JPH0264442A - スキャノグラム装置 - Google Patents
スキャノグラム装置Info
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- JPH0264442A JPH0264442A JP63215282A JP21528288A JPH0264442A JP H0264442 A JPH0264442 A JP H0264442A JP 63215282 A JP63215282 A JP 63215282A JP 21528288 A JP21528288 A JP 21528288A JP H0264442 A JPH0264442 A JP H0264442A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、被測定物を透過した放射線を検出して被測定
物の透過画像を得る例えばＣＴスキャナまたは放射線透
視装置等のスキャノグラム装置に関する。
物の透過画像を得る例えばＣＴスキャナまたは放射線透
視装置等のスキャノグラム装置に関する。
（従来の技術）
この種の従来の装置は、透過画像を得ようとする被測定
物を回転テーブル上に載置し、この回転テーブルをトラ
バースフレームに固定してから、被測定物に向けて放射
線、例えばＸ線をファンビーム状に放射するとともに、
被測定物をＸ線に対して上下動させながら、被測定物を
透過したＸ線を検出器で検出することによりＸ線のファ
ンビームで被われた被測定物の部分の透視画像を得てい
る。
物を回転テーブル上に載置し、この回転テーブルをトラ
バースフレームに固定してから、被測定物に向けて放射
線、例えばＸ線をファンビーム状に放射するとともに、
被測定物をＸ線に対して上下動させながら、被測定物を
透過したＸ線を検出器で検出することによりＸ線のファ
ンビームで被われた被測定物の部分の透視画像を得てい
る。
（発明が解決しようとする課題）
従来の装置においては、Ｘ線のファンビームで被われた
被測定物の部分の透視画像しか得られないため、透過画
像領域を広くとることができないという課題がある。
被測定物の部分の透視画像しか得られないため、透過画
像領域を広くとることができないという課題がある。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、透過画像領域を広く取ることができる
スキャノグラム装置を提供することにある。
とするところは、透過画像領域を広く取ることができる
スキャノグラム装置を提供することにある。
［発明の構成コ
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するため、本発明のスキャノグラム装置
は、被測定物に向けて所定角度を有するファンビーム状
の放射線を発生する放射線発生手段と、被測定物を挾ん
で前記放射線発生手段に対向して配設され、被測定物を
透過した前記放射線手段からの放射線を検出する検出手
段と、前記被測定物を前記放射線発生手段と前記検出手
段との間で相対的に回転させる回転手段と、前記回転手
段による前記回転の軸に直角な方向に被測定物を前記放
射線発生手段および前記検出手段からなる測定系に対し
て相対的にトラバースさせるトラバース手段と、前記回
転の軸に平行な方向に被測定物を前記ｎ１定系に対して
相対的に移動させる移動手段と、前記放射線発生手段か
らの放射線が被ｙｒｐ＋定物の全断面を透過すべく被測
定物を所定角度ずつ回転させるとともに、所定距離ずつ
トラバースさせるように前記回転手段および前記トラバ
ース手段を制御し、これらの各回転位置およびトラバー
ス位置において被測定物に対して前記回転の軸に平行な
方向への相対的移動を行わせるように前記移動手段を制
御する制御手段と、前記相対的移動の間において前記検
出手段で検出した被測定物の放射線透過データを収集し
、この収集データを並び替えて一連の被測定物の透過像
を表す透過データを得る並び替え手段とを有する。
は、被測定物に向けて所定角度を有するファンビーム状
の放射線を発生する放射線発生手段と、被測定物を挾ん
で前記放射線発生手段に対向して配設され、被測定物を
透過した前記放射線手段からの放射線を検出する検出手
段と、前記被測定物を前記放射線発生手段と前記検出手
段との間で相対的に回転させる回転手段と、前記回転手
段による前記回転の軸に直角な方向に被測定物を前記放
射線発生手段および前記検出手段からなる測定系に対し
て相対的にトラバースさせるトラバース手段と、前記回
転の軸に平行な方向に被測定物を前記ｎ１定系に対して
相対的に移動させる移動手段と、前記放射線発生手段か
らの放射線が被ｙｒｐ＋定物の全断面を透過すべく被測
定物を所定角度ずつ回転させるとともに、所定距離ずつ
トラバースさせるように前記回転手段および前記トラバ
ース手段を制御し、これらの各回転位置およびトラバー
ス位置において被測定物に対して前記回転の軸に平行な
方向への相対的移動を行わせるように前記移動手段を制
御する制御手段と、前記相対的移動の間において前記検
出手段で検出した被測定物の放射線透過データを収集し
、この収集データを並び替えて一連の被測定物の透過像
を表す透過データを得る並び替え手段とを有する。
（作用）
本発明のスキャノグラム装置では、回転手段およびトラ
バース手段によって被測定物を所定角度ずつ回転させる
とともに、所定距離ずつトラバースさせ、これらの各回
転位置およびトラバース位置において前記回転の軸に平
行な方向に被測定物を相対的に移動させ、この相対的移
動の間に被測定物の放射線透過データを収集し、この収
集した放射線透過データを並び替えて一連の被測定物の
透視像を表す透過データを得ている。
バース手段によって被測定物を所定角度ずつ回転させる
とともに、所定距離ずつトラバースさせ、これらの各回
転位置およびトラバース位置において前記回転の軸に平
行な方向に被測定物を相対的に移動させ、この相対的移
動の間に被測定物の放射線透過データを収集し、この収
集した放射線透過データを並び替えて一連の被測定物の
透視像を表す透過データを得ている。
（実施例）
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の一実施例に係わる分割スキャノグラム
装置の構成を示すブロック図である。
装置の構成を示すブロック図である。
同図に示す分割スキャノグラム装置は、被測定物にＸ線
を照射し、被測定物を透過したＸ線を検出するスキャナ
部１を有し、このスキャナ部１にはスキャナ部１のＸ線
管を制御するＸ線制御部３およびスキャナ部１の機構部
を制御する機構制御部５が接続されている。また、この
機構制御部５には分割サイノ用シーケンサ７が接続され
ている。
を照射し、被測定物を透過したＸ線を検出するスキャナ
部１を有し、このスキャナ部１にはスキャナ部１のＸ線
管を制御するＸ線制御部３およびスキャナ部１の機構部
を制御する機構制御部５が接続されている。また、この
機構制御部５には分割サイノ用シーケンサ７が接続され
ている。
前記スキャナ部１において検出した被測定物のＸ線透過
データはスキャナ部１からデータ収集部９で収集され、
このデータ収集部９から透過データメモリ１１に記憶さ
れる。この透過データメモリ１１に記憶された透過デー
タは前処理部および再構成制御部１５を介して断面像を
再構成させて画像メモリ部１７に記憶される（ＣＴスキ
ャナ動作の場合）とともに、また分割サイノ用並び替え
制御部１９を介して並び替えて画像メモリ部１７に記憶
され（スキャノグラム動作の場合）、それからデイスプ
レィ２１に被測定物の透過画像として表示されるように
なっている。
データはスキャナ部１からデータ収集部９で収集され、
このデータ収集部９から透過データメモリ１１に記憶さ
れる。この透過データメモリ１１に記憶された透過デー
タは前処理部および再構成制御部１５を介して断面像を
再構成させて画像メモリ部１７に記憶される（ＣＴスキ
ャナ動作の場合）とともに、また分割サイノ用並び替え
制御部１９を介して並び替えて画像メモリ部１７に記憶
され（スキャノグラム動作の場合）、それからデイスプ
レィ２１に被測定物の透過画像として表示されるように
なっている。
第２図（ａ）、（ｂ）は第１図の装置に使用されている
スキャナ部１の詳細な構成を示す図であり、第２図（ａ
）はその平面図、第２図（ｂ）は側面図である。
スキャナ部１の詳細な構成を示す図であり、第２図（ａ
）はその平面図、第２図（ｂ）は側面図である。
このスキャナ部１は、Ｘ線を発生するＸ線管２３および
このＸ線管２３との間に所定距離を設けて対向して配設
されている検出器２５を有し、これらのＸ線管２３と検
出器２５との間には被測定物２７が設けられている。被
δ−１定物２７は回転テーブル２９上に載置され、この
回転テーブル２９は回転機構３５によって回転するよう
になっている。回転テーブル２９はトラバーステーブル
３１上に取り付けられ、このトラバーステーブル３１は
トラバース機構３３によって前記Ｘ線管２３と検出器２
５との間を横切るようにトラバース制御され、これによ
り被ａｐｊ定物２７はＸ線管２３と検出器２５との間を
Ｘ線管２３からのＸ線を直角に横切るように制御されて
いる。なお、Ｘ線管２３および検出器２５の直前にはそ
れぞれコリメータ３７．３８が設けられ、これによりＸ
線管２３からのＸ線はファンビーム４５．としてファン
ビーム状に放射して被測定物２７を透過し、検出器２５
で検出されるようになっている。
このＸ線管２３との間に所定距離を設けて対向して配設
されている検出器２５を有し、これらのＸ線管２３と検
出器２５との間には被測定物２７が設けられている。被
δ−１定物２７は回転テーブル２９上に載置され、この
回転テーブル２９は回転機構３５によって回転するよう
になっている。回転テーブル２９はトラバーステーブル
３１上に取り付けられ、このトラバーステーブル３１は
トラバース機構３３によって前記Ｘ線管２３と検出器２
５との間を横切るようにトラバース制御され、これによ
り被ａｐｊ定物２７はＸ線管２３と検出器２５との間を
Ｘ線管２３からのＸ線を直角に横切るように制御されて
いる。なお、Ｘ線管２３および検出器２５の直前にはそ
れぞれコリメータ３７．３８が設けられ、これによりＸ
線管２３からのＸ線はファンビーム４５．としてファン
ビーム状に放射して被測定物２７を透過し、検出器２５
で検出されるようになっている。
また、Ｘ線管２３と検出器２５とはコの字状の上下動フ
レーム３９によって互いに固定されるとともに、この上
下動フレーム３９は支柱４１に取り付けられた上下動機
構４３によって上下方向、すなわちＸ線管２３から検出
器２５へのＸ線の放射方向に直角な回転テーブル２９に
よる回転の軸方向に平行な方向に上下動するように駆動
されている。なお、Ｘ線管２３は第１図に示す前記Ｘ線
制御部３によって制御されるようにＸ線制御部３に接続
され、また検出器２５は第１図のデータ収集部９に接続
され、この検出器２５で検出した被測定物２７の通過デ
ータはデータ収集部９によって収集され、更に回転機構
３５、トラバース機構３３および上下動機構４３は第１
図の前記機（Ｒ制御部５および分割サイノ用シーケンサ
７によって制御されるようになっている。また、前記ト
ラバース機構３３および支柱４１はベースフレーム４７
上に固定されている。
レーム３９によって互いに固定されるとともに、この上
下動フレーム３９は支柱４１に取り付けられた上下動機
構４３によって上下方向、すなわちＸ線管２３から検出
器２５へのＸ線の放射方向に直角な回転テーブル２９に
よる回転の軸方向に平行な方向に上下動するように駆動
されている。なお、Ｘ線管２３は第１図に示す前記Ｘ線
制御部３によって制御されるようにＸ線制御部３に接続
され、また検出器２５は第１図のデータ収集部９に接続
され、この検出器２５で検出した被測定物２７の通過デ
ータはデータ収集部９によって収集され、更に回転機構
３５、トラバース機構３３および上下動機構４３は第１
図の前記機（Ｒ制御部５および分割サイノ用シーケンサ
７によって制御されるようになっている。また、前記ト
ラバース機構３３および支柱４１はベースフレーム４７
上に固定されている。
次に、第３図のフローチャートおよび第４図の回転テー
ブル２９の動作および被測定物２７に対するＸ線の透過
状態を示す第４図を参照して作用を説明する。
ブル２９の動作および被測定物２７に対するＸ線の透過
状態を示す第４図を参照して作用を説明する。
まず、被δ−１定物２７を回転テーブル２９上に載置し
、機構制御部５の制御により上下動機構４３を駆動して
上下動フレーム３９を下方の停止点まで降下させる（ス
テップ１１０）。
、機構制御部５の制御により上下動機構４３を駆動して
上下動フレーム３９を下方の停止点まで降下させる（ス
テップ１１０）。
それから、Ｘ線制御部３を介してＸ線管２３に電源を投
入してオンする（ステップ１２０）。Ｘ線管２３がオン
すると、第４図（ａ）に示すようにトラバース機構３３
によってトラバーステーブル３１を駆動して、被７１Ｐ
１定物２７をトラバース位ｌＸ２に設定するとともに、
また回転機構３５を介して回転テーブル２９を回転位置
θ−０°に設定する（ステップ１３０）。
入してオンする（ステップ１２０）。Ｘ線管２３がオン
すると、第４図（ａ）に示すようにトラバース機構３３
によってトラバーステーブル３１を駆動して、被７１Ｐ
１定物２７をトラバース位ｌＸ２に設定するとともに、
また回転機構３５を介して回転テーブル２９を回転位置
θ−０°に設定する（ステップ１３０）。
このようにトラバーステーブル３１および回転テーブル
２９をそれぞれトラバース位置Ｘ２および回転角度θ−
０°に設定して、被測定物２７を第４図（ａ）の位置に
設定すると、次に上下動機構４３の制御により上下動フ
レーム３９を上昇させながら、Ｘ線管２３からの被測定
物２７を透過したＸ線を検出器２５で検出し、このデー
タをデータ収集部９を介して透過データメモリ１１に収
集記憶する（ステップ１４０）。この結果、被測定物２
７は第４図（ａ）において斜線を施された部分領域ａの
データが得られる。上下動フレーム３９が上方の停止点
に達すると、上昇動作は停止する。
２９をそれぞれトラバース位置Ｘ２および回転角度θ−
０°に設定して、被測定物２７を第４図（ａ）の位置に
設定すると、次に上下動機構４３の制御により上下動フ
レーム３９を上昇させながら、Ｘ線管２３からの被測定
物２７を透過したＸ線を検出器２５で検出し、このデー
タをデータ収集部９を介して透過データメモリ１１に収
集記憶する（ステップ１４０）。この結果、被測定物２
７は第４図（ａ）において斜線を施された部分領域ａの
データが得られる。上下動フレーム３９が上方の停止点
に達すると、上昇動作は停止する。
第４図（ａ）の位置における被測定物２７の透過データ
を収集すると、次に同様に第４図（ｂ）に示すようにト
ラバース機構３３によってトラバーステーブル３１を駆
動して被測定物２７をトラバース位置Ｘ１に設定すると
ともに、また回転機構３５を介して回転テーブル２９を
回転位置θ−１５°に設定しくステップ１５０）、それ
から上下動機構４３の制御により上方位置で停止してい
た上下動フレーム３９を下降させながら、Ｉ Ｊｌｌｌ
定物２７の透過Ｘ線を検出器２５で検出し、データ収集
部９を介して透過データメモリ１１に収集記憶する（ス
テップ１６０）。この結果、被測定物２７は第４図（ｂ
）において斜線を施された部分、領域すの透過データを
得る。また、上下動フレーム３９は下方の停止点で停止
する。
を収集すると、次に同様に第４図（ｂ）に示すようにト
ラバース機構３３によってトラバーステーブル３１を駆
動して被測定物２７をトラバース位置Ｘ１に設定すると
ともに、また回転機構３５を介して回転テーブル２９を
回転位置θ−１５°に設定しくステップ１５０）、それ
から上下動機構４３の制御により上方位置で停止してい
た上下動フレーム３９を下降させながら、Ｉ Ｊｌｌｌ
定物２７の透過Ｘ線を検出器２５で検出し、データ収集
部９を介して透過データメモリ１１に収集記憶する（ス
テップ１６０）。この結果、被測定物２７は第４図（ｂ
）において斜線を施された部分、領域すの透過データを
得る。また、上下動フレーム３９は下方の停止点で停止
する。
更に、次に、第４図（Ｃ）に示すようにトラバース機構
３３によってトラバーステーブル３１を駆動して被測定
物２７をトラバース位置−Ｘｌに設定するとともに、ま
た回転機構３５を介して回転テーブル２９を回転位置θ
−３０°に設定しくステップ１７０）、それから上下動
機構４３の制御により下方位置で停止していた上下動フ
レーム３９を再び上昇させながら、被測定物２７の透過
Ｘ線を検出器２５て検出し、データ収集部９を介して透
過データメモリ１１に収集、記憶する（ステップ１８０
）。この結果、被測定物２７は第４図（Ｃ）において斜
線を施された部分、領域Ｃの透過データを検出をされる
。また、上下動フレーム３つは上方の停止点で停止する
。
３３によってトラバーステーブル３１を駆動して被測定
物２７をトラバース位置−Ｘｌに設定するとともに、ま
た回転機構３５を介して回転テーブル２９を回転位置θ
−３０°に設定しくステップ１７０）、それから上下動
機構４３の制御により下方位置で停止していた上下動フ
レーム３９を再び上昇させながら、被測定物２７の透過
Ｘ線を検出器２５て検出し、データ収集部９を介して透
過データメモリ１１に収集、記憶する（ステップ１８０
）。この結果、被測定物２７は第４図（Ｃ）において斜
線を施された部分、領域Ｃの透過データを検出をされる
。また、上下動フレーム３つは上方の停止点で停止する
。
それから、また同様に、第４図（ｄ ）に示すようにト
ラバース機構３３によってトラバーステーブル３１を駆
動して被測定物２７をトラバース位置−Ｘ２に設定する
とともに、また回転機構３５を介して回転テーブル２９
を回転位置θ−４５゜に設定しくステップ１９０）、そ
れから上下動機構４３の制御により上方位置で停止して
いた上下動フレーム３９を再び下降させながら、被ｎ１
定物２７の透過データを検出器２５で検出し、データ収
集部９を介して透過データメモリ１１に収集記憶する（
ステップ２００）。この結果、被）ＰＩ定物２７は第４
図（ｄ）において斜線を施された部分、領域ｄの透過デ
ータを得る。また、上下動フレム３９は下方の停止点で
停止する。なお、上述したトラバーステーブル３１のト
ラバース位置、回転テーブル２９の回転位置等は前記分
割サイノ用シーケンサ７によりそれぞれトラバース機構
３３および回転機構３５を介して制御されるようになっ
ている。
ラバース機構３３によってトラバーステーブル３１を駆
動して被測定物２７をトラバース位置−Ｘ２に設定する
とともに、また回転機構３５を介して回転テーブル２９
を回転位置θ−４５゜に設定しくステップ１９０）、そ
れから上下動機構４３の制御により上方位置で停止して
いた上下動フレーム３９を再び下降させながら、被ｎ１
定物２７の透過データを検出器２５で検出し、データ収
集部９を介して透過データメモリ１１に収集記憶する（
ステップ２００）。この結果、被）ＰＩ定物２７は第４
図（ｄ）において斜線を施された部分、領域ｄの透過デ
ータを得る。また、上下動フレム３９は下方の停止点で
停止する。なお、上述したトラバーステーブル３１のト
ラバース位置、回転テーブル２９の回転位置等は前記分
割サイノ用シーケンサ７によりそれぞれトラバース機構
３３および回転機構３５を介して制御されるようになっ
ている。
以上のようにして、第４図（ａ）〜（ｄ）に示すように
被測定物２７の全領域ａ、ｂ、ｃ、ｄについての透過デ
ータを収集すると、Ｘ線管２３をオフにしくステップ２
１０）、データ収集を終了する（ステップ２２０）。
被測定物２７の全領域ａ、ｂ、ｃ、ｄについての透過デ
ータを収集すると、Ｘ線管２３をオフにしくステップ２
１０）、データ収集を終了する（ステップ２２０）。
第５図は以上のようにして得られるスキャノグラム画像
を示している。被測定物２７の前記各領域ａ、ｂ、ｃ、
ｄに対する透過データは同図において矢印で示す方向に
順次収集され、透過データメモリ１１に記憶されること
になるが、この矢印の方向は各領域毎に反対となってい
るため、この収集データを前処理部１３を介して分割サ
イノ用並び替え制御部１９に供給し、この分割サイノ′
用並び替え制御部１つにおいて並び替えを行い、第５図
に示すような全体が連続した透過像データとして再生し
て画像メモリ部１７に記憶し、この並び替えた透過像デ
ータを第５図において斜線で示す透過像としてデイスプ
レィ２１で表示するようにしている。
を示している。被測定物２７の前記各領域ａ、ｂ、ｃ、
ｄに対する透過データは同図において矢印で示す方向に
順次収集され、透過データメモリ１１に記憶されること
になるが、この矢印の方向は各領域毎に反対となってい
るため、この収集データを前処理部１３を介して分割サ
イノ用並び替え制御部１９に供給し、この分割サイノ′
用並び替え制御部１つにおいて並び替えを行い、第５図
に示すような全体が連続した透過像データとして再生し
て画像メモリ部１７に記憶し、この並び替えた透過像デ
ータを第５図において斜線で示す透過像としてデイスプ
レィ２１で表示するようにしている。
第６図は本発明の他の実施例の説明図である。
同実施例の装置構成は前述した第１図および第２図に示
した構成と同じであるが、この実施例において前記検出
器２５を構成する複数の検出素子２５ａの各隣接検出素
子間の各ギャップにおける被測定物２７のＸ線透過デー
タも得て画質の向上を図ろうとするものである。すなわ
ち、第６図においてＸ線管２３の焦点Ｓから放射されて
検出器２５ａの各検出素子２５ａで検出される各Ｘ線は
同図の実線で示すように検出素子の間隔によって決まり
、各検出素子間のギャップ部の透過画像データは得られ
ないことになるが、これをカバーするために、同実施例
においては、回転テーブル２９およびトラバーステーブ
ル３１をそれぞれ僅かに回転およびトラバースして同図
において実線の間に相当する点線で示す位置の透過デー
タを検出しようとするものである。
した構成と同じであるが、この実施例において前記検出
器２５を構成する複数の検出素子２５ａの各隣接検出素
子間の各ギャップにおける被測定物２７のＸ線透過デー
タも得て画質の向上を図ろうとするものである。すなわ
ち、第６図においてＸ線管２３の焦点Ｓから放射されて
検出器２５ａの各検出素子２５ａで検出される各Ｘ線は
同図の実線で示すように検出素子の間隔によって決まり
、各検出素子間のギャップ部の透過画像データは得られ
ないことになるが、これをカバーするために、同実施例
においては、回転テーブル２９およびトラバーステーブ
ル３１をそれぞれ僅かに回転およびトラバースして同図
において実線の間に相当する点線で示す位置の透過デー
タを検出しようとするものである。
更に具体的には、前述した実施例では、被測定物２７を
載置するテーブルのトラバース位置Ｘおよび回転位置θ
をそれぞれ （１）Ｘ＝Ｘ２、θ−００ （２）Ｘ＝Ｘ＋ θ−１５＠ （３）Ｘ−−Ｘ＋ θ−３０゜ （４）Ｘ−−Ｘ２ 、θ−４５″ の４ケ所としておいたが、本実施例では、各位置の間に
ΔＸおよびΔθを加えた８ケ所の位置、すなわち （１）Ｘ−Ｘ２ 、θ−０゜ （２）Ｘ−Ｘ２＋ΔＸ１θ−〇″＋Δθ（３）Ｘ−Ｘ、
θ−１５゜ （４）Ｘ＝Ｘ＋ ＋ΔＸ１θ−１５’＋Δθ（５）Ｘ−
−Ｘ＋ θ−３０″ （６）Ｘ−−Ｘ＋ ＋ΔＸ１θ−３０″＋Δθ（７）Ｘ
−−Ｘ２ 、θ−４５’ （８）Ｘ＝−Ｘ２＋ΔＸ１θ−４５″＋Δθの８ケ所の
位置の２倍の透過データを収集し、画質を向上しようと
いうものである。なお、ΔＸは回転テーブル２９の回転
中心でのＸ線通路ピッチの１／２の量であり、またΔθ
は検出素子２５ａのピッチ角φＤの１／２の量である。
載置するテーブルのトラバース位置Ｘおよび回転位置θ
をそれぞれ （１）Ｘ＝Ｘ２、θ−００ （２）Ｘ＝Ｘ＋ θ−１５＠ （３）Ｘ−−Ｘ＋ θ−３０゜ （４）Ｘ−−Ｘ２ 、θ−４５″ の４ケ所としておいたが、本実施例では、各位置の間に
ΔＸおよびΔθを加えた８ケ所の位置、すなわち （１）Ｘ−Ｘ２ 、θ−０゜ （２）Ｘ−Ｘ２＋ΔＸ１θ−〇″＋Δθ（３）Ｘ−Ｘ、
θ−１５゜ （４）Ｘ＝Ｘ＋ ＋ΔＸ１θ−１５’＋Δθ（５）Ｘ−
−Ｘ＋ θ−３０″ （６）Ｘ−−Ｘ＋ ＋ΔＸ１θ−３０″＋Δθ（７）Ｘ
−−Ｘ２ 、θ−４５’ （８）Ｘ＝−Ｘ２＋ΔＸ１θ−４５″＋Δθの８ケ所の
位置の２倍の透過データを収集し、画質を向上しようと
いうものである。なお、ΔＸは回転テーブル２９の回転
中心でのＸ線通路ピッチの１／２の量であり、またΔθ
は検出素子２５ａのピッチ角φＤの１／２の量である。
また回転機構の簡略化のため△θ−０としてもよい。こ
の場合Ｘ線通路の補間がやや不正確になるが実用上はと
んど問題ない。
の場合Ｘ線通路の補間がやや不正確になるが実用上はと
んど問題ない。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば、回転手段および
トラバース手段によって被測定物を所定角度ずつ相対回
転させるとともに、所定距離ずつ相対トラバースさせ、
これらの各回転位置およびトラバース位置において前記
回転の軸に平行な方向に被測定物を相対的に移動させ、
この相対的移動の間に被害測定物の放射線透過データを
収集し、この収集データを並び替えて一連の被測定物の
透過像を表わす透過データを得ているので、被測定物の
透過領域を広く取ることができる。
トラバース手段によって被測定物を所定角度ずつ相対回
転させるとともに、所定距離ずつ相対トラバースさせ、
これらの各回転位置およびトラバース位置において前記
回転の軸に平行な方向に被測定物を相対的に移動させ、
この相対的移動の間に被害測定物の放射線透過データを
収集し、この収集データを並び替えて一連の被測定物の
透過像を表わす透過データを得ているので、被測定物の
透過領域を広く取ることができる。
第１図は本発明の一実施例に係わる分割スキャノグラム
装置の構成を示すブロック図、第２図（ａ）、（ｂ）は
それぞれ第１図の実施例に使用されるスキャナ部の構成
を示す平面図および側面図、第３図は第１図の実施例の
作用を示すフローチャート、第４図は第１図の作用の説
明図、第５図は第１図の実施例で得られる透過画像を示
す図、第６図は本発明の他の実施例の説明図である。 １・・・スキャナ部 ３・・・Ｘ線制御部 ５・・・機構制御部 ７・・・分割サイノ用シーケンサ ９・・・データ収集部 １１・・・透過データメモリ １５・・・再構成制御部 １７・・・画像メモリ部 １９・・・分割サイノ用並び替え制御部２１・・・デイ
スプレィ ２３・・・Ｘ線管 ２５・・・検出器 ２７・・・被測定物 ２９・・・回転テーブル ３１・・・トラバーステーブル ３３・・・トラバース機構 ４３・・・上下動機構
装置の構成を示すブロック図、第２図（ａ）、（ｂ）は
それぞれ第１図の実施例に使用されるスキャナ部の構成
を示す平面図および側面図、第３図は第１図の実施例の
作用を示すフローチャート、第４図は第１図の作用の説
明図、第５図は第１図の実施例で得られる透過画像を示
す図、第６図は本発明の他の実施例の説明図である。 １・・・スキャナ部 ３・・・Ｘ線制御部 ５・・・機構制御部 ７・・・分割サイノ用シーケンサ ９・・・データ収集部 １１・・・透過データメモリ １５・・・再構成制御部 １７・・・画像メモリ部 １９・・・分割サイノ用並び替え制御部２１・・・デイ
スプレィ ２３・・・Ｘ線管 ２５・・・検出器 ２７・・・被測定物 ２９・・・回転テーブル ３１・・・トラバーステーブル ３３・・・トラバース機構 ４３・・・上下動機構
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定物に向けて所定角度を有するファンビーム状の放
射線を発生する放射線発生手段と、被測定物を挾んで前
記放射線発生手段に対向して配設され、被測定物を透過
した前記放射線発生手段からの放射線を検出する検出手
段と、 前記被測定物を前記放射線発生手段と、前記検出手段と
の間で相対的に回転させる回転手段と、前記回転手段に
よる前記回転の軸に直角な方向に被測定物を前記放射線
発生手段および前記検出手段からなる測定系に対して相
対的にトラバースさせるトラバース手段と、前記回転の
軸に平行な方向に被測定物を前記測定系に対して相対的
に移動させる移動手段と、前記放射線発生手段からの放
射線が被測定物の全断面を透過すべく被測定物を所定角
度ずつ回転させるとともに、所定距離ずつトラバースさ
せるように前記回転手段および前記トラバース手段を制
御し、これらの各位置およびトラバース位置において被
測定物に対して前記回転の軸に平行な方向への相対的移
動を行わせるように前記移動手段を制御する制御手段と
、 前記相対的移動の間において前記検出手段で検出した被
測定物の放射線透過データを収集し、この収集データを
並び替えて一連の被測定物の透過像を表す透過データを
得る並び替え手段と、を有することを特徴とするスキャ
ノグラム装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63215282A JP2567052B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | スキャノグラム装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63215282A JP2567052B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | スキャノグラム装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0264442A true JPH0264442A (ja) | 1990-03-05 |
| JP2567052B2 JP2567052B2 (ja) | 1996-12-25 |
Family
ID=16669738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63215282A Expired - Lifetime JP2567052B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | スキャノグラム装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2567052B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03209120A (ja) * | 1990-01-10 | 1991-09-12 | Nippon Steel Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2009063572A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 |
| JP2009063571A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置及びその方法 |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP63215282A patent/JP2567052B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03209120A (ja) * | 1990-01-10 | 1991-09-12 | Nippon Steel Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2009063572A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 |
| JP2009063571A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置及びその方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2567052B2 (ja) | 1996-12-25 |
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Legal Events
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