JPH0261697B2

JPH0261697B2 -

Info

Publication number: JPH0261697B2
Application number: JP10061283A
Authority: JP
Inventors: Yutaka Muramoto
Original assignee: Terumo Corp
Current assignee: Terumo Corp
Priority date: 1983-06-06
Filing date: 1983-06-06
Publication date: 1990-12-20
Also published as: JPS59225325A

Description

【発明の詳細な説明】発明の背景技術分野本発明は電子温度計の製造方法に関するもので
あり、更に詳細に言えば、電子温度計の中核をな
す温度変換テーブルを一度作成すれべ、これを複
製してほぼ同一規格の電子温度計の製造できる電
子温度計の製造方法に関するものである。

従来技術及びその問題点従来、第１図に示す如く感温素子を用いた発振
回路の出力パルス列を計数し、この計数値から温
度値を得る変換を不揮発性のメモリにプログラム
することによつて行うようにしたデジタル温度計
が特開昭50―131576号により提案されている。し
かしながら、この発明によれば、発振特性の異な
る装置毎にプログラムすることを要し、大量生産
性に欠けていた。こ不利益は基準温度における基
準測温抵抗体と基準抵抗体の抵抗比とほぼ一定の
抵抗比を電子温度計の２つの抵抗体が備えること
により、解決することを見い出し本発明を提案す
るに至つた。

発明の目的このような課題の下に提案された本発明の目的
は、標準の温度変換のための相関テーブルの使用
を可能とする電子温度計の製造方法を提案するこ
とにある。

また、本発明の他の目的は標準温度変換テーブ
ルを複製した変換テーブルを実装した電子温度計
が、正しく該テーブルを利用できるための電子温
度計の製造方法を提案する所にある。

本発明のその他の目的、特徴は以下の説明より
明らかとなるはずである。

このような本発明の目的は、発振器の発振周波
数を決定する要素に温度を依存して抵抗値が変化
する測温抵抗体と、抵抗値がほとんど変化しない
基準抵抗体を備え、測温時に前記２つの抵抗体を
発振器に交互に接続されたときの発振器の発振数
の比から求まる値をアドレスとして温度データ格
納部から温度を求める電子温度計の製造方法にお
いて、所定の温度抵抗係数を有する標準測温抵抗
体と該標準測温抵抗体の基準温度における抵抗値
との抵抗比が一定の比をなし温度によつて抵抗値
のほとんど変化しない抵抗体を交互に接続された
ときの標準発振器の発振数の比から求まる値のア
ドレスデータと温度データとの相関テーブルを温
度データ格納部に固定する工程と、前記標準測温
抵抗体とほぼ同一の温度抵抗係数を有する測温抵
抗体と、該測温抵抗体の基準温度における抵抗と
の、抵抗比が前記一定の比とほぼ同一の比を有す
るような抵抗値を有する基準抵抗体とを選定する
工程とを含むことを特徴とする電子温度計の製造
方法によつて達成される。

好適な態様に従えば、前記製造方法において、
基準温度におけるほぼ一定の抵抗比がほぼ１とな
るように標準測温抵抗体と測温抵抗体とを選択す
る。

発明の具体的説明次に本願発明の好適なる一実施例としての電子
体温計について詳細に説明する。第２図は一実施
例の電子体温計の構成を示すブロツク図である。
図において、１はサーミスタRthを測温抵抗体と
する発振器で、内部には温度によつて抵抗値の変
化しない基準抵抗体Rsを含み、これら両抵抗体
Rs，Rthは端子Ｓに加えられる選択信号によつて
内部の発振回路に切替接続され夫々fs，fthなる
周波数のパルス列を出力する。２はこれらのパル
ス列を係数するカウンタ回路で、前記発振器１を
含む回路素子の時系列にそつた特性変動を除去す
るために前記パルス列を可変に制御されたゲート
時間幅T_Gの間だけ計数し、常に検出温度に対す
る正しいカウント値N₂を出力する。３はカウン
ト値N₂から所定値N_DOを減算する減算回路で、後
接するメモリの容量を制約するために所定値N_DO
を差引いた値のアドレス出力N_ADを出力する。４
は標準のROMテーブルを記憶させたリードオン
リメモリ（ROMまたはPROMで良い）で、アド
レス出力N_ADによつてアドレスされそこに相関記
憶されている温度データTtを読出す。５は表示
回路で、読出された温度データTtをデジタル表
示する。

ここで、発振器１は例えば第３図に示す如く２
つのＣ―MOSインバータＩ１，Ｉ２と、コンデ
ンサＣと基準抵抗体Rsと、測温抵抗体たるサー
ミスタRthと、端子ＳにLOレベルが入力されて
いるときに前記基準抵抗体Rsを発振回路に接続
し、またHIレベルが入力されているときに前記
サーミスタRthを発振回路に切替接続するスイツ
チSWと、前記Ｃ―MOSインバータＩ１の固定の
保護抵抗Ｒとから成る。

また、カウンタ回路２は第４図に示す如く常に
一定の周波数foのパルス列を出力する基準発振器
２１と、周波数fsのパルス列を所定数N₁まで計
数するカウンタ２２と、このときの計数に要した
時間T_Gの間だけ周波数foのパルス列をUPカウン
トし引続き同じパルス列を計数値が０になるまで
DOWNカウントするカウンタ２３と、この
DOWNカウントに要した時間（前記T_Gに等し
い）だけ周波数fthのパルス列を計数するカウン
タ２４と、以上のような計数動作を繰返し行わせ
るためのフリツプフロツプ（以下FFと呼ぶ）２
５、および遅延パルス発生回路（以下DP回路と
呼ぶ）２６と、ANDゲート２７，２８から成る。

以上の構成において、温度測定がなされる原理
を以下に説明する。先づ発振器１のスイツチSW
を基準抵抗体Rs側に倒すとこのときの発振周波
数fsはｋを比例定数として fs＝１／ｋ・Ｃ・Rs …(1) で与えられる。この発振周波数fsは温度変化に対
してほとんど変動しない。次にスイツチSWをサ
ーミスタRth側に倒したときの発振周波数fthは
同様にして fth＝１／ｋ・Ｃ・Rth …(2) である。またこのときのサーミスタRthの温度―
抵抗特性は一般に次式によつて与えられる。

ここでＲ：基準温度Ｔにおけるサーミスタの抵抗値 Rth：ある温度Ttにおけるサーミスタの抵抗値Ｂ：サーミスタの温度抵抗係数（以下、Ｂ定数
と呼ぶ）である。

以上から発振器１にサーミスタRthを接続した
場合は、温度変化によつてサーミスタRthの感温
抵抗値が変化しているとこれに対応して発振周波
数fthが変化し、この発振器１から生ずるパルス
列を仮に一定値に制御されたゲート時間幅Tcの
間だけ計数すればそのカウント値Nthは次式によ
つて変化する。

Nth＝Tc／ｋ・Ｃ・Rth …(4) ここで基準温度Toにおけるカウント値Noを No＝Tc／ｋ・Ｃ・Ro …(5) とすればある温度Ttにおけるカウント値Nthの
一般式はで与えられる。

従つて高い精度で制御されている温度環境にお
いて基準温度Toにおけるカウント値Noを知れ
ば、それだけである温度（変数）値Ttにおいて
カウンタが計数すべきカウント（関数）値Nthは
(6)式によつて一義的に定まる。

よつて逆にある温度の測定時に、単に、カウン
ト値Nthを得るだけで直ちに被測定温度Ttを得
ることの可能な温度測定装置を構成できるのであ
るが、このまま、つまり前記ゲート時間幅Tcを
常に一定値に制御したのでは周囲温度の変化によ
つてＣ―MOSインバータＩ１，Ｉ２のスレツシ
ユホルド電圧およびコンデンサＣの容量も変化す
るからこれによる発振周波数fthの変動がカウン
ト値Nthの変動となつて現れる。そしてもはや変
動したこの値Nth′はサーミスタRthだけの温度特
性に依存するものではなくなる。

このために実施例の構成は以下に述べる方法に
よつて可変に制御されるゲート時間幅T_Gを得て
いる。先ず発振器１に基準抵抗体Rsを接続して
生ずるパルス列が常に一定のカウント値N₁まで
計数されるに要する特性変動により可変のゲート
時間幅T_Gを求め、次にこれと同一ゲート時間幅
T_Gだけ前記発振器１にサーミスタRthを接続して
生ずるパルス列を計数してそのカウント値N₂を
得る。よつて２つのカウント値N₁，N₂とゲート
時間幅T_Gとの間には T_G＝１／fsN₂＝１／fthN₂ …(7) が成り立ち、かつ２つのカウント値N₁，N₂の間
には N₂＝fth／fs・N₁ …(8) が成り立つ。ここでカウント値N₂は発振器１に
サーミスタRthを接続してゲート時間幅T_Gのあい
だ計数したものであるから N₂＝T_G／ｋ・Ｃ・Rth …(9) および基準温度Toにおけるカウント値N₂oは N₂o＝T_G／ｋ・Ｃ・Ro …(10) によつて与えられる。

よつてある温度Ttにおいて計数されたカウン
ト値N₂はN₁を所定数としてかつ前記２度の計数
動作において生ずる２つの発振周波数の比fth／fsに比例した値を持つものとなる。

今、仮に温度変化に対して２つの発振周波数
fs，fthが夫々fs′，fth′に変化したとしても両者は
特性の変化した共通なＣ―MOSインバータ１
１′，１２′とコンデンサC′を用いて短い期間にか
つ可変に制御されたゲート時間幅T_Gの間だけ発
振したものであるからそのカウント値N₂′は N₂′＝fth′／fs′・N₁＝fth／fs・N₁＝N₂ …(11) となつて常に正しく再現性の良いカウント値N₂
となる。

この方法によつて基準抵抗体Rsとサーミスタ
Rthとを除く実施例の全ての構成においてその回
路素子特性にゆるやかな経時変動があつても相殺
されるという効果を発揮するものである。

発明の具体的作用次に第３図、第４図を再び参照して前記可変に
制御されるゲート時間幅T_Gとこの区間にカウン
ト値N₂を得る動作を詳細に説明する。

第４図において、直前の計数動作の終りには
DP回路２６のパルス出力がカウンタ２２，２４
の計数値をリセツトする。カウンタ２２の計数値
は０になり出力端子QnのレベルはLOになる。そ
してこのLOレベルは、自己のカウントイネーブ
ル端子（以下端子Ｅと呼ぶ）Ｅを付勢してその計
数端子Ｃに入力があればこれを計数可能とする。
またカウンタ２４の端子Ｅを消勢して計数不能と
し、さらにカウンタ２３をUPカウントモードに
設定する。一方、第４図の発振器１では端子Ｓに
LOレベルが入力されるから基準抵抗体Rsが発振
回路に接続されて周波数fsのパルス列を出力す
る。また第４図において、DP回路２６はFF２５
をリセツトするから出力端子がHIになつて
ANDゲート２７，２８の入力を付勢する。以上
の状態では、先ず周波数fsの入力パルス列をカウ
ンタ２２が計数し同時に周波数foのパルス列をカ
ウンタ２３がUPカウントする。次にカウンタ２
２の計数値が所定値N₁に達すると、その出力端
子QnがHIレベルになつて自己の計数動作を停止
させ、カウンタ２４の端子Ｅを付勢し、同時にカ
ウンタ２３をDOWNカウントモードに設定する。
そしてこのときまでの計数に要した時間はT_Gで
ある。一方発振器１では、端子ＳにHIレベルが
入力されるからサーミスタthが発振回路に切替接
続されて周波数fthのパルス列を出力する。この
状態では、周波数fthの入力パルス列をカウンタ
２４が計数し同時に周波数foのパルス列をカウン
タ２３がDOWNカウントする。やがて、カウン
タ２３の計数値が０になるまでDOWNカウント
すると、その出力端子Qnの立ち上がりがFF２５
をセツトしその出力端子がLOレベルになつて
カウンタ２３，２４の計数入力を消勢する。この
時のカウンタ２４が計数した値N₂は、いわゆる
可変に制御されたゲート時間巾T_Gにおいて周波
数fthの入力パルス列を計数したものである。次
にDP回路２６はFF２５の出力端子ＱがHIであ
ることによつて所定の時間を経過後に正のパルス
を出力して新たな計数動作を繰返す。

カウンタ２３へのUP方向及びDOWN方向に計
数するパルス列は同一周波数foのクロツクである
ので、上述動作によればカウンタ２２が周波数fs
のパルス列を計数値N₁までカウントする時間に、
カウンタ２４が周波数fthのパルス列を計数した
カウント値N₂を得ることになる。このカウント
値N₂から後述する理由によつてリードオンメモ
リ４のメモリ容量を節約するために減算回路３に
おいて所定値N_DOを差し引いてその出力値N_ADを
リードオンリメモリ４のアドレスラインに送つて
その番地N_ADから対応する温度データTtを読み出
しこれを表示回路５にて表示するものである。

実施例の電子体温計の少なくとも１の標準的な
サンプルの製造時には、かかるカウント値N₂か
ら所定値N_DOを差し比いた値N_ADによつてアドレ
スされるPROM上に対応する正しい温度データ
を書込んだいわゆるROMテーブルを作成する必
要がある。そしてこの時のサンプル電子体温計に
内蔵されるサーミスタを便宜上基準サーミスタと
言う。

ここでは先ずカウント値N₂に着目し、所定値
N_DOを差し引いた値N_ADについては後述する。再
び前記(3)，(9)，(10)式を用いてカウント値N₂と被
測定温度データTtとの一般式を示せば次の如く
である。

但し基準温度Toにおけるカウント値N₂oは前
記(8)式より N₂o＝ftho／fs・N₁ …(13) ここでfthoは基準温度Toにおいて発振器１に
基準サーミスタRthを接続したときの発振周波数
である。

今、前記（13）式において基準温度Toにおけ
るカウント値N₂oに着目する。この値は基準サー
ミスタRthの基準温度Toにおける抵抗値Rthoと
基準抵抗体の抵抗値Rsとの比Rs／Rthoに比例し
ている。またこのカウント値N₂oは被測定温度レ
ンジをTo≦Tt≦T_Tとするときにカウント値が
N₂o≦N₂≦N_2Tのレンジで対応しROMテーブル
を作成するときには基準温度Toに対応する基準
アドレスN₂oとなるものである。

以下このROMテーブルを作成する手順につい
て説明する。第５図はROMテーブルの作成方法
を示すブロツク図である。図において、先ず恒温
槽９の温度をTo，T_Tの２定温度点に順次設定し
てそれぞれの温度におけるカウント値N₂＝N₂o，
N₂＝N_2Tを適当な方法で外部に接続したデータ処
理装置８に入力する。外部のデータ処理装置８は
同時に他の高精度な温度測定装置７から前記２定
温度データTo，T_Tを受け取るから基準サーミス
タRthのＢ定数は次式によつて求められる。

Ｂ＝1nN₂₀／N_2T／１／T_T−１／To …(14) この工程を第６図のROMテーブル作成手順を
示すフローチヤートに従つて更に詳しく説明す
る。先ず恒温槽９の設定温度を基準温度Toとし
た状態において、データ処理装置８は工程102で、
温度センサ６がセンスした温度測定装置７からの
測定温度Ｔを入力する。

工程103では該入力温度Ｔが基準温度Toか否か
の判別を行う。判別がNOであれば高低102に戻
り新たな温度入力Ｔを得る。また判別がYESで
あれば工程104においてカウンタ回路２の出力カ
ウント値N₂oを入力する。次に恒温槽９の設定温
度を所定温度T_Tとした状態において、同様にし
て、工程105と106を実行する。やがて恒温槽９内
の温度が所定温度T_Tに達し、工程106における判
別がYESであれば、工程107においてこのときの
カウンタ回路２の出力カウント値N_2Tを入力す
る。工程108では、以上の２定温度情報To，T_T
と、各対応する出力カウント値N₂o，N_2Tとから
前記（14）式に従つて基準サーミスタRthのＢ定
数を演算する。この時点で外部のデータ処理装置
は今求めたＢ定数と、前にカウンタ回路２から入
力されたカウント値N₂o，N_2Tおよび前に他の高
精度な温度測定装置７から入力された温度データ
To，T_Tを有する。次に工程109では必要な測定
温度レンジ（例えばTo〜T_T）の区間をToから測
温の精度△Ｔ（例えば0.1℃）ずつ増加させた温度
（変数）値Ttに対して対応するカウント（関数）
値N₂の値を前記(12)式に従つて算出する。

第５図は製造される電子体温計のリードオンリ
メモリに複製される相関テーブルを作成する構成
を示すものであつて、恒温槽９内に配置されてい
るサーミスタRth、基準抵抗、発振器は複製され
るべきオリジナルデータを作成するという意味
で、標準測温抵抗体、標準抵抗体、標準発振器と
呼ぶことができる。

一般には被測定温度レンジをT₂〜T₃としてか
つTo＜T₂＜T₃＜T_Tなる関係において上記データ
対をT₂〜T₃までとして算出しても良い。いずれ
にしても温度データTtを例えばT_D1，D_D2…T_DNま
で温度ピツチ△Ｔずつ増加してゆき算出した結果
をN_D1，N_D2…N_DNとすれば、ROMテーブルのア
ドレスN_D1には温度データT_D1が、アドレスN_D2に
は温度データT_D2が…の如く格納されれば良い。
このときROMテーブルの基準アドレスN_D1が実
施例の体温計の構成上大きな値であるのでリード
オンリメモリ４のメモリ容量を節約するために前
記基準アドレスN_D1から所定値N_DO≦N_D1を差し引
いてその値を小さくしこれを実質的な基準アドレ
スN_ADとしている。工程110では、上述の如くし
て算出されたアドレスデータN_D1，N_D2…N_DNから
所定値N_DOを差し引いた値N_AD1，N_AD2…N_ADNを求
め、これを不揮発性メモリ４へのアドレス入力と
し、各対応する温度データT_D1，T_D2…T_DNをデー
タ入力として相関記憶させている。

第２図に示す一実施例の回路構成においては、
前記工程110で作成された温度テーブルを正しく
読み出しするためにカウンタ回路２の出力カウン
ト値N₂から前記所定値N_DOが差し引かれる減算回
路３を有する。このことを念頭において以下説明
の便宜上再びROMテーブルの基準アドレスは
N₂oとして述べる。

原理的には他の複数の電子体温計について前記
第７図に示す手順に従いPROM上に温度テーブ
ルを作成すれば高精度なる電子体温計の単品が製
造されることになる。しかしながらPROMのメ
モリ容量の節約、使用効率、更には電子体温計の
製造容易性を考えれば作成された温度テーブルが
常に所定番地から始まりかつ所定の番地で終る
（同一規格内容である）ことが望ましい。この利
益を得るために実施例の他の電子体温計を製造す
る場合には、以下に示す製造工程を有する。

前記第７図の工程109において作成される
ROMテーブルは基準サーミスタ使用の下に作成
されるいわゆる標準ROMテーブルであつて、そ
れ以後は、製造工程にある他の電子体温計に対し
て点線で示す如く単に工程110のみが実行される。
つまり、標準ROMテーブルの内容は電子体温計
に一体に設けられた、あるいは別個に設けられた
ところの不揮発性メモリに複製される。

しかるに、他の電子体温計を構成するために現
実に入手可能なサーミスタRthはおろか基準抵抗
体Rsでさえもその抵抗値にばらつきを有する。
前記(12)，（13）式によればこれが基準温度Toにお
けるカウント出力値N₂oを変化させる原因とな
り、またさらにサーミスタにあつてはそのＢ定数
にもばらつきがあるためにこの温度勾配の特性の
ばらつきにより被測定温度レンジの最大値T_Tに
おけるカウント値N_2Tも変化してこれが温度テー
ブルの正しいアクセスを誤らせる原因ともなる。
前述した如くROMテーブルの基準アドレスN₂o
は基準温度Toにおけるサーミスタ抵抗値Rthoと
基準抵抗体の抵抗値Rsとの比に依存するから、
この比を一定に保てば基準温度Toを読み出すこ
とができる。この場合特にRs＝Rthoである必要
は無いが、比Rs／Rthoを一定に保つためには抵
抗値Rsを調整して合わせ込むことができる。

この実施例は第７図に示す構成が利用される。
図において、恒温槽９は予め基準温度Toに設定
されている。データ処理装置８は温度測定装置７
からの測定温度出力Toを監視する。また同様に
基準温度Toの状態に置かれた電子温度計のカウ
ント回路２からのカウント値N₂を監視する。そ
してこれら監視したデータを基に抵抗値調整装置
１０を制御し、発振器１に内蔵された基準抵抗体
Rsの抵抗値を自動的に調整する構成となつてい
る。この調整方法の具体的な手順を第８図のフロ
ーチヤートに従つて説明すると、工程202におい
てデータ処理装置８は測定温度出力Ｔを入力す
る。工程203では該入力温度Ｔが基準温度Toか否
かの判別を行ない、判別がNOであれば工程201
に戻る。また判別がYESのときは工程204に進
み、カウンタ回路２からのカウント値N₂を入力
する。工程205では該入力カウント値N₂が基準値
N₂oか否かの判別を行う。判別がNOであれば工
程206に進み、基準抵抗Rsを調整し、入力カウン
ト値N₂が基準値N₂oに接近する方向に制御する。
工程207は発振器１の動作が新たな抵抗値で十分
に安定するように、所定時間遅延する工程であ
る。所定時間が経過すると工程202に戻つて上述
動作を繰り返す。また工程205において判別が
YESになると基準抵抗体Rsの調整を終了する。

このような抵抗比を一定とする他に、減算回路
３の固定入力N_DOを制御、固定する方法がある。
この場合は、第８図の工程203において判別が
YESであれば工程208に移行する。工程208では
カウンタ回路２からの出力カウント値N₂を入力
する。工程209では減算値N_DOをN_ADO―N₂によつ
て算出する。ここでN_ADOはリードオンリメモリ
４に格納された温度テーブルの基準アドレスであ
つて、そこには基準温度Toが書き込まれている。
通常はN_ADO＜N₂であるから、｜N_ADO―N₂｜の値
をそのまま減算回路３の固定入力とすれば良い。
またN_ADO＞N₂のような状態が起これば減算回路
３に加算に切換える。このような切換えは予め
加／減算回路の構成を用意しておけば簡単に行え
る。また上述N_ADOの値を設定、固定する方法に
は例えばレーザビームスポツトを制御して、減算
回路３の入力レジスタ１１を所定のパターンに焼
き切る方法等がある。工程209は一度行うだけで
繰り返す必要はない。

減算回路３の固定入力N_DOを抵抗比が一定とな
るように調整する技法は、サーミスタRthの温度
―抵抗計数（Ｂ定数）は一定の精度を有するが、
基準温度における抵抗値のばらつきによる抵抗比
の誤差をも補正できることは明らかである。

またサーミスタのＢ定数については所望の測温
精度を損わない範囲内でこれを厳選することとす
る。従つて以上の点に鑑みれば、電子体温計の
個々に特有なROMテーブルを作成するより例え
ば基準抵抗体の抵抗値Rsを調整し、サーミスタ
のＢ定数を厳選することによつて、測温精度を損
わずに、単一規格、内容の標準ROMテーブルを
常に正しくアクセスするような電子体温計がむし
ろ容易に製造可能である。

このようにして第３図に示された電子体温計
は、所望の測温精度を得る範囲内にＢ定数が厳選
されたサーミスタRthと、このサーミスタの基準
温度Toにおける抵抗値Rthoとの比が一定でかつ
温度によつて抵抗値がほとんど変化しない基準抵
抗体Rsと電子体温計の特定のサンプルにつき前
記所定の手順に従つて作成した標準ROMテーブ
ルと同一規格、内容で複製されたROM又は
PROMを有する。

発明の具体的効果本発明は以上に説明したように構成されるた
め、１つの原始データを基に作成した温度変換の
ための相関テーブルを標準テーブルとして用いる
ことが可能となり、個々の電子温度計は標準テー
ブルを電気的に複製すれば済む。従つて、本発明
により、電子温度計の大量生産が可能となり、製
品を安価に提供できる。特に実施例に従えば、こ
こで複製される変換テーブルは予め外部のデータ
処理装置によつて計算処理して求めた相関データ
であるため、本方法によつて製造される電子温度
計は高精度で広い測温レンジを有するものであ
る。

また更に、本発明に従えば、高精度で広い測温
レンジをカバーする相関データを格納したテーブ
ルは基準アドレスが整合するように製造されるた
め、正しく利用でき、測温精度が向上するもので
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のデジタル温度計の構成を示すブ
ロツク図、第２図は本発明に係る一実施例の電子
体温計の構成を示すブロツク図、第３図はサーミ
スタを用いた発振回路の回路図、第４図は第２図
のカウンタ回路を詳細に示すブロツク図、第５図
はROMテーブルの作成方法を示すブロツク図、
第６図はROMテーブルの作成手順を示すフロー
チヤート、第７図は基準抵抗値を合せ込む方法を
示すブロツク図、第８図は基準抵抗値を合せ込む
手順を示すフローチヤートである。ここで、１…発振器、２…カウンタ回路、３…
減算回路、４…リードオンリメモリ、５…表示回
路、６…温度センサ、７…温度測定装置、８…デ
ータ処理装置、９…恒温槽、１０…抵抗値調整装
置、１１…入力レジスタである。

Claims

【特許請求の範囲】１発振器の発振周波数を決定する要素に温度に
依存して抵抗値が変化する測温抵抗体と、抵抗値
がほとんど変化しない基準抵抗体を備え、測温時
に前記２つの抵抗体が交互に接続されたときの発
振器の発振数の比から求まる値をアドレスとして
温度データ格納部から温度を求める電子温度計の
製造方法において、所定の温度抵抗係数を有する
標準測温抵抗体と該標準測温抵抗体の基準温度に
おける抵抗値との抵抗比が一定の比をなし温度に
よつて抵抗値のほとんど変化しない標準抵抗体を
測温時に交互に接続されたときの標準発振器の発
振数の比から求まる値のアドレスデータと温度デ
ータとの相関テーブルを温度データ格納部に固定
する工程と、前記標準測温抵抗体とほぼ同一の温
度抵抗係数を有する測温抵抗体と、該測温抵抗体
の基準温度における抵抗値と、前記抵抗比が前記
一定の比とほぼ同一の比を有するような抵抗値を
有する基準抵抗体とを選定する工程とを含むこと
を特徴とする電子温度計の製造方法。２基準温度におけるほぼ一定の抵抗比がほぼ１
となるように標準測温抵抗体と標準抵抗体とを選
択することを特徴とする特許請求の範囲第１項記
載の電子温度計の製造方法。