JPH0252525A - プログラム可能なcmos論理アレイ - Google Patents

プログラム可能なcmos論理アレイ

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JPH0252525A
JPH0252525A JP1166489A JP16648989A JPH0252525A JP H0252525 A JPH0252525 A JP H0252525A JP 1166489 A JP1166489 A JP 1166489A JP 16648989 A JP16648989 A JP 16648989A JP H0252525 A JPH0252525 A JP H0252525A
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JP
Japan
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row
line
column
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transistor
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JP1166489A
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Knut Caesar
クルト・カエザル
Helmut Haeringer
ヘルムート・ヘリンガー
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TDK Micronas GmbH
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Deutsche ITT Industries GmbH
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/14Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of delay lines
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/173Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
    • H03K19/177Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form
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    • H03K19/1772Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form the logic functions being realised by the interconnection of rows and columns using an AND matrix followed by an OR matrix, i.e. programmable logic arrays with synchronous operation, i.e. using clock signals, e.g. of I/O or coupling register with synchronous operation of at least one of the logical matrixes

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、相補型絶縁ゲート電界効果型トランジスタ技
術によって構成される非重複の二相クロック制御される
プログラム可能な論理アレイ(以下PLAという)  
(N、11.E、Weste等による文献“Pr1nc
iples of 0MO3VLSI Desjng”
論文368乃至373頁特に8.7.4項(372/3
73頁)マサチューセッツ 1985年)の改良に関す
る。
「従来の技術」 そのようなCMOSPLAは、アンド平面と、オア平面
と、アンド平面とオア平面を互いに接続するアンド/オ
ア平面とを有する。それらのトランジスタは、第1と第
2の行ライン間と第1と第2の列ライン間にアンド平面
のm行およびn列内におよびオア平面のp列内に各々配
置される。
内部クロックは、2つの行ラインと入力がダミー行の第
1の行ラインに接続されているシュミットトリガ−を有
するアンドおよびアンド/オア平面のダミー行によって
達成される。オア平面の各行と、ダミー行と、各列は、
ゲートが行とダミー行内の反転された第1の二相クロッ
クによってまた列のシュミットトリガ−の出力によって
駆動されるY・め充電されたPトランジスタと評価Nト
ランジスタを含む。予め充7ヒされたPトランジスタの
被制御電流バスは、供給電圧と第1の行ライン間および
供給電圧と第1の列ライン間の各々に接続され、評価N
トランジスタの被制御電流バスは、接地レベルと第2の
行ライン間および接地レベルと第2の列ライン間に各々
接続される。アンド平面においてダミー行は、被制御電
流バスが第1と第2の行ライン間に配置された列ごとに
2個のNトランジスタを備えている。それらの1つは第
1の列ラインに接続されるそのゲートを付し、他は第2
の列ラインに接続されるゲートを何する。ブログラミン
グは列と行トランジスタによってもたらされる。アンド
平面の行トランジスタは、行の2つの行ライン間に接続
された被制御電流バスを有し、それらのゲートは非反転
または反転された入力信号のど7ちらかによって駆動さ
れ、一方オア平面の列トランジスタは、出力に導かれる
第1の列ラインと第2の列ラインとの間に接続された被
制御電流バスを有する。行と列トランジスタの数とアン
ドおよびオア平面内のそれらの各々の位置は、予定され
たプログラミングによって決定される。さらに、細部は
第1図を解説しながら以下に述べる。
従来技術CMOSPLAにおいて、非重複二相クロック
の位相の1つは、アンド平面内の入力信号を貯蔵するの
に使用され、一方オア平面はダミー行と上記シュミット
トリガ−によって発生された内部クロック信号によって
クロックされる。
後者は、アンドおよびオア平面の各行において評価時間
よりも長い遅延を供給しなければならない。
この時間は、各々の負荷キャパシタンスおよび行と列ト
ランジスタの面積によって決定される。負荷キャパシタ
ンスは、本質的にこれらのトランジスタの各々のソース
およびドレイン領域のキャパシタンスから成る。
行トランジスタの数は、CMOS  PLAの各入力つ
まり非反転または反転された入力信号のいずれかと関連
した最小期限の間に1つの行トランジスタがあるならば
、最大となる。最長の評価時間は、そのような最小期間
において1つの行トランジスタのみが入力信号によって
ラインキャパシタンスの電荷を逆転しなければならない
のならば得られる。内部クロック信号の発生におけるこ
の最悪の場合を認めるために、ダミー行とシュミットト
リガ−が従来技術のCMOS  PLA内に設けられて
いる。トランジスタがダミー行に含まれているので、こ
の行の負荷キャパシタンスは、アンド平面内の上記最悪
の場合におけるそれの2倍である。
「発明の解決すべき課題」 従来技術のアレイにおいて、ダミー行のトランジスタの
半分は変化せず、シュミットトリガ−による内部クロッ
ク信号の付加遅延は不調を排除しない。さらに、集積回
路として作られたCMOS  PLA4よ遅延における
製造の変化を示す。
本発明は、この問題を解決しようとするものである。本
発明の目的は、遅延における製造の変化が著しく減少さ
れるその様な方法において、従来技術CMOS  PL
Aを修正し改良することである。さらに、別の目的はシ
ュミットトリガ−がより少ないトランジスタを含むサブ
回路によって置換されることである。
「課題解決のための手段」 本発明では、これはダミー行のトランジスタの代わりに
特許請求の範囲に明記されたNトランジスタとキャパシ
タとを設けること、およびノアゲートによってシュミッ
トトリガ−を置換することによって本質的に達成される
「実施例」 本発明の第1の変形の実施例を示す第1図の概要の回路
図には、アンド平面ubのn列のus1列とus2列と
usn列が示され、一方オア平面obのp列のos1列
とosp列も示されている。m行のz1行とztn行お
よびダミー行zdは、第1図に示されている。アンド平
面ubとオア平面obの間には、アンド/オア平面uo
bが配置されている。それぞれの行は、2つの行ライン
lzlとIz2を有し、後者はアンド平面内でのみ与え
られ、前者はオア平面内に伸びている。アンド/オア平
面は通常行ラインlzlの信号がレベル更新のために通
される2個の直列インバータを含む。
列は2つの列ラインIslとls2を有する。アンド平
面の列ラインは、非反転入力信号および反転入力信号を
搬送する。入力信号は、各々の入力cl、 e2. e
nから第1のクロック信号flによってオンされる各入
力伝達ゲートtgeを通り、そして2つのインバータi
t、 12を通って供給される。インバータ11の出力
は第1の列ラインIslに接続され、第2のインバータ
12の出力は第2の列ラインIs2に接続される。
オア平面において、第1の列ラインIslは第2のクロ
ック信号r2によってオンされる出力伝達ゲートtga
および第3のインバータi3を経て各出力a1. ap
に接続される。
アンド平面内のダミー行zdは2つの行ライン旧とId
2を有し、その第1のldlはノアゲートngの一つの
入力に接続し、ノアゲートの他の入力はリセットライン
1rに接続されている。
各行とダミー行と各列は、被制御電流バスが各々第1の
行ラインIzl 、Idlまたは各列ラインIslを電
圧供給11.uに接続する予め充電されたPトランジス
タtpz 、 tpsを含む。さらに、各行、ダミー行
、およびオア平面Obの各列は、被制御電流バスが各節
2の行ラインIz2 、ld2または各列ラインIs2
を接地型レベルに接続する評価Nトランジスタtcz 
、 tesを含む。各行およびダミー行において、2つ
のトランジスタtpz 、 tezのゲートは互いに結
合され、反転された第1のクロック信号flQによって
駆動される。オア平面obの各列において、2つのトラ
ンジスタtps 、 tesのゲートもまた互いに結合
されるが、ノアゲートngの出力によって駆動される。
アンド平面ubにおいて、予定されたプログラミングに
従って行トランジスタtzの被測@J電流バスハ、各行
の2つの行ラインIzl 、Iz2の間に接続される。
そのゲートは、これらのトランジスタが非反転入力信号
または反転入力信号の一方によってオンされるように第
1の列ラインlslまたは第2の列ラインIs2のいず
れかに接続される。列uslと行zL zlこよって形
成されるアンドセル内の可能な行トランジスタtzを第
1図に示す。
オア平面obにおいて、予定されたプログラミングに従
って列トランジスタtsの披制御電&バスは、各列の2
つの列ラインlsl 、ls2の間に接続される。その
ゲートは、各々第1の行ラインIzlに接続される。行
zlと列osl 、osbによって形成されたオアセル
および行zn+と列oslによって形成されたオアセル
内の可能な列トランジスタtsを第1図に示す。
アンド平面ubのダミー行zdは、容積ごとに2つのキ
ャパシタCを含み、その一つは第1の行ラインIdlと
接地レベルとの間に接続され、その他方のものは第2の
行ラインld2と接地レベルとの間に接続される。従っ
て第1図の実施例において、2n個のキャパシタCが設
けられる。しかしながら、これは絶対に必要なものでは
なく、それより少ないキャパシタでも構わないが、しか
しそれらの数はこれらの全行のほとんどの行トランジス
タtzを含むアンド平面(ub)のその行のキャパシタ
の数の少なくとも2倍の数でなければならない。
本発明によれば、キャパシタCは、基体(第2図の領域
d)内に含まれ、前記基体と反対にドープされ、第1ま
たは第2の行ラインlzl 、lz2、つまりソース領
域とドレイン領域のいずれかに接続された各行トランジ
スタtzの領域とそれぞれが可能な限り早く同一の面積
と同一の端部長を有する領域によって形成される。キャ
パシタCは、故に基体を通って接地される。
本発明によれば、ダミー行zdはさらに、被測ga電流
バスがアンド平面の外側にあって行ライン旧 1d2間
に接続され、ゲートが電圧供給源Uに接続されたNトラ
ンジスタLを含む。
第2図に示された本発明にしたがった第2の変形の実施
例の結合された配置と概要の回路図において、ダミー行
を含む第1図の全ての2つの隣接した行内の第2の行ラ
インIz2 、ld2は、対のラインipに結合され得
る。そのため行のこれらのそれぞれの々・1において2
つの評価Nトランジスタは対応トランジスタtQZ’に
よって置換されなければならない。それぞれの行とダミ
ー行中の残る行ラインは、参照初号1zによって第2図
において示されている。第2図の左側で、第2図の配置
によって表される第1図の行をブラケットで示している
第2図の中央の部分は、アンド平面内の配置の概要を示
している。水平のストリップは導体例えばアルミニウム
導体を表し、点線で表された垂直のストリップもまた列
ラインである導体を表すが好ましくは多結晶シリコンの
導体を表す。第1図の行zlSZl11を構成する第2
図の下の部分は、行トランジスタtzの配置、すなわち
下の行ライン1zと対ライン1pの間の2つのトランジ
スタおよび後者と上部の行ライン1zの間の2つのトラ
ンジスタを表す。チャンネル領域が水平トランジスタ部
分と各列ラインの交点にある行トランジスタのドレイン
またはソース端子はそれぞれ各四角で示され対ラインと
行ラインの交点に配置されている。前記の端子とチャン
ネル領域間の太線によって区切られたこれらの領域は、
各ドレインまたはソース領域である。
第2図の左側において、2つの行トランジスタtzは列
ラインlslに接続されたゲートを有し、一方策2図の
右側において、下の行トランジスタ【2は列ラインIs
2に接続されたゲートを有する。
第2図の上部は、3つの領域dの最大がダミー行zd内
の各アンドセルのために与えられなければならないこと
を示す。最大数は3nであるが、しかしこれらの行のほ
とんど全ての行トランジスタを含むアンド平面の行内に
ある領域の数の少なくとも3倍でなければならない。領
域dの273は、ダミー行zdの行ライン1zに接続さ
れ、そして173はダミー行の対ラインIpに接続され
る。これらの領域も、関連した行トランジスタtzの領
域と可能な限り同一の面積と同一の端部長を有する。
第2図はまた、被制御電流バスが行ライン1zと対ライ
ン1pの間に接続され、ゲートが電圧供給源に接続され
るダミー行zd内のNトランジスタ【を示す。他のトラ
ンジスタtpZ % tez’は、第1図のそれらに対
応する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、行ごとに2つの行ラインを具備する本発明に
従った第1の実施例の概要の回路図である。 第2図は、本発明に従った第2の実施例の概要の回路図
と配置を示す。 zd・・・ダミー行、ng・・・ノアゲート、1y・・
・リセットライン、flq・・・二相クロック、ub・
・・アンド平面、uob・・・アンド/オア平面、ob
・・・オア平面、U・・・電圧供給源、tge・・・入
力伝達ゲート、tpz 、 tps・・・予め充電され
たPトランジスタ、tez価Nトランジスタ。 tes・・・評

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、各々の行および列トランジスタがアンド平面のm行
    とn列内およびオア平面のm行とp列内に第1の行ライ
    ンと第2の行ライン間と第1の列と第2の列間に配置さ
    れているアンド平面と、オア平面と、前記2つの平面を
    互いに接続するアンド/オア平面と、 内部クロックとして動作し2つの行ラインを有するアン
    ドおよびアンド/オア平面内のダミー行と、 1つの入力が第1の行ラインに接続され他方の入力がリ
    セットラインに接続されているダミー行内のノアゲート
    と、 ゲートが、行内のまたダミー行内の反転された第1の二
    相クロックによって、および列内のノアゲートの出力に
    よって駆動され、その被制御電流バスが供給電圧と第1
    の行ライン間および供給電圧と第1の列ライン間に各々
    接続される予め充電されたPトランジスタと、被制御電
    流バスが接地レベルと第2の行ライン間および接地レベ
    ルと第2の列ライン間に各々接続された評価Nトランジ
    スタとを具備する各行とダミー行および各列内の予め充
    電されたPトランジスタと評価Nトランジスタと、 前記行のほとんど全ての行トランジスタを含み、領域の
    半分がダミー行の第1の行ラインに接続され、残り半分
    がダミー行の第2の行ラインに接続され、第1の行ライ
    ンおよび第2の行ライン(各々ソース領域とドレイン領
    域)に各々接続されている行トランジスタの領域と可能
    な限り同一の面積と同一の端部長を有する各領域とを含
    むアンド平面の行の領域の数の少なくとも2倍である基
    体と反対にドープされたCMOSPLAの基体内のキャ
    パシタを形成する最大2n個の領域と、アンド平面の外
    側でダミー行の行ライン間に接続され、ゲートが供給電
    圧に接続され、行トランジスタと同一の配置を有するN
    トランジスタとを含む相補型絶縁体ゲート電界効果型ト
    ランジスタ技術で構成された非重複の二相クロックプロ
    グラム可能な論理アレイ。 2、各々の行および列トランジスタがアンド平面のm行
    とn列内およびオア平面のm行とp列内に第1の列ライ
    ンと第2の列ライン間に配置されるアンド平面と、オア
    平面と、前記2つの平面を互いに接続するアンド/オア
    平面と、 内部クロックとして動作し2つの行ラインを有するアン
    ドおよびアンド/オア平面内のダミー行と、 1つの入力が第1の行ラインに接続され、他方の入力が
    リセットラインに接続されているダミー行内のノアゲー
    トと、 反転された第1の二相クロックによってゲートが駆動さ
    れる行およびダミー行内の予め充電されたPトランジス
    タおよびノアゲートの出力によってゲートが駆動される
    列内の予め充電されたPトランジスタであって、供給電
    圧と行ライン間および前記供給電圧と第1の列ライン間
    に各々接続される予め充電されたPトランジスタと、接
    地レベルと各行の対に共通の対ライン間および接地レベ
    ルと第2の列ライン間に各々接続された被制御電流バス
    を具備する評価Nトランジスタよりなる各行とダミー行
    および各列内の予め充電されたPトランジスタとダミー
    行ごとのおよび各列内の評価Nトランジスタと、 前記行のほとんど全ての行トランジスタを含み、領域の
    2/3がダミー行の行ラインに接続され、1/3がダミ
    ー行の対ラインに接続され、対ラインまたは行ラインに
    接続されている各行トランジスタの領域と可能な限り同
    一の面積と同一の端部長を有する各領域とを含むアンド
    平面の行の領域の数の少なくとも3倍である基体と反対
    にドープされたCMOSPLAの基体内のキャパシタを
    形成する最大3n個の領域と、 アンド平面の外側でダミー行の行ライン間に接続され、
    ゲートが供給電圧に接続され、行トランジスタと同一の
    配置とを有するNトランジスタを含む相補型絶縁体ゲー
    ト電界効果型トランジスタ技術で構成された非重複の二
    相クロックプログラム可能な論理アレイ。
JP1166489A 1988-06-28 1989-06-28 プログラム可能なcmos論理アレイ Pending JPH0252525A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
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EP88110267A EP0348539A1 (de) 1988-06-28 1988-06-28 Programmierbares CMOS-Logik-Feld

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