JPH0471172B2

JPH0471172B2 -

Info

Publication number: JPH0471172B2
Application number: JP58100610A
Authority: JP
Inventors: Yutaka Muraki
Original assignee: Terumo Corp
Current assignee: Terumo Corp
Priority date: 1983-06-06
Filing date: 1983-06-06
Publication date: 1992-11-13
Also published as: JPS59225323A

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は電子温度計の製造方法に関するもので
あり、更に詳細に言えば、カウント値−温度変換
テーブルを標準化できる電子温度計の製造方法に
関するものである。

［従来の技術］従来、第１図に示す如く感温素子を用いた発振
回路の出力パルス列を計数し、この計数値から温
度値を得る変換を不揮発性のメモリにプログラム
することによつて行うようにしたデジタル温度計
が特開昭50−131576号により提案されている。し
かしながら、特開昭50−131576号が開示する発明
は発振特性の異なる装置毎に不揮発性メモリを個
別にプログラムすることを要し、大量生産性に欠
ける不利益を有していた。

また、特開昭58−15134号には、温度の測定精
度を向上させるために、基準抵抗とサーミスタを
発振器に接続し、両者の発信周波数の比に基づい
て記憶回路から温度情報を読み出す構成が開示さ
れているが、温度変換テーブルの標準化は意図さ
れていない。

従つて、感温素子として使用されるサーミスタ
等の素子に特性のバラツキが多いことを考慮すれ
ば、均一な精度を有する製品を大量には提供でき
ない。

［発明が解決しようとする課題］本発明は、従来技術の有する不利益を解決する
ために提案されたものであり、その主要な目的は
精度上のバラツキの無い電子温度計を大量生産す
るための電子温度計の製造方法を提案する所にあ
る。

［課題を解決するための手段］このような本発明の目的は、温度により抵抗値
が変化しない抵抗体と、温度により抵抗値が変化
する感温素子と、前記抵抗体又は感温素子を接続
して夫々の抵抗値に応じた周波数のパルス信号列
を発生する発振回路と、前記発振回路に前記抵抗
体を接続して所定数のパルス信号列を計数するま
でに要した時間を計数する第１のカウンタ回路
と、該第１のカウンタ回路の計数した時間だけ前
記発振回路に前記感温素子を接続して発生したパ
ルス信号列を計数する第２のカウンタ回路と、該
第２のカウンタ回路の計数値と出力温度との関係
を規定した温度変換テーブルとを有する電子温度
計の製造方法において、 (a) 前記電子体温計を基準温度に保ち、 (b) そのときの前記第２のカウンタ回路の計数値
が前記基準温度に対応する所定値と等しいか否
かを判定し、 (c) 前記所定値と等しくない場合は前記抵抗体の
抵抗値を前記計測値と所定値との差に対応して
変更し、前記行程(a)に戻り、 (d) 前記所定値と等しい場合は次の処理行程に移
る、ところの前記抵抗体の調整行程(a)〜(d)を備える
ことを特徴とする電子温度計の製造方法により達
成される。

［実施例］本発明の実施例によつて製造される電子温度計
及び、その体温計が備える温度変換テーブルを第
２図から第６図を参照して説明する。

第２図は本実施例によつて製造される電子体温
計の構成を示すブロツク図である。図において、
１はサーミスタRthを感温素子（以下、測温抵抗
体という）とする発振器で、内部には温度によつ
て抵抗値の変化しない抵抗体（以下、基準抵抗体
という）Rsを含み、これら両抵抗体Rs、Rthは
端子Ｓに加えられる選択信号によつて内部の発振
回路に切替接続された夫々fs、fshなる周波数の
パルス列を出力する。２はこれらのパルス列を係
数するカウンタ回路で、前記発振器１を含む回路
素子の時系列にそつた特性変動を除去するために
前記パルス列を可変に制御されたゲート時間幅
T_Gの間だけ計数し、常に検出温度に対する正し
いカウント値N₂を出力する。３はカウント値N₂
から所定値N_D0を減算する減算回路で、後説する
メモリの容量を節約するために所定値N_D0を差引
いた値のアドレス出力N_ADを出力する。４は標準
のROMテーブルを記憶させたリードオンメモリ
（ROMまたはPROMで良い）でアドレス出力N_AD
によつてアドレスされそこに相関記憶されている
温度データTtを読出す。５は表示回路で、読出
された温度データTtをデジタル表示する。

ここで発振器１は例えば第３図に示す如く２つ
のＣ−MOSインバータ１、２と、コンデン
サＣと基準抵抗体Rsと、測温抵抗体たるサーミ
スタRthと、端子Ｓにlowレベルが入力されてい
るときに前記基準抵抗体Rsを発振回路に接続し、
またhighレベルが入力されているときに前記サー
ミスタRthを発振回路に切替接続するスイツチ
SWと、前記Ｃ−MOSインバータ１の固定の保
護抵抗Ｒとから成る。

また、カウンタ回路２は第４図に示す如く常に
一定の周波数f₀のパルス列を出力する基準発振器
２１と、周波数f_Sのパルス列を所定数N₁まで計数
するカウンタ２２と、このときの計数に要した時
間T_Gの間だけ周波数f₀のパルス列をUPカウント
し引続き同じパルス列を計数値が０になるまで
DOWNカウントするカウンタ２３と、この
DOWNカウントに要した時間（前記T_Gに等し
い）だけ周波数fthのパルス列を計数するカウン
タ２４と、以上のような計数動作を繰返し行わせ
るためのフリツプフロツプ（以下FFと呼ぶ）２
５、および遅延パルス発生回路（以下DP回路と
呼ぶ）２６と、ANDゲート２７，２８から成る。

以上の構成において、温度測定がなされる原理
を以下に説明する。先づ発振器１のスイツチSW
を基準抵抗体Rs側に倒すとこのときの発振周波
数f_Sはｋを比例定数として、 f_S＝１／ｋ・Ｃ・Rs ……(1) で与えられる。この発振周波数fsは温度変化に対
してほとんど変動しない。次にスイツチSWをサ
ーミスタRth側に倒したときの発振周波数f_thは同
様にして、 f_th＝１／ｋ・Ｃ・Rth ……(2) である。またこのときのサーミスタRthの温度−
抵抗特性は一般に次式によつて与えられる。

Rth＝R₀・exp｛Ｂ［１／Tt−１／To］｝ ……(3) ここで、 R₀ ：基準温度Toにおけるサーミスタの抵抗値 Rth：ある温度Ttにおけるサーミスタの抵抗値Ｂ：サーミスタの温度抵抗係数（以下、Ｂ定
数と呼ぶ）である。

以上から発振器１にサーミスタRthを接続した
場合は、温度変化によつてサーミスタRthの感温
抵抗値が変化しているとこれに対応して発振周波
数f_thが変化し、この発振器１から生ずるパルス
列を仮に一定値に制御されたゲート時間幅Tcの
間だけ計数すればそのカウント値Nthは次式によ
つて変化する。

Nth＝Tc／ｋ・Ｃ・Rth ……(4) ここで、基準温度Toにおけるカウント値N₀を N₀＝Tc／ｋ・Ｃ・R₀ ……(5) とすれば、ある温度Ttにおけるカウント値Nth
の一般式は、 Nth＝N₀・exp｛−Ｂ［１／Tt−１／To］｝ ……(6) で与えられる。

従つて、高い精度で制御されている温度環境に
おいて基準温度T₀におけるカウント値N₀を知れ
ば、それだけである温度（変数）値Ttにおいて
カウンタが計数すべきカウント（関数）値Nthは
(6)式によつて一義的に定まる。

よつて逆にある温度の測定時に、単にカウント
値Nthを得るだけで直ちに被測定温度Ttを得る
ことの可能な温度測定装置を構成できるのである
が、このまま、つまり前記ゲート時間幅Tcを常
に一定値に制御したのでは周囲温度の変化によつ
てＣ−MOSインバータ１、２のスレツシユ
ホルド電圧およびコンデンサＣの容量も変化する
からこれによる発振周波数f_thの変動がカウント
値Nthの変動となつて現れる。そしてもはや変動
したこの値Nth′はサーミスタRthだけの温度特性
に依存するものではなくなる。

このために以下に述べる方法によつて可変に制
御されるゲート時間幅T_Gを得ている。先ず発振
器１に基準抵抗体Rsを接続して生ずるパルス列
が常に一定のカウント値N₁まで計数されるに要
する特性変動により可変のゲート時間幅T_Gを求
め、次にこれと同一ゲート時間幅T_Gだけ前記発
振器１にサーミスタRthを接続して生ずるパルス
列を計数してそのカウント値N₂を得る。よつて
２つのカウント値N₁、N₂とゲート時間幅T_Gとの
間には、 T_G＝１／fsN₁＝１／f_thN₂ ……(7) が成り立ち、かつ２つのカウント値N₁、N₂の間
には、 N₂＝f_th／fs・N₁ ……(8) が成り立つ。ここでカウント値N₂は発振器１に
サーミスタRthを接続してゲート時間幅T_Gのあい
だ計数したものであるから、 N₂＝T_G／ｋ・Ｃ・Rth ……(9) および基準温度Toにおけるカウント値N₂₀は N₂₀＝T_G／ｋ・Ｃ・Ro ……(10) によつて与えられる。

よつてある温度Ttにおいて計数されたカウン
ト値N₂はN₁を所定数としてかつ前記２度の計数
動作において生ずる２つの発振周波数の比f_th／f_S
に比例した値を持つものとなる。

今、仮に温度変化に対して２つの発振周波数
f_S、f_thが夫々f_S′、f_th′に変化したとしても、両者
は特性の変化した共通なＣ−MOSインバータ
1′、2′とコンデンサC′を用いて短い期間にかつ
可変に制御されたゲート時間幅T_Gの間だけ発振
したものであるから、そのカウント値N₂′は N₂′＝f_th′／f_S′・N₁＝f_th／f_S・N₁＝N₂……(1
1) となつて、常に正しい再現性の良いカウント値
N₂となる。

この方法によつて基準抵抗体Rsとサーミスタ
Rthとを除く全ての構成においてはその回路素子
特性にゆるやかな経時変動があつても相殺される
という効果を発揮するものである。

次に、第３図と第４図とを再び参照して、前記
可変に制御されるゲート時間幅_Gとこの区間にカ
ウント値N₂を得る動作を詳細に説明する。

第４図において、直前の計数動作の終りには
DP回路２６のパルス出力がカウンタ２２，２４
の計数値をリセツトする。カウンタ２２の計数値
は０になり出力端子Qnのレベルはlowになる。
そしてこのlowレベルは、自己のカウントイネー
ブル端子（以下端子Ｅと呼ぶ）Ｅを付勢してその
計数端子Ｃに入力があればこれを計数可能とす
る。またカウンタ２４の端子Ｅを消勢して計数不
能とし、さらにカウンタ２３をUPカウントモー
ドに設定する。一方、第３図の発振器１では端子
Ｓにlowレベルが入力されるから基準抵抗体Rsが
発振回路に接続されて周波数f_Sのパルス列を出力
する。第４図において、DP回路２６はFF２５を
リセツトするから出力端子Ｑがhighになつて
ANDゲート２７，２８の入力を付勢する。以上
の状態では、先ず周波数f_Sの入力パルス列をカウ
ンタ２２を計数し同時に周波数foのパルス列をカ
ウンタ２３がUPカウントする。次にカウンタ２
２の計数値が所定値N₁に達すると、その出力端
子Qnがhighレベルになつて自己の計数動作を停
止させ、カンウンタ２４の端子Ｅを付勢し、同時
にカウンタ２３をDOWNカウントモードに設定
する。そしてこのときまでの計数に要した時間は
T_Gである。一方発振器１では、端子Ｓにhighレ
ベルが入力されるからサーミスタRthが発振回路
に切替接続されて周波数f_thのパルス列を出力す
る。この状態では、周波数f_thの入力パルス列を
カウンタ２４が計数し同時に周波数f₀のパルス列
をカウンタ２３がDWONカウントする。やがて、
カウンタ２３の計数値が０になるまでDOWNカ
ウントすると、その出力端子Qnの立ち上がりが
FF２５をセツトしその出力端子がlowレベル
になつてカウンタ２３，２４の計数入力を消勢す
る。この時のカウンタ２４が計数した値N₂は、
いわゆる可変に制御されたゲート時間巾T_Gにお
いて周波数f_thの入力パルス列を計数したもので
ある。次にDP回路２６はFF２５の出力端子Ｑが
highであることによつて所定の時間を経過後に正
のパルスを出力して新たな計数動作を繰返す。

カウンタ２３へのUP方向及びDOWN方向に計
数するパルス列は同一周波数f₀のクロツクである
ので、上述動作によればカウンタ２２が周波数f_S
のパルス列を計数値N₁までカウントする時間に、
カウンタ２４が周波数f_thのパルス列を計数した
カウント値N₂を得ることになる。このカウント
値N₂から後述する理由によつてリードオンリメ
モリ４のメモリ容量を節約するために減算回路３
において所定値N_D0を差し引いてその出力値_ADを
リードオンメモリ４のアドレスラインに送つてそ
の番地N_ADから対応する温度データTtを読み出し
これを表示回路５にて表示するものである。

上述の電子体温計の少なくとも１の標準的なサ
ンプルの製造時には、かかるカウント値N₂から
所定値N_D0を差し引いた値N_ADによつてアドレス
されるPROM上に対応する正しい温度データを
書込んだいわゆるROMテーブルを作成する必要
がある。そしてこの時のサンプル電子体温計内に
内蔵されるサーミスタを便宜上基準サーミスタと
言う。

ここでは先ずカウント値N₂に着目し、所定値
N_DOを差し引いた値N_ADについては後述する。再
び前記(3)、(9)、(10)式を用いてカウント値N₂と被
測定温度データTtとの一般式を示せば次の如く
である。

N₂＝N₂₀・exp｛−Ｂ［１／Tt−１／To］｝……(12) 但し、基準温度Toにおけるカウント値N₂₀は
前記(8)式より N₂₀＝f_th0／fs・N₁ ……(13) ここで、f_th0は基準温度Toにおいて発振器１に
基準サーミスタRthを接続したときの発振周波数
である。

今、前記(13)式において基準温度T₀におけるカ
ウント値N₂₀に着目する。この値は基準サーミス
タRthの基準温度T₀における抵抗値Rthoと基準
抵抗体の抵抗体Rsとの比Rs／Rthoに比例してい
る。またこのカウント値N₂₀は被測定温度レンジ
をTo≦Tt≦T_Tとするときにカウント値がN₂₀≦
N₂≦N_2Tのレンジで対応しROMテーブルを作成
するときには基準温度Toに対応する基準アドレ
スN₂₀となるものである。

以下、本発明の実施例に従つたROMテーブル
の作成方法を第５図で、本発明の実施例に従つた
ROMテーブルの作成手順を第６図のフローチヤ
ートにしたがつて説明する。

第５図はROMテーブルの作成方法を示すブロ
ツク図である。図において、先ず恒温槽９の温度
をTo、T_Tの２定温度点に順次設定してそれぞれ
の温度におけるカウント値N₂＝N₂₀、N₂＝N_Tを
適当な方法で外部に接続したデータ処理装置８に
入力する。外部のデータ処理装置８は同時に他の
高精度な温度測定装置７から前記２定温度データ
To、Ｔを受け取るから基準サーミスタRthのＢ
定数は次式によつて求められる。

Ｂ＝lnN₂₀／N_2T／１／T_T−１／To ……(14) この工程を第６図のROMテーブル作成手順を
示すフローチヤートに従つて詳しく説明する。先
ず恒温槽９の設定温度を基準温度Toとした状態
において、データ処理装置８は工程102で、温度
センサ６がセンスした温度測定装置７からの測定
温度Ｔを入力する。

工程103では該入力温度Ｔが基準温度Toか否か
の判別を行う。判別がNOであれば工程102に戻
り新たな温度入力Ｔを得る。また判別がYESで
あるば工程104においてカウンタ回路２の出力カ
ウント値N₂₀を入力する。次に恒温槽９の設定温
度を所定温度T_Tとした状態において、同様にし
て、工程105と106を実行する。やがて恒温槽９内
の温度が所定温度T_Tに達し、工程106における判
別がYESであれば、工程107においてこのときカ
ウンタ回路２の出力カウント値N_2Tを入力する。
工程108では、以上の２定温情報To、T_Tと、各
対応する出力カウント値N₂₀、N_2Tとから、前記
(14)式に従つて基準サーミスタRthのＢ定数を演算
する。この時点で外部のデータ処理装置は今求め
たＢ定数と、前にカウンタ回路２から入力された
カウント値N₂₀、N_2Tおよび前に他の高精度な温
度測定装置７から入力された温度データTo、T_T
を有する。次に工程１０９では必要な測定温度レ
ンジ（例えばTo〜T_T）の区間をToから測温の精
度ΔT（例えば0.1℃）ずつ増加させた温度（変数）
値Ttに対して対応するカウント（関数）値N₂の
値を前記(12)式に従つて算出する。

第５図は製造される電子体温計のリードオンリ
メモリに複製される相関テーブルを作成する構成
を示すものであつて、恒温槽９内に配置されてい
るターミスタRth、基準抵抗、発振器は複製され
るべきオリジナルデータを作成するという意味
で、標準測温抵抗体、標準抵抗体、標準発振器と
呼ぶことができる。

一般には被測定温度レンジをT₂〜T₃としてか
つT₀＜T₂＜T₃＜Ｔなる関係において上記データ
対をT₂〜T₃までとして算出しても良い。いずれ
にしても温度データTtを例えばT_D1、T_D2……T_DN
まで温度ピツチΔTずつ増加してゆき算出した結
果をN_D1、N_D2……N_DNとすれば、ROMテーブル
のアドレスN_D1には温度データT_D1が、アドレス
Ｎには温度データT_D2が……の如く格納されれば
良い。このときROMテーブルの基準アドレス
N_D1が実施例の体温計の構成上大きな値であるの
でリードオンリメモリ４のメモリ容量を節約する
ために前記基準アドレスN_D1から所定N_D0≦N_D1を
差し引いてその値を小さくしこれを実質的な基準
アドレスN_ADとしている。工程110では、上述の
如くして算出してアドレスデータN_D1、N_D2……
N_DNから所定値N_D0を差し引いた値N_AD1、_AD2……
N_ADNを求め、これを不揮発性メモリ４へのアド
レス入力とし、各対応する温度データT_D1、T_D2
……T_DNをデータ入力として相関記憶させてい
る。

第２図に示す回路構成においては、前記工程
110で作成された温度テーブルを正しく読み出し
するためカウンタ回路２の出力カウント値N₂か
ら前記所定値N_DOが差し引かれる減算回路３を有
する。このことを念願において以下説明の便宜上
再びROMテーブルの基準アドレスはN₂₀として
述べる。

原理的には他の複数の電子体温計について前記
第６図に示す手順に従いPROM上に温度テーブ
ルを作成すれば高精度なる電子体温計の単品が製
造されることになる。しかしながらFROMのメ
モリ容量の節約、使用効率、更には電子体温計の
製造容易性を考えれば作成された温度テーブルが
常に所定番地から始まりかつ所定の番地で終る
（同一規格内容である）ことが望ましい。この利
益を得るために実施例の他の電子体温計を製造す
る場合に、以下に示す製造工程を有する。

前記第６図の工程109において作成される
ROMテーブルは基準サーミスタ使用の下に作成
されるいわゆる標準ROMテーブルであつて、そ
れ以後は、製造工程にある他の電子体温計に対し
て点線で示す如く単に工程110のみが実行される。
つまり、標準ROMテーブルの内容は電子体温計
に一体に設けられた、あるいは別個に設けられた
ところの不揮発性メモリに複製される。

しかるに、電子体温計を構成するために現実に
入手可能なサーミスタRthはおろか基準抵抗体Rs
でさえもその抵抗値にばらつきを有する。前記(12)
(13)式によればこれが基準温度Toにおけるカウン
ト出力値N₂₀を変化させる原因となり、またさら
にサーミスタにあつてはそのＢ定数にもばらつき
があるためにこの温度勾配の特性のばらつきによ
り被測定温度レンジの最大値T_Tにおけるカウン
ト値N_2Tも変化してこれが温度テーブルの正しい
アクセスを誤らせる原因ともなる。前述した如く
ROMテーブルの基準アドレスN₂₀は基準温度To
におけるサーミスタ抵抗値Rthoと基準抵抗体の
抵抗値Rsとの比に依存するから、この比を一定
に保てば基準温度Toを読み出すことができる。
この場合、特にRs＝Rthoである必要は無いが、
比Rs／Rthoを一定に保つためには抵抗値Rsを調
整して合わせ込むことができる。

本発明はこのために提案されたものであり、以
下、基準値を補正する実施例を詳細に説明する。

この実施例は第８図に示す構成が利用される。
図において、恒温槽９は予め基準温度Toに設定
されている。データ処理装置８は温度測定装置７
からの測定温度出力Toを監視する。また同時に
基準温度Toの状態に置かれた電子温度計のカウ
ンタ回路２からのカウント値N₂を監視する。そ
してこれら監視したデータを基に抵抗値調整装置
１０を制御し、発振器１に内蔵された基準抵抗体
Rsの抵抗値を自動的に調整する構成となつてい
る。この調整方法の具体的な手順を第７図のフロ
ーチヤートに従つて説明すると、工程202におい
てデータ処理装置８は測定温度出力Ｔを入力す
る。工程203では該入力温度Ｔが基準温度Toか否
かの判別を行ない、判別がNOであれば工程201
に戻る。また判別がYESのときは工程204に進
み、カウンタ回路２からのカウント値N₂を入力
する。工程205では該入力カウント値N₂が基準値
N₂₀か否かの判別を行う。判別がNOであれば工
程206に進み、基準抵抗Rsを調整し、入力カウン
ト値N₂が基準値N₂₀に接近する方向に制御する。
工程207は発振器１の動作が新たな抵抗値で十分
に安定するように、所定時間遅延する工程であ
る。所定時間が経過すると工程202に戻つて上述
動作を繰り返す。また工程205において判別が
YESになると基準抵抗体Rsの調整方法を終了す
る。

このような抵抗比を一定とする他に、減算回路
３の固定入力N_DOを制御、固定する方法がある。
この場合は、第７図の工程203において判別が
YESであれば工程208に移行する。工程208では
カウンタ回路２からの出力カウント値N₂を入力
する。工程209では減算値D_DOをN_ADO−N₂によつ
て算出する。ここでN_ADOはリードオンメモリ４
に格納された温度テーブルの基準アドレスであつ
て、そこには基準温度Toが書き込まれている。
通常はN_ADO＜N₂であるから、｜N_ADO−N₂｜の値
をそのまま減算回路３の固定入力とすれば良い。
またN_ADO＞N₂のような状態が起これば減算回路
３を加算に切換える。このような切換えは予め
加／減算回路の構成を用意しておけば簡単に行え
る。また上述N_ADOの値を設定、固定する方法に
例えばレーザビームスポツトを制御して、減算回
路３の入力レジスタ１１を所定のパターンに焼き
切る方法等がある。工程209は一度だけで繰り返
す必要はない。

減算回路３の固定入力N_DOを抵抗比が一定とな
るように調整する技法は、サーミスタRthの温度
−抵抗計数（Ｂ定数）は一定の精度を有するが、
基準温度における抵抗値のばらつきによる抵抗比
の誤差をも補正できることは明らかである。

またサーミスタのＢ定数については所望の測温
精度を損わない範囲内でこれを厳選することとす
る。従つて以上の点の鑑みれば、電子体温計の
個々に特有なROMテーブルを作成するより例え
ば基準抵抗体の抵抗値Rsを調整し、サーミスタ
のＢ定数を厳選することによつて、測温精度を損
なわずに、単一規格、内容の標準ROMテーブル
を常に正しくアクセスするような電子体温計がむ
しろ容易に製造可能である。

このようにして第２図に示された電子体温計
は、所望の測温精度を得る範囲内にＢ定数が厳選
されたサーミスタRthと、このサーミスタの基準
温度Toにおける抵抗値Rthoとの比が一定でかつ
温度によつて抵抗値がほとんど変化しない基準抵
抗体Rsと電体温計の特定のサンプルにつき前記
所定の手順に従つて作成した標準ROMテーブル
と同一規格、内容で複製されたROM又はPROM
を有する。

［発明の効果］以上述べた如く、本発明によれば、測温時に発
振数から求まる値をアドレスとして温度データを
読み出す温度変換テーブルを有する電子温度計を
作成する場合に、温度により抵抗値が変化しない
抵抗体（いわゆる基準抵抗体）の抵抗血を基準温
度における発振数と既値の発振数との差に応じて
変更する工程を繰り返す閉ループを構成して抵抗
値を調整することで、同じ温度変換テーブルを使
用して大量に均一精度を有する電子体温計を複製
できるため、高精度で安価な電子体温計が提供さ
れる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のデジタル温度計の構成を示すブ
ロツク図、第２図は実施例の適用において製造で
きる電子体温計の構成を示すブロツク図、第３図
と第４図は本発明の前提技術を説明するための図
であり、第３図はサーミスタを用いた発振回路の
回路図、第４図は第２図のカウンタ回路を詳細に
示すブロツク図、第５図は本発明の実施例に従つ
たROMテーブルの作成方法を示すブロツク図、
第６図は本発明の実施例に従つたROMテーブル
の作成手順を示すフローチヤート、第７図は本発
明の一実施例に従う基準抵抗値を合せ込む手順を
示すフローチヤート、第８図は基準抵抗値を合せ
込む方法を示すブロツク図である。図中、１……発振器、２……カウンタ回路、３
……減算回路、４……リードオンリメモリ、５…
…表示回路、６……温度センサ、７……温度測定
装置、８……データ処理装置、９……恒温槽、１
０……抵抗値調整装置、１１……入力レジスタで
ある。

Claims

【特許請求の範囲】１温度により抵抗値が変化しない抵抗体と、温
度により抵抗値が変化する感温素子と、前記抵抗
体又は感温素子を接続して夫々の抵抗値に応じた
周波数のパルス信号列を発生する発振回路と、前
記発振回路に前記抵抗体を接続して所定数のパル
ス信号列を計数するまでに要した時間を計数する
第１のカウンタ回路と、該第１のカウンタ回路の
計数した時間だけ前記発振回路に前記感温素子を
接続して発生したパルス信号列を計数する第２の
カウンタ回路と、該第２のカウンタ回路の計数値
と出力温度との関係を規定した温度変換テーブル
とを有する電子温度計の製造方法において、 (a) 前記電子体温計を基準温度に保ち、 (b) そのときの前記第２のカウンタ回路の計数値
が前記基準温度に対応する所定値と等しいか否
かを判定し、 (c) 前記所定値と等しくない場合は前記抵抗体の
抵抗値を前記計測値と所定値との差に対応して
変更し、前記行程(a)に戻り、 (d) 前記所定値と等しい場合は次の処理行程に移
る、ところの前記抵抗体の調整行程(a)〜(d)を備える
ことを特徴とする電子温度計の製造方法。