JPH025874U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH025874U JPH025874U JP8389188U JP8389188U JPH025874U JP H025874 U JPH025874 U JP H025874U JP 8389188 U JP8389188 U JP 8389188U JP 8389188 U JP8389188 U JP 8389188U JP H025874 U JPH025874 U JP H025874U
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- JP
- Japan
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- ion source
- sample bottle
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
第１図は本案の一実施例の構成図である。
１……イオン化箱、２……レンズスリツト、３
……アース・スリツト、４……試料ビン、５……
試料ビン密着コイル、６……ＥＩ／ＣＩ切替電源
、７……ＣＩ反応ガス、８……密着コイル用電源
、９……ロータリー・ポンプ、１０……イオンビ
ーム、１１……マグネツト、１２……マグネツト
電源、１３……コレクタースリツト、１４……コ
レクター、１５……アンプ、１６……ＣＰＵ。
……アース・スリツト、４……試料ビン、５……
試料ビン密着コイル、６……ＥＩ／ＣＩ切替電源
、７……ＣＩ反応ガス、８……密着コイル用電源
、９……ロータリー・ポンプ、１０……イオンビ
ーム、１１……マグネツト、１２……マグネツト
電源、１３……コレクタースリツト、１４……コ
レクター、１５……アンプ、１６……ＣＰＵ。
Claims (1)
- ＥＩ／ＣＩ共用イオン源において、質量掃引ご
とにＥＩ／ＣＩ交互切替測定をする時、ダイレク
ト試料ビンを、イオン化箱から離したり密着させ
たりする事を特徴とする質量分析計イオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8389188U JPH025874U (ja) | 1988-06-27 | 1988-06-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8389188U JPH025874U (ja) | 1988-06-27 | 1988-06-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH025874U true JPH025874U (ja) | 1990-01-16 |
Family
ID=31308596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8389188U Pending JPH025874U (ja) | 1988-06-27 | 1988-06-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH025874U (ja) |
-
1988
- 1988-06-27 JP JP8389188U patent/JPH025874U/ja active Pending