JPH0257864B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0257864B2 JPH0257864B2 JP58250169A JP25016983A JPH0257864B2 JP H0257864 B2 JPH0257864 B2 JP H0257864B2 JP 58250169 A JP58250169 A JP 58250169A JP 25016983 A JP25016983 A JP 25016983A JP H0257864 B2 JPH0257864 B2 JP H0257864B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reaction tube
- base
- light
- tube table
- movement means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は自動分析装置に関し、特に血液や尿
などの多数の試料について多数の項目の光学的分
析を自動的に行なう自動分析装置に関する。
などの多数の試料について多数の項目の光学的分
析を自動的に行なう自動分析装置に関する。
(ロ) 従来技術
このような自動分析装置としては、例えば反応
管テーブルと、この反応管テーブルの外周縁に沿
つて外側に配列固定された複数個の反射器と、中
心に固定された光源と、回転可能な基盤とを備
え、更にこの基盤に光源から所定の複数分析項目
に対応する単色光を得るためのフイルタ及び光検
出器を備えたものが提案されている（特開昭56−
24554号公報参照）。しかしこの自動分析装置にお
いては、光源からの光束は、反応管を通過後、所
定の複数カ所に固定された反射器で反射され、フ
イルタ及び光検出器に導かれる。つまりこの装置
での測光は反射器が固定された位置に限定される
ことになる。また１つのフイルタ、光検出器に全
ての反射器からの光をそれぞれ正確に導くのは至
難のことであり、調整がきわめて難しい。
管テーブルと、この反応管テーブルの外周縁に沿
つて外側に配列固定された複数個の反射器と、中
心に固定された光源と、回転可能な基盤とを備
え、更にこの基盤に光源から所定の複数分析項目
に対応する単色光を得るためのフイルタ及び光検
出器を備えたものが提案されている（特開昭56−
24554号公報参照）。しかしこの自動分析装置にお
いては、光源からの光束は、反応管を通過後、所
定の複数カ所に固定された反射器で反射され、フ
イルタ及び光検出器に導かれる。つまりこの装置
での測光は反射器が固定された位置に限定される
ことになる。また１つのフイルタ、光検出器に全
ての反射器からの光をそれぞれ正確に導くのは至
難のことであり、調整がきわめて難しい。
一方、反応管を環状に配置した反応管テーブル
が、１回転と１ピツチ（隣接する反応管の中心間
隔）分回転し、その回転中に、固定位置にある光
軸をを順次横切つてその瞬間に測光する自動分析
装置も知られている（特開昭57−44856号公報参
照）。しかしこの装置ではＳ／Ｎ比をあげるため
測定時間を長くすると１回転に要する時間が増加
し、そのために試薬分注や反応管の洗浄などの時
間が制限される。逆にこれらの時間を十分確保す
ると、測定時間が制限されることになる。要する
に反応管テーブルを回転させている間は、測光以
外の動作を並行して進めることができないわけで
ある。
が、１回転と１ピツチ（隣接する反応管の中心間
隔）分回転し、その回転中に、固定位置にある光
軸をを順次横切つてその瞬間に測光する自動分析
装置も知られている（特開昭57−44856号公報参
照）。しかしこの装置ではＳ／Ｎ比をあげるため
測定時間を長くすると１回転に要する時間が増加
し、そのために試薬分注や反応管の洗浄などの時
間が制限される。逆にこれらの時間を十分確保す
ると、測定時間が制限されることになる。要する
に反応管テーブルを回転させている間は、測光以
外の動作を並行して進めることができないわけで
ある。
(ハ) 目的
この発明は、主としてこれらの事情に鑑みなさ
れたもので、その主要な目的の一つは、測光位置
が限定されず、光学的調整が容易な自動分析装置
の提供にあり、主要な目的のもう一つは測光中に
も試薬分注や洗浄が行なえ、信頼性の高い分析結
果が得られる自動分析装置の提供にある。
れたもので、その主要な目的の一つは、測光位置
が限定されず、光学的調整が容易な自動分析装置
の提供にあり、主要な目的のもう一つは測光中に
も試薬分注や洗浄が行なえ、信頼性の高い分析結
果が得られる自動分析装置の提供にある。
(ニ) 構成
この発明は、複数の反応管を環状に支持する反
応管テーブル及びこの反応管テーブルの間欠回転
移動手段と、 光源と、光束を反応管に導く光学部材と、分光
器と、光検出器とから構成される分光測定手段を
有し、これらの光源、光学部材、分光器及び光検
出器を支持する基盤と、この基盤を反応管テーブ
ルに対して相対的に同軸回転させる基盤の回転移
動手段とを備え、 反応管テーブルの間欠回転移動手段が反応管テ
ーブルを停止させているときに、基盤の回転移動
手段が基盤を正回転させ、各反応管に対して所定
項目の分析を行つた後、基盤を逆回転させて元の
位置に復帰するよう構成してなる自動分析装置で
ある。
応管テーブル及びこの反応管テーブルの間欠回転
移動手段と、 光源と、光束を反応管に導く光学部材と、分光
器と、光検出器とから構成される分光測定手段を
有し、これらの光源、光学部材、分光器及び光検
出器を支持する基盤と、この基盤を反応管テーブ
ルに対して相対的に同軸回転させる基盤の回転移
動手段とを備え、 反応管テーブルの間欠回転移動手段が反応管テ
ーブルを停止させているときに、基盤の回転移動
手段が基盤を正回転させ、各反応管に対して所定
項目の分析を行つた後、基盤を逆回転させて元の
位置に復帰するよう構成してなる自動分析装置で
ある。
(ホ) 実施例
以下図に示す実施例に基づいてこの発明を詳述
する。なお、これによつてこの発明が限定を受け
るものではない。
する。なお、これによつてこの発明が限定を受け
るものではない。
第１〜２図において、生化学自動分析装置１
は、複数の反応管２，３，４，５，６……を環状
に支持する反応管テーブル（反応デイスク）７及
びその間欠回転移動手段８と、 基盤９及びその基盤を反応管テーブル７に対し
て相対的に同軸回転させる基盤の回転移動手段１
０とを備えている。
は、複数の反応管２，３，４，５，６……を環状
に支持する反応管テーブル（反応デイスク）７及
びその間欠回転移動手段８と、 基盤９及びその基盤を反応管テーブル７に対し
て相対的に同軸回転させる基盤の回転移動手段１
０とを備えている。
そしてその基盤９には、光源１１と、この光源
からの多波長を含む光束を集光し、その集光光束
を反応管テーブル７で支持される反応管（例え
ば、２）を横切るよう導く、レンズ１２，１３、
スリツト１４などの光学部材と、その反応管２か
ら得られる透過光束を複数分析項目に対応する異
なる波長の単色光（例えば、340nm、375nm、
510nm、660nm、）に分ける入口スリツト１５、
分散子（１６、凹部ホログラフイツクグレテイン
グ）からなる分光器と、反応管２から得られる透
過光束をその分光器に導くミラー１７，１８、レ
ンズ１９からなる光学部材と、分散子１６によつ
て分けられた波長に対応する位置に配列された光
検出器（例えばシリコンホトセル）２０，２１…
…とが設置されている。
からの多波長を含む光束を集光し、その集光光束
を反応管テーブル７で支持される反応管（例え
ば、２）を横切るよう導く、レンズ１２，１３、
スリツト１４などの光学部材と、その反応管２か
ら得られる透過光束を複数分析項目に対応する異
なる波長の単色光（例えば、340nm、375nm、
510nm、660nm、）に分ける入口スリツト１５、
分散子（１６、凹部ホログラフイツクグレテイン
グ）からなる分光器と、反応管２から得られる透
過光束をその分光器に導くミラー１７，１８、レ
ンズ１９からなる光学部材と、分散子１６によつ
て分けられた波長に対応する位置に配列された光
検出器（例えばシリコンホトセル）２０，２１…
…とが設置されている。
次に以上の構成よりなる自動分析装置１の作動
を説明する。
を説明する。
まず前処理部Ａにおいて、別途サンプルカツプ
より血清、血漿又は尿の一定をサンプリングし反
応管A1……Aoに分注する。次いで各分析項目に
対応する試薬を各反応管に添加すると共に撹拌し
て順次被験液を作る。
より血清、血漿又は尿の一定をサンプリングし反
応管A1……Aoに分注する。次いで各分析項目に
対応する試薬を各反応管に添加すると共に撹拌し
て順次被験液を作る。
かくして反応管テーブル７の間欠回転移動手段
８により、被験液を納めた各反応管Ao……A1は、
１ピツチ〔隣接する反応管の中心間隔、例えば反
応管AoとAo-1との中心間隔〕づつ間欠回転移動
する。その間停止時には回転移動手段１０によ
り、基盤９が回転して光学的測定が行なわれる。
つまり、光源１１からの多波長を含む光束を、レ
ンズ１２，１３によつて集光し、スリツト１４を
介して各反応管（例えば２）の被験液を内側から
外側へ向かつて横切るように案内する。被験液を
通過した透過光束は、ミラー１７，１８、レンズ
１９によつて、外側から内側へ向うように方向変
更されると共に集光され、入口スリツト１５に光
源のフイラメント像を結ぶ。入口スリツト１５は
分光器の入射スリツトである。かくして分散子１
６へ入射した光は、各分析項目に対応する異なる
波長の単色光に分けられ、各単色光は光検出器２
０，２１……で検出される。第１図においてＣ側
が短波長（340nm）、Ｄ側が長波長である。この
ようにして光検出器で得られた検出信号は、適宜
電気信号に変換され増幅されて演算処理される。
なお、光検出器２０，２１……としては、一体化
されたアレイ構造のものを使用することができ、
他の波長の反射などでの影響を避けるため（透光
カツト）バンドパスフイルタの装着が好ましい。
特に340nmでは光が微弱であり、検出器の感度が
悪いので、他の長波長の影響を受けやすい。通常
340nmでは色ガラスフイルタ（Ｕ−340）を使用
する。ただし、この装置１では、光検出器２０，
２１……の直前で透過光束を分光しているので、
反応管中の被験液を横切る前から単色光に分光し
ている方式に比較して、周囲からの反射の影響な
どが極端に小さいと言える（単色光を被験液に照
射する方式では、光源から受光素子までを通常暗
室に収納しなければならない）。
８により、被験液を納めた各反応管Ao……A1は、
１ピツチ〔隣接する反応管の中心間隔、例えば反
応管AoとAo-1との中心間隔〕づつ間欠回転移動
する。その間停止時には回転移動手段１０によ
り、基盤９が回転して光学的測定が行なわれる。
つまり、光源１１からの多波長を含む光束を、レ
ンズ１２，１３によつて集光し、スリツト１４を
介して各反応管（例えば２）の被験液を内側から
外側へ向かつて横切るように案内する。被験液を
通過した透過光束は、ミラー１７，１８、レンズ
１９によつて、外側から内側へ向うように方向変
更されると共に集光され、入口スリツト１５に光
源のフイラメント像を結ぶ。入口スリツト１５は
分光器の入射スリツトである。かくして分散子１
６へ入射した光は、各分析項目に対応する異なる
波長の単色光に分けられ、各単色光は光検出器２
０，２１……で検出される。第１図においてＣ側
が短波長（340nm）、Ｄ側が長波長である。この
ようにして光検出器で得られた検出信号は、適宜
電気信号に変換され増幅されて演算処理される。
なお、光検出器２０，２１……としては、一体化
されたアレイ構造のものを使用することができ、
他の波長の反射などでの影響を避けるため（透光
カツト）バンドパスフイルタの装着が好ましい。
特に340nmでは光が微弱であり、検出器の感度が
悪いので、他の長波長の影響を受けやすい。通常
340nmでは色ガラスフイルタ（Ｕ−340）を使用
する。ただし、この装置１では、光検出器２０，
２１……の直前で透過光束を分光しているので、
反応管中の被験液を横切る前から単色光に分光し
ている方式に比較して、周囲からの反射の影響な
どが極端に小さいと言える（単色光を被験液に照
射する方式では、光源から受光素子までを通常暗
室に収納しなければならない）。
このように測定が終了すると、反応管は後処理
部Ｂ、つまり洗浄機構で洗浄された後、再び分析
に供される。
部Ｂ、つまり洗浄機構で洗浄された後、再び分析
に供される。
これらの作動のタイムチヤートを第３図に示
す。ここで分析周期が10秒のとき処理スピードは
360テスト／時となる。なお、光軸は前処理部Ａ
のAoの隣り２から後処理部ＢのBn-1までの長円
周側の各反応管を横切る。反応管Bn-1は、洗浄
後に純水が満たされた状態にあり、次の分析のた
めの水ブランク値を測定しておく。これによつて
１波長測定時などに問題になる反応管の汚れなど
の誤差を少なくすることができる。反応管Bnの
位置では、測定後の純水を吸引排出する。
す。ここで分析周期が10秒のとき処理スピードは
360テスト／時となる。なお、光軸は前処理部Ａ
のAoの隣り２から後処理部ＢのBn-1までの長円
周側の各反応管を横切る。反応管Bn-1は、洗浄
後に純水が満たされた状態にあり、次の分析のた
めの水ブランク値を測定しておく。これによつて
１波長測定時などに問題になる反応管の汚れなど
の誤差を少なくすることができる。反応管Bnの
位置では、測定後の純水を吸引排出する。
ところで、第３図より明らかなごとく前処理及
び後処理が測光中でも可能となり、十分な洗浄な
どの処理ができ、それによつて精度の高い分析が
できる。また分析時間を有効に使えるので処理ス
ピードが飛躍的に増大し、処理能力に対し安価な
自動分析装置の提供ができる。また光学系が１つ
の基盤上に設置（固定）されているので、固定時
に一度光学調整を行なうだけでよく（相対移動部
材間の複雑な光学調整は不要である）、故障率も
低下する。
び後処理が測光中でも可能となり、十分な洗浄な
どの処理ができ、それによつて精度の高い分析が
できる。また分析時間を有効に使えるので処理ス
ピードが飛躍的に増大し、処理能力に対し安価な
自動分析装置の提供ができる。また光学系が１つ
の基盤上に設置（固定）されているので、固定時
に一度光学調整を行なうだけでよく（相対移動部
材間の複雑な光学調整は不要である）、故障率も
低下する。
更に前処理及び後処理時間に影響されずに測定
ができるので、測定時間が十分確保でき、Ｓ／Ｎ
比が良好で高信頼度の広範な分析データが得られ
る。なお、測光（光）は、常に全反応管に対して
行なう必要はなく、適宜選択できる。例えば数反
応管ごとに測定を行なつてもよく、よごれの少な
い反応管のみに限定して行なうこともできる。ま
た反応管テーブルで支持される各反応管は、適宜
恒温槽に挿入され、一定温度で測定されるのが好
ましい。
ができるので、測定時間が十分確保でき、Ｓ／Ｎ
比が良好で高信頼度の広範な分析データが得られ
る。なお、測光（光）は、常に全反応管に対して
行なう必要はなく、適宜選択できる。例えば数反
応管ごとに測定を行なつてもよく、よごれの少な
い反応管のみに限定して行なうこともできる。ま
た反応管テーブルで支持される各反応管は、適宜
恒温槽に挿入され、一定温度で測定されるのが好
ましい。
第２図における間欠回転移動手段８の駆動モー
タは、パルスモータであるが、回転移動手段９の
駆動モータは、基盤９が振動に対して敏感であり
一定のスピードが要求されるので、サーボモータ
とするのが好ましい。
タは、パルスモータであるが、回転移動手段９の
駆動モータは、基盤９が振動に対して敏感であり
一定のスピードが要求されるので、サーボモータ
とするのが好ましい。
第１〜３図に示す実施例では、光束は被験液を
横切つた後、光検出器の直前で単色光に分けられ
る。しかし被験液に対して単色光照射する分析で
は、必要な単色光をまず構成し、それに伴つて光
束路を形成する必要があるが、実施例のごとき白
色光を照射光束として用いる場合は、分光後受光
素子の位置、数だけを変更すればよいので、取扱
いが容易である。
横切つた後、光検出器の直前で単色光に分けられ
る。しかし被験液に対して単色光照射する分析で
は、必要な単色光をまず構成し、それに伴つて光
束路を形成する必要があるが、実施例のごとき白
色光を照射光束として用いる場合は、分光後受光
素子の位置、数だけを変更すればよいので、取扱
いが容易である。
更に２波長測光を行なう場合、単色光では２つ
の波長の間に時間的なずれがあり、分析精度を保
つのが難しくなるが、白色光では２波長以上でも
全て同時、同条件で測定できているので、分析精
度の確保は容易である。
の波長の間に時間的なずれがあり、分析精度を保
つのが難しくなるが、白色光では２波長以上でも
全て同時、同条件で測定できているので、分析精
度の確保は容易である。
また反応管テーブルには反応管の測光可能幅と
対応した切欠きを設け、測光部でその切欠きを検
出（例えばホトインタラプタで）し、有効信号を
識別してもよい。更に光検出器やプリアンプのド
リフトを補正するため、反応管Bn……Aoの間に
は光軸を遮断する遮閉板を設置し、その間に各波
長の暗電圧値を測定して測光値から差引くことも
できる。特に第１〜２図の実施例においては、反
応管２…Bn-1の間では、光束が常に光検出器２
０，２１……に入射する。安価な部品、特に前段
増幅器を使用したときに上記補正は効果がある。
対応した切欠きを設け、測光部でその切欠きを検
出（例えばホトインタラプタで）し、有効信号を
識別してもよい。更に光検出器やプリアンプのド
リフトを補正するため、反応管Bn……Aoの間に
は光軸を遮断する遮閉板を設置し、その間に各波
長の暗電圧値を測定して測光値から差引くことも
できる。特に第１〜２図の実施例においては、反
応管２…Bn-1の間では、光束が常に光検出器２
０，２１……に入射する。安価な部品、特に前段
増幅器を使用したときに上記補正は効果がある。
更に上記実施例においては、信号線などを基盤
と外部との間で接続する必要があり、そのため
に、光学系支持体である基盤を正・逆転させ、常
に元の位置に復帰するようにし、信号線が軸にま
きつかないようにしている。
と外部との間で接続する必要があり、そのため
に、光学系支持体である基盤を正・逆転させ、常
に元の位置に復帰するようにし、信号線が軸にま
きつかないようにしている。
(ヘ) 効果
この発明は、光源、分光器、光検出器などの光
学系を１つの基盤上に固定し、且つその基盤を反
応管テーブルに対して相対移動できるようにする
ことによつて、光学系の調整を容易にすると共
に、反応管テーブルを停止させた状態で基盤を回
転させて測光でき、それによつて測光中に前・後
処理を可能にし、信頼性の高い分析を短時間で行
なうことができる。更にこの発明によれば、基盤
がまず正回転され、しかる後元の位置に逆転され
るので、信号線の巻き付きが防止でき、実用性の
高い自動分析装置が提供できる。
学系を１つの基盤上に固定し、且つその基盤を反
応管テーブルに対して相対移動できるようにする
ことによつて、光学系の調整を容易にすると共
に、反応管テーブルを停止させた状態で基盤を回
転させて測光でき、それによつて測光中に前・後
処理を可能にし、信頼性の高い分析を短時間で行
なうことができる。更にこの発明によれば、基盤
がまず正回転され、しかる後元の位置に逆転され
るので、信号線の巻き付きが防止でき、実用性の
高い自動分析装置が提供できる。
第１図はこの発明に係る自動分析装置の一実施
例を示す平面説明図、第２図はその縦断面説明
図、第３図はその分析タイムチヤートである。 １……生化学自動分析装置、２，３……６……
反応管、７……反応管テーブル、８……間欠回転
移動手段、９……基盤、１０……回転移動手段、
１１……光源、１６……分散子、２０，２１……
光検出器。
例を示す平面説明図、第２図はその縦断面説明
図、第３図はその分析タイムチヤートである。 １……生化学自動分析装置、２，３……６……
反応管、７……反応管テーブル、８……間欠回転
移動手段、９……基盤、１０……回転移動手段、
１１……光源、１６……分散子、２０，２１……
光検出器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数の反応管を環状に支持する反応管テーブ
ル及びこの反応管テーブルの間欠回転移動手段
と、 光源と、光束を反応管に導く光学部材と、分光
器と、光検出器とから構成される分光測定手段を
有し、これらの光源、光学部材、分光器及び光検
出器を支持する基盤と、この基盤を反応管テーブ
ルに対して相対的に同軸回転させる基盤の回転移
動手段とを備え、 反応管テーブルの間欠回転移動手段が反応管テ
ーブルを停止させているときに、基盤の回転移動
手段が基盤を正回転させ、各反応管に対して所定
項目の分析を行つた後、基盤を逆回転させて元の
位置に復帰するよう構成してなる自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58250169A JPS60142234A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58250169A JPS60142234A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60142234A JPS60142234A (ja) | 1985-07-27 |
| JPH0257864B2 true JPH0257864B2 (ja) | 1990-12-06 |
Family
ID=17203841
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58250169A Granted JPS60142234A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60142234A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05139596A (ja) * | 1991-11-15 | 1993-06-08 | Nec Corp | フアジイ制御によるロール紙のカール解消装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS64451A (en) * | 1987-02-20 | 1989-01-05 | Nittec Co Ltd | Method and instrument for optical measurement with automatic analysis device |
| JP2017083296A (ja) * | 2015-10-28 | 2017-05-18 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58184535A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-28 | Nippon Tectron Co Ltd | 臨床化学自動分析装置における測定方法及びその装置 |
| JPS604128Y2 (ja) * | 1982-04-27 | 1985-02-05 | オリンパス光学工業株式会社 | 自動分析器の反応デイスクの構造 |
-
1983
- 1983-12-28 JP JP58250169A patent/JPS60142234A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05139596A (ja) * | 1991-11-15 | 1993-06-08 | Nec Corp | フアジイ制御によるロール紙のカール解消装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60142234A (ja) | 1985-07-27 |
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