JPH0254132A - 放射温度測定装置 - Google Patents

放射温度測定装置

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JPH0254132A
JPH0254132A JP63205743A JP20574388A JPH0254132A JP H0254132 A JPH0254132 A JP H0254132A JP 63205743 A JP63205743 A JP 63205743A JP 20574388 A JP20574388 A JP 20574388A JP H0254132 A JPH0254132 A JP H0254132A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
temperature
measured
rotating plate
emissivity
Prior art date
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Pending
Application number
JP63205743A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Hishikari
功 菱刈
Yukio Matsui
幸雄 松井
Akira Arai
明 新井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chino Corp
Original Assignee
Chino Corp
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Publication date
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Publication of JPH0254132A publication Critical patent/JPH0254132A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、放射率の影響を除去して被測定物の温度を
測定する放射温度測定装置に関するものである。
[従来の技術1 出願人は、たとえば1h公昭62−25972号公報に
あるように、比較熱板(補助熱源、故1nl)と被測定
物どの距離を変化さしたときのfil射検比検出器力変
化から被測定物の放射率、温度を測定する方法を提案し
ている。また、第21回5ICE学術講演会予稿集26
05 (昭和57年7月28日〜30日)にも同様の技
術を報告している。
し発明が解決しようとする課題〕 しかしながら、この方法では、比較熱板を駆動する装置
が大型どなってしまう等の問題点を生じている。
この発明の目的は、以上の点に温み、より簡易な装置で
、被測定物の放射率および温度を測定できる111射温
度測定装置を提供することである。
[課題を解決するための手1段〕 放射源からの放射エネルギーを変化させる複数の異った
開口を有する回転板を介し被測定物を反射したPIl財
源の放飼エネルギーおよび被測定物自体からのtIl射
エネルギーを放射検出器で検出し、演算手段でこの放射
検出器の出力1:月のうち任意の2つの信号の差の比で
ある寄与率の比と寄与率の差とが所定の関係にあること
に基いて被測定物の放射率を演算しこのtlim串を用
いて温度を測定するようにした敢q4温度測定装置であ
る。
[作用] 上記構成により演算にて放射率および温度が求まる。
[実施例] 第1図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
図において、1は、第2図のように円板面に全開の間口
1a、半開の間口1bの複数の開口を有する回転板で、
中央の間ロ部ICl:敢則エネルギーを検出するたとえ
ばファイバを利用した小型の1i2射検出器2を設け、
開口1a、1bに対応する外周部に放射源3を配意して
いる。この放射源3の放射エネルギーは、回転板1の開
口をfFして被測定物4を反Q=I L M Q−を検
出器2に入射する。回転板1は、その中央間口1Cに円
筒部1dを設け、適当な支持手段5で支持され、円筒部
1dの一部で外周が歯部とされた駆動部材1eに歯車1
fをかみ合せ、歯車1fをモータMで駆動することによ
り回転板1を回転させることができる。なお、回転板′
1の開口1a11bの大きさは、別途設けた補助板1a
′ 11>′を図示しない駆動手段で回転移動させ、開
口の大きさを変えることができる。また、回転板1は、
図示しない水冷等の冷却手段等で冷却されている。
そして、ヒータ等の故!113は、411E[センサ3
′1でその温度を検出し制御手段6で所定の温度となる
よう制御され、温度センサ30で検出された放射源3の
温度信号、放射検出器2の出力信号、1度ヒンサ10で
検出された背景相当の回転板1の温度信号は、それぞれ
、アナログ回路、マイクロコンピユータ、パソコン等の
演算手段7に供給され、所定の演算がなされる。
被測定物4の温度を王、敢0]率をε、放射源3の温度
をTr、放!)1率をεr、回転板1の温度をTa、検
出器2の出力信号をEi、WtlfTの黒体相当の放射
エネルギーをE (T)とする。
図示のように、回転板1の回転により、yi則源3が開
口がなく全閉された状態、間口]aのように全開の状態
、間口1bのように半開の状態における放射検出器2の
出力をElf、El、F2とすると次式が成り立つ。
Eo−εE (T)+ (l−ε) E (Ta )E
 l=  ε EE  (’T)   ト F +  
 (1−6)6r  E(Tr )十(1−Fl)(1
−ε)EE<Ta)                
   ・・・ (2)E2=EE (T) 十F2 (
1−ε) εr E(Tr )十(1−F2> (1−
ε)E(Ta  )                
   ・・・ (3)ここで、Fl、F2は、放射源3
からの放射エネルギーが被測定物4を反射して検出器に
入射する物体表面の散乱に関係する寄与率でF 、 )
、 F 2である。
なお(1)式において、右辺第1項は被測定物4自体か
らの放射エネルギー、第2項は回転板1の敢(ト)エネ
ルギーの寄与分で、)Ω度Taが温度下に比べて十分小
さいとき省略されて第1項のみとなる。(2)、(3)
式についても同1!て、第1項が被測定物4、第2項が
放射源3、第3項が回転板1の寄与分で、温度Taが温
度下に比べて十分小さいとき第3項は省略できる。
ここで(2>、(3)式を辺々差し引くと次式が得られ
る。
El  E2=(Fl−F2)(1−ε)(6rE  
(Tr  >  −E  (Ta  )  )これより ε=1− (El−F2)/[D・(εr E (Tr
)−E(Ta))]        ・・・(4)ただ
しD=F+−F2で、このDが分れば放射率εが求まる
が、これは次のようにして求める。
(2)式から(1)式、(3)式から(1)式を減算す
ると次式か得られる。
El−E::+=F+  (1−E)εr  E  (
Tr  >F 1  (1−ε )E(Ta) F2−Eo=F 2 (1−5>6r  E  (Tr
  )「 2 (1−ε )E(Ta) その比Rをとると次式が得られる。
R=(F2−Eo) %’ (E +  E I〕)=
 F 2 / F 、             ・・
・(5)ここで、D=F+−F2とR= F 2 、、
/ F +との関係は、第3図で示すように、D=f 
 (R)で、所定の関数関係にあることが実験的に見い
出された。たとえばDは、 D=aR? +b R十C の2次式で与えられる+a 、 b、cは係数)。
つまり、RからDを求めることができ、(4)式右辺の
その他の値は、測定等で求まるので放射率εを求めるこ
とができる。
そして、たとえば(1)式より E(T)=(Eo−(1−ε)E(Ta))7ε・・・
く6) であるから、この(6)式に(5)式より放射率ε等を
代入して、被1り宝物4の真温度が求まる。
つまり、測定前、あらかじめ、第3図で示すように、測
定により求めたD=F+−F2とR−F2 % F 1
との関数関係D=f  (R)、および放口寸12の故
tA率εrを演算手段7のメモリに記憶する。
次に測定時、回転板1を回転させ、(1)、<2)、(
3)式に相当する全開、全開、半開のEo、El、F2
をtIlot検出器2で検出し、′a麿センサ1013
0でTa、Trを検出し、演算手段7に供給する。
演算子段5は、信号Eo、[”l、F2より、(5)式
のRを求め、これよりDを求め、また、信号Ta%Tr
よりE (Ta ) 、E (Tr )を求め、(4〉
式の演算を行って放射率εを求め、また、この故的串ε
を用いて(6)式より彼エリ宝物4の真温度Tを求める
ことができる。
第4図、第5図は、他の実施例を示し、第1図、第2図
と同一符号は同等の構成要素を示す。
この場合、回転板1は外周のネジ部とかみあう歯車1g
をモーフ\・1て回転させている。また回転板1の開口
は、全開口1a、半開口1b、全開の池に全開口111
を用意し、全開口1a、半開口1b、全開口1hについ
ての出力のうち、(1意の2つの信“号の差の比を利用
して同様にtli1171 ′$、真温度を求めるよう
にしてもよい。
なお、回転板1の;易摩Taが、冷却手段で冷却されて
温度Tに比べて十分量さい場合、各式中E(Ta)=O
とおいて省略でき、演算が容易なものとなる。
[発明の効果1 開口を有する回転板を利用して寄与率の比Rが、寄与率
の差りと所定の関係にあることを利用して、放射率、温
度を測定しているので、小型、コンバク1−な構成で、
放射率補正された物体の正しい温度を測定することがで
きる。またtllIJ検出器は、中心部に置いであるの
で、外乱光は放射検出器に入射しにくく、いっそう高精
度の測定ができる。
また、回転板を冷却すると、演算簀がいっそう容易なも
のとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第4図、第5図は、この発明の一実施
例を示す構成説明図、第3図は寄与率の差と比の関係図
である。 1・・・回転板、1a、1b、1h・・・開口、2・・
・力文旧検出器、3・・・放射源、4・・・1llXl
lI定物、5・・・支持手段、6・・・ルリ御手段、7
・・・演算手段、30.31、′10・・・温度センサ
、1a”  1b”・・・神助仮待訂出願人 株式会社
 チノー 竿31]

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被測定物に放射エネルギーを放出する放射源と、こ
    の放射源からの放射エネルギーを変化させる複数の異っ
    た開口を有する回転板と、被測定物自体および回転板を
    介し被測定物を反射した放射源からの放射エネルギーを
    検出する放射検出器と、回転板による異つた放射エネル
    ギーについての放射検出器の出力信号のうち任意の2つ
    の信号の差の比である寄与率の比と寄与率の差とが所定
    の関係にあることに基いて被測定物の放射率を演算しこ
    の放射率を用いて被測定物の温度を測定する演算手段と
    を備えた放射温度測定装置。 2、前記放射検出器を回転板の中央付近に設けた請求項
    1記載の放射温度測定装置。 3、前記回転板を冷却手段で冷却した請求項1または2
    記載の放射温度測定装置。
JP63205743A 1988-08-19 1988-08-19 放射温度測定装置 Pending JPH0254132A (ja)

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JP63205743A JPH0254132A (ja) 1988-08-19 1988-08-19 放射温度測定装置

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JP63205743A JPH0254132A (ja) 1988-08-19 1988-08-19 放射温度測定装置

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JP63205743A Pending JPH0254132A (ja) 1988-08-19 1988-08-19 放射温度測定装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61146306A (ja) * 1984-12-20 1986-07-04 Terumo Corp 透析用中空繊維の製造方法
JPH05296846A (ja) * 1992-04-23 1993-11-12 Tatsuo Togawa サーモグラフィー装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61210921A (ja) * 1985-03-15 1986-09-19 Chino Works Ltd 物体の放射率および温度の測定装置

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