JPH0257261B2 - - Google Patents
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- JPH0257261B2 JPH0257261B2 JP12528784A JP12528784A JPH0257261B2 JP H0257261 B2 JPH0257261 B2 JP H0257261B2 JP 12528784 A JP12528784 A JP 12528784A JP 12528784 A JP12528784 A JP 12528784A JP H0257261 B2 JPH0257261 B2 JP H0257261B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/40—Investigating hardness or rebound hardness
- G01N3/42—Investigating hardness or rebound hardness by performing impressions under a steady load by indentors, e.g. sphere, pyramid
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、ゴム等の弾性体の硬度を測定するス
プリング式硬さ計の改良に関し、特に弾性体の応
力緩和現象を考慮して弾性体の硬さを自動的に読
み取り、その測定値をデジタル表示することがで
きるデジタル式硬さ計に関する。
プリング式硬さ計の改良に関し、特に弾性体の応
力緩和現象を考慮して弾性体の硬さを自動的に読
み取り、その測定値をデジタル表示することがで
きるデジタル式硬さ計に関する。
従来、JIS K6301第5.2項、SRIS 0101の4.2項
およびASTM D2240に記載される従来のスプリ
ング式ゴム硬さ計は、被測定試料に押針を押し付
け、被測定材料の反力による押針の上下方向の動
きをラツクとピニオン機構により回転量に変換
し、アナログゲージ盤上の指示針の動きよりゲー
ジ盤上の目盛を読み取るアナログ方式が取られて
いた。
およびASTM D2240に記載される従来のスプリ
ング式ゴム硬さ計は、被測定試料に押針を押し付
け、被測定材料の反力による押針の上下方向の動
きをラツクとピニオン機構により回転量に変換
し、アナログゲージ盤上の指示針の動きよりゲー
ジ盤上の目盛を読み取るアナログ方式が取られて
いた。
さらに、最近では特公昭55−20191号公報、特
開昭56−153235号公報にてデジタル方式のゴム硬
さ計が、押針の上下方向の移動量を差動トランス
により電気信号に変換する方法で報告されていた
り、また、特開昭57−184949号公報や特開昭58−
9044号公報では可変抵抗器により電気信号に変換
する方法、さらに特開昭58−72032号公報ではロ
ータリーエンコーダを使用して電気信号に変換す
る方法が、また実開昭59−20146号公報ではリニ
アスケールを使用して電気信号に変換する方法が
報告されているが、これらはいずれも問題点を有
しており現在では問題を有したまま使用されてい
るが、まだ一般に実用化されていない状態であ
る。
開昭56−153235号公報にてデジタル方式のゴム硬
さ計が、押針の上下方向の移動量を差動トランス
により電気信号に変換する方法で報告されていた
り、また、特開昭57−184949号公報や特開昭58−
9044号公報では可変抵抗器により電気信号に変換
する方法、さらに特開昭58−72032号公報ではロ
ータリーエンコーダを使用して電気信号に変換す
る方法が、また実開昭59−20146号公報ではリニ
アスケールを使用して電気信号に変換する方法が
報告されているが、これらはいずれも問題点を有
しており現在では問題を有したまま使用されてい
るが、まだ一般に実用化されていない状態であ
る。
ところで、すでに国内には数万台のゴム硬さ計
が販売されているが、そのほとんどがラツクとピ
ニオン機構によるアナログ方式である。この方式
の特徴は小型で持ち運びが容易であり、且つ安価
であるという点であるが、その反面、測定精度が
悪く測定結果が時間とともに変化し、目視による
測定では正確な記録ができない問題があつた。
が販売されているが、そのほとんどがラツクとピ
ニオン機構によるアナログ方式である。この方式
の特徴は小型で持ち運びが容易であり、且つ安価
であるという点であるが、その反面、測定精度が
悪く測定結果が時間とともに変化し、目視による
測定では正確な記録ができない問題があつた。
これは押針の上下移動を回転運動に変換する上
に小型であるため充分な回転量が得られず、また
変換部分にガタを生じ易いために測定精度に問題
が生じるためであり、機構上やむを得ないことで
あつた。
に小型であるため充分な回転量が得られず、また
変換部分にガタを生じ易いために測定精度に問題
が生じるためであり、機構上やむを得ないことで
あつた。
したがつて、この変換方式を利用して上下移動
を回転運動に変換しなければならないロータリー
エンコーダ方式では、この変換する部分で測定精
度に問題を生じ、その後コンピユータ等をいかに
駆使して解析しても被測定試料の硬さを正確に測
定したことにはならず、従来の問題を解決したこ
とにはならないのである。
を回転運動に変換しなければならないロータリー
エンコーダ方式では、この変換する部分で測定精
度に問題を生じ、その後コンピユータ等をいかに
駆使して解析しても被測定試料の硬さを正確に測
定したことにはならず、従来の問題を解決したこ
とにはならないのである。
一方、可変抵抗器によりデジタルに変換する方
法は、押針の上下移動量を抵抗器に接触させてそ
の変化量を電気信号に変換させる方法であるが、
この方法では押針のわずかな上下移動量を接触に
よる摩擦で正確に検出できないだけでなく、検出
した電気抵抗はアナログ値であり、それをアナロ
グ/デジタル変換しなくてはデジタル計にはなら
ず、そのため硬さ計の構成部品が多くなり、測定
精度が悪いのみならず大型で高価な硬さ計になる
という大きな問題を有している。
法は、押針の上下移動量を抵抗器に接触させてそ
の変化量を電気信号に変換させる方法であるが、
この方法では押針のわずかな上下移動量を接触に
よる摩擦で正確に検出できないだけでなく、検出
した電気抵抗はアナログ値であり、それをアナロ
グ/デジタル変換しなくてはデジタル計にはなら
ず、そのため硬さ計の構成部品が多くなり、測定
精度が悪いのみならず大型で高価な硬さ計になる
という大きな問題を有している。
また、差動トランス方式はすでに実用化されて
いるが、電気量をアナログ/デジタル変換する必
要があり、可変抵抗器方式と同様に硬さ計そのも
のが大型で高価になるという問題を有しているの
である。そして、これら大型の硬さ計は電力を必
要とする所から電池による電源投入ができないの
で、どこにでも持ち運びができるというわけには
いかず、さらに電源変動や電気ノイズを受けやす
くなる別種の問題点も有している。
いるが、電気量をアナログ/デジタル変換する必
要があり、可変抵抗器方式と同様に硬さ計そのも
のが大型で高価になるという問題を有しているの
である。そして、これら大型の硬さ計は電力を必
要とする所から電池による電源投入ができないの
で、どこにでも持ち運びができるというわけには
いかず、さらに電源変動や電気ノイズを受けやす
くなる別種の問題点も有している。
また、前記実開昭59−20146号公報に示される
ようなリニアスケールが提案されているが、この
リニアスケールを使用した装置では、1枚のスリ
ツト板を挟んで光学センサにてスリツトの移動を
読み取るようにしていたので、読み取り精度が悪
いという問題を有する。
ようなリニアスケールが提案されているが、この
リニアスケールを使用した装置では、1枚のスリ
ツト板を挟んで光学センサにてスリツトの移動を
読み取るようにしていたので、読み取り精度が悪
いという問題を有する。
例えば、JIS K6301第5.2項、SRIS 0101の4.2
項およびASTM D2240に記載されるスプリング
式硬さ計では、押針が硬さ計より2.54mm突き出て
おり、押圧が2.54mm移動した時に硬さ100になる。
即ち、硬さ1は0.0254mmの押針の移動を検知しな
ければならず、このような微小の変位を1枚のス
リツト板の移動から正確に検出するには変位を拡
大して検知するレンズ等を使用した装置が必要と
なるか、または微細な受光素子が必要となり、硬
さ計自体が大型化すると共に高価になるという問
題を有している。また、拡大装置を使用しない場
合は、硬さ10単位程度しか読み取ることが出来
ず、精度が悪いという問題がある。
項およびASTM D2240に記載されるスプリング
式硬さ計では、押針が硬さ計より2.54mm突き出て
おり、押圧が2.54mm移動した時に硬さ100になる。
即ち、硬さ1は0.0254mmの押針の移動を検知しな
ければならず、このような微小の変位を1枚のス
リツト板の移動から正確に検出するには変位を拡
大して検知するレンズ等を使用した装置が必要と
なるか、または微細な受光素子が必要となり、硬
さ計自体が大型化すると共に高価になるという問
題を有している。また、拡大装置を使用しない場
合は、硬さ10単位程度しか読み取ることが出来
ず、精度が悪いという問題がある。
そこで本発明の目的は、前記従来のデジタル式
硬さ計の有する種々の問題点を解消し、押針の上
下移動量をそのままリニアエンコーダを使用して
検出することにより高精度の硬さ測定値やさらに
は試料の分散度も得られ、また、小型で持ち運び
可能な全く新規な優れたデジタル式硬さ計を安価
で提供することである。
硬さ計の有する種々の問題点を解消し、押針の上
下移動量をそのままリニアエンコーダを使用して
検出することにより高精度の硬さ測定値やさらに
は試料の分散度も得られ、また、小型で持ち運び
可能な全く新規な優れたデジタル式硬さ計を安価
で提供することである。
前記目的を達成する本発明のデジタル式硬さ計
は、弾性部材を利用して柔軟な材料の硬度を測定
する硬さ計において、その押針の移動量を検出す
るリニアエンコーダを設け、このリニアエンコー
ダは、前記押針に連動する移動スリツト板と、こ
れに対向する位置に取り付けられ、前記移動スリ
ツト板のスリツトに対し僅かに傾斜したスリツト
を持つ固定スリツト板と、これらを挟んで対向す
る位置に設けられた発光素子と受光素子とから構
成して、前記発光素子の前を移動スリツト板が移
動することによつてできるモアレ縞の変化を、受
光素子により電気信号に変換して検出できるよう
にし、さらに前記リニアエンコーダには、前記電
気信号をパルス化して前記押針の移動量をデジタ
ル表示可能な制御回路を接続したことを特徴とし
ている。
は、弾性部材を利用して柔軟な材料の硬度を測定
する硬さ計において、その押針の移動量を検出す
るリニアエンコーダを設け、このリニアエンコー
ダは、前記押針に連動する移動スリツト板と、こ
れに対向する位置に取り付けられ、前記移動スリ
ツト板のスリツトに対し僅かに傾斜したスリツト
を持つ固定スリツト板と、これらを挟んで対向す
る位置に設けられた発光素子と受光素子とから構
成して、前記発光素子の前を移動スリツト板が移
動することによつてできるモアレ縞の変化を、受
光素子により電気信号に変換して検出できるよう
にし、さらに前記リニアエンコーダには、前記電
気信号をパルス化して前記押針の移動量をデジタ
ル表示可能な制御回路を接続したことを特徴とし
ている。
以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。
る。
第1図および第2図は本発明デジタル式硬さ計
の一実施例の正面図及び側面図である。硬さ計本
体1は前面にデジタル硬さ表示器2を持つ表示操
作部3があり、その背後にリニアエンコーダ4が
取付けてある。このリニアエンコーダ4を上下に
貫通する状態でスピンドル5が取付けられてい
る。スピンドル5は上下に移動し、その上端は荷
重スプリング6の下端に接触している。荷重スプ
リング6の上端は硬さ計本体1にねじ込まれた調
整ネジ7に接触し、調整ネジ7により荷重スプリ
ング6の強さを調整することによつてJIS K6301
規格、SRIS 0101の4.2項およびASTM D2240規
格に適するようになつている。(第2図ではコイ
ルばねを用いているが、板ばねを用いることもで
きる。)また、スピンドル5の下端には押針8が、
これも前記各規格に適する寸法で取付けられ、そ
の先端は硬さ計本体1に固定された加圧脚9の下
面、即ち加圧面10より突出している。
の一実施例の正面図及び側面図である。硬さ計本
体1は前面にデジタル硬さ表示器2を持つ表示操
作部3があり、その背後にリニアエンコーダ4が
取付けてある。このリニアエンコーダ4を上下に
貫通する状態でスピンドル5が取付けられてい
る。スピンドル5は上下に移動し、その上端は荷
重スプリング6の下端に接触している。荷重スプ
リング6の上端は硬さ計本体1にねじ込まれた調
整ネジ7に接触し、調整ネジ7により荷重スプリ
ング6の強さを調整することによつてJIS K6301
規格、SRIS 0101の4.2項およびASTM D2240規
格に適するようになつている。(第2図ではコイ
ルばねを用いているが、板ばねを用いることもで
きる。)また、スピンドル5の下端には押針8が、
これも前記各規格に適する寸法で取付けられ、そ
の先端は硬さ計本体1に固定された加圧脚9の下
面、即ち加圧面10より突出している。
以上の構造において硬さ計本体1を加圧面10
が被測定試料面に接するように押し当てると押針
8およびスピンドル5は荷重スプリング6の作用
により試料の反力、即ち試料の硬さに応じて加圧
面10に対して上方に変位するので、この移動量
を読み取ることで、この移動量と硬さの関係を換
算して試料の硬さを測定することができる。リニ
アエンコーダ4には前記移動量をデジタル信号と
して取出すための機構、回路が組込まれており、
このデジタル信号は表示操作部3に組込まれた回
路で処理され、硬さ表示器2に前記各規定に記載
されるスプリング式硬さ値として表示される。
が被測定試料面に接するように押し当てると押針
8およびスピンドル5は荷重スプリング6の作用
により試料の反力、即ち試料の硬さに応じて加圧
面10に対して上方に変位するので、この移動量
を読み取ることで、この移動量と硬さの関係を換
算して試料の硬さを測定することができる。リニ
アエンコーダ4には前記移動量をデジタル信号と
して取出すための機構、回路が組込まれており、
このデジタル信号は表示操作部3に組込まれた回
路で処理され、硬さ表示器2に前記各規定に記載
されるスプリング式硬さ値として表示される。
第3図および第4図はデジタル式硬さ計に用い
られるリニアエンコーダの構造図であり、第5図
はリニアエンコーダで使用されるスリツト板の詳
細図である。
られるリニアエンコーダの構造図であり、第5図
はリニアエンコーダで使用されるスリツト板の詳
細図である。
リニアエンコーダ4は、スピンドル5に固定さ
れ、スピンドル5の軸方向に直線運動する可動ス
リツト板11と、リニアエンコーダ4本体に固定
された固定スリツト板12と、可動スリツト板1
1と固定スリツト板12の前後に置いた2組の発
光素子13,13′と、受光素子14,14′と、
電圧比較器15により構成されている。スリツト
板11,12は透明な板に細い一定間隔の不透明
な線が印刷されたもので、この両スリツト板1
1,12は印刷された線が相互に僅かな傾き角度
を持つように取り付けられ、その結果、第5図に
示すようなモアレ縞(濃淡縞)ができ、スピンド
ル5の上下動によつて可動スリツト板11が移動
すると、このモアレ縞が左右に移動する。そし
て、前記モアレ縞の濃淡の移動による明暗の変化
を受光素子14,14′により近似正弦波25の
電気信号に変換して取り出した後、更に電圧比較
器15で矩形波26に波形整形する。
れ、スピンドル5の軸方向に直線運動する可動ス
リツト板11と、リニアエンコーダ4本体に固定
された固定スリツト板12と、可動スリツト板1
1と固定スリツト板12の前後に置いた2組の発
光素子13,13′と、受光素子14,14′と、
電圧比較器15により構成されている。スリツト
板11,12は透明な板に細い一定間隔の不透明
な線が印刷されたもので、この両スリツト板1
1,12は印刷された線が相互に僅かな傾き角度
を持つように取り付けられ、その結果、第5図に
示すようなモアレ縞(濃淡縞)ができ、スピンド
ル5の上下動によつて可動スリツト板11が移動
すると、このモアレ縞が左右に移動する。そし
て、前記モアレ縞の濃淡の移動による明暗の変化
を受光素子14,14′により近似正弦波25の
電気信号に変換して取り出した後、更に電圧比較
器15で矩形波26に波形整形する。
なお、前記スリツト板11,12は、両者を共
に水平線に対して逆方向に傾かせてもよいが、ど
ちらか一方を水平にし、他方を水平線に対して傾
かせても良いものである。
に水平線に対して逆方向に傾かせてもよいが、ど
ちらか一方を水平にし、他方を水平線に対して傾
かせても良いものである。
例えば、移動スリツト板11には水平にスリツ
トを設け、固定スリツト板12を前記移動スリツ
ト板11に対して傾けた場合は、この固定スリツ
ト12の僅かな傾斜は、例えばスリツトのピツチ
をd、傾斜角度をαとするとモアレ縞の間隔Sが
S≒d/αで与えられるところから、受光素子の
寸法が4mmφの場合、モアレ縞の間隔Sは4mm以
上ないと1個の素子の中に2本の縞を検出してし
まう。従つて、硬さを0.05の単位まで読み取る場
合は、スリツト線の間隔dは、0.005mmとなり、
傾斜角度α=d/s=0.005/5=0.001rad(ラジ
アン…1rad=57度)となり、同様に硬さ1単位
まで読み取る場合は、0.1/5=0.02radとなる。
これらの数字は素子の寸法によるが、通常測定精
度に合わせて0.001〜0.02radの範囲で固定スリツ
トの傾斜角度を選ぶ。
トを設け、固定スリツト板12を前記移動スリツ
ト板11に対して傾けた場合は、この固定スリツ
ト12の僅かな傾斜は、例えばスリツトのピツチ
をd、傾斜角度をαとするとモアレ縞の間隔Sが
S≒d/αで与えられるところから、受光素子の
寸法が4mmφの場合、モアレ縞の間隔Sは4mm以
上ないと1個の素子の中に2本の縞を検出してし
まう。従つて、硬さを0.05の単位まで読み取る場
合は、スリツト線の間隔dは、0.005mmとなり、
傾斜角度α=d/s=0.005/5=0.001rad(ラジ
アン…1rad=57度)となり、同様に硬さ1単位
まで読み取る場合は、0.1/5=0.02radとなる。
これらの数字は素子の寸法によるが、通常測定精
度に合わせて0.001〜0.02radの範囲で固定スリツ
トの傾斜角度を選ぶ。
前記スリツトの線の間隔は、硬さ値を0.05度単
位で読みとる場合、0.00125mm×4=0.005mmピツ
チとすることが必要(後述する4倍パルスを使用
した場合)であり、この矩形波の数を計数するこ
とによりスピンドル5の移動量を計測することが
できるのである。またスピンドル5の移動方向を
認識するために素子13,14からなる組と素子
13′,14′からなる組とはある程度距離を離し
て位置させ、その出力位相が互いに90度異なるよ
うに、一方の組の素子間に挟まれたどちらかのス
リツト板の線を他方の素子間の前の同じスリツト
板の線とずらせておくか、あるいは2組の素子を
モアレ縞の移動方向にずらして配置すれば良い。
このずれにより、素子13,14の組からA相、
素子13′,14′の組からはB相の、互いに位相
が90度異なつた信号を出力することにより移動方
向の判別が可能となる。
位で読みとる場合、0.00125mm×4=0.005mmピツ
チとすることが必要(後述する4倍パルスを使用
した場合)であり、この矩形波の数を計数するこ
とによりスピンドル5の移動量を計測することが
できるのである。またスピンドル5の移動方向を
認識するために素子13,14からなる組と素子
13′,14′からなる組とはある程度距離を離し
て位置させ、その出力位相が互いに90度異なるよ
うに、一方の組の素子間に挟まれたどちらかのス
リツト板の線を他方の素子間の前の同じスリツト
板の線とずらせておくか、あるいは2組の素子を
モアレ縞の移動方向にずらして配置すれば良い。
このずれにより、素子13,14の組からA相、
素子13′,14′の組からはB相の、互いに位相
が90度異なつた信号を出力することにより移動方
向の判別が可能となる。
第6図はスピンドル5の移動方向を判別する回
路の製作手順を示す波形図である。リニアエンコ
ーダ4からは90度位相のずれた2つの信号(A相
およびB相)が出力される。スピンドル5を上昇
させたときと降下させたときの波形を第6図1に
示す。
路の製作手順を示す波形図である。リニアエンコ
ーダ4からは90度位相のずれた2つの信号(A相
およびB相)が出力される。スピンドル5を上昇
させたときと降下させたときの波形を第6図1に
示す。
次に微分回路を用いて第6図2に示すA相の立
上りタイミングパルスAt及びA相の立下りタイ
ミングパルスを作る。第6図3にタイミング
パルスAtとB相との論理積At×B…と、タイ
ミングパルスとB相との論理積×B…を
示す。この論理積、の両信号をRSフリツプ
フロツプの入力とするとその出力は第6図4のよ
うになるので、スピンドル5の上昇降下の方向を
判別することができる。
上りタイミングパルスAt及びA相の立下りタイ
ミングパルスを作る。第6図3にタイミング
パルスAtとB相との論理積At×B…と、タイ
ミングパルスとB相との論理積×B…を
示す。この論理積、の両信号をRSフリツプ
フロツプの入力とするとその出力は第6図4のよ
うになるので、スピンドル5の上昇降下の方向を
判別することができる。
また、論理積、の論理和をとると、第6図
5に示す計数用パルスを取り出すことができる。
5に示す計数用パルスを取り出すことができる。
更に、B相の反転を用いて第6図2のAt,
と合成すれば2倍のパルスが得られる。またこの
2倍のパルスとB相の立上がり、立下がりパルス
とA相及びA相の反転を用いて得られた2倍パル
スとを合成すれば4倍パルスが得られる。
と合成すれば2倍のパルスが得られる。またこの
2倍のパルスとB相の立上がり、立下がりパルス
とA相及びA相の反転を用いて得られた2倍パル
スとを合成すれば4倍パルスが得られる。
第7図は第1図に示した実施例の回路系統図で
ある。第7図に示すようにリニアエンコーダ4か
ら出力する変位信号は表示操作部3において方向
判別回路16、可逆カウンタ17、時間制御回路
18、表示器制御回路19を経て硬さ表示器2で
表示される。方向判別回路16ではリニアエンコ
ーダ4からのA相、B相の2つの信号を入力して
スピンドル5の上昇、降下の判別信号と併せてス
ピンドル5の変位、即ち移動量に比例した数のパ
ルスを出力して次の可逆カウンタ17へ送る。可
逆カウンタ17ではこのパルス数を計数してスピ
ンドル5の移動量を例えば2進数の形で出力する
とともに、方向判別信号に応じて計数出力信号を
増加あるいは減少させる。時間制御回路18は被
測定試料の硬さ測定において通常みられる応力緩
和現象、すなわち硬さ計本体1を試料に押し当て
た直後に最高値を示した後、硬さ値が徐々に低下
し最終的にはほぼ安定した値となる現象に対し、
前記最高値を保持するピークホールド回路と、ど
の時期の値を被測定試料の硬さ値とするかを決め
る回路とを有し、たとえば最高値を指示したり、
又は何秒後かを設定し、設定時間経過後に硬さ表
示器2の表示がその時の値を保持するよう動作す
るものである。この場合、時間信号設定器20で
あらかじめ設定時間を入力しておくと、硬さの最
高値が得られた後、設定時間経過時の硬さ値を保
持し表示することができる。
ある。第7図に示すようにリニアエンコーダ4か
ら出力する変位信号は表示操作部3において方向
判別回路16、可逆カウンタ17、時間制御回路
18、表示器制御回路19を経て硬さ表示器2で
表示される。方向判別回路16ではリニアエンコ
ーダ4からのA相、B相の2つの信号を入力して
スピンドル5の上昇、降下の判別信号と併せてス
ピンドル5の変位、即ち移動量に比例した数のパ
ルスを出力して次の可逆カウンタ17へ送る。可
逆カウンタ17ではこのパルス数を計数してスピ
ンドル5の移動量を例えば2進数の形で出力する
とともに、方向判別信号に応じて計数出力信号を
増加あるいは減少させる。時間制御回路18は被
測定試料の硬さ測定において通常みられる応力緩
和現象、すなわち硬さ計本体1を試料に押し当て
た直後に最高値を示した後、硬さ値が徐々に低下
し最終的にはほぼ安定した値となる現象に対し、
前記最高値を保持するピークホールド回路と、ど
の時期の値を被測定試料の硬さ値とするかを決め
る回路とを有し、たとえば最高値を指示したり、
又は何秒後かを設定し、設定時間経過後に硬さ表
示器2の表示がその時の値を保持するよう動作す
るものである。この場合、時間信号設定器20で
あらかじめ設定時間を入力しておくと、硬さの最
高値が得られた後、設定時間経過時の硬さ値を保
持し表示することができる。
表示器制御回路19は時間制御回路18からの
硬さデータ信号(例えば2進数のデータ信号)を
表示器で表示できる形に変換するものでこれには
デコーダ、マルチプレクサが含まれる。
硬さデータ信号(例えば2進数のデータ信号)を
表示器で表示できる形に変換するものでこれには
デコーダ、マルチプレクサが含まれる。
硬さ表示器2は例えば3〜4桁の7セグメント
発光ダイオード〔LED〕(あるいは液晶〔LCD〕)
数字表示器で構成される。なお、この表示器は先
に述べた時間信号設定器20の入力信号表示器と
して、また後述する合否判定基準設定器22の入
力信号表示器としても切換えて使用される。
発光ダイオード〔LED〕(あるいは液晶〔LCD〕)
数字表示器で構成される。なお、この表示器は先
に述べた時間信号設定器20の入力信号表示器と
して、また後述する合否判定基準設定器22の入
力信号表示器としても切換えて使用される。
表示操作部3にはこの他に設定した硬さ値があ
らかじめ設定された許容範囲内に含まれているか
否かを判断する合否判定回路21がある。これは
測定した硬さ値と、あらかじめ合否判定基準設定
器22に入力された基準硬さ値との比較を行い、
その結果を合否判定表示器23へ出力するもので
ある。この場合、基準硬さ値には上限、下限およ
び上下限のそれぞれを目的に応じて設定すること
ができる。合否判定表示器23の一例としては、
測定結果が許容範囲の上限、あるいは下限を越え
た場合に、それぞれ別個に点灯するLEDを設け
るような手段を用いても良い。
らかじめ設定された許容範囲内に含まれているか
否かを判断する合否判定回路21がある。これは
測定した硬さ値と、あらかじめ合否判定基準設定
器22に入力された基準硬さ値との比較を行い、
その結果を合否判定表示器23へ出力するもので
ある。この場合、基準硬さ値には上限、下限およ
び上下限のそれぞれを目的に応じて設定すること
ができる。合否判定表示器23の一例としては、
測定結果が許容範囲の上限、あるいは下限を越え
た場合に、それぞれ別個に点灯するLEDを設け
るような手段を用いても良い。
さらに表示操作部3には測定結果を外部のデー
タ処理装置(例えばプリンタ、マイクロコンピユ
ータ等)へ送り出す機能を持たせることもでき
る。この場合、必要に応じ信号変換器24によ
り、例えば測定結果を2進化10進数〔BED〕に
変換することによつて汎用性を持たせると良い。
タ処理装置(例えばプリンタ、マイクロコンピユ
ータ等)へ送り出す機能を持たせることもでき
る。この場合、必要に応じ信号変換器24によ
り、例えば測定結果を2進化10進数〔BED〕に
変換することによつて汎用性を持たせると良い。
なお、第7図の時間制御回路18以降は図のよ
うにハードウエアで構成することもできるが、マ
イクロコンピユータを用いたソフトウエアで構成
することも可能である。
うにハードウエアで構成することもできるが、マ
イクロコンピユータを用いたソフトウエアで構成
することも可能である。
表示操作部3は、本発明の硬さ計より離し、外
部のデータ処理装置と組み合わせて外部機能とし
て保有してもよい。その場合、外部のデータ処理
結果と同時に硬さ値を得ることができる利点があ
る。さらに、表示操作部3を本体から離す場合
は、第7図のリニアエンコーダ4以外のすべてを
外部機能として保有することになる。
部のデータ処理装置と組み合わせて外部機能とし
て保有してもよい。その場合、外部のデータ処理
結果と同時に硬さ値を得ることができる利点があ
る。さらに、表示操作部3を本体から離す場合
は、第7図のリニアエンコーダ4以外のすべてを
外部機能として保有することになる。
以上のような本発明のデジタル式硬さ計を使用
して押針の上下移動量をそのままリニアエンコー
ダにより検出すれば、上下移動を回転運動に変換
する機構がなくなり、そのため各部品のガタや摩
擦の影響がなくなつて高精度な測定結果を得るこ
とができる。
して押針の上下移動量をそのままリニアエンコー
ダにより検出すれば、上下移動を回転運動に変換
する機構がなくなり、そのため各部品のガタや摩
擦の影響がなくなつて高精度な測定結果を得るこ
とができる。
特に、リニアエンコーダのスリツトにガラスを
使用し、ガラスにクロームを蒸着してスケールを
作成した場合等では、1μm程度の変位まで光学
的に検出できるので、極めて誤差の少ない精度の
高い変位の検出が可能になる。
使用し、ガラスにクロームを蒸着してスケールを
作成した場合等では、1μm程度の変位まで光学
的に検出できるので、極めて誤差の少ない精度の
高い変位の検出が可能になる。
このような高精度リニアエンコーダと荷重スプ
リングを使用し、測定時の条件(例えば試料への
押し力、温度等)を一定にする手段を用いれば、
従来硬さ値の最小単位として±1をアナログ値か
ら読み取つていたのが、±0.05の硬さ値までデジ
タル値として正確に得ることができ、20倍まで精
度を上げることができる。もちろん目的によつて
精度を±0.1まで(第1図の実施例)下げるのは
容易である。
リングを使用し、測定時の条件(例えば試料への
押し力、温度等)を一定にする手段を用いれば、
従来硬さ値の最小単位として±1をアナログ値か
ら読み取つていたのが、±0.05の硬さ値までデジ
タル値として正確に得ることができ、20倍まで精
度を上げることができる。もちろん目的によつて
精度を±0.1まで(第1図の実施例)下げるのは
容易である。
以上のように本発明のデジタル式硬さ計では、
従来の硬さ計では得られなかつた高精度で試料の
硬さを測定することにより硬さ計の用途が広が
り、例えば被測定試料が加硫ゴムの場合、試料の
加硫状態の分布や混合されている配合剤の分散状
態を調べることが可能となる。
従来の硬さ計では得られなかつた高精度で試料の
硬さを測定することにより硬さ計の用途が広が
り、例えば被測定試料が加硫ゴムの場合、試料の
加硫状態の分布や混合されている配合剤の分散状
態を調べることが可能となる。
また、モアレ縞の移動から押針の移動量を検出
する所からリニアスケールから直接移動量を検出
することより、より確実に検出することができ、
かつリニアスケールの線の太さに影響されず、押
針の移動量を高精度に検出することができる。
する所からリニアスケールから直接移動量を検出
することより、より確実に検出することができ、
かつリニアスケールの線の太さに影響されず、押
針の移動量を高精度に検出することができる。
また、リニアエンコーダによるパルス信号をそ
のままデジタル値としてカウントできることか
ら、A/Dコンバータなどの電気的変換手段を必
要としないし、さらに前述した機械的変換手段を
必要としないことから本発明の硬さ計本体は小型
で軽く持ち運びが容易であるという効果と、さら
に、電池式であることから電気的ノイズにより測
定結果に異常が生じる心配がなく、従来のデジタ
ル式硬さ計の問題点を解決した大きな効果もあ
る。
のままデジタル値としてカウントできることか
ら、A/Dコンバータなどの電気的変換手段を必
要としないし、さらに前述した機械的変換手段を
必要としないことから本発明の硬さ計本体は小型
で軽く持ち運びが容易であるという効果と、さら
に、電池式であることから電気的ノイズにより測
定結果に異常が生じる心配がなく、従来のデジタ
ル式硬さ計の問題点を解決した大きな効果もあ
る。
また、JIS K6301およびASTM D2240にはそ
れぞれJIS A型およびデユロメータA型におい
て、測定時の押し荷重が1Kgfになるように記載
されており、本発明のデジタル式硬さ計において
も自重が1Kgになるように調整すれば測定値の個
人誤差がなくなる等、精度の利点が得られる。そ
の他、電気信号として得られた硬さ測定結果をピ
ークホールドしたり、一定時間経過後の硬さ値を
表示したり、基準硬さ値との比較において合否を
判定する機能は本発明のデジタル式硬さ計を工場
内等で使用する場合、デジタル値のために読み取
りやすい等の効果とともに有効に利用される。
れぞれJIS A型およびデユロメータA型におい
て、測定時の押し荷重が1Kgfになるように記載
されており、本発明のデジタル式硬さ計において
も自重が1Kgになるように調整すれば測定値の個
人誤差がなくなる等、精度の利点が得られる。そ
の他、電気信号として得られた硬さ測定結果をピ
ークホールドしたり、一定時間経過後の硬さ値を
表示したり、基準硬さ値との比較において合否を
判定する機能は本発明のデジタル式硬さ計を工場
内等で使用する場合、デジタル値のために読み取
りやすい等の効果とともに有効に利用される。
第1図は本発明のデジタル式硬さ計の一実施例
の正面図、第2図は第1図のデジタル式硬さ計の
一部破断側面図、第3図は本発明のリニアエンコ
ーダの内部構成を示す縦断面図、第4図は第4図
のリニアエンコーダの横断面図、第5図は本発明
のデジタル式硬さ計のリニアエンコーダに使用さ
れるスリツト板により生じるモアレ縞の部分拡大
図、第6図は本発明のデジタル式硬さ計に用いら
れる方向判別回路の動作波形図、第7図は本発明
のデジタル式硬さ計の構成を示すブロツク図であ
る。 1……硬さ計本体、2……表示器、3……操作
部、4……リニアエンコーダ、5……スピンド
ル、6……荷重スプリング、7……調整ネジ、8
……押針、9……加圧脚、10……加圧面、11
……可動スリツト板、12……固定スリツト板、
13,13′……発光素子、14,14′……受光
素子、15……電圧比較器、16……方向判別回
路、17……可逆カウンタ、18……時間制御回
路、19……表示器制御回路、20……時間信号
設定器、21……合否判定回路、22……合否判
定基準設定器、23……合否判定表示器。
の正面図、第2図は第1図のデジタル式硬さ計の
一部破断側面図、第3図は本発明のリニアエンコ
ーダの内部構成を示す縦断面図、第4図は第4図
のリニアエンコーダの横断面図、第5図は本発明
のデジタル式硬さ計のリニアエンコーダに使用さ
れるスリツト板により生じるモアレ縞の部分拡大
図、第6図は本発明のデジタル式硬さ計に用いら
れる方向判別回路の動作波形図、第7図は本発明
のデジタル式硬さ計の構成を示すブロツク図であ
る。 1……硬さ計本体、2……表示器、3……操作
部、4……リニアエンコーダ、5……スピンド
ル、6……荷重スプリング、7……調整ネジ、8
……押針、9……加圧脚、10……加圧面、11
……可動スリツト板、12……固定スリツト板、
13,13′……発光素子、14,14′……受光
素子、15……電圧比較器、16……方向判別回
路、17……可逆カウンタ、18……時間制御回
路、19……表示器制御回路、20……時間信号
設定器、21……合否判定回路、22……合否判
定基準設定器、23……合否判定表示器。
Claims (1)
- 1 弾性部材を利用して柔軟な材料の硬度を測定
する硬さ計において、その押針の移動量を検出す
るリニアエンコーダを設け、このリニアエンコー
ダは、前記押針に連動する移動スリツト板と、こ
れに対向する位置に取り付けられ、前記移動スリ
ツト板のスリツトに対し僅かに傾斜したスリツト
を持つ固定スリツト板と、これらを挟んで対向す
る位置に設けられた発光素子と受光素子とから構
成して、前記発光素子の前を移動スリツト板が移
動することによつてできるモアレ縞の変化を、受
光素子により電気信号に変換して検出できるよう
にし、さらに前記リニアエンコーダには、前記電
気信号をパルス化して前記押針の移動量をデジタ
ル表示可能な制御回路を接続したことを特徴とす
るデジタル式硬さ計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12528784A JPS614942A (ja) | 1984-06-20 | 1984-06-20 | デジタル式硬さ計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12528784A JPS614942A (ja) | 1984-06-20 | 1984-06-20 | デジタル式硬さ計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS614942A JPS614942A (ja) | 1986-01-10 |
| JPH0257261B2 true JPH0257261B2 (ja) | 1990-12-04 |
Family
ID=14906340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12528784A Granted JPS614942A (ja) | 1984-06-20 | 1984-06-20 | デジタル式硬さ計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS614942A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4064011B2 (ja) * | 1999-08-06 | 2008-03-19 | 有限会社エラストロン | 改良されたバネ荷重機構を備えたゴム硬度計 |
| JP2014185949A (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Mitsutoyo Corp | 硬さ試験機、及び硬さ試験方法 |
-
1984
- 1984-06-20 JP JP12528784A patent/JPS614942A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS614942A (ja) | 1986-01-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |