JPH0255984A - シンチレーションカメラ - Google Patents
シンチレーションカメラInfo
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- JPH0255984A JPH0255984A JP20608188A JP20608188A JPH0255984A JP H0255984 A JPH0255984 A JP H0255984A JP 20608188 A JP20608188 A JP 20608188A JP 20608188 A JP20608188 A JP 20608188A JP H0255984 A JPH0255984 A JP H0255984A
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- Japan
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- gain adjustment
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- processing system
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、生体内に投与された放射性同位元素(ラジオ
アイソトープ;R1)から放射される放射線(ガンマ線
等)をシンチレータにより先に変換し、その光を平面的
に配設された複数個の光電子増倍管(フォトマル、PM
T)により検出し、該検出信号に基づき前記シンチレー
タにおける輝点発光位置に関するRI分布等の情報を得
、病巣部分の形状や位置、大きさ等を診断するようにし
たシンチレーションカメラに関し、特に、各フォトマル
から出力される信号のゲインを調整する系を改良したシ
ンチレーションカメラに関する。
アイソトープ;R1)から放射される放射線(ガンマ線
等)をシンチレータにより先に変換し、その光を平面的
に配設された複数個の光電子増倍管(フォトマル、PM
T)により検出し、該検出信号に基づき前記シンチレー
タにおける輝点発光位置に関するRI分布等の情報を得
、病巣部分の形状や位置、大きさ等を診断するようにし
たシンチレーションカメラに関し、特に、各フォトマル
から出力される信号のゲインを調整する系を改良したシ
ンチレーションカメラに関する。
(従来の技術)
この種のシンチレーションカメラを第2図を参照して説
明する。すなわち、Na1(TI)等で形成されたシン
チレータ1に、コリメータ2を通過した放射線が入射さ
れると、シンチレーション(発光)を生ずる。このシン
チレーション光が、アクリル樹脂等からなるライトガイ
ド3を介してフォトマル4で検出され、電気信号として
出力される。
明する。すなわち、Na1(TI)等で形成されたシン
チレータ1に、コリメータ2を通過した放射線が入射さ
れると、シンチレーション(発光)を生ずる。このシン
チレーション光が、アクリル樹脂等からなるライトガイ
ド3を介してフォトマル4で検出され、電気信号として
出力される。
フォトマル4は、シンチレータ1に対しライトガイド3
を挟んで対向して複数細密にして配列されている。各フ
ォトマル4の出力はそれぞれ信号レベルを調整するため
アッテネータ5.プリアンプ6からなるゲイン調整系G
Cに与えられる。このゲイン調整系GCの出力は波形成
形回路7、スレッシュホールド回路8及び非線形回路9
を順次直列に介して抵抗マトリックス位置計算回路10
に与えられる。抵抗マトリックス位置計算回路10は、
各非線形回路9の出力が、対応するフォトマル4の位置
座標に応じた重み付は抵抗により重み付けされて各座標
要素(X+;X軸止方向、X−、X軸負方向、Y+SY
軸正方向、Y−、Y軸負方向)毎の加算信号及びシンチ
レーションの総エネルギーに対応する全加算信号を得、
さらに前記各座標要素毎の加算信号を各座標軸(X、Y
)毎に差動増幅器等で合成[CX+’)−(X−)、(
Y+)−(Y−)] L、これら各座標軸毎の位置信号
を前記加算信号でそれぞれ除し、各座標軸後との位置信
号を得てそれを出力すると共に、前記前加算信号を出力
するものである。この抵抗マトリクス位置計算回路10
から出力された総エネルギーに対応する前加算信号は、
波高分析器11に与えられ、この波高分析器11は予め
設定したエネルギー帯に該当するものに対してアンブラ
ンキング信号を出力する。この抵抗マトリクス位置計算
回路10から構成される装置信号及び波高分析器11か
ら出力されるアンブランキング信号により、表示器12
の表示画面上に輝点が表示され、これを予定時間集積し
て入射放射線分布像を得る。
を挟んで対向して複数細密にして配列されている。各フ
ォトマル4の出力はそれぞれ信号レベルを調整するため
アッテネータ5.プリアンプ6からなるゲイン調整系G
Cに与えられる。このゲイン調整系GCの出力は波形成
形回路7、スレッシュホールド回路8及び非線形回路9
を順次直列に介して抵抗マトリックス位置計算回路10
に与えられる。抵抗マトリックス位置計算回路10は、
各非線形回路9の出力が、対応するフォトマル4の位置
座標に応じた重み付は抵抗により重み付けされて各座標
要素(X+;X軸止方向、X−、X軸負方向、Y+SY
軸正方向、Y−、Y軸負方向)毎の加算信号及びシンチ
レーションの総エネルギーに対応する全加算信号を得、
さらに前記各座標要素毎の加算信号を各座標軸(X、Y
)毎に差動増幅器等で合成[CX+’)−(X−)、(
Y+)−(Y−)] L、これら各座標軸毎の位置信号
を前記加算信号でそれぞれ除し、各座標軸後との位置信
号を得てそれを出力すると共に、前記前加算信号を出力
するものである。この抵抗マトリクス位置計算回路10
から出力された総エネルギーに対応する前加算信号は、
波高分析器11に与えられ、この波高分析器11は予め
設定したエネルギー帯に該当するものに対してアンブラ
ンキング信号を出力する。この抵抗マトリクス位置計算
回路10から構成される装置信号及び波高分析器11か
ら出力されるアンブランキング信号により、表示器12
の表示画面上に輝点が表示され、これを予定時間集積し
て入射放射線分布像を得る。
ところで、ゲイン調整系GCは、図示しないエネルギー
設定器等からの制御によって、異なるR1線源を用いた
場合や信号処理系の経時的な特性変化等が生じた場合で
あってもフォトマル出力が一定信号レベルとなるように
、第2図の例ではアッテネータ5の減衰量を調整するも
ので、あるが、この種のアッテネータ5としてはアナロ
グスイッチを用いたものが代表的である。
設定器等からの制御によって、異なるR1線源を用いた
場合や信号処理系の経時的な特性変化等が生じた場合で
あってもフォトマル出力が一定信号レベルとなるように
、第2図の例ではアッテネータ5の減衰量を調整するも
ので、あるが、この種のアッテネータ5としてはアナロ
グスイッチを用いたものが代表的である。
このようなゲイン調整を行う構成としては、この例の他
に第3図及び第4図に示すような構成が知られている。
に第3図及び第4図に示すような構成が知られている。
すなわち、第3図は、フォトマル4に加えるバイアス用
高電圧電源13の出力を調整する方法(アッテネータ5
を省略することもある。)や、第4図に示すように、フ
ォトマル4に加えるバイアス用高電圧電[13の出力調
整と、アッテネータ5による減衰量調整とを組合わせて
行う方法がある。
高電圧電源13の出力を調整する方法(アッテネータ5
を省略することもある。)や、第4図に示すように、フ
ォトマル4に加えるバイアス用高電圧電[13の出力調
整と、アッテネータ5による減衰量調整とを組合わせて
行う方法がある。
(発明が解決しようとする課題)
以上のようにシンチレーションカメラにおけるゲイン調
整のための従来の構成としては、第2図に示すアッテネ
ータ調整方式、第3図に示すバイアス制御方式、第4図
に示すバイアス制御とアッテネータ調整との併用方式が
ある。
整のための従来の構成としては、第2図に示すアッテネ
ータ調整方式、第3図に示すバイアス制御方式、第4図
に示すバイアス制御とアッテネータ調整との併用方式が
ある。
この場合、アッテネータ調整方式はアナログスイッチの
切換により減衰量を設定するものであるため、減衰量の
調整は粗いものとなり、適確にゲイン調整を行うことが
できない、という問題点があった。
切換により減衰量を設定するものであるため、減衰量の
調整は粗いものとなり、適確にゲイン調整を行うことが
できない、という問題点があった。
また、バイアス制御方式はフォトマルの特性補正やフォ
トマル近傍の信号処理系における特性補正には対処対処
できるものの、全体の信号処理系には対処できないもの
であるため、適確にゲイン調整を行うことができない、
という問題点があった。バイアス制御とアッテネータ調
整との併用方式についても同様である。
トマル近傍の信号処理系における特性補正には対処対処
できるものの、全体の信号処理系には対処できないもの
であるため、適確にゲイン調整を行うことができない、
という問題点があった。バイアス制御とアッテネータ調
整との併用方式についても同様である。
そこで本発明の目的は、どのようなエネルギー帯のR1
線源を用いた場合であっても信号処理系の全体に亙って
高精度にゲイン調整をなし得るようにしたシンチレーシ
ョンカメラを提供することにある。
線源を用いた場合であっても信号処理系の全体に亙って
高精度にゲイン調整をなし得るようにしたシンチレーシ
ョンカメラを提供することにある。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は上記課題を解決し且つ目的を達成するために次
のような手段を講じた構成としている。
のような手段を講じた構成としている。
すなわち、本発明は、生体内に投与された放射性同位元
素から放射される放射線をシンチレータにより光に変換
し、その光を平面的に配設された複数個の光電子増倍管
により検出し、該検出信号それぞれをゲイン調整系を通
した後に前記シンチレータにおける輝点発光位置に関す
る情報を求め、それを表示に供するようにしたシンチレ
ーションカメラにおいて、前記ゲイン調整系を、D/A
変換器・を用いたディジタルゲイン制御回路により構成
したことを特徴とする。
素から放射される放射線をシンチレータにより光に変換
し、その光を平面的に配設された複数個の光電子増倍管
により検出し、該検出信号それぞれをゲイン調整系を通
した後に前記シンチレータにおける輝点発光位置に関す
る情報を求め、それを表示に供するようにしたシンチレ
ーションカメラにおいて、前記ゲイン調整系を、D/A
変換器・を用いたディジタルゲイン制御回路により構成
したことを特徴とする。
(作用)
このような、D/A変換器を用いたディジタルゲイン制
御回路によるゲイン調整系では、分解能の高いゲイン調
整を行うことができ、しかも、調整における制御データ
を、信号処理系の全体を対象として生成することにより
、どのようなエネルギー帯のRI線源を用いた場合であ
っても信号処理系の全体に亙って高精度にゲイン調整を
なし得るようになる。
御回路によるゲイン調整系では、分解能の高いゲイン調
整を行うことができ、しかも、調整における制御データ
を、信号処理系の全体を対象として生成することにより
、どのようなエネルギー帯のRI線源を用いた場合であ
っても信号処理系の全体に亙って高精度にゲイン調整を
なし得るようになる。
(実施例)
以下本発明にかかるシンチレーションカメラの一実施例
を、第1図を参照して説明する。
を、第1図を参照して説明する。
すなわち、本実施例では、ブリーダ回路として陽極接地
方式を採用し、高電圧電源13により−HVのバイアス
を受けているフォトマル4の出力を、同軸ケーブル14
の芯線14aの一端に導入し、該芯線14aの他端は抵
抗15を介して接地している。また、同軸ケーブル14
におけるシールド部14bの一端をフォトマル4の接地
部に接続し、シールド部14bの他端を接地している。
方式を採用し、高電圧電源13により−HVのバイアス
を受けているフォトマル4の出力を、同軸ケーブル14
の芯線14aの一端に導入し、該芯線14aの他端は抵
抗15を介して接地している。また、同軸ケーブル14
におけるシールド部14bの一端をフォトマル4の接地
部に接続し、シールド部14bの他端を接地している。
これにより、同軸ケーブル14における芯線14aとシ
ールド部14bとの間の浮遊容量と、抵抗15とにより
積分回路を構成し、フォトマル4の出力(インパルス)
を積分処理するようにしている。
ールド部14bとの間の浮遊容量と、抵抗15とにより
積分回路を構成し、フォトマル4の出力(インパルス)
を積分処理するようにしている。
上記の積分処理出力は、バッファ16を通って乗算型D
/A変換器17の電圧リファレンス端子V rerに入
力される。この乗算型D/A変換器17の出力端子(O
UTI )は、オペアンプ18a及びコンデンサ18b
からなるI/V(電流/電圧)変換回路18に接続され
、このI/V変換回路18の出力は、オペアンプ、抵抗
、コンデンサからなる波形成形回路7に導かれている。
/A変換器17の電圧リファレンス端子V rerに入
力される。この乗算型D/A変換器17の出力端子(O
UTI )は、オペアンプ18a及びコンデンサ18b
からなるI/V(電流/電圧)変換回路18に接続され
、このI/V変換回路18の出力は、オペアンプ、抵抗
、コンデンサからなる波形成形回路7に導かれている。
また、この乗算型D/A変換器17のディジタルコード
端子81〜B12にはラッチ回路19a。
端子81〜B12にはラッチ回路19a。
19bからなるコントローラ19が接続されている。
このコントローラ19は図示しないコンピュータからデ
ータの供給を受けるようになっている。
ータの供給を受けるようになっている。
ここで、コントローラ19のラッチ回路19 a。
19bは、コンピュータから送られてくる12ビツトの
ディジタルコードをCK端子に与えられるデータに基づ
きラッチするものである。また、同コントローラ19は
、そのENABL端子に入力されるデータに基づきCK
端子に対して所定区間ゲートを掛けるようにしている。
ディジタルコードをCK端子に与えられるデータに基づ
きラッチするものである。また、同コントローラ19は
、そのENABL端子に入力されるデータに基づきCK
端子に対して所定区間ゲートを掛けるようにしている。
ここで、このコンピュータは、例えば、第1図又は第2
図の構成における各段の信号処理系に対するデータ値を
モニタすることにより、各段において本来有るべきデー
タに対する補正データを算出し、この補正データに基づ
きコントローラ19に対してデータを与え、コントロー
ラ9の各ラッチ19a、19bは乗算型D/A変換器1
7に対してディジタルコードを与えるようになっている
。
図の構成における各段の信号処理系に対するデータ値を
モニタすることにより、各段において本来有るべきデー
タに対する補正データを算出し、この補正データに基づ
きコントローラ19に対してデータを与え、コントロー
ラ9の各ラッチ19a、19bは乗算型D/A変換器1
7に対してディジタルコードを与えるようになっている
。
すなわち、上記のコンピュータがモニタするのは、
(イ) フォトマル4までの信号処理系、(ロ) フォ
トマル4からゲイン調整系GCまでの信号処理系、 (ハ) フォトマル4からゲイン調整系GCを経て波形
成形回路7までの信号処理系、 (ニ) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成形
回路7.スレッシュホールド回路8までの信号処理系、 (ホ) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成形
回路7.スレッシュホールド回路8.非線形回路9まで
の信号処理系、 (へ) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成形
回路7.スレッシュホールド回路8.非線形回路9.抵
抗マトリックス位置計算回路10までの信号処理系、 (ト) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成
形回路7.スレッシュホールド回路8.非線形回路9.
抵抗マトリックス位置計算回路10゜波高分析器11ま
での信号処理系、 (チ) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成形
回路7.スレッシュホールド回路8.非線形回路9.抵
抗マトリックス位置計算回路10゜波高分析器111表
示器12までの信号処理系、(す) フォトマル4から
ゲイン調整系GC,波形成形回路7.スレッシュホール
ド回路8.非線形回路9.抵抗マトリックス位置計算回
路10゜波高分析器112表示器12までのエネルギー
信号処理系、のいずれかを対象としている。
トマル4からゲイン調整系GCまでの信号処理系、 (ハ) フォトマル4からゲイン調整系GCを経て波形
成形回路7までの信号処理系、 (ニ) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成形
回路7.スレッシュホールド回路8までの信号処理系、 (ホ) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成形
回路7.スレッシュホールド回路8.非線形回路9まで
の信号処理系、 (へ) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成形
回路7.スレッシュホールド回路8.非線形回路9.抵
抗マトリックス位置計算回路10までの信号処理系、 (ト) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成
形回路7.スレッシュホールド回路8.非線形回路9.
抵抗マトリックス位置計算回路10゜波高分析器11ま
での信号処理系、 (チ) フォトマル4からゲイン調整系GC,波形成形
回路7.スレッシュホールド回路8.非線形回路9.抵
抗マトリックス位置計算回路10゜波高分析器111表
示器12までの信号処理系、(す) フォトマル4から
ゲイン調整系GC,波形成形回路7.スレッシュホール
ド回路8.非線形回路9.抵抗マトリックス位置計算回
路10゜波高分析器112表示器12までのエネルギー
信号処理系、のいずれかを対象としている。
以上のような本実施例のシンチレーションカメラで特徴
としている構成は次の(A)、(B)。
としている構成は次の(A)、(B)。
(C)である。
(A) 陽極接地法を採用したフォトマル4の出力を
同軸ケーブル14で伝送し、しかも同軸ケーブル14の
浮遊容量と抵抗15によりフォトマル出力をI/V変換
(電流/電圧変換)すると共に積分処理を行うようにし
ている(陰極接地法でも可能である。)。
同軸ケーブル14で伝送し、しかも同軸ケーブル14の
浮遊容量と抵抗15によりフォトマル出力をI/V変換
(電流/電圧変換)すると共に積分処理を行うようにし
ている(陰極接地法でも可能である。)。
(B) また、上記(A)の出力を、バッファ16で
受け、その出力を乗算型D/A変換器17のV rer
入力とし、信号処理系をモニタするコンピュータ及びコ
ントローラ19からの制御信号によりディジタルゲイン
制御を行うようにしている。
受け、その出力を乗算型D/A変換器17のV rer
入力とし、信号処理系をモニタするコンピュータ及びコ
ントローラ19からの制御信号によりディジタルゲイン
制御を行うようにしている。
(C) さらに、上記(B)の出力を、波形成形回路
7に入力してここで微分処理を加えて、信号の時間分解
能を高めるようにしている。
7に入力してここで微分処理を加えて、信号の時間分解
能を高めるようにしている。
以上の構成にあって、ディジタルゲイン制御を行う主要
素である乗算型D/A変換器17を、バッファ16と波
形成形回路7との間に介挿していることにより、ダイナ
ミックレンジの低く且つ低速領域で用いることができ(
波形成形回路7の後段に乗算型D/A変換器17を設け
ると、乗算型D/A変換器17としてはダイナミックレ
ンジの高く且つ高速性能を必要とする。)、また、微分
処理後であるため、乗算型D/A変換器17としては周
波数特性の低いものを用いることができる。
素である乗算型D/A変換器17を、バッファ16と波
形成形回路7との間に介挿していることにより、ダイナ
ミックレンジの低く且つ低速領域で用いることができ(
波形成形回路7の後段に乗算型D/A変換器17を設け
ると、乗算型D/A変換器17としてはダイナミックレ
ンジの高く且つ高速性能を必要とする。)、また、微分
処理後であるため、乗算型D/A変換器17としては周
波数特性の低いものを用いることができる。
以上のように本実施例によれば、D/A変換器17を用
いたディジタルゲイン制御回路によるゲイン調整系GC
では、分解能の高いゲイン調整を行うことができ、しか
も、調整における制御データを、信号処理系の全体を対
象として生成することにより、どの“ようなエネルギー
帯のR1線源を用いた場合であっても信号処理系の全体
に亙って高精度にゲイン調整をなし得るようになる。
いたディジタルゲイン制御回路によるゲイン調整系GC
では、分解能の高いゲイン調整を行うことができ、しか
も、調整における制御データを、信号処理系の全体を対
象として生成することにより、どの“ようなエネルギー
帯のR1線源を用いた場合であっても信号処理系の全体
に亙って高精度にゲイン調整をなし得るようになる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できるもの
である。
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できるもの
である。
[発明の効果]
以上のように本発明では、ゲイン調整系を、D/A変換
器を用いたディジタルゲイン制御回路により構成したこ
とにより、D/A変換器を用いたディジタルゲイン制御
回路によるゲイン調整系では、分解能の高いゲイン調整
を行うことができ、しかも、調整における制御データを
、信号処理系の全体を対象として生成することにより、
どのようなエネルギー帯のR1線源を用いた場合であっ
ても信号処理系の全体に亙って高精度にゲイン調整をな
し得るようになる。
器を用いたディジタルゲイン制御回路により構成したこ
とにより、D/A変換器を用いたディジタルゲイン制御
回路によるゲイン調整系では、分解能の高いゲイン調整
を行うことができ、しかも、調整における制御データを
、信号処理系の全体を対象として生成することにより、
どのようなエネルギー帯のR1線源を用いた場合であっ
ても信号処理系の全体に亙って高精度にゲイン調整をな
し得るようになる。
よって本発明によれば、どのようなエネルギー帯のR1
線源を用いた場合であっても信号処理系の全体に亙って
高精度にゲイン調整をなし得るようにしたシンチレーシ
ョンカメラを提供できる。
線源を用いた場合であっても信号処理系の全体に亙って
高精度にゲイン調整をなし得るようにしたシンチレーシ
ョンカメラを提供できる。
第1図は本発明にかかるシンチレーションカメラの一実
施例の構成を示す回路図、第2図は一般的なシンチレー
ションカメラの構成を示すブロック図、第3図及び第4
図は従来例を説明する図である。 4・・・フォトマル、7・・・波形成形回路、13・・
・高電圧電源、14・・・同軸ケーブル、15・・・抵
抗、16・・・バッファ、17・・・乗算型D/A変換
器、18・・・I/V変換器、19・・・コントローラ
、19a、19b・・・ラッチ回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
施例の構成を示す回路図、第2図は一般的なシンチレー
ションカメラの構成を示すブロック図、第3図及び第4
図は従来例を説明する図である。 4・・・フォトマル、7・・・波形成形回路、13・・
・高電圧電源、14・・・同軸ケーブル、15・・・抵
抗、16・・・バッファ、17・・・乗算型D/A変換
器、18・・・I/V変換器、19・・・コントローラ
、19a、19b・・・ラッチ回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
Claims (1)
- 生体内に投与された放射性同位元素から放射される放射
線をシンチレータにより光に変換し、その光を平面的に
配設された複数個の光電子増倍管により検出し、該検出
信号それぞれをゲイン調整系を通した後に前記シンチレ
ータにおける輝点発光位置に関する情報を求め、それを
表示に供するようにしたシンチレーションカメラにおい
て、前記ゲイン調整系を、D/A変換器を用いたディジ
タルゲイン制御回路により構成したことを特徴とするシ
ンチレーションカメラ。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63206081A JPH0619451B2 (ja) | 1988-08-19 | 1988-08-19 | シンチレーションカメラ |
| US07/365,385 US5004904A (en) | 1988-06-17 | 1989-06-13 | Method and system for controlling gain and offset in radiation measurement apparatus |
| EP89110817A EP0346878B1 (en) | 1988-06-17 | 1989-06-14 | System for controlling gain and offset in radiation measurement apparatus |
| DE68918501T DE68918501T2 (de) | 1988-06-17 | 1989-06-14 | Einrichtung zur Steuerung von Gewinn und Offsetspannung in Strahlungsmessapparaten. |
| CA000603103A CA1333638C (en) | 1988-06-17 | 1989-06-16 | Method and system for controlling gain and offset in radiation measurement apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63206081A JPH0619451B2 (ja) | 1988-08-19 | 1988-08-19 | シンチレーションカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0255984A true JPH0255984A (ja) | 1990-02-26 |
| JPH0619451B2 JPH0619451B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=16517509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63206081A Expired - Fee Related JPH0619451B2 (ja) | 1988-06-17 | 1988-08-19 | シンチレーションカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619451B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58187883A (ja) * | 1982-04-27 | 1983-11-02 | Shimadzu Corp | シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正を修正する方法 |
| JPS5920879A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-02 | Shimadzu Corp | シンチレ−シヨンカメラ |
| JPS61240184A (ja) * | 1985-04-17 | 1986-10-25 | Toshiba Corp | シンチレ−シヨンカメラ |
-
1988
- 1988-08-19 JP JP63206081A patent/JPH0619451B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58187883A (ja) * | 1982-04-27 | 1983-11-02 | Shimadzu Corp | シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正を修正する方法 |
| JPS5920879A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-02 | Shimadzu Corp | シンチレ−シヨンカメラ |
| JPS61240184A (ja) * | 1985-04-17 | 1986-10-25 | Toshiba Corp | シンチレ−シヨンカメラ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0619451B2 (ja) | 1994-03-16 |
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