JPH0264155U - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0264155U
JPH0264155U JP14461588U JP14461588U JPH0264155U JP H0264155 U JPH0264155 U JP H0264155U JP 14461588 U JP14461588 U JP 14461588U JP 14461588 U JP14461588 U JP 14461588U JP H0264155 U JPH0264155 U JP H0264155U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrator
output
mass spectrometer
tolerance value
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP14461588U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0731496Y2 (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1988144615U priority Critical patent/JPH0731496Y2/ja
Publication of JPH0264155U publication Critical patent/JPH0264155U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0731496Y2 publication Critical patent/JPH0731496Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の対象とするICP質量分析装
置の概念構成図、第2図は本考案の実施例を説明
するブロツク図、第3図は第2図のデイスクリア
ンプの動作説明図である。 1……チヤンネルトロン、2……質量分析部、
3……イオンレンズ、4……スキマーコーン、5
……サンプリングコーン、6……ICPトーチ部
、21……プリアンプ、22……デイスクリアン
プ、23……積分回路、24……A/D、25…
…CPU。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. チヤンネルトロンの出力側に接続されるデイス
    クリアンプと、これに接続される積分器と、上記
    積分器の出力を受け、この出力と予め設定された
    入力許容値とを比較し、積分器出力が入力許容値
    を越えるときに測定中止指令を質量分析部に発す
    る保護手段とを具えたICP質量分析装置。
JP1988144615U 1988-11-05 1988-11-05 Icp質量分析装置 Expired - Lifetime JPH0731496Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1988144615U JPH0731496Y2 (ja) 1988-11-05 1988-11-05 Icp質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1988144615U JPH0731496Y2 (ja) 1988-11-05 1988-11-05 Icp質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0264155U true JPH0264155U (ja) 1990-05-14
JPH0731496Y2 JPH0731496Y2 (ja) 1995-07-19

Family

ID=31412477

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1988144615U Expired - Lifetime JPH0731496Y2 (ja) 1988-11-05 1988-11-05 Icp質量分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0731496Y2 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6159246A (ja) * 1984-08-23 1986-03-26 ライボルト‐ヘレーウス・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 分光分析法で粒子または量子を記録する方法および装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6159246A (ja) * 1984-08-23 1986-03-26 ライボルト‐ヘレーウス・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 分光分析法で粒子または量子を記録する方法および装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0731496Y2 (ja) 1995-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0264155U (ja)
JPS6289831U (ja)
JPS6453948U (ja)
JPH01149127U (ja)
JPS621202U (ja)
JPS6285017U (ja)
JPS6320625U (ja)
JPS6393526U (ja)
JPS61104638U (ja)
JPS6268317U (ja)
JPH01142820U (ja)
JPH02100330U (ja)
JPH0332819U (ja)
JPH01115378U (ja)
JPH0335438U (ja)
JPH0235520U (ja)
JPH0177020U (ja)
JPS62173812U (ja)
JPH0249221U (ja)
JPS6451329U (ja)
JPS6226948U (ja)
JPS61151421U (ja)
JPS62203454U (ja)
JPH01130266U (ja)
JPH0247824U (ja)