JPH0261027B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は、電子写真装置、さらに詳しくいえば
光導電性表面上の帯電を最適のコピー品質が得ら
れるように選んだ予め定めたレベルに調節するた
めに光導電性表面上の電荷を測定するための装置
に関するものである。 ゼログラフイー複写機などの電子写真装置で
は、光導電性表面が、コピーすべき光学像を表わ
すパターンとして帯電される。現像剤が、帯電に
応じて表面に塗布され、次にコピー用紙に転写さ
れる。各種の照射、現像剤塗布および電荷転移操
作が伴なう。仕上りコピーの品質は、コピー生成
前のこれらの操作の調節の正確さによつて決ま
る。典型的な場合には、メーカーが最適調節限界
を製造時に特定の複写機モデルについて指定す
る。しかしながら特定の複写機内での変異、経時
変化、特別な環境条件など全てが、個々の複写機
で最適のコピー品質を最初に得、続いて継時する
のに必要な実際の調節に影響を与える。 基準刺激を加えたときの光導電体表面の帯電
は、複写機の適正な調節度合を示す重要な標識で
ある。この基準帯電が個々の複写機についてわか
ると、予め定めた基準値に達するまで帯電を監視
することによつて容易にその複写機を最適性能と
なるように調節することができる。そうすると、
以後のコピーは、再調節が再び必要となるまでの
間最適品質のものになる。 光導電体上に保持される現像剤の量は、光導電
体の帯電によつて決まるので、先行技術では反射
率（表面電荷によつて現像液の付着の大小が決ま
り、現像液の付着の大小によつて反射率が決ま
る。現像液の反射率は小さいから多く付着してい
るほど全体の反射率が小さくなる）が表面電荷の
標識として使用されてきた。また表面電荷は、電
位計によつて直接測定されてきた。米国特許第
3788739号では、光導電体表面の近くに置いた電
位計の探針が実際の帯電値と固定された基準帯電
値の間の変異を補償するために、帯電、露出、転
写および現像要素を制御する。しかしながら、電
位計は複雑な関連回路構成および操作のための高
感度の物理的調節を必要とする高価な装置であ
る。電位計探針は、必然的ではあるが現像剤に覆
われると正確な判定ができなくなる。なぜなら現
像液が所定の誘電率などの電気特性を有するから
である。その上、電位計の出力は、典型的な場
合、変調してからでなければ、測定または制御の
ために使用できない。電位は、典型的な場合、数
百ボルトのオーダーであり、電位が著しく下がる
ほど大きな電流を通さずに判定するのは非常に困
難である。これらの問題の全てとはいかなくとも
いくつかは、米国特許第3835380号で扱われてい
る。この特許では、電位計の探針がコンデンサと
間欠的に接続され、このコンデンサに貯えられた
電圧のレベルを探針が遮断された後でもメーター
で読取る。米国特許第3892481号では電位計が除
去され、電気的に浮動性の感知電極が現像剤を制
御する。コンデンサが電極に間欠的に接続され、
その電位に応じて帯電される。 本発明は、追加的変調回路やスイツチを使用せ
ず、現像剤の汚染に対して、あまり感応しない低
電流探針によつて、光導電体の帯電を容易に利用
できる基準と比べながら間欠的に感知することに
よつてコピー品質を維持するものである。（なお
後述から明らかなように現像液の汚染の影響を受
けないのは、感光体電位とバランスするように電
源電圧をステツプ・バイ・ステツプで増大させて
いき、バランスした電源電圧の値を測定電位の尺
度とするからであり、バランスしているかどうか
はアナログ的な尺度でなく、イエスかノーかのデ
ジタル的なものなので現像液（誘電体）の介在の
有無は問題とならないからである） 比較的電導性の支持台の１部を除く全面を光導
電体フイルムで覆いその表面に隣接して金属板の
探針を設ける。金属板全体と、支持台の金属板に
隣接する部分とで、コンデンサを形成し、これが
その間に挿入される物質の帯電電位に応じて帯電
される。支持台が動くと、光導電体が金属板と支
持台の間を通り、支持台の被覆されていない「シ
ール」部分が間隔を置いてその間を通る。こうし
てこのコンデンサ即ち探針コンデンサの帯電は、
シールが通ると間欠的にゼロに下がり、次にある
時間の間光導電体の帯電によつて決定されるある
値まで上がる。この間に高インピーダンス感知回
路中のもう１つのコンデンサが、部分的に探針コ
ンデンサの帯電によつて決定される電位に荷電さ
れる。感知回路が外部から制御できる電源の出力
を探針コンデンサの電位と比較する。基準値と光
導電体表面電荷の大きさの差を表わすデイジタル
数が発生され、差がゼロになるまで電源を調節す
る。感知回路からの出力ゼロの時の電源出力が光
導電体表面の電荷を表わすことになるが、この電
源出力に基いて光導電体の帯電に影響を与える複
写機のプロセス・パラメータ、例えば照明、現像
剤の供給、コロナなどが補正される。 第１図は、複写機プロセスのオペレーシヨンを
制御するための本発明の使用を図示したものであ
る。この図では、支持台１は、光導電体２も、図
示したような形にする必要はない。（例えば、平
面ベルトにしてもよい）別の形としては、支持台
に光導電体の代用をする帯電性表面をコーテイン
グした原稿を載せることもできる。ここに実例と
して示す特定の具体形では、支持台１は、円形で
あり、リール１２および１３の回転によつて光導
電体２が前進して新しい表面を見せることができ
る。光導電体２が支持台１中に入つてリール１２
および１３と接触する点は汚染物質に触れてはな
らないので、１つないし複数のシール３が付けて
ある。この具体形では、支持台１はシール３と同
様に電導性材料である。支持台１およびシール３
は、基準電位、例えばアースに接続されている。
支持台１とシール３のどちらかまたは両方をアー
スまたは同一の基準電位に接続することは、必ず
しも必要ではない。シール３の位置は、１つない
し複数の標識１４のついたエミツタ・ホイール４
によつて外部から指示されるが、この標識を感知
器５で感知することができる。すなわち、第１図
において、支持台１のシール３のついた部分が感
知器５と同一直線上にきたことを標識１４が示す
と、母線PB５上に信号が現われる。 スイツチ４０が位置Ａにあるとき、プログラム
記憶式電源９によつてある電位に維持された磁気
ローラ８によつて、トナーないしその他の現像剤
を光導電体２の表面に塗布することができる。ス
イツチ４０は、他の回路７にそれとは独立して加
減電位を与えながら、磁気ローラ８に連続（ただ
し加減の）電位を与える機能を例示したものにす
ぎない。スイツチ４０の機能は、例えば２つの
別々の電源、２つの別々に調整できる出力をもつ
１つの電源などによつて実施できる。この分野で
周知のように、磁気ローラが回転すると、現像剤
粒子の「磁気ブラシ」が形成され、光導電体２の
表面を拭う。この特定の技術を使用することは、
本発明にとつて本質的なことではない。ただし、
本発明にとつて、光導電体２の表面に塗布される
現像剤の量が、電源９からの電圧などの都合よく
変化できる変数によつて決定できるものであるこ
とが望ましい。また、支持台１の傍には、現像、
清掃ないしその他の複写機のプロセス機能のため
に光導電体２を望みの電位に帯電することができ
る帯電制御装置１５が設けられている。本発明の
唯一の要件は、変数を変化させることによつて複
写機のプロセスを制御する都合のよい何らかの技
術があることである。帯電装置１５は、例えばコ
ロナとすることができるが、磁気ローラ８と同様
にこの種の装置の都合のよい例である。同様に照
明装置１６が示してあるが、これは初期複写機照
明をもたらすのに使用でき、あるいは各種の非複
写目的（放電など）に利用できるものである。照
明制御装置１７は、照明装置１６を制御するため
の一般的技術を例示したものである。装置８，１
５，１７の各々は、対応する母線PB６，PB０，
PB４上の信号によつて制御できる。 制御ロジツク１１は、感知器および入出力ポー
トからの信号を、制御母線PB０，PB１，PB４，
PB５，PB６，PB７を介して相互接続する。標
識１４が感知器５と１列に並ぶと、母線PB５上
の信号によつて制御ロジツク１１は、選択された
データ信号をプログラム記憶式電源９ならびに照
明制御装置１７と帯電装置１５のどちらかに送
り、望みの調節を行なわせる。必要とする調節の
大きさは、電子写真技術でよく知られている原理
に基づいて、光導電体２上に検出される電荷によ
つて決まる。 調節は、光導電体２の帯電の検出に応じて正確
にかつ一貫して決まる。光導電体２の表面から距
離Ｇの所にある探針６が、測定比較回路７に接続
されたコンデンサのプレートを形成する。コンデ
ンサのもう一方のプレートは、隣接の電導性材料
すなわち支持台１とシール３のどちらかによつて
形成される。この例では、支持台１が探針６の下
側を通過すると、支持台１と探針６とで形成され
るコンデンサ上に探針のサイズ、間隔およびその
間にある物質の関数として、電荷が生じる。図に
示した場合では、光導電体２、誘電率および電荷
が探針６の帯電を決定する。誘電率が同じである
限り（所与の環境に対して、過渡的または永続
的）、探針６は、光導電体２の電荷によつて決ま
る帯電を受ける。 シール３が探針６の下を通ると、光導電体２の
帯電とは独立な基準値が、探針６によつて感知さ
れる。シール３がある既知の電位（できればアー
ス）にあるとすれば、後で探針６にかかる電位に
対して影響を与える。望ましい変数は、光導電体
２上の実電荷である。シール３を設けない場合
は、他の何らかの基準を設けることができる。例
えば、光導電体２上の或る領域を完全に放電して
これを基準のための領域とすることができる。探
針６にかかる帯電は、操作の逐次サイクル中、探
針６の小さな動きあるいは汚染物質によつて大き
な影響を受けない。こうして測定比較回路７は、
複写機プロセスを望ましい限界内にもたらすため
に必要な補正を、回線PB７上で制御ロジツク１
１に指示することができる。制御ロジツク１１
は、一連の感知操作をいつ始めてよいかの信号を
回線PB１上で測定−比較回路に送る。 本発明の操作を説明するため、探針６の電位が
下つた（照明値が変つた、帯電装置１５が利用で
きる電位が変つたなど）ことを、測定−比較回路
７が感知したと仮定する。そうすると、制御ロジ
ツク１１から母線PB１上に信号が送られたとき、
測定−比較回路は母線PB７上に誤差信号を生じ
る。スイツチ４０が位置Ｂにあるので、制御ロジ
ツク１１は、誤差信号がゼロに近づくまでプログ
ラム記憶式電源９が異なる電圧V_Refを測定比較回
路７に与えるように調節する。以上のようにして
光導電体２の電位と電源９の電圧とが等価になつ
たのち、すなわち電源９の電圧が光導電体２の電
位の測定値を表示するようになつたのち（実際に
は測定は４回行われ測定値は平均値である）、こ
の測定値に応じて照明制御装置１７または帯電装
置１５を調整して最適なコピー条件を実現できる
ようにする。また電源９自体を磁気ローラ等の電
源にすべくスイツチ４０を位置Ａに切り換えるよ
うにできる。すなわち電源９は電位測定表示のほ
かに通常の電源としても用いることができる。 次に、第２図を参照して、測定−比較回路７に
ついて説明する。探針６がコンデンサの一方のプ
レートを形成するが、３２として示す他方のプレ
ートは、支持台１、シール３の位置および光導電
体２の状態に応じて変れる複雑な関数とすること
ができる。このコンデンサにかかる電位が、増幅
器（演算増幅器２１）にかかり、コンデンサＣ１
即ち２３を探針６の帯電によつて決まるある値に
帯電させる。コンデンサ２３は、制御ロジツク１
１が母線PB１を介して発光ダイオード２５を操
作しトランジスタ２４を電導性にしたとき、電界
効果形トランジスタFET２２の伝導によつて、
当初放電される。コンデンサ２３にかかる電位
V₂₁は、比較機構（演算増幅器２６）によつて発
光ダイオード２７、トランジスタ２８、雑音減少
コンデンサ２９から形成される絶縁回路を経て出
力母線PB７に送られる。トランジスタ３０は、
制御ロジツク回路１１に駆動電流を与える。ダイ
オードＤ１即ち３２は信号電圧制限器として働
く。複写機プロセス操作の望ましいレベルを示す
基準電圧V_Refは、プログラム記憶式電源９によつ
て与えられる。回路３１は、測定−比較回路７の
各要素に動作電位＋Ｖおよび−Ｖを与える。 探針６は増幅器２１の反転入力端に接続され、
他方非反転入力端には基準電圧V_Refが接続され、
これら反転入力端と非反転入力端とは仮想シヨー
トであるから、探針６は実質的に基準電圧V_Refに
接続される。したがつて基準電圧V_Refが表面３２
の電位と異なると、表面３２と探針６との間の電
圧が生じて、この間のキヤパシタを介して電流が
流れ、この電流がコンデンサ２３にも流れ、基準
電圧V_Refと表面３２の電位との差に応じた電圧が
コンデンサの両端に生じる。この結果この電圧だ
け基準電圧と異なる電圧が増幅器２１の出力V₂₁
として生じる。たとえば基準電圧V_Ref（たとえば
−600ボルト）より表面３２（たとえば−300ボル
ト）の電位が大きければ表面３２から探針６へと
電流が流れ、さにこの電流がコンデンサ２３に流
れ、コンデンサ２３の増幅器２１の出力側の電位
が押し下げられる。増幅器２１の反転入力端は
V_Refであるから、その出力電圧は、この押し下げ
分だけV_Refより低くなる。逆に基準電圧VRef（−
200）より表面３２の電位（−300）が低ければ、
増幅器２１の出力電圧は基準電圧V_Refより高くな
る。 増幅器２１の出力は後段の比較用の増幅器２６
で基準電圧V_Refと比較され、増幅器２１の出力が
V_Refより低ければ負の出力が生じて、増幅器２１
の出力がV_Refより高ければ正の出力が生じる。負
の出力のときはLED２７がオフのままであり、
トランジスタ２８，３０もオフで、出力PB７は
高レベルになる。正の出力のときはLED２７、
トランジスタ２８，３０がオンとなつて、出力
PB７が低レベルとなる。そしてPB７が高レベル
のとき電源９の電圧が上昇させられるように制御
される（基準電圧V_Refが低すぎる→増幅器２１の
出力が低レベル→比較出力が負レベル→PB７が
高レベル→電源９を昇圧）。他方PB７が低レベル
の時は電源９の電圧が下降されるように制御され
る。 本発明で利用するプログラム記憶式電源９を第
３図に示す。これは望みの出力電圧を示すデイジ
タル信号によつて制御される、通常の高圧回路で
ある。望みの電位が入力部PB６で制御ロジツク
１１からデイジタル−アナログ変換器５０に示さ
れ、この変換器によつてデイジタル・データ表現
がアナログ基準電圧に変換されて低電圧調整器５
１に送られる。変圧器回路５２および５３は低電
圧調整器から与えられた電圧に応じた高圧出力を
もたらす。調整器５１、変圧器５２および５３な
らびに、分圧器５４は振動波形のピーク電位が低
圧調整器５１によつて決定される、一種のプログ
ラム記憶式電源中に閉鎖ループ式振動システムを
形成している。こうして、波形の包絡線を用いて
整流および濾過の後に、高圧直流出力V_Refを得る
ことができ、これは外部制御で包絡線のサイズを
変えることによつて変化させることができる。こ
の例の制御装置は、出力電圧V_Refを、８ビツトの
データ・ワードの２進値の関数として変化させ
る。例えば２進値1111 1111（FF Hex）は最大
V_Refに等しく、２進値0000 0000（00 Hex）は最
小V_Refに等しい。 第４図の波形を参照しながら、本発明の操作に
ついて説明する。第４図は、第２図および第３図
の回路の操作を第５Ａ図、第５Ｂ図、第６Ａ図、
第６Ｂ図の制御ロジツクに関して図示したもので
ある。先ず、第４図で、波形図は探針６に対する
支持台１の相対的位置と光導電体２の電荷との相
互作用を示したものである。探針６に対する支持
台１の相対的位置が変化するにつれて、シールは
周期的に探針６に隣接し、それ以外の時は、光導
電体２が現われる。シールの位置が探針６に向い
合つたとき、エミツタ標識１４が感知器５の位置
と一致する。このことが起こると母線PB５上で
制御ロジツク１１に信号が出され次に制御ロジツ
ク１１が母線PB１上の信号によつて測定−比較
回路７を初期設定する。従つて、コンデンサ２３
にかかる電位、演算増幅器２１からの出力V₂₁、
および制御ロジツク１１へのPB７上の出力はゼ
ロになる。シール位置が探針６の下から抜け出す
と、探針６は、光導電体の電位V₂の影響を受け
る。 すなわち探針６と光導電体の表面３２との間の
キヤパシタンスに充電が起こり、これに対応して
コンデンサ２３に充電が起こり（当初は基準電圧
V_Refは−600と表面電位V₂（たとえば−300）より
低いオーダに設定されるので、コンデンサ２３が
わに探針６から正の電荷が流れていく）、この結
果増幅器２１の反転入力端より出力端の方が低電
位となる。そして増幅器の反転入力端と非反転入
力端とは仮想シヨートであるから、増幅器２１の
出力は基準電圧V_Refより小さくなる。そうすると
比較用の増幅器２６の出力は低レベルになり、
LED３２、トランジスタ２８，３０がオフとな
つて、PB７が高レベルになり、これに応じて制
御ロジツク１１が２進電源補正データ（この場合
電源を上昇させる）を出力する。 この２進電源補正データは８ビツトであり、第
Ｉ表に例を示すように１回の補正でステツプ・バ
イ・ステツプで変化していき、最終的に電源９の
電圧を表面３２の電位と等価にする。 第Ｉ表の２回目、４回目、５回目、７回目、８
回目のステツプでも上述と同様に基準電圧V_Refは
表面電位V₂より負であるから、PB７が高レベル
になり、電源９の電位を上昇させる。 他方他のステツプでは基準電圧V_Refが表面電位
V₂より正であるので、コンデンサ２３がわから
表面３２へと電流が流れ、増幅器２１の出力端が
押し上げられ、この結果後段の比較用の増幅器２
６が正の出力を生じて、LED２７が点灯し、ト
ランジスタ２８，３０がオンして、PB７が低レ
ベルになる。そしてこれに応じて電源９を低くす
る（絶対値を大きくする）。 ８ビツト・データの（１，１，１，１，１，
１，１，１）は初期値の−600ボルトを示す。表
面３２の電位は−600ボルトをシステム設計上下
回らない（よりゼロ電位に近い）からつぎに−
400ボルトにする。（１，０，０，０，０，０，
０，０）が−400を示す。−600ボルトの（１，１，
１，１，１，１，１，１）をのぞくと８ビツト・
データは ｛a₈＊2³＋a₇＊2²＋a₆＊2¹＋a₅＊2⁰＋a₄＊a^-1＋a₃
＊2^-2＋a₂＊2^-3＋a₁＊2^-4｝＊50ボルト を表す。なおa₈は最上位ビツト、a₁は最下位ビツ
トである。そして現在の電源９の電圧が表面３２
の電位より下回つていれば（よりゼロから離れて
いる。絶対値はより大）、絶対値を小さくするよ
うな信号PB６（↓）が生じて、１の立つている
最も低いビツト位置をゼロにし、１つ低いビツト
位置のゼロを１にする。逆に現在の電源９の電圧
が表面３２の電位より上回つていれば（よりゼロ
に近い。絶対値はより小）、絶対値を大きくする
ような信号PB６（↑）が生じて、１の立つてい
る最も低いビツト位置のつぎに低いビツト位置の
ゼロを１にする。このようにすると１回のステツ
プで１のビツトが１ビツト位置づつ低い位置に下
がつていき、８回のステツプで最下位ビツトが決
定でき、2^-4＊50ボルトの精度で電源９の基準電
圧V_Refを表面３２の電位に等しくさせることがで
きる。もちろん８より少ないステツプで一致した
ら以降のステツプは行わない。

【表】 制御ロジツク１１は、母線PB７のパルスを受
取り、それを８−ビツトのデイジタル・データ表
現に変換し、それを用いてプログラム記憶式電源
９を制御する。第５Ａ図および第５Ｂ図には、こ
れらの機能を実行するための通常のプロセツサの
編成を示す論理ブロツクが図示してある。ここに
示したプロセツサは、ロツクウエルAIM６５マ
イクロコンピユータに使用されている。MOSテ
クノロジー社製のMCS6500マイクロプロセツサ
とすることができる。 マイクロコンピユータは、第６図および第６Ｂ
図に示すような通常のアセンブリ言語ソース・コ
ードを使つてプログラミングすることができる。
ここに示した特定のプロセツサを使う必要はな
い。類似のシステムまたはロジツクの使用も、本
発明にとつて同様に有効である。プログラム記憶
式電源９の出力V_Ref探針電位V₆に等しくするた
めに特に有用な技術は、V_Refの逐次的近似および
調節を伴なうものである。第Ｉ表に示すように、
母線PB６から８−ビツトの２進数が与えられる
と、８ステツプでV₂₁＝０（V_Ref＝V₆）に近似さ
せることができる。その基本演算は、V_Ref＝−
600ボルトに相当する最高位２進数（16進数FF）
から出発する。これが高すぎる場合（V₂₁＝↓）
最高位ビツトを「１」にセツトし、V_Ref＝−400
に相対する２進数（80Hex）を与える。これが高
すぎる場合、最高位ビツトを「０」にして、下か
ら２桁目のビツトを〔１〕にセツトして、−200ボ
ルトに相当する２進数（40Hex）を与える。一方
前の電圧V_Ref＝−400が低すぎれば、最高位ビツ
トは「１」にセツトしたままで、下から２桁目の
ビツトを「１」にセツトし、−500ボルトに相当す
る２進数（CO Hex）を与える。このようにし
て、V_Refの望みの値に常に８ステツプで近似す
る。希望する場合には、４ビツト文字が利用で
き、僅か４ステツプしか必要としない、より大き
な電圧変化を使用することができる。 第５Ａ図を参照すると、データ母線を介して主
プロセツサ部を第５Ｂ図の主入出力部に接続す
る、８本のデータ母線Ｄ０−Ｄ７が設けられてい
る。ここに図示していないメモリが、アドレス母
線（母線Ａ０−Ａ１７）ならびにデータ母線に接
続されている。命令のプログラムは、メモリ中に
記憶され、命令解読装置によつて解読される。命
令により、データが図の各レジスタ間で処理さ
れ、演算が演算ロジツク・ユニツトALU１０１
中で実施される。尚、第５Ａ図の１０２は指標レ
ジスタＹであり、１０３は指標レジスタであり、
１０４はスタツク・ポイント・レジスタＳであ
り、１０５は累積器であり、１０６はPCLであ
り、１０７はPCHであり、１０８は入力デー
タ・ラツチ（DL）であり、１０９はデータ母線
バツフアであり、１１０は割込ロジツクであり、
１１１は命令解読装置であり、１１２はプロセツ
サ・ステータス・レジスタであり、１１３は命令
レジスタであり、１１４はタイミング制御装置で
あり、そして１１５はクロツク発生装置である。
第５Ｂ図には、２つの周辺インターフエース・バ
ツフアＡおよびＢが示している。各バツフアは、
例えばPB０−PB７から番号をつけた８つの入出
力ポートを備えている。周辺インターフエース・
バツフアＢに接続されたポートは、第１図にPB
０，PB１−PB４，PB５，PB６，PB７として
示した各母線に対応する。各ポートで周辺インタ
ーフエース・バツフアが利用できる情報は、デー
タ母線を介して、第５図に、また最終的にはメモ
リに転送される。同様に、メモリからのデータは
同じルートを通つて外側のポートに転送される。
第５Ｂ図の１１６はデータ母線バツフアであり、
１１７はデータ入力レジスタであり、１１８はチ
ツプ選択及び書き込み−読取り制御回路であり、
１１９は制御レジスタＡであり、１２０は周辺レ
ジスタＢであり、１２１は周辺レジスタＢであ
り、１２２は出力母線であり、１２３は入力母線
であり、１２４は制御レジスタＢであり、１２５
は割込みステータス制御装置Ｂであり、１２６は
割込みステータス制御装置であり、１２７はデー
タ方向レジスタＡであり、１２８は周辺インター
フエース・バツフアＢであり、１２９は周辺イン
ターフエース・バツフアＢであり、そして１３０
はデータ方向レジスタＢである。 操作に当つては、第Ｉ表、第４図、第６Ａ図を
参照すると、操作が必要かどうか決定するために
ポートがデータを検査し、データがポートから受
取られ、データの処理が実施され、データがポー
トから送り出される。スイツチ４０が位置Ｂにあ
る時、感知器５で感知された標識４の位置がポー
トPB５上に示される。信号の変化がポートPB５
で感知されると、電界効果形トランジスタ２２
は、ポートPB１を介してオンとなり、回路を初
期設定する。次に探針電位V₆が上に説明した逐
次近似技術によつて４度測定される。 第６Ｂ図を参照すると測定−比較回路７に接続
されたポートPB７の信号が、電源電圧と探針電
圧が等しくないと示している限り（PB7＝１）、
８ビツトの２進文字が次々に、プログラム記憶式
電源９に接続されたポートPB６に送られる。こ
れは、ポートPB７の信号の条件を監視し、プロ
グラム記憶式電源にその関数として与えられるデ
イジタル・データを（ビツトをセツトし取去るこ
とによつて）調節することによつて実施される。
この操作が完了した後、第６Ａ図に示すルーチン
が継続する。測定−比較回路７から４つのサンプ
ルが取られ、第６Ｂ図のサブルーチンを４度繰返
した後、４つのサンプルが平均される。探針電圧
V₆が電源９の電圧V_Refに等しくなると、光導電
体２の電荷が正確に決定されたことになる。次
に、制御ロジツクがこの値を予め定めた望ましい
値と比較し、２つの値が等しくなるまで電源９
（スイツチを位置Ｂにする）あるいは照明制御装
置１７の１つ（PB４による）あるいは帯電制御
装置１５（PB０による）のどれかを調節する。
電源９および選択された帯電制御装置１５を次々
に調節することが必要である。別のやり方として
は、測定された光導電体２の電荷が予め定めた値
と予め定めた大きさだけ異なる場合に、サービ
ス・アラームをセツトすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の全体図である。第２図は測
定−比較回路の回路図である。第３図は、プログ
ラム記憶式電源の構成図である。第４図は、本発
明で発生する信号を図示した波形図である。第５
Ａ図および第５Ｂ図は、制御ロジツクの構成図で
ある。第６Ａ図および第６Ｂ図は、本発明のオペ
レーシヨンを示す流れ線図である。 １…支持台、２…光導電体、６…探針６、３…
シール、７…測定比較装置、９…プログラム記憶
式電源、１１…制御ロジツク。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 未知の電荷を有する光導電体と前記光導電体
   の切欠部に設けられ既知の基準電荷を有する導電
   体とを保持し、コンデンサの第１プレートを形成
   する可動支持体と、 前記光導電体及び導電体上の電荷を前記光導電
   体及び導電体までの距離の関数である電位として
   感知するように前記支持体から離れて設けられ、
   前記コンデンサの第２プレートを形成する探針
   と、 入力における信号に従つて出力電圧の大きさが
   変化するようになつている電源と、 前記支持体が前記探針に沿つて相対的に移動す
   る時、前記探針に前記光導電体及び導電体のどち
   らが面しているかを表わす制御信号に応答して、
   前記導電体の電位に対する前記光導電体の電位と
   前記電源の出力電圧との差を表わすパルスを発生
   する測定回路と、 前記測定回路からのパルスの関数として、前記
   導電体の電位に対する前記光導電体の電位と前記
   電源の出力電圧との差を小さくする信号を前記電
   源の入力へ供給する制御ロジツクと、 より成り、前記測定回路は、前記探針及び前記電
   源の出力に接続された入力を有する演算増幅器と
   前記演算増幅器に対し並列に接続されたキヤパシ
   タとを具備し、前記導電体が前記探針に面してい
   ることを表わす制御信号に応答して前記キヤパシ
   タをリセツトすることにより前記演算増幅器の出
   力をゼロにさせ、前記光導電体が前記探針に面し
   ていることを表わす制御信号に応答して前記探針
   の電位と前記電源の出力との差に比例する電圧を
   前記演算増幅器から出力させ、前記演算増幅器の
   出力をパルスに変換して発生させるようにしたこ
   とを特徴とする光導電体の電荷を測定する装置。