JPH0252242A - ディスク欠陥検出回路 - Google Patents
ディスク欠陥検出回路Info
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- JPH0252242A JPH0252242A JP20286188A JP20286188A JPH0252242A JP H0252242 A JPH0252242 A JP H0252242A JP 20286188 A JP20286188 A JP 20286188A JP 20286188 A JP20286188 A JP 20286188A JP H0252242 A JPH0252242 A JP H0252242A
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- Japan
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- disk
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- signal
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9506—Optical discs
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ディスク等の光学的ディスクの欠陥を検出す
るディスク欠陥検出回路に関する。
るディスク欠陥検出回路に関する。
従来、欠陥検出回路は被検物を光ビームで走査してその
反射光量を受光素子で検出し、この検出信号を固定の検
出レベル（」二限値と下限値）と比較することにより被
検物上の欠陥を検出している。
反射光量を受光素子で検出し、この検出信号を固定の検
出レベル（」二限値と下限値）と比較することにより被
検物上の欠陥を検出している。
上記従来の欠陥検出回路では検出レベルが固定している
ので、被検物の反射光量が変動することにより誤検出を
行い、かつディスク上の欠陥を検出する場合にはディス
ク上の番地を示す連続番号や、書き込みがあったことを
示すフラグ等によって構成されるＴ Ｄ （Ｉ ｄｅｎ
ｔｊｆｊｃａｔｉｏｎ）部を欠陥として誤って検出して
しまう。
ので、被検物の反射光量が変動することにより誤検出を
行い、かつディスク上の欠陥を検出する場合にはディス
ク上の番地を示す連続番号や、書き込みがあったことを
示すフラグ等によって構成されるＴ Ｄ （Ｉ ｄｅｎ
ｔｊｆｊｃａｔｉｏｎ）部を欠陥として誤って検出して
しまう。
本発明は上記欠点を除去し、ディスクの反射光量の変動
やディスク」二のＩＤ部による誤検出を行わないディス
ク欠陥検出回路を提供することを目的とする。
やディスク」二のＩＤ部による誤検出を行わないディス
ク欠陥検出回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、請求項１の発明はディスク
に光ビームを照射してその反射光量を検出する検出手段
と、この検出手段の検出信号が入力されるローパスフィ
ルタと、このローパスフィルタの出力信号に追従して上
限値及び下限値を発生する検出レベル発生手段と、この
検出レベル発生手段からの上限値及び下限値と前記検出
手段からの検出信号とを比較して前記ディスクの欠陥を
検出する比較手段とを備えたものである。
に光ビームを照射してその反射光量を検出する検出手段
と、この検出手段の検出信号が入力されるローパスフィ
ルタと、このローパスフィルタの出力信号に追従して上
限値及び下限値を発生する検出レベル発生手段と、この
検出レベル発生手段からの上限値及び下限値と前記検出
手段からの検出信号とを比較して前記ディスクの欠陥を
検出する比較手段とを備えたものである。
請求項２の発明は請求項」の発明において、前記検出手
段の検出信号からディスク上のＩＤ部と他の部分とを区
別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判定手段の出力信号に
より前記ディスク」二のＩＤ部以外の部分についてのみ
欠陥検出を行わせる制御手段とを有するものである。
段の検出信号からディスク上のＩＤ部と他の部分とを区
別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判定手段の出力信号に
より前記ディスク」二のＩＤ部以外の部分についてのみ
欠陥検出を行わせる制御手段とを有するものである。
請求項３の発明は請求項１の発明において、前記検出手
段の検出信号から前記ディスク上のＩＤ部と他の部分と
を区別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判定手段の出力信
号により前記検出レベル発生手段の入力信号を前記ディ
スク」二のＩＤ部に対してホール１−シ又は所定の検出
レベルに固定する検出レベル固定化手段とを有するもの
である。
段の検出信号から前記ディスク上のＩＤ部と他の部分と
を区別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判定手段の出力信
号により前記検出レベル発生手段の入力信号を前記ディ
スク」二のＩＤ部に対してホール１−シ又は所定の検出
レベルに固定する検出レベル固定化手段とを有するもの
である。
請求項１の発明では検出手段がディスクに光ビームを照
射してその反射光量を検出し、この検出手段の検出信号
がローパスフィルタに入力される。
射してその反射光量を検出し、この検出手段の検出信号
がローパスフィルタに入力される。
検出レベル発生手段はローパスフィルタの出力信号に追
従して上限値及び下限値を発生し、比較手段は検出レベ
ル発生手段からの」二限値及び下限値と検出手段からの
検出信号とを比較してディスクの欠陥を検出する。
従して上限値及び下限値を発生し、比較手段は検出レベ
ル発生手段からの」二限値及び下限値と検出手段からの
検出信号とを比較してディスクの欠陥を検出する。
また請求項２の発明では請求項１の発明において、ＩＤ
判定手段が検出手段の検出信号からディスク上のＩＤ部
と他の部分とを区別し、制御手段がＩＤ判定手段の出力
信号によりディスク」二のＩＤ部以外の部分についての
み欠陥検出を行わせる。
判定手段が検出手段の検出信号からディスク上のＩＤ部
と他の部分とを区別し、制御手段がＩＤ判定手段の出力
信号によりディスク」二のＩＤ部以外の部分についての
み欠陥検出を行わせる。
さらに請求項３の発明では請求項１の発明において、Ｉ
Ｄ判定手段が検出手段の検出信号からディスク上のＩＤ
部と他の部分とを区別し、検出レベル固定化手段がＩＤ
判定手段の出力信号により検出レベル発生手段の入力信
号をディスク−にの１０部に対してホールドし又は所定
の検出レベルに固定する。
Ｄ判定手段が検出手段の検出信号からディスク上のＩＤ
部と他の部分とを区別し、検出レベル固定化手段がＩＤ
判定手段の出力信号により検出レベル発生手段の入力信
号をディスク−にの１０部に対してホールドし又は所定
の検出レベルに固定する。
第２図は本発明の一実施例を示す。
この実施例は光デイスク上の欠陥を検出する例である。
ピックアップ１２は光ディスク１１に裏面側から半導体
レーザによる光ビームを照射してその反射光を受光素子
で受光することにより反射光量を検出し、光ディスク１
１がモータにより回転駆動されるとともにピックアップ
１２がシーク機構により光ディスク１１の半径方向へ移
動することによりピンクアップ１２の半導体レーザによ
る光ビー１１が光ディスク１１の１−ラック」二を移動
する。制御回路１３はピックアップ１２における」二記
受光素子からの信号により上記光ビームのフォーカシン
グ及び１へランキングを行い、かつＲＦ倍信号言われる
光ディスク１１の反射光量の総和に比例した電圧を出力
する。欠陥検出回路１４は制御回路１３からのＲＦ倍信
号基準信号と比較して光ディスク１１」二の反射光量が
下がる位置と長さを演算する。
レーザによる光ビームを照射してその反射光を受光素子
で受光することにより反射光量を検出し、光ディスク１
１がモータにより回転駆動されるとともにピックアップ
１２がシーク機構により光ディスク１１の半径方向へ移
動することによりピンクアップ１２の半導体レーザによ
る光ビー１１が光ディスク１１の１−ラック」二を移動
する。制御回路１３はピックアップ１２における」二記
受光素子からの信号により上記光ビームのフォーカシン
グ及び１へランキングを行い、かつＲＦ倍信号言われる
光ディスク１１の反射光量の総和に比例した電圧を出力
する。欠陥検出回路１４は制御回路１３からのＲＦ倍信
号基準信号と比較して光ディスク１１」二の反射光量が
下がる位置と長さを演算する。
第１図は上記欠陥検出回路１４の構成を示す。
制御回路１３からの第６図（１）に示すようなＲＦ倍信
号ローパスフィルタ１５により低周波分の全体レベルの
変動が抽出され、上限値発生回路１６がロバスフィルタ
１５の出力信号に追従して」二限値を発生すると同時に
下限値発生回路１７がローパスフィルタ１５の出力信号
に追従して下限値を発生する。
号ローパスフィルタ１５により低周波分の全体レベルの
変動が抽出され、上限値発生回路１６がロバスフィルタ
１５の出力信号に追従して」二限値を発生すると同時に
下限値発生回路１７がローパスフィルタ１５の出力信号
に追従して下限値を発生する。
そして制御回路１３からのＲＦ倍信号バッファ回路１８
を経てウィンドコンパレータからなる比較回路１９によ
り上限値発生回路１６からの上限値、下限値発生回路１
７からの下限値と比較することにより、光ディスク１１
」二の欠陥を検出する。この比較回路１９の出力信号は
基準パルス発生回路２０からの基準パルスによりアント
ゲ−Ｉ・２１を通過してカウンタ２２によりカランＩ・
される。従来は第７図に示すように」二限値発生回路１
６及び下限値発生回路１７が固定の上限値及び下限値を
発生していたので、比較回路１９の出力信号に被検物の
反射光量の変動による誤差（図示斜線部分）を生した。
を経てウィンドコンパレータからなる比較回路１９によ
り上限値発生回路１６からの上限値、下限値発生回路１
７からの下限値と比較することにより、光ディスク１１
」二の欠陥を検出する。この比較回路１９の出力信号は
基準パルス発生回路２０からの基準パルスによりアント
ゲ−Ｉ・２１を通過してカウンタ２２によりカランＩ・
される。従来は第７図に示すように」二限値発生回路１
６及び下限値発生回路１７が固定の上限値及び下限値を
発生していたので、比較回路１９の出力信号に被検物の
反射光量の変動による誤差（図示斜線部分）を生した。
しかし、この実施例では」二限値発生回路１６及び下限
値発生回路１７が第６図（２）のようにローパスフィル
タ１５の出力信号に追従して上限値及び下限値を発生す
るので、比較回路１９の出力信号に光ディスク１１の反
射光量の変動による誤差が生じない。
値発生回路１７が第６図（２）のようにローパスフィル
タ１５の出力信号に追従して上限値及び下限値を発生す
るので、比較回路１９の出力信号に光ディスク１１の反
射光量の変動による誤差が生じない。
ところが、一般に光ディスク１１はＩＤ部があり、上記
実施例ではそのＩＤ部により上限値発生回路１６及び下
限値発生回路Ｊ７の上限値及び下限値が第６図（２）の
ように正常な位置につくまでに誤差を生ずるという欠点
がある。
実施例ではそのＩＤ部により上限値発生回路１６及び下
限値発生回路Ｊ７の上限値及び下限値が第６図（２）の
ように正常な位置につくまでに誤差を生ずるという欠点
がある。
第３図はその欠点を除去した本発明の他の実施例におけ
る欠陥検出回路を示し、第１図と同一部分には同一符号
が付しである。
る欠陥検出回路を示し、第１図と同一部分には同一符号
が付しである。
この実施例は上記実施例において欠陥検出回路１４とし
て第３図に示すものを用いた例であり、１０判定部２３
は制御回路］３がらのＲＴ？倍信号より光ディスク１１
」二におけるＩＤ部をデータ部と区別して検出する。ゲ
ート２４は１０判定部２３から第６図（３）のようにデ
ィスク１１上のＩＤ部で低レベルになってディスク１１
」二のデータ部で高レベルとなる信号が入力されると共
に、基準パルス発生回路２゜からの基準パルス及び比較
回路１９の出力信号が入力され、制御回路Ｉ３からＲＦ
倍信号おけるディスク１１上のデータ部に対応する部分
が出力されていて基準パルス発生回路２０からの基準パ
ルスが入力されたときに比較回路１９の出力信号を通過
させる。
て第３図に示すものを用いた例であり、１０判定部２３
は制御回路］３がらのＲＴ？倍信号より光ディスク１１
」二におけるＩＤ部をデータ部と区別して検出する。ゲ
ート２４は１０判定部２３から第６図（３）のようにデ
ィスク１１上のＩＤ部で低レベルになってディスク１１
」二のデータ部で高レベルとなる信号が入力されると共
に、基準パルス発生回路２゜からの基準パルス及び比較
回路１９の出力信号が入力され、制御回路Ｉ３からＲＦ
倍信号おけるディスク１１上のデータ部に対応する部分
が出力されていて基準パルス発生回路２０からの基準パ
ルスが入力されたときに比較回路１９の出力信号を通過
させる。
このゲート２４の出力信号はカウンタ２２によりカラン
１〜される。またゲー１〜２４は制御回路１３がらＲＦ
倍信号おけるディスク１１」−のＩＤ部に対応する部分
が出力されているときにはオフとなり、比較回路］９の
出力信号はゲート２４により阻止されてカウンタ２２で
カラン１〜されない。
１〜される。またゲー１〜２４は制御回路１３がらＲＦ
倍信号おけるディスク１１」−のＩＤ部に対応する部分
が出力されているときにはオフとなり、比較回路］９の
出力信号はゲート２４により阻止されてカウンタ２２で
カラン１〜されない。
しかし、この実施例ではゲート２４がローパスフィルタ
１５の時定数たけ実際のＩＤ部の長さに相当する時間よ
り長く閉じているので、データ部の欠陥検出を行える長
さが短くなるという欠点がある。
１５の時定数たけ実際のＩＤ部の長さに相当する時間よ
り長く閉じているので、データ部の欠陥検出を行える長
さが短くなるという欠点がある。
第４図、第５図はその欠点を除去した本発明の他の各実
施例における欠陥検出回路を示し、第３図と同一部分に
は同一符号が付しである。
施例における欠陥検出回路を示し、第３図と同一部分に
は同一符号が付しである。
第４図の実施例は上記実施例において欠陥検出回路１４
として第４図に示すものを用いた例であり、ケー１−２
４が閉じている間はローパスフィルタ１５の入力電圧を
固定するものである。アナログスイッチ２５はより判定
部２３の出力信号によりディスク］１」二のＩＤ部でオ
フになって制御回路１３からローパスフィルタ１５への
ＲＦ倍信号阻止し、ディスク１１上のデータ部でオンし
て制御回路１３からローパスフィルタ１５へのＲＦ倍信
号通過させる。アナログスイッチ２６はＩＤ判定部２３
の出力信号がインバータ２７で反転されて入力されるこ
とによりディスク］■」二のＩＤ部でオンになって固定
の基準電圧をロバスフィルタ］５へ入力させ、ディスク
１目二のデ−タ部でオフして固定基準電圧のローパスフ
ィルタ］５への入力を阻止する。したがってゲー１−２
４が開いてから」二限値発生回路１６及び下限値発生回
路１７の」二限値及び下限値が本来の値になるまでの時
間が短くなり、欠陥検出を行えるデータ部の長さが長く
なる。
として第４図に示すものを用いた例であり、ケー１−２
４が閉じている間はローパスフィルタ１５の入力電圧を
固定するものである。アナログスイッチ２５はより判定
部２３の出力信号によりディスク］１」二のＩＤ部でオ
フになって制御回路１３からローパスフィルタ１５への
ＲＦ倍信号阻止し、ディスク１１上のデータ部でオンし
て制御回路１３からローパスフィルタ１５へのＲＦ倍信
号通過させる。アナログスイッチ２６はＩＤ判定部２３
の出力信号がインバータ２７で反転されて入力されるこ
とによりディスク］■」二のＩＤ部でオンになって固定
の基準電圧をロバスフィルタ］５へ入力させ、ディスク
１目二のデ−タ部でオフして固定基準電圧のローパスフ
ィルタ］５への入力を阻止する。したがってゲー１−２
４が開いてから」二限値発生回路１６及び下限値発生回
路１７の」二限値及び下限値が本来の値になるまでの時
間が短くなり、欠陥検出を行えるデータ部の長さが長く
なる。
第５図の実施例は上記実施例において欠陥検出回路１４
として第５図に示すものを用いた例であり、ゲー１〜２
４が閉している間はその閉じる瞬間のローパスフィルタ
１５の入力電圧を保持するものである。
として第５図に示すものを用いた例であり、ゲー１〜２
４が閉している間はその閉じる瞬間のローパスフィルタ
１５の入力電圧を保持するものである。
ワンパルス発生回路２８はＩＤ判定部２３の出力信号に
よりディスク１］上のＩＤ部の最初でパルスを１つ発生
し、このパルスによりサンプルホール１〜回路２９が制
御回路］３がらのＲＦ倍信号サンプルしてホールｊくす
る。このサンプルホール１−回路２９の出力はアナログ
スイッチ２６によりディスク１１」−の１０部で基準電
圧としてローパスフィルタ１５へ入力される。
よりディスク１］上のＩＤ部の最初でパルスを１つ発生
し、このパルスによりサンプルホール１〜回路２９が制
御回路］３がらのＲＦ倍信号サンプルしてホールｊくす
る。このサンプルホール１−回路２９の出力はアナログ
スイッチ２６によりディスク１１」−の１０部で基準電
圧としてローパスフィルタ１５へ入力される。
以」二のようにｌｈ求項１の発明ではディスクに光ビー
ムを照射してその反射光量を検出する検出手段と、この
検出手段の検出信号が入力されるローパスフィルタと、
このローパスフィルタの出力信号に追従して上限値及び
下限値を発生する検出レベル発生手段と、この検出レベ
ル発生手段からの上限値及び下限値と前記検出手段から
の検出信号とを比較して前記ディスクの欠陥を検出する
比較手段とを備えたので、ディスクの反射光量の変動に
よる誤検出を行わなくなる。
ムを照射してその反射光量を検出する検出手段と、この
検出手段の検出信号が入力されるローパスフィルタと、
このローパスフィルタの出力信号に追従して上限値及び
下限値を発生する検出レベル発生手段と、この検出レベ
ル発生手段からの上限値及び下限値と前記検出手段から
の検出信号とを比較して前記ディスクの欠陥を検出する
比較手段とを備えたので、ディスクの反射光量の変動に
よる誤検出を行わなくなる。
また請求項２の発明では請求項１の発明において、前記
検出手段の検出信号からディスク」二のＩＤ部と他の部
分とを区別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判定手段の出
力信号により前記ディスク上のＩＤ部以外の部分につい
てのみ欠陥検出を行わせる制御手段とを有するので、デ
ィスク上のＩＤ部による誤検出も行わなくなる。
検出手段の検出信号からディスク」二のＩＤ部と他の部
分とを区別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判定手段の出
力信号により前記ディスク上のＩＤ部以外の部分につい
てのみ欠陥検出を行わせる制御手段とを有するので、デ
ィスク上のＩＤ部による誤検出も行わなくなる。
さらに請求項３の発明では請求項１の発明において、前
記検出手段の検出信号から前記ディスク上のＩＤ部と他
の部分とを区別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判定手段
の出力信号により前記検出レベル発生手段の入力信号を
前記ディスク上のＩＤ部に対してホールドし又は所定の
検出レベルに固定する検出レベル固定化手段とを有する
ので、ディスク上の欠陥検出を行えるデータ部の長さが
長くなる。
記検出手段の検出信号から前記ディスク上のＩＤ部と他
の部分とを区別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判定手段
の出力信号により前記検出レベル発生手段の入力信号を
前記ディスク上のＩＤ部に対してホールドし又は所定の
検出レベルに固定する検出レベル固定化手段とを有する
ので、ディスク上の欠陥検出を行えるデータ部の長さが
長くなる。
第１図は本発明の一実施例における欠陥検出回路を示す
ブロック図、第２図は同実施例を示すブロック図、第３
図乃至第５図は本発明の他の各実施例における欠陥検出
回路を示すブロック図、第６図は上記実施例の各信号波
形を示す波形図、第７図は従来の欠陥検出回路における
各信号波形を示す波形図である。
ブロック図、第２図は同実施例を示すブロック図、第３
図乃至第５図は本発明の他の各実施例における欠陥検出
回路を示すブロック図、第６図は上記実施例の各信号波
形を示す波形図、第７図は従来の欠陥検出回路における
各信号波形を示す波形図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、ディスクに光ビームを照射してその反射光量を検出
する検出手段と、この検出手段の検出信号が入力される
ローパスフィルタと、このローパスフィルタの出力信号
に追従して上限値及び下限値を発生する検出レベル発生
手段と、この検出レベル発生手段からの上限値及び下限
値と前記検出手段からの検出信号とを比較して前記ディ
スクの欠陥を検出する比較手段とを備えたディスク欠陥
検出回路。 ２、前記検出手段の検出信号からディスク上のＩＤ部と
他の部分とを区別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判定手
段の出力信号により前記ディスク上のＩＤ部以外の部分
についてのみ欠陥検出を行わせる制御手段とを有する請
求項１記載のディスク欠陥検出回路。 ３、前記検出手段の検出信号から前記ディスク上のＩＤ
部と他の部分とを区別するＩＤ判定手段と、このＩＤ判
定手段の出力信号により前記検出レベル発生手段の入力
信号を前記ディスク上のＩＤ部に対してホールドし又は
所定の検出レベルに固定する検出レベル固定化手段とを
有する請求項１記載のディスク欠陥検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63202861A JP2774516B2 (ja) | 1988-08-15 | 1988-08-15 | ディスク欠陥検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63202861A JP2774516B2 (ja) | 1988-08-15 | 1988-08-15 | ディスク欠陥検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0252242A true JPH0252242A (ja) | 1990-02-21 |
| JP2774516B2 JP2774516B2 (ja) | 1998-07-09 |
Family
ID=16464410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63202861A Expired - Fee Related JP2774516B2 (ja) | 1988-08-15 | 1988-08-15 | ディスク欠陥検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2774516B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02166646A (ja) * | 1988-12-20 | 1990-06-27 | Csk Corp | 光記憶媒体欠陥検査装置 |
| WO2003102563A1 (en) * | 2002-05-30 | 2003-12-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for detecting foreign matter on object, device for detecting foreign matter on object, and optical disc apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60107749A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク検査装置 |
-
1988
- 1988-08-15 JP JP63202861A patent/JP2774516B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60107749A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク検査装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02166646A (ja) * | 1988-12-20 | 1990-06-27 | Csk Corp | 光記憶媒体欠陥検査装置 |
| WO2003102563A1 (en) * | 2002-05-30 | 2003-12-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for detecting foreign matter on object, device for detecting foreign matter on object, and optical disc apparatus |
| US7239588B2 (en) | 2002-05-30 | 2007-07-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for detecting foreign body on object surface, and optical disk apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2774516B2 (ja) | 1998-07-09 |
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