JPH0266715A - 磁気記録再生装置 - Google Patents

磁気記録再生装置

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JPH0266715A
JPH0266715A JP21871888A JP21871888A JPH0266715A JP H0266715 A JPH0266715 A JP H0266715A JP 21871888 A JP21871888 A JP 21871888A JP 21871888 A JP21871888 A JP 21871888A JP H0266715 A JPH0266715 A JP H0266715A
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gap
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magnetic
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Shinichi Seki
勢木 真一
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野] この発明は磁気ヘッドのギャップの深さを測定する装置
に関する。
[従来の技術] 磁気記録再生装置の中で記録媒体がテープ状の装置やシ
ート状の装置などは、磁気ヘッドと磁気媒体が接触して
相対的に運動する。第6図にビデオテープレコーダ(以
下、rVTRJという)の磁気ヘッドと磁気媒体の接触
の様子を示す。図において(11は磁気ヘッド、(la
)は磁気ヘッド、コア、(Iblはコイル、(Ic)は
ギャップ、Gdはギャップの深さ、Twは記録トラック
の幅を決定するギャップの長さ、(2)は磁気記録媒体
、(10)は磁気ヘット(1)の進行方向である。
第6図に示したように磁気ヘッド(1)と磁気記録媒体
(2)が接触して運動すると磁気へラドコア(la)は
磁気記録媒体(2)によって摩耗し、ギャップ(1G)
の深さGdが小さくなっていく。
この様子を第7図に示す。最初は同図(a)に示すよう
に、ギャップ(lc)の深さGdは大きいが、磁気記録
再生装置を使用することにより、磁気へラドコア(1a
)は摩耗し同図(b)のようになり、ギャップ(Ic)
の深さGdは小さくなる。さらに使用すると、同図(c
)のようになりギャップ(1c)の深さGdはなくなり
磁気ヘッドとして機能しなくなる。磁気ヘット(1)の
単位使用時間当りの摩耗量は磁気ヘット(1)と磁気記
録媒体(2)の相対速度が速いほど人きく、磁気ヘット
(1)と磁気記録媒体(2)の接触面圧が大きいほど人
きく、湿度が高いほど大きいことが知られている。
また、湿度や、はこりや、運用状態(連続使用か間歇使
用か)によって単位使用時間当りの摩耗量は変化する。
相対速度が速く、信頼性が要求される例えば、放送用V
TRなどのV 1−11では、一定時間使用すると磁気
ヘット(1)を交換して、使用途中でギャップ(lc)
の深さG dがなくなることがないようにしている。
[発明が解決しようとする課題] このように、従来の磁気記録再生装置では、ギャップの
深さGdの値を知ることができないため、一定時間使用
すると磁気ヘットを交換しているが、磁気ヘットの摩耗
量は温度や湿度やほこりなどによって変わるため磁気ヘ
ットの交換時期は平均的な磁気ヘットのみ命よりかなり
短くしなければ充分な信頼性が得られないのでギャップ
の深さGdが充分に大きい磁気ヘッドを交換する場合も
あり、経済的にも不利益となるので適切なヘッドギャッ
プ深さの測定装置の開発が望まれていた。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、磁気ヘットのギャップ深さを非破壊でもって
測定でき、磁気ヘットの適切な交換時期を弁別すること
ができる測定装置を得ることを目的とする。
[課題を解決するだめの手段] この発明に係るギャップ深さ測定装置は磁気ヘットの飽
和特性を測定する手段と、この測定した飽和特性よりギ
ャップ深さを算出する手段とを備えたものである。
[作用] この発明における飽和特性測定手段は、磁気ヘッドのギ
ャップ部分が飽和する磁束を測定し、ヘットギへ・ツブ
深さ算出手段は、この測定した飽和磁束と、当該磁気コ
アの飽和磁束密度と、磁気へラドのトラック幅(ギャッ
プj〈さ)との関係より磁気ヘットのギA・ツブ深さを
算出する。
[発明の実施例] 以トー、この発明の一実施例を、VTRに組み込んだ例
について説明する。第1図において、(3)はロータリ
ートランス、(4)はスイッチ、(5)は記録再生装置
、(52)は記録回路、(53)は再生回路、(51)
は記録再生動作を切り換えるスイッチ、(5)はギャッ
プ深さ測定装置、(61)は磁気ヘッド(1)に試験信
シJを送出する信号源、(62)は信号源(61)の出
力電流の波形を測定し、ディジタルブタに変換して出力
する電流言1、(63)は信号源(61)の出力電圧波
形を測定し、ディジタルデータに変換して出力する電圧
計、(64)は電流計(62)と電圧計(63)の測定
データ、および予め与えられたブタより磁気ヘッド(1
)のギャップ深さを計算する手段であるコンピュータで
ある。
V i” Rとしての通常の使用状態では、スイッチ(
4)は端子a側に閉じられ、磁気ヘッド(1)は、記録
再生装置(5)に接続されている。
磁気ヘット(1)のギャップ深さを測定する場合はスイ
ッチ(4)は端了す側に閉じられ、磁気ヘット(1)は
ギャップ深さ測定装置(6)側へ接続される。
この場合の等節回路を第2図に示す。ただしロタリート
ランス(3)は理想的なものとして省略している。
第2図において、(11)は磁気ヘット(1)のコイル
(l b l自身の抵抗成分、(12)は磁気ヘット(
1)のインダクタンス成分、(61a)は、信号源(6
1)の内部起電力、(61bl は信号源(6I)の内
部インピーダンス、■は磁気ヘット(1)に流れる電流
、Φは磁気コア(1)を通る磁束、Ti j、trrI
i気ヘット(1)のコイル(Ib)の両端に発生ずる電
圧、F、 2はインダクタンス成分(12)に発生する
電圧、Elは抵抗成分(11)に発生する電圧である。
磁気ヘット(1)のコイル(lblの巻数をNとすると
、インダクタンス成分によって発生ずる電圧E1は(1
)式で表わされ、抵抗成分(11)の抵抗値をF7とす
れば、抵抗成分(jl)に発生ずる電圧ト:2は(2)
式で表わされ、磁気ヘッド(1)のコイル(Iblの両
端に発生ずる電圧Eは(3)式で表わされる。なお式中
dΦは磁束の時間微分である。
dし 1−、 2 XR ・・・ (2) El +I饗 (3)式を磁束Φについて解けば となる。また起磁力Nlは N  I  =NX  1          ・・・
 (5)となる。
(4)式と(5)式から磁気ヘット(1)のコイル(1
b)の巻数Nと、抵抗成分の値Rをあらかじめ求めてお
けば、磁気ヘッド(11に流れる電流Iの波形を電流計
(62)で、また、磁気ヘット(1)のコイル(1b)
の両端に発生ずる電圧Eの波形を電圧計(63)で同時
に測定し、測定データをコンピュータ(64)で処理す
ることにより、磁束Φと起磁力Nlの波形を求めること
ができる。このようにして求めた起磁力NIと、磁束Φ
との関係は、第3図(a)のようなヒステリシスグルー
プとなる。第4図に磁気コア(Ialの中を通る磁束の
流れを示す。図において、ΦCは磁気コア(1a)の中
だけを通る磁束であり、ΦLはギャップ(1c)近傍の
断面積が小さくなっている所において磁気コア(1日)
の外に漏出する磁束でありコイル(1b)に鎖交する磁
束ΦはΦCにΦ!を加えたものである。第3図ib)は
起磁力N1に対する磁束ΦCの特性を、第3図(c)は
起磁力NIに対する磁束ΦLを示す特性図で、コンピュ
ータ(54)における演算によって算出され、第3図(
a)はこれらΦGとΦtの特性の市ね合せとして表わさ
れる。第3図[bl において磁束ΦCはΦsで飽和す
る。このΦsの値は磁気コア(1a)の飽和磁束密度B
sと磁気コア(1a)の最小断面積、つまりギャップ(
lclの部分の断面積Sで定まり(5)式のようになる
Φs:B5X5      −(6) このΦsはコンピュータ(64)における演算によって
算出される。第3図(a)においては、ギャップ部分が
飽和した後の部分を起磁力Nlが0(縦軸)まで外挿し
た時の磁束である。このようにしてギャップ部分が飽和
する磁束Φsを求めることができる。ギャップ(1e)
の部分の断面形状が長方形である場合は、断面積Sはト
ラック幅すなわち、ギャップ(lc)の長さTwと、ギ
ャップ(lclの深さGdで定まり、(7)式のように
なる。(6)式と(7)式よりギャップ(IC)の深さ
Gdは、(8)式となる。
S = T”w  X Gd       =  (7
)(8)式においてΦsは上記の測定によって得ること
ができ′1゛wは光学的な方法で精度よく測定でき、磁
気ヘッド(1)によって定まっている値である。Bsは
磁気コア(1a)の材料によって定まる値で、加工によ
って変化しないことが知られているので、あらかじめ測
定しておけばよい。このようにこの実施例においては、
磁気コア(1a)の材料の飽和磁束密度Bsと、トラッ
ク幅−F’ wとコイル(Iblの巻数Nが解っていれ
ば、電気的な測定で磁束Φsを知ることによって磁気ヘ
ットのギャップ(1c)の深さGdを測定することがで
き、磁気ヘットの適切な交換時期を判別することができ
る。
なお、」1記実施例では、信号源(61)の出力電流波
形と、出力電圧波形とによって磁気ヘットの飽和特性を
求めたが、他の方法でもよく、例えば第5図に示すよう
に信号源(61)の出力電流の平均値又は実効値を電流
計(62)で測定し、出力電圧の平均値又は実効値を電
圧計(63)で測定するように構成しておき、信号源(
61)の出力をアッテネータ(65)によって出力レベ
ルを可変することにより飽和特性を求めるようにしても
よい。この場合電圧計(63)と電流計(52)はそれ
ぞれ電圧及び電流の平均値又は実効値を測定すればよい
ので、安価な測定装置に構成できる効果がある。
なお、」1記実施例では磁気ヘットのギャップ深さ測定
装置(6)をv ”−t’ Rの内部に備えたが、独立
の測定装置に構成し、測定時に磁気ヘットと接続する構
成としてもよい。
なお、−1−記実施例では放送用V ’T’ Rの場合
に適用した場合について述へたが他の磁気記録再生装置
、例えばフロッピーディスク装置などに適用して同様の
効果が得られる。
[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、磁気ヘット飽和性f
1を測定し、この測定値からギャップ深さを算出するよ
うにしたので最適な磁気ヘットの交換時期を知ることが
できる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明をVTRに適用した一実施例の構成を
示すブロック回路図、第2図はこの実施例における磁気
ヘットの磁気特性測定時の等価回路図、第3図はこの実
施例によって測定した磁気ヘッドの磁気飽和特性を示す
図、第4図(a)は磁気ヘットを示す正面図、第4図(
b)は磁気ヘットの磁束の流れを示す平面図、第5図は
この発明の他の実施例のブロック回路図、第6図は磁気
ヘットと磁気記録媒体の接触の様子を示す図、第7図は
磁気ヘットの摩耗の様子を示す図である。 (1)・・・磁気ヘット、(IC)・・・ギャップ、(
6)・・・ギャップ深さ測定装置、(61)・・・信し
源、(62)・・・電流計、(63)・・・電圧計、(
64)・・・コンピュータ、(65)・・・アッテネー
タ。 なお、各図中、同−符可は同一、または相当部分を示す
。 代理人     人  岩  増  雄第3図 第4図 手 続 補 正 圭 (自発) 補正の対象 明細書の 「発明の詳細な説明」 の欄 補正の内容 明細書: (1)第2頁第5行目ないし第2頁第6行目;2、発明
の名称 「ヘラ ド 拳コア」 とあるのを 「ヘッドコア」 と 磁気ヘットのギャップ深さ測定装置 訂正します。 3、補正をする者 以 上 事件との関係

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)磁気ヘッドの磁気飽和特性を測定する手段と、こ
    の測定手段で測定したヒステリシス特性から当該磁気ヘ
    ッドのギャップ部分の飽和磁束Φsを検出し、次式 Gd=Φs/(Tw×Bs) ただしGd:ギャップの深さ Tw:トラック幅(ギャップの長さ) Bs:磁気ヘッドコアの飽和磁束密度 からギャップの深さGdを算出する手段とを備えた磁気
    ヘッドのギャップ深さ測定装置。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS543516A (en) * 1977-06-09 1979-01-11 Sanyo Electric Co Ltd Depth fabricating method of audio magnetic heads
JPS55169635U (ja) * 1979-05-23 1980-12-05
JPH0727620A (ja) * 1993-07-07 1995-01-31 Terumo Corp 体温データ管理システム

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