 | 1988-09-13 | Spartanics, Ltd. | Pitch match detecting and counting system |
| JPH02136989A (ja) * | 1988-11-17 | 1990-05-25 | Daipoole:Kk | 紙測定装置 |
| JPH02287785A (ja) * | 1989-04-28 | 1990-11-27 | Nippon Piston Ring Co Ltd | リング状物品の計測装置 |
| KR101405267B1 (ko) * | 2012-10-30 | 2014-06-13 | (주)아이비티 | 레이저 용접 모니터링 시스템 및 모니터링 방법 |
-
1983
- 1983-11-01 JP JP20548583A patent/JPS6097204A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6097204A (ja) | 1985-05-31 |
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