JPH0261078A - 平行平板型プラズマエッチング装置 - Google Patents
平行平板型プラズマエッチング装置Info
- Publication number
- JPH0261078A JPH0261078A JP63211237A JP21123788A JPH0261078A JP H0261078 A JPH0261078 A JP H0261078A JP 63211237 A JP63211237 A JP 63211237A JP 21123788 A JP21123788 A JP 21123788A JP H0261078 A JPH0261078 A JP H0261078A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plasma etching
- plate type
- upper electrode
- type plasma
- flat plate
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims description 16
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 6
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 abstract description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 26
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
- Air Transport Of Granular Materials (AREA)
- Nozzles (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は平行平板型プラズマエツチング装置に関する。
従来、この種の平行平板型プラズマエツチング装置は第
3図に示すように、チャンバー1内にガス導入管9に接
続された上部電極2と、試料としての半導体基板7を保
持する下部電極3とを有する構造になっており、上部電
極2に設けられたガス吹き出し六6より反応ガスを吹き
出すように構成されていた。
3図に示すように、チャンバー1内にガス導入管9に接
続された上部電極2と、試料としての半導体基板7を保
持する下部電極3とを有する構造になっており、上部電
極2に設けられたガス吹き出し六6より反応ガスを吹き
出すように構成されていた。
上述した従来の平行平板型プラズマエツチング装置にお
いては、ガス吹き出し六6が上部電極3に直接設けられ
ているため、穴の位置や穴の数を容易に変更できない構
造となっている。このため、ガス吹き出し穴6の位置や
数の違いによる最適なエツチング条件を見付けるために
は、穴の位置や数が違うガス吹き出し穴をもつ上部電極
を交換しなければならないため、作業性や装置の稼働率
が低下するという欠点があった。
いては、ガス吹き出し六6が上部電極3に直接設けられ
ているため、穴の位置や穴の数を容易に変更できない構
造となっている。このため、ガス吹き出し穴6の位置や
数の違いによる最適なエツチング条件を見付けるために
は、穴の位置や数が違うガス吹き出し穴をもつ上部電極
を交換しなければならないため、作業性や装置の稼働率
が低下するという欠点があった。
本発明の平行平板型プラズマエツチング装置は、チャン
バー内に設けられ、ガス導入管に接続する上部電極と、
試料を保持する下部電極とを有する平行平板型プラズマ
エツチング装置であって、前記上部電極に、複数のガス
吹き出し穴を有するとりはずし可能なガス吹き出しユニ
ットを収り付けたものである。
バー内に設けられ、ガス導入管に接続する上部電極と、
試料を保持する下部電極とを有する平行平板型プラズマ
エツチング装置であって、前記上部電極に、複数のガス
吹き出し穴を有するとりはずし可能なガス吹き出しユニ
ットを収り付けたものである。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の断面図である。
第1図において、平行平板型プラズマエツチング装置は
、チャンバー1内に設けられ、ガス導入管9に接続する
上部電極2と、半導体基板7を支持する下部電極3とか
ら主に構成されている。そして特に上部電極2には、ガ
ス吹き出し六6の位置や数や向きが異なるガス吹き出し
ユニット4がシール材5をはさみ、ねじ込み式により固
定されている。
、チャンバー1内に設けられ、ガス導入管9に接続する
上部電極2と、半導体基板7を支持する下部電極3とか
ら主に構成されている。そして特に上部電極2には、ガ
ス吹き出し六6の位置や数や向きが異なるガス吹き出し
ユニット4がシール材5をはさみ、ねじ込み式により固
定されている。
このように構成された第1の実施例によれば、ガス吹き
出しユニット4を容易に取り変えることができるので、
ガス吹き出し穴6の位置や数等の違いによるエツチング
状態の変化を容易に知ることができるので、fk適なエ
ツチング条件を容易に求めることができる。従って作業
性や装置の稼働率を向上させることができる。
出しユニット4を容易に取り変えることができるので、
ガス吹き出し穴6の位置や数等の違いによるエツチング
状態の変化を容易に知ることができるので、fk適なエ
ツチング条件を容易に求めることができる。従って作業
性や装置の稼働率を向上させることができる。
第2図は本発明の第2の実施例の断面図である。
チャンバー1内に供給される反応ガスは、上部電極2の
内部を通ってガス吹き出しユニット4を通り、半導体基
板7上にガス吹き出し穴の位置や数や向きが異なるタイ
プが用意されており、j」定して上部電極2に取付ける
ことができる構造となっている。
内部を通ってガス吹き出しユニット4を通り、半導体基
板7上にガス吹き出し穴の位置や数や向きが異なるタイ
プが用意されており、j」定して上部電極2に取付ける
ことができる構造となっている。
この第2の実施例では、反応ガ°スをガス吹き出しユニ
ット4のガス導入口8より取り入れ、ガス吹き出し六6
より吹きだすようにしであるので、半導体基板7上のガ
スの分布をより均一にでき、上部電極2上の位置の差に
よるガスの分布の片寄りをなくすことができるという利
点がある。
ット4のガス導入口8より取り入れ、ガス吹き出し六6
より吹きだすようにしであるので、半導体基板7上のガ
スの分布をより均一にでき、上部電極2上の位置の差に
よるガスの分布の片寄りをなくすことができるという利
点がある。
以上説明したように本発明は、平行平板型プラズマエツ
チング装置の上部電極に、複数のガス吹き出し穴を有す
る、とりはずし可能なガス吹き出しユニットを取f寸け
ることにより、最適なエツチング条件を容易に見付ける
ことができる。従って作業性及び装置の稼働率を向上さ
せることができる。
チング装置の上部電極に、複数のガス吹き出し穴を有す
る、とりはずし可能なガス吹き出しユニットを取f寸け
ることにより、最適なエツチング条件を容易に見付ける
ことができる。従って作業性及び装置の稼働率を向上さ
せることができる。
第1図及び第2図は本発明の第1及び第2の実施例の断
面図、第3図は従来の平行平板型プラズマエツチング装
置の断面図である。 1・・・チャンバー、2・・・上部電極、3・・・下部
電極、4・・・ガス吹き出しユニット、5・・・シール
材、6・・・ガス吹き出し穴、7・・・半導体基板、8
・・・ガス導入口、9・・・ガス導入管。
面図、第3図は従来の平行平板型プラズマエツチング装
置の断面図である。 1・・・チャンバー、2・・・上部電極、3・・・下部
電極、4・・・ガス吹き出しユニット、5・・・シール
材、6・・・ガス吹き出し穴、7・・・半導体基板、8
・・・ガス導入口、9・・・ガス導入管。
Claims (1)
- チャンバー内に設けられガス導入管に接続する上部電極
と、試料を保持する下部電極とを有する平行平板型プラ
ズマエッチング装置において、前記上部電極に、複数の
ガス吹き出し穴を有するとりはずし可能なガス吹き出し
ユニットを取り付けたことを特徴とする平行平板型プラ
ズマエッチング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63211237A JPH0261078A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 平行平板型プラズマエッチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63211237A JPH0261078A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 平行平板型プラズマエッチング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0261078A true JPH0261078A (ja) | 1990-03-01 |
Family
ID=16602557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63211237A Pending JPH0261078A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 平行平板型プラズマエッチング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0261078A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5643394A (en) * | 1994-09-16 | 1997-07-01 | Applied Materials, Inc. | Gas injection slit nozzle for a plasma process reactor |
| WO1998046808A1 (en) | 1997-04-11 | 1998-10-22 | Tokyo Electron Limited | Processor |
| FR2808224A1 (fr) * | 2000-04-26 | 2001-11-02 | Unaxis Balzers Ag | Reacteur a plasma hf |
| JP2008524852A (ja) * | 2004-12-17 | 2008-07-10 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 高密度プラズマ適用のための高真空中での自己冷却ガス分配装置 |
| KR20140008090A (ko) * | 2012-07-10 | 2014-01-21 | 주성엔지니어링(주) | 화학 기상 증착 장치 |
| JP2014120764A (ja) * | 2012-12-17 | 2014-06-30 | Gloval Material Science Co Ltd | ドライエッチング反応室チャンバの上部電極およびその製造方法 |
| CN104810238A (zh) * | 2014-01-23 | 2015-07-29 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 匀气结构及等离子体系统 |
-
1988
- 1988-08-24 JP JP63211237A patent/JPH0261078A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5643394A (en) * | 1994-09-16 | 1997-07-01 | Applied Materials, Inc. | Gas injection slit nozzle for a plasma process reactor |
| USRE39939E1 (en) | 1997-04-11 | 2007-12-18 | Tokyo Electron Limited | Processing system |
| US6334983B1 (en) | 1997-04-11 | 2002-01-01 | Tokyo Electron Limited | Processing system |
| KR100469047B1 (ko) * | 1997-04-11 | 2005-01-31 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 처리장치, 상부전극유니트와 그 사용방법 및 전극유니트와 그 제조방법 |
| WO1998046808A1 (en) | 1997-04-11 | 1998-10-22 | Tokyo Electron Limited | Processor |
| USRE39969E1 (en) | 1997-04-11 | 2008-01-01 | Tokyo Electron Limited | Processing system |
| USRE40046E1 (en) | 1997-04-11 | 2008-02-12 | Tokyo Electron Limited | Processing system |
| FR2808224A1 (fr) * | 2000-04-26 | 2001-11-02 | Unaxis Balzers Ag | Reacteur a plasma hf |
| US7306829B2 (en) | 2000-04-26 | 2007-12-11 | Unaxis Balzers Aktiengesellschaft | RF plasma reactor having a distribution chamber with at least one grid |
| US9045828B2 (en) | 2000-04-26 | 2015-06-02 | Tel Solar Ag | RF plasma reactor having a distribution chamber with at least one grid |
| JP2008524852A (ja) * | 2004-12-17 | 2008-07-10 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 高密度プラズマ適用のための高真空中での自己冷却ガス分配装置 |
| KR20140008090A (ko) * | 2012-07-10 | 2014-01-21 | 주성엔지니어링(주) | 화학 기상 증착 장치 |
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| CN104810238A (zh) * | 2014-01-23 | 2015-07-29 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 匀气结构及等离子体系统 |
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