JPH0260762A - レーザ走査装置 - Google Patents
レーザ走査装置Info
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- JPH0260762A JPH0260762A JP63212058A JP21205888A JPH0260762A JP H0260762 A JPH0260762 A JP H0260762A JP 63212058 A JP63212058 A JP 63212058A JP 21205888 A JP21205888 A JP 21205888A JP H0260762 A JPH0260762 A JP H0260762A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔目次〕
概要
産業上の利用分野
従来の技術（第４図、第５図、第６図）発明が解決しよ
うとする課題 課題を解決するための手段（第１図） 作用 実施例 （ａ） 一実施例の説明（第２図、第３図）（ｂ）
他の実施例の説明 発明の効果 〔概要〕 半導体レーザを画像信号で駆動して、強度変調されたレ
ーザビームを光走査器で照射面に走査するレーザ走査装
置に関し、 半導体レーザの接合部の発熱に伴う発光効率の低下を補
正することを目的とし、 半導体レーザと、該半導体レーザを画像信号に従って駆
動するドライバと、該半導体レーザからのレーザビーム
を走査する光走査器と、該半導体レーザの光をモニター
受光する光検出器とを有するレーザ走査装置において、
該光検出器の受光出力を画像域以外で標本し、基準レベ
ルと比較する比較部と、該画像信号又は該光検出器の受
光出力を積分する積分器と、該比較部の出力と該積分器
の出力とに基づいて該ドライバの駆動電流を制御する光
出力制御部とを設けた。
うとする課題 課題を解決するための手段（第１図） 作用 実施例 （ａ） 一実施例の説明（第２図、第３図）（ｂ）
他の実施例の説明 発明の効果 〔概要〕 半導体レーザを画像信号で駆動して、強度変調されたレ
ーザビームを光走査器で照射面に走査するレーザ走査装
置に関し、 半導体レーザの接合部の発熱に伴う発光効率の低下を補
正することを目的とし、 半導体レーザと、該半導体レーザを画像信号に従って駆
動するドライバと、該半導体レーザからのレーザビーム
を走査する光走査器と、該半導体レーザの光をモニター
受光する光検出器とを有するレーザ走査装置において、
該光検出器の受光出力を画像域以外で標本し、基準レベ
ルと比較する比較部と、該画像信号又は該光検出器の受
光出力を積分する積分器と、該比較部の出力と該積分器
の出力とに基づいて該ドライバの駆動電流を制御する光
出力制御部とを設けた。
本発明は、半導体レーザを゛画像信号で駆動して、強度
変調されたレーザビームを光走査器で照射面に走査する
レーザ走査装置に関する。
変調されたレーザビームを光走査器で照射面に走査する
レーザ走査装置に関する。
電子写真装置等においては、画像情報で強度変調したレ
ーザビームを走査するレーザ走査装置が用いられている
。
ーザビームを走査するレーザ走査装置が用いられている
。
このようなレーザ走査装置では、半導体レーザの発光量
を所定のレベルに保つことが求められでいる。
を所定のレベルに保つことが求められでいる。
第４図はレーザ走査装置の説明図である。
光走査装置は、レーザ光源ｌと光走査手段２を含み、レ
ーザ光源１からの出力光が光走査手段２で光走査され、
被走査体である感光ドラム３に照射される。この例では
電子写真方式の印刷装置に適用したものを示しており、
帯電された感光ドラム３を強度変調されたレーザを走査
して露光し、現象後、用紙に転写を行う。
ーザ光源１からの出力光が光走査手段２で光走査され、
被走査体である感光ドラム３に照射される。この例では
電子写真方式の印刷装置に適用したものを示しており、
帯電された感光ドラム３を強度変調されたレーザを走査
して露光し、現象後、用紙に転写を行う。
光走査手段２は、シリンダーレンズ２０、ポリゴンミラ
ー２１、スピンドルモータ２２、Ｆ−θレンズ２３、シ
リンダーミラー２４及びスタート検出用ミラー２５で構
成されている。
ー２１、スピンドルモータ２２、Ｆ−θレンズ２３、シ
リンダーミラー２４及びスタート検出用ミラー２５で構
成されている。
光［１の出力光は、シリンダーレンズ２０によって集光
され、スピンドルモータ２２によって回転するポリゴン
ミラー２１に入射し、反射してＦ−θレンズ２３に入射
する。Ｆ−θレンズ２３からの走査光は光路長を長くと
り、且つ走査幅を拡大するためのシリンダーミラー２４
で反射され、走査面である感光ドラム３に入射する。
され、スピンドルモータ２２によって回転するポリゴン
ミラー２１に入射し、反射してＦ−θレンズ２３に入射
する。Ｆ−θレンズ２３からの走査光は光路長を長くと
り、且つ走査幅を拡大するためのシリンダーミラー２４
で反射され、走査面である感光ドラム３に入射する。
一方、Ｆ−θレンズ２３とシリンダーミラー２４との間
には光走査幅の左端の光を反射するスタト検出用ミラー
２５が設けられ、スタート検出用ミラー２５の反射光は
スタート検出用光検出器（フォトダイオード）２６で受
光され、受光信号によって走査光検出回路２７が走査の
開始を示すスタート検出信号ＢＤを発生するようにして
いる。
には光走査幅の左端の光を反射するスタト検出用ミラー
２５が設けられ、スタート検出用ミラー２５の反射光は
スタート検出用光検出器（フォトダイオード）２６で受
光され、受光信号によって走査光検出回路２７が走査の
開始を示すスタート検出信号ＢＤを発生するようにして
いる。
第５図及び第６図は従来技術の説明図である。
レーザ光源である半導体レーザ１は、（ＬＤ）ドライバ
３によってビデオ信号Ｖ ｉ ＤＥＯに従って駆動され
る。
３によってビデオ信号Ｖ ｉ ＤＥＯに従って駆動され
る。
半導体レーザ１には１、発光光をモニター受光するモニ
ターダイオード（光検出器）４が設けられている。
ターダイオード（光検出器）４が設けられている。
このような半導体レーザでは、周囲温度や光走査器の状
態によって走査ビームの強度が変動する。
態によって走査ビームの強度が変動する。
これを防止するため、従来は、特許出願公開昭５３−３
７０２９号公報、特許出願公開昭５４−１３３４３号公
報等に見られるように、モニターダイオード４の受光出
力を一走査毎に、画像域外の一定区間標本化し、その値
を元にドライバ３の駆動電流を設定していた。
７０２９号公報、特許出願公開昭５４−１３３４３号公
報等に見られるように、モニターダイオード４の受光出
力を一走査毎に、画像域外の一定区間標本化し、その値
を元にドライバ３の駆動電流を設定していた。
罪ち、モニターダイオード４の受光出力を比較部５のア
ンプ５ａで増幅した後、比較器５ｂでＬＤパワー制御信
号ＰＣと比較し、比較出力をスタート信号（ＢＤ倍信号
ＢＤＯＮの期間のみゲート５Ｃでサンプルし、−走査期
間ホールドし、ドライバ３に制御信号として出力するよ
うにしていた。
ンプ５ａで増幅した後、比較器５ｂでＬＤパワー制御信
号ＰＣと比較し、比較出力をスタート信号（ＢＤ倍信号
ＢＤＯＮの期間のみゲート５Ｃでサンプルし、−走査期
間ホールドし、ドライバ３に制御信号として出力するよ
うにしていた。
（発明が解決しようとする課題〕
ところで、レーザ光源に半導体レーザ１を用いた場合に
は、半導体レーザ１は、接合部の温度によって発光効率
が変化、温度が高くなるにつれて発光効率が低下する。
は、半導体レーザ１は、接合部の温度によって発光効率
が変化、温度が高くなるにつれて発光効率が低下する。
この接合部の温度は、駆動電流やビデオ信号のデユーテ
ィ比によって変化する。
ィ比によって変化する。
このため、従来技術では、ビデオ信号のデュティ比が大
の場合には、第６図の発光量として点線で示すように、
走査線の開始側に比べ、走査終了側の露光エネルギーが
約１０〜２０％低下してしまうという問題が生じていた
。
の場合には、第６図の発光量として点線で示すように、
走査線の開始側に比べ、走査終了側の露光エネルギーが
約１０〜２０％低下してしまうという問題が生じていた
。
従って、本発明は、半導体レーザの接合部の発熱に伴う
発光効率の低下を補正するレーザ走査装置を提供するこ
とを目的とする。
発光効率の低下を補正するレーザ走査装置を提供するこ
とを目的とする。
第１図は本発明の原理図である。
本発明は、第１図に示すように半導体レーザ１と、該半
導体レーザ１を画像信号に従って駆動するトライバ３と
、該半導体レーザｌからのレーザビームを走査する光走
査器２と、該半導体レーザ１の光をモニター受光する光
検出器４とを有するレーザ走査装置において、該光検出
器４の受光出力を画像域以外で標本し、基準レベルと比
較する比較部５と、該画像信号又は該光検出器４の受光
出力を積分する積分器６と、該比較部５の出力と該積分
器６の出力とに基づいて該ドライバ３の駆動電流を制御
する光出力制御部７とを設けたものである。
導体レーザ１を画像信号に従って駆動するトライバ３と
、該半導体レーザｌからのレーザビームを走査する光走
査器２と、該半導体レーザ１の光をモニター受光する光
検出器４とを有するレーザ走査装置において、該光検出
器４の受光出力を画像域以外で標本し、基準レベルと比
較する比較部５と、該画像信号又は該光検出器４の受光
出力を積分する積分器６と、該比較部５の出力と該積分
器６の出力とに基づいて該ドライバ３の駆動電流を制御
する光出力制御部７とを設けたものである。
本発明は、画像域の画像信号を積分することによって、
デユーティ比に応じた接合部の発熱量を推定し、これに
よって非画像域でサンプルした比較出力を修正して、ド
ライバ３の駆動電流を制御Ｊ■するものである。
デユーティ比に応じた接合部の発熱量を推定し、これに
よって非画像域でサンプルした比較出力を修正して、ド
ライバ３の駆動電流を制御Ｊ■するものである。
このため、半導体レーザ１の接合部の発熱に伴う発光効
率の低下を駆動電流の制御で補正できる。
率の低下を駆動電流の制御で補正できる。
〔実施例］
（ａ） 一実施例の説明
第２図は本発明の一実施例ブロック図、第３図は本発明
の一実施例要部波形圓である。
の一実施例要部波形圓である。
図中、第１図及び第５図で示したものと同一のものは同
一の記号で示しである。
一の記号で示しである。
半導体レーザ１は、ＬＤドライバ３によってビテオ信号
ＶｉＤＥＯによりＯＮ１０ Ｆ Ｆが、光出力制御信号
ＬＣ３によって駆動電流が制御されて駆動される。
ＶｉＤＥＯによりＯＮ１０ Ｆ Ｆが、光出力制御信号
ＬＣ３によって駆動電流が制御されて駆動される。
半導体レーザ１の発光レベルは、内蔵のモニタダイオー
ド４で検知され、光→電流変換される。
ド４で検知され、光→電流変換される。
モニターダイオード４の出力は、アンプ５ａで電圧変換
され、比較器５ｂでＬ Ｄパワー制御信号Ｐｃのレベル
（基準レベル）と比較される。
され、比較器５ｂでＬ Ｄパワー制御信号Ｐｃのレベル
（基準レベル）と比較される。
その７４３カレベルにより、ＢＤ信号ＢＤＯＮがハイレ
ベルの期間のみ、光出力制御部７の信号レベルを制御す
る。
ベルの期間のみ、光出力制御部７の信号レベルを制御す
る。
即ち、モニターダイオード４の光出力信号が、基準レベ
ルＰｃより低出力のレベルであれば、光出力制御部７を
高出力の発光レベルとし、高出力であれば、低出力の発
光レベルとする。
ルＰｃより低出力のレベルであれば、光出力制御部７を
高出力の発光レベルとし、高出力であれば、低出力の発
光レベルとする。
この制御をＢＤ信号ＢＤＯＮがハイレベルの期間中行い
、モニターダイオード４の光出力信号レベルを基準レベ
ルＰｃと同一レベルにする。
、モニターダイオード４の光出力信号レベルを基準レベ
ルＰｃと同一レベルにする。
ＬＤパワー制御信号Ｐｃは、印字濃度の設定（半導体レ
ーザ１の光強度設定）のための信号であり、マニュアル
で設定するものである。
ーザ１の光強度設定）のための信号であり、マニュアル
で設定するものである。
これとともに、積分器６では、ＢＤ信号Ｂ Ｉ） ＯＮ
でＯＶに放電され、アンプ５ａのモニターダイオード４
出力を積分する。
でＯＶに放電され、アンプ５ａのモニターダイオード４
出力を積分する。
そのため、半導体レーザＩの発光時間に伴い、積分器６
の出力電圧が増大する。
の出力電圧が増大する。
光出力制御部７は、加算アンプで構成されているので、
ゲート５ｃの出力ＳＣに、積分器６の積分信号ＩＳが加
算された形で光出力制御信号Ｌ Ｃ３としてＬ Ｄドラ
イバ３に出力され、駆動電流を制御する。
ゲート５ｃの出力ＳＣに、積分器６の積分信号ＩＳが加
算された形で光出力制御信号Ｌ Ｃ３としてＬ Ｄドラ
イバ３に出力され、駆動電流を制御する。
従って、第３図に示すように、光出力制御信号Ｌ ＣＳ
は、■走査毎にセットされた比較出力ＳＣに、積分信号
ＩＳが加えられた形となり、最初の非画像域では、ＬＤ
パワー制御信号ＰＣのレベルに制御され、以降発光量に
伴い増加する。
は、■走査毎にセットされた比較出力ＳＣに、積分信号
ＩＳが加えられた形となり、最初の非画像域では、ＬＤ
パワー制御信号ＰＣのレベルに制御され、以降発光量に
伴い増加する。
このため、半導体レーザ１の接合部の発熱による発光効
率の低下を、駆動電流を増加することによって補正する
ことができる。
率の低下を、駆動電流を増加することによって補正する
ことができる。
（ｂ） 他の実施例の説明
ヒ述の実施例では、モニターダイオード４がビデオ信号
により駆動される半導体レーザｌの光をモニターしてい
るから、モニターダイオード４の出力を直接積分器６が
積分しているが、ビデオ信号は半導体レーザｌを駆動す
るため、間接的にモニターダイオード４の出力と同一で
あるから、画像信号（ビデオ信号）を積分するようにし
てもよい。
により駆動される半導体レーザｌの光をモニターしてい
るから、モニターダイオード４の出力を直接積分器６が
積分しているが、ビデオ信号は半導体レーザｌを駆動す
るため、間接的にモニターダイオード４の出力と同一で
あるから、画像信号（ビデオ信号）を積分するようにし
てもよい。
以上本発明を実施例により説明したが、本発明は本発明
の主旨に従い種々の変形が可能であり、本発明からこれ
らを排除するものではない。
の主旨に従い種々の変形が可能であり、本発明からこれ
らを排除するものではない。
以上説明した様に、本発明によれば、画像信号を積分し
た積分値によって、標本化した比較制御信号を修正して
半導体レーザの駆動電流を制御しているので、半導体レ
ーザの接合部の発熱に伴う発光光率の低下を補正でき、
安定した光量で光走査が可能となるという効果を奏する
。
た積分値によって、標本化した比較制御信号を修正して
半導体レーザの駆動電流を制御しているので、半導体レ
ーザの接合部の発熱に伴う発光光率の低下を補正でき、
安定した光量で光走査が可能となるという効果を奏する
。
又、駆動電流を制御するだけで実現できるので、容易に
且つ安価に実現できるという効果も奏する。
且つ安価に実現できるという効果も奏する。
第１図は本発明の原理図、
第２図は本発明の一実施例ブロック図、第３図は本発明
の一実施例要部波形図、第４図はレーザ走査装置の説明
図、 第５図及び第６図は従来技術の説明図である。 図中、１−・−半導体レーザ、 ２−光走査器、 ３−ドライバ、 ４−モニターダイオード（光検出器）、５−比較部、 ６−積分器、 ７−光出力制御部。
の一実施例要部波形図、第４図はレーザ走査装置の説明
図、 第５図及び第６図は従来技術の説明図である。 図中、１−・−半導体レーザ、 ２−光走査器、 ３−ドライバ、 ４−モニターダイオード（光検出器）、５−比較部、 ６−積分器、 ７−光出力制御部。
Claims (1)
- （１）半導体レーザ［１］と、 該半導体レーザ［１］を画像信号に従って駆動するドラ
イバ［３］と、 該半導体レーザ［１］からのレーザビームを走査する光
走査器［２］と、 該半導体レーザ［１］の光をモニター受光する光検出器
［４］とを有するレーザ走査装置において、 該光検出器［４］の受光出力を画像域以外で標本し、基
準レベルと比較する比較部［５］と、該画像信号又は該
光検出器［４］の受光出力を積分する積分器［６］と、 該比較部［５］の出力と該積分器［６］の出力とに基づ
いて該ドライバ［３］の駆動電流を制御する光出力制御
部［７］とを設けたことを 特徴とするレーザ走査装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63212058A JP2675827B2 (ja) | 1988-08-26 | 1988-08-26 | レーザ走査装置 |
| AU40085/89A AU612509B2 (en) | 1988-08-26 | 1989-08-21 | Optical beam scanning apparatus |
| US07/397,885 US5095319A (en) | 1988-08-26 | 1989-08-23 | Optical scanning with light quantity compensation |
| EP89115691A EP0355839B1 (en) | 1988-08-26 | 1989-08-25 | Optical beam scanning apparatus |
| DE68914366T DE68914366T2 (de) | 1988-08-26 | 1989-08-25 | Abtastvorrichtung mit optischem Strahl. |
| CA000609431A CA1326056C (en) | 1988-08-26 | 1989-08-25 | Optical scanner with light quantity compensation |
| KR1019890012176A KR930000694B1 (ko) | 1988-08-26 | 1989-08-26 | 광학빔(beam) 주사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63212058A JP2675827B2 (ja) | 1988-08-26 | 1988-08-26 | レーザ走査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0260762A true JPH0260762A (ja) | 1990-03-01 |
| JP2675827B2 JP2675827B2 (ja) | 1997-11-12 |
Family
ID=16616168
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63212058A Expired - Fee Related JP2675827B2 (ja) | 1988-08-26 | 1988-08-26 | レーザ走査装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5095319A (ja) |
| EP (1) | EP0355839B1 (ja) |
| JP (1) | JP2675827B2 (ja) |
| KR (1) | KR930000694B1 (ja) |
| AU (1) | AU612509B2 (ja) |
| CA (1) | CA1326056C (ja) |
| DE (1) | DE68914366T2 (ja) |
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|---|---|---|---|---|
| DE69030985T2 (de) * | 1989-04-28 | 1998-02-05 | Canon Kk | Optische Abtastausrüstung |
| US5835121A (en) * | 1995-04-21 | 1998-11-10 | Xerox Corporation | Pixel exposure control for a raster output scanner in an electrophotographic printer |
| US6011576A (en) * | 1998-01-08 | 2000-01-04 | Xerox Corporation | Exposure control for a raster output scanner in a multicolor electrophotographic printer |
| JP2000033731A (ja) * | 1998-07-17 | 2000-02-02 | Citizen Watch Co Ltd | 光プリンタにおける発光素子のキャリブレーション装置 |
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| US6155489A (en) * | 1998-11-10 | 2000-12-05 | Ncr Corporation | Item checkout device including a bar code data collector and a produce data collector |
| US6431446B1 (en) | 1999-07-28 | 2002-08-13 | Ncr Corporation | Produce recognition system and method |
| US8067946B2 (en) * | 2007-11-02 | 2011-11-29 | Cooper Technologies Company | Method for repairing a transmission line in an electrical power distribution system |
| KR100948459B1 (ko) | 2007-11-29 | 2010-03-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 플래시 메모리 소자 및 그의 제조 방법 |
| DE102009029234A1 (de) | 2009-09-07 | 2011-03-10 | Robert Bosch Gmbh | Laserprojektor zur Fahrwerksvermessung |
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