JPH0255154B2 - - Google Patents

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JPH0255154B2
JPH0255154B2 JP55128440A JP12844080A JPH0255154B2 JP H0255154 B2 JPH0255154 B2 JP H0255154B2 JP 55128440 A JP55128440 A JP 55128440A JP 12844080 A JP12844080 A JP 12844080A JP H0255154 B2 JPH0255154 B2 JP H0255154B2
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electron beam
abs
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circuit
welding
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JP55128440A
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De Shiburi Buruno
Karuzaku Kuraude
Bonnetsuto Kurisuchian
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TOTARU CO FURANSEEZU DO PETOROORU
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TOTARU CO FURANSEEZU DO PETOROORU
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K15/00Electron-beam welding or cutting
    • B23K15/02Control circuits therefor

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)
  • Preventing Corrosion Or Incrustation Of Metals (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子ビーム溶接制御方法に関する。従
来、たとえば熱処理が施される前の状態のような
凝固状態のままの溶接部の機械的および治金的性
質、つまり引張強度、耐久性、弾性(衝撃強さ)
などの特性は、溶融域の化学的組成や溶接部に施
された溶接熱サイクルに左右されることが知られ
ている。
一方、熱サイクルについては、接合部の形状を
一定とし、1回のパスで溶接を行なう場合、該接
合部に実際に加えられるエネルギーのみに依存す
ることも知られている。
電子ビーム溶接作業の場合に考慮されるパラメ
ータとして次のようなものがある。
−電子銃の加速電圧(u) −電子銃の出力電流の強さ(If) −集束電流(Ifpc) −電子ビーム放射距離(d)、つまり電子ビーム集束
コイル面から溶接位置(被溶接部品)までの距
離。
−溶接速度(v) 上記パラメータの他に、電子ビームの振動もパ
ラメータとして考慮の対象にすることができる。
上記各種パラメータから求まる大きさの1つで
ある電子銃の放射出力は次式から求めることがで
きる。
Pf=U・I しかるに、接合部品が有効に吸収する前記放射
出力はそのわずか一部Pabsにすぎないこと、Pabs
の相対的大きさは基本的に放射出力の密度分布に
依存し、この密度分布は電子ビームの集束点の正
確な位置、つまり集束電流Ifpcの大きさと共に変
化すること、さらにPabsは、距離(d)に依存するが
Pabsの制御は本質的にパラメータIfpcに依存する
ことが知られている。以上のことから明らかなよ
うに、集束電流Ifpcの大きさも重要なパラメータ
として考慮の対象とすべきである。
電子銃放射電子ビームについては、電子銃は、
吸収出力に相当する電子ビーム部分のほかに、下
記によるいくつかの電子ビームも発生することが
知られている。つまり、 −出力Pbに相当する逆拡散電子 −出力Psに相当する二次電子 −出力Pthに相当する熱電子 −プラグ溶接の場合において部品を通り抜け、横
断出力Ptrに相当する電子。
したがつて、放射出力(Pf)は次式で表わされ
る。
Pf=Pabs+Pb+Ps+Pth+Ptr 特にPf、Pabs、Ptrに対応する値は、上記出力の
各値を電子銃の加速電圧(常時一定)で割ること
により求められる。
出力Ptrは重要な因子である。特開昭54−2952
号及び特開昭54−51098号には出力Ptrを測定し、
この測定値を使つてPtrを一定に保つように放射
出力Pfを制御して溶接片の反対側に一定のビード
を得るなり、あるいは溶接部分の深さを決めるも
のである。
然しながら、出力Ptrを一定に保つことは溶接
部分の性質を一定にすることを意味するものでは
ない。それはPfが変化するかも知れず、もしもPf
が変化すればこれは決められた溶接速度、決めら
れた材料、決められた溶接面積に対しての作業の
熱サイクルを支配する最大因子であるPabsが変化
することになるからである。
一般的には最も大切なことは溶接部分の良好な
冶金的及び機械的性質を得ることであり、何回も
の作業でも溶接部の性質を同一に再現させること
である。通常のパラメータ(U、If、Ifpc、d及び
V)の知識ではこの溶接部の性質を一定に維持し
再現することが不充分なことが実験によつて知ら
れている。それはこれらのパラメータの値と望ま
しい冶金的、機械的特性との間に存在する大きな
増幅効果、すなわち前者の微小変動が後者の致命
的変化となつてしまうからである。
従つて本発明の主要な目的はPabsを用いること
により、最良の溶接部の機械的、冶金的性質を何
回でも再現し得るような電子銃溶接のための簡単
で効果的な制御法を提供することである。
すなわち、本発明は電子銃から照射される電子
ビームの強度と被溶接部材を通過した後の電子ビ
ームの強度とを測定してその差を求め、これを溶
接の際に望ましい機械的及び冶金的特性を与える
ものとして予め用意されている特定値と比較し、
この比較によつて得られる信号に応じて電子ビー
ムの集束を調節することによつて、良好な機械的
及び冶金的特性を得ることを特徴とする電子ビー
ム溶接制御方法であつて、Ptrの代わりにPabs
用いている点に最大の特徴を有するものである。
出力PbはPfの一部で15%〜25%の間、例えば20%
であり、残りのPabs+Ptrは75%と85%の間、例
えば80%で、第1の近似としてその他の二つの因
子Ps及びPthは無視され得る。従つて本発明によ
れば、Pabsを一定に保つために溶接部の機械的、
冶金的性質は極めて正確に一定に保たれる。
例えば実際に化学組成がC0.14、Mn1.23、
Si0.22、Ni0.43、Mo0.18、B17ppmで硬度HV5の
鋼を放射出力22.4kW、溶接速度40cm/分、距離
600mm、溶接片厚さ32mmで処理した例ではIfpcの変
化がこの機械的性質の変化に与える増幅効果は50
倍程度であり、また同じ試料でIfpcの変化が150倍
のPabsの変化となる。
この上述の例で、Pabsの変化が機械的性質の変
化に及ぼす増幅効果は0.33であり、これは機械的
性質の変化率がPabsの1/3であることを意味して
いる。
このようにPabsの変動は機械的性質に与える影
響が少なく、このことがPabsの函数としての機械
的性質の安定性を保証し、それによつて望ましい
機械的性質の再現性が高い信頼度で保証されるも
のである。Pabsの変化を例えば1%以内に保つこ
とによつて問題となる機械的性質の変化率はさら
に良くなり、その特性値を簡単に再現することが
可能となる。
本発明のその他の特徴と利点については、以下
添付図面に例示した実施例を参照して詳述する説
明から明らかにされる通りである。
以上に説明したように、以下に詳述する溶接装
置を使用して溶接される接合部品を通り抜けた電
子ビームの強さに比例する電圧を測定することに
よつて、パラメータIfpcの値を決めることができ
る。
第1図において、符号1はパラメータIfpcと共
に変化するPabsの変化曲線である。この曲線は最
低値を示している。同図においてほぼ同一尺度で
示している曲線2はPtrの相関変化曲線である。
この曲線2は曲線1と対称をなしている。したが
つて、その値はPabsの最低値に対して最大値を示
している。
第2図のグラフにおいて、符号3と4はそれぞ
れ、溶接線に沿つて電子銃が移動するとき、つま
り時間の経過と共に変化するPabsとPtrの絶対値
から作図した曲線である。なお、この場合、同一
断面の2管状部品を相互に溶接する作業において
電子銃の移動速度は一定であるものと仮定してい
る。溶接ワイヤの1回転は、横軸上αに位置する
0°から始まり、横軸上α′の位置の360°で終わり、
このα′位置以降ではPabsの値はワイヤの所望被覆
となる延長線上に延長する。Ptr曲線の場合も、
時間は短いが被覆延長線がある。
実線で示した曲線3は、問題の溶接作業の進行
に伴い変化する出力Pabsの値を示し、破線の曲線
4は、出力Ptrの変化の状態を示している。
溶接作業の開始時点αにおいては、出力Pf
Pabsはまだゼロである。
この開始時点を過ぎると、Pfはある値に増加を
始め、この結果Pabsが現われる。この2出力はそ
の後増加して行き、グラフに示すように、A−C
間でPabsは、縦軸上のC点に相当するPfの値まで
増加する。γで示したこの時点は電子ビーム溶接
部品に電子ビームが通り抜ける開始時に相当す
る。つまり、この時点で、出力Ptrが現われる。
上記2出力PabsとPtrの増加の相関関係は、C
−B−C′−B′(時点β)において現われる。ここ
で、C−B間の勾配はA−C間の勾配よりゆるや
かになつている。
それぞれの位置BとB以降は、関係する出力は
それぞれDとD′点(時点δ)まで一定値に維持
される。
Pfの減少の結果、被覆期間の終期と電子ビーム
消滅の始期となる上記時点以降は、Pfは徐々に減
少して行く。時点εにおいては、電子ビームはも
はや溶接部品を通り抜けていないことが認められ
る。
PabsはD−Eに沿つて減少し、これに伴つて
PtrもD′−E′間で減少し、E′点においてゼロにな
る。
これに対応してPfも減少する結果、PabsがEか
らFになると電子ビームは消滅する。
上述した各区間の勾配はすべてあらかじめ設定
してある。
第3図は本発明に係る方法を実施するための装
置の特徴部分の概略ブロツク図である。ここで考
慮している要因は2出力PfとPtrの大きさに比例
する電圧である。
第3図において、出力Ptrの大きさに比例する
電圧5が測定される。この出力は電子ビーム進路
上で求められ、この進路上において、耐火プレー
トで構成されている検出装置41が接合部分42
の背後に介設されている。この検出装置は前記耐
火プレートとアース間に接続した抵抗43の変化
を検出するもので、装置の高電圧電源の陽極をア
ース接続し陰極を公知の通り電子銃の陰極側に接
続する。こうして検出された出力に比例する電圧
5は、電子的減算回路bに印加される。さらに、
この減算回路には電子銃の出力Pfに相当する総電
子ビーム量に比例する電圧発生装置44からの電
圧7の一部9が印加される。この部分電圧9は公
知の電子的乗算回路8の出力から得るもので、こ
の乗算回路には、出力Pfに相当する大きさに比例
する電圧7が予め印加されている。この場合、比
例係数はPtr電圧の場合と同様に上記部分電圧9
は乗算回路の入力電圧7のほぼ80%に相当してい
る。
符号10は減算回路の出力電圧を示し、この電
圧はPabsに相当し、比較回路11に入力される。
この比較回路には、さらに所望一定電圧値であり
所望Pabsに相当する値の基準電圧値12が印加さ
れる。
比較回路11に入力された上記2電圧値の差を
示すエラー信号13は、フイードバツク信号とし
て集中電流Ifpc制御回路に入力される。制御ルー
プは閉ループにし、Pabsを一定レベルに維持して
所期の目的を達成する。被制御パラメータ(ここ
では、集束電流)の制御信号14をしきい値に制
限するリミタ回路16で装置回路は完結する。こ
の制限は特に溶接作業の開始時に行なわれる。D
−D′区間の溶接作業の全期間中一定になつてい
るリミタ回路16の出力信号17はメモリ回路1
8に入力され、電子ビーム消滅開始時点δのこの
信号値を電子ビーム消滅期間中保持、記憶してい
る。メモリ回路18の入出力信号値17と19は
この時点まで等しく一定になつている。
信号19はプログラミング回路20に入力さ
れ、この回路において前述したような制御が行な
われる。
つまり、一方では電子銃の出力立上がり初期段
階から、他方ではこの出力の最終消滅段階までの
期間、電子銃の一定放射出力Pfで動作状態にある
ときこの制御が行なわれる。したがつて、プログ
ラミング回路20は、各種溶接パラメータ、溶接
部品の位置および時間の変化に応じて、これに対
応する操作段階の勾配を判断する働きをする。
プログラミング回路20の出力信号21は、同
時に電圧/電流変換回路として働く増幅回路22
に入力される。増幅回路の出力信号22aは集束
電流Ifpcとして集束コイル23に供給される。こ
の増幅回路22には、その増幅回路側の一端がア
ース接続された抵抗が並列接続されて回路25が
形成される。増幅回路22を含むこのループ回路
26で実際の集束電流Ifpcが測定される。
第4図は、その化学的組成を本明細書の前半で
示した金属に、本発明に係る方法を適用して得た
結果を示すグラフ図である。
同図中、曲線27は電流Ipare-feu曲線であり、
集束電流Ifpcの変化に伴い変化するPtrの値を示し
ている。この電流はミリアンペア単位で示してあ
る。
曲線28は上記金属の硬度HV5の変化を示し
たものである。
曲線29は−10℃におけるKcv単位で示した弾
性エネルギー(衝撃強さ)曲線である。
上記曲線から明らかなように、縦座標に符号3
0で示した集束電流Ifpc値が約2.165Aの場合、硬
度と弾性エネルギーの値は最大値に近似している 本発明に係る方法の利点はこの点にある。
また、符号31で示すように、集束電流Ifpc
値30の動作領域は狭くなつている。この動作領
域の範囲においても、硬度と弾性エネルギーの値
が利用可能である。
本発明は上述した各種実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の枠を逸脱しない範囲において
種々変更が可能であることは勿論である。
たとえば、本発明に係る方法の制御をより向上
させるために、出力Pb、PthおよびPsを考慮の対
象とすることも可能である。この目的のために、
それぞれの出力の大きさの測定は、電子ビーム進
路上に、その中心部に開口を設けた第1電極を溶
接部品の上流側に配置すると共に、同じく中心部
に開口を設けた第2電極を溶接部品の下流側に配
置して行なう。この2電極は相互に電気的に接続
すると共に、耐火プレートに接続する。検出抵抗
に流れる電流の大きさの測定は、次のように各電
流を直接加算して行なわれる。
Ib+Is+Ith+Itr 上記の同じ目的のために、アース接続され、横
断電子ビーム通過孔を設けたスクリーンを溶接部
品と検出装置の間に介設することもできる。
下述するように、さらに種々の変形も可能であ
る。
たとえば、次のようにして溶接部品を通る電子
ビームの大きさに比例する電圧を検出することが
できる。つまり、耐火プレートでなる検出装置を
抵抗を介してアース接続し、この抵抗両端に現わ
れる電圧を直接比較回路に入力すると共に、さら
にこの電圧の所定値の基準電圧を入力する。かく
して得た出力信号の処理は前述と同じ方法で行な
われる。
また、耐火プレートをフアラデー遮蔽かごで包
囲し、該かごをプレートに電気的に接続すると共
に溶接部品を通る電子ビーム通過孔を設ければ、
結果精度を向上させることができる。
溶接部品の直後に、電子ビーム通過孔が設けら
れ、アーム接続したスクリーンを設けることも、
あるいは溶接部品の手前側にこの種のスクリーン
を設け、該スクリーンを電気的に耐火プレートに
電気的に接続することもできる。
以上詳述した本発明に係る電子ビーム溶接方法
によれば、溶接部の機械的および治金的特性の値
を一定に保つと共に、再現性を確実にする効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、集束電流Ifpcの変化および出力Pabs
とPtrの変化の関係を示す変化曲線である。第2
図は、接合される2管状部材の一方の部材の横断
面に電子ビーム溶接する作業過程でPabsとPtr
もつそれぞれの値から作図したグラフ図である。
第3図は、本発明に係る方法の実施装置である
Pabs制御装置の特徴部分の概略ブロツク図であ
る。第4図は、前述した化学的組成でなる金属に
本発明に係る方法を適用して得た結果を要約した
グラフ図である。 1……Pabs変化曲線、2……Ptr相関変化曲線、
3……Pabs曲線、4……Ptr変化曲線、5……出
力Ptr比例電圧、6……減算回路、7……出力Pf
比例電圧、8……乗算回路、9……部分電圧、1
0……減算回路の出力電圧、11……比較回路、
12……基準電圧値、13……エラー信号、14
……被制御パラメータ制御信号、16……リミタ
回路、17……リミタ回路出力信号、18……メ
モリ回路、19……メモリ回路出力信号、20…
…プログラミング回路、21……プログラミング
回路出力信号、22……増幅回路(電圧/電流変
換回路)、22a……回路22の出力信号、23
……集束コイル、24……抵抗、25……回路、
26……ループ回路、27……電流Ipare-feu曲線、
28……金属硬度変化曲線、29……弾性エネル
ギー曲線、30……集束電流Ifpc値、31……動
作領域。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電子銃から照射される電子ビームの強度と被
    溶接部材を通過した後の電子ビームの強度とを測
    定してその差を求め、これを溶接の際に望ましい
    機械的及び冶金的特性を与えるものとして予め用
    意されている特定値と比較し、この比較によつて
    得られる信号に応じて電子ビームの集束を調節す
    ることによつて、良好な機械的及び冶金的特性を
    得ることを特徴とする電子ビーム溶接制御方法。
JP12844080A 1979-09-14 1980-09-16 Method of controlling electron beam welding Granted JPS5650794A (en)

Applications Claiming Priority (1)

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JPS5650794A JPS5650794A (en) 1981-05-08
JPH0255154B2 true JPH0255154B2 (ja) 1990-11-26

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ID=9229643

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ES (1) ES495004A0 (ja)
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GB (1) GB2060221B (ja)
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