JPH027021B2 - - Google Patents
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- JPH027021B2 JPH027021B2 JP54116921A JP11692179A JPH027021B2 JP H027021 B2 JPH027021 B2 JP H027021B2 JP 54116921 A JP54116921 A JP 54116921A JP 11692179 A JP11692179 A JP 11692179A JP H027021 B2 JPH027021 B2 JP H027021B2
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- Japan
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
- G01N21/8915—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined non-woven textile material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電線等の線条体の外観検査装置に関
するものである。
するものである。
電線のような線条体を製造するときは、種々の
原因でその表面に外観上の欠陥を生ずることがあ
る。
原因でその表面に外観上の欠陥を生ずることがあ
る。
外観上の欠陥としては、表面の粒、筋、凹所、
局部的な変色、長尺にわたる色相変化等がある
が、従来は製造工程で作業者が目視で判断する場
合が多かつた。
局部的な変色、長尺にわたる色相変化等がある
が、従来は製造工程で作業者が目視で判断する場
合が多かつた。
しかし、顧客の要望が高まるにつれて種々の検
査装置が用いられるようになつてきた。
査装置が用いられるようになつてきた。
例えば、エナメル線表面の色の濃さや局部的な
変色を検査するものとして、反射型光電スイツチ
式色差計や積分球式色差計等が用いれている。
変色を検査するものとして、反射型光電スイツチ
式色差計や積分球式色差計等が用いれている。
反射型光電スイツチ式色差計は線状体に円形の
照明スポツトを当てているので、そのスポツト内
で線の位置が変動するだけでも、測定条件が変化
し出力レベルが大きく変動し、線条体の全周検査
ができない等の欠点をもつている。
照明スポツトを当てているので、そのスポツト内
で線の位置が変動するだけでも、測定条件が変化
し出力レベルが大きく変動し、線条体の全周検査
ができない等の欠点をもつている。
また、線条体のうねりや局部的な欠陥に影響さ
れずに、長尺にわたつて色相変化を正確に求める
ためには、出力の平均値処理回路が更に必要とな
る等の問題点があつた。
れずに、長尺にわたつて色相変化を正確に求める
ためには、出力の平均値処理回路が更に必要とな
る等の問題点があつた。
一方、積分球式色差計は線条体の全周について
色相の変化を検知することができるが、色相表示
をXYZ色座標値で表示するために装置が大型と
なり高価となつていた。
色相の変化を検知することができるが、色相表示
をXYZ色座標値で表示するために装置が大型と
なり高価となつていた。
また、色座標値を演算するのに時間を要し、連
続的な検査には不適当で、局部的な変色欠陥を見
落す恐れがある等の問題点を持つている。
続的な検査には不適当で、局部的な変色欠陥を見
落す恐れがある等の問題点を持つている。
本発明は、連続的に正確に検査することができ
る線条体の外観検査装置を提供することを目的と
し、その要旨とするところは、連続移動する線条
体の外観検査装置において、前記線条体の同一位
置における外周面上複数個所からの反射光を集合
し狭帯域フイルタを通過させて受光素子により検
知する反射光量検知系と、前記反射光量検知系の
出力信号をローパスフイルタを通して一定時間積
分することにより色相欠陥を検知して表示する一
方、該出力信号をハイパスフイルタを通して高周
波成分のみを分離することにより局部的欠陥を検
知して計数表示する信号処理装置とからなり、こ
こに前記狭帯域フイルタは線条体の表面色光を選
択吸収する干渉フイルタからなることを特徴とす
る線条体の外観検査装置にある。
る線条体の外観検査装置を提供することを目的と
し、その要旨とするところは、連続移動する線条
体の外観検査装置において、前記線条体の同一位
置における外周面上複数個所からの反射光を集合
し狭帯域フイルタを通過させて受光素子により検
知する反射光量検知系と、前記反射光量検知系の
出力信号をローパスフイルタを通して一定時間積
分することにより色相欠陥を検知して表示する一
方、該出力信号をハイパスフイルタを通して高周
波成分のみを分離することにより局部的欠陥を検
知して計数表示する信号処理装置とからなり、こ
こに前記狭帯域フイルタは線条体の表面色光を選
択吸収する干渉フイルタからなることを特徴とす
る線条体の外観検査装置にある。
第１図は、本発明の一実施例である線条体の外
観検査装置の系統図である。
観検査装置の系統図である。
光源１より発生した光束をコンデンサレンズ２
によつて集光し、熱線吸収フイルタ３を通過させ
る。熱線吸収フイルタ３では必要な可視光以外の
赤外線等を除き、その後の光学部品の温度上昇を
防止している。
によつて集光し、熱線吸収フイルタ３を通過させ
る。熱線吸収フイルタ３では必要な可視光以外の
赤外線等を除き、その後の光学部品の温度上昇を
防止している。
熱線吸収フイルタ３を通過した光束は光彩絞り
４によつて不必要な光が除かれ、光源の像が生ず
る位置に設置した小孔状の絞り５で光源像の輝度
が大きい部分を選択して通過させる。
４によつて不必要な光が除かれ、光源の像が生ず
る位置に設置した小孔状の絞り５で光源像の輝度
が大きい部分を選択して通過させる。
なお、絞り５の位置は対物レンズ７の焦点に合
致させている。
致させている。
絞り５を通過した光は、斜め45度に傾けて設置
したハーフミラー６に入射する。
したハーフミラー６に入射する。
ハーフミラー６は平行平面のガラス板の片面に
アルミニウム等を半透明の状態に真空蒸着させた
もので、入射した光束の1/2の光量を直角方向に
反射させると共に他の光量を透過させる。
アルミニウム等を半透明の状態に真空蒸着させた
もので、入射した光束の1/2の光量を直角方向に
反射させると共に他の光量を透過させる。
この透過した光は、器壁等に吸収されて消滅す
る。ハーフミラー６で反射した光束が対物レンズ
７を通過した後は、平行光束９となる。
る。ハーフミラー６で反射した光束が対物レンズ
７を通過した後は、平行光束９となる。
線状体８は紙面に垂直な方向に移動し、光束９
の中心上に設置されているので、光束９の中心光
Ｃは線状体８の前面で反射し、再び同じ経路を戻
る一方、同辺の光ａ，ｂはミラー１０ａ，１０ｂ
で反射して、線状体８の中心方向に進み、線状体
８の表面で反射して、再び同じ経路を戻る。
の中心上に設置されているので、光束９の中心光
Ｃは線状体８の前面で反射し、再び同じ経路を戻
る一方、同辺の光ａ，ｂはミラー１０ａ，１０ｂ
で反射して、線状体８の中心方向に進み、線状体
８の表面で反射して、再び同じ経路を戻る。
換言すれば、光ａ，ｂはミラー１０ａ，１０ｂ
によつて線条体８の円周を120度間隔で分割する
２点で線条体８の中心に向うように入射してい
る。したがつて、線条体８の中心位置を合致させ
れば、線径が異る場合においても、線条体８を代
表する３点の反射光を得ることができる。
によつて線条体８の円周を120度間隔で分割する
２点で線条体８の中心に向うように入射してい
る。したがつて、線条体８の中心位置を合致させ
れば、線径が異る場合においても、線条体８を代
表する３点の反射光を得ることができる。
このようにして、線条体８の表面で反射した光
は、再び対物レンズ７を通り、ハーフミラー６を
通過する。
は、再び対物レンズ７を通り、ハーフミラー６を
通過する。
このとき光量の1/2は光源１の方向に戻る。ハ
ーフミラー６を透過した光束は絞り１１，１２で
余分な光が除去され、受光用レンズ１３を通つて
狭帯域フイルタ１４に入射する。
ーフミラー６を透過した光束は絞り１１，１２で
余分な光が除去され、受光用レンズ１３を通つて
狭帯域フイルタ１４に入射する。
狭帯域フイルタ１４は干渉フイルタのような透
過波長幅の狭いもので、これによつて線条体８の
表面反射光の一部が選択される。
過波長幅の狭いもので、これによつて線条体８の
表面反射光の一部が選択される。
即ち、エナメル線のように黄色系の表面色の場
合は青色光を透過させる干渉フイルタを用いれ
ば、エナメル色の変化によつて透過光量は大きく
変化する。
合は青色光を透過させる干渉フイルタを用いれ
ば、エナメル色の変化によつて透過光量は大きく
変化する。
このような狭帯域フイルタがない場合には、光
源が例えば普通の赤外線ランプで要するに赤外線
領域で線条体表面の色相差を検知するとなると、
そのような色相差は出力信号としては極僅かしか
表われず読み取ることが難しい。
源が例えば普通の赤外線ランプで要するに赤外線
領域で線条体表面の色相差を検知するとなると、
そのような色相差は出力信号としては極僅かしか
表われず読み取ることが難しい。
この光量の変化は受光素子１５で検知され、そ
の出力信号は処理装置１６に送られる。
の出力信号は処理装置１６に送られる。
このような線状体８の表面反射光量を測定する
光学系において、上記光ａ，ｂ，ｃは光束を代表
した３線であり、平行光束９は無数の光よりなる
ことは勿論である。
光学系において、上記光ａ，ｂ，ｃは光束を代表
した３線であり、平行光束９は無数の光よりなる
ことは勿論である。
また、絞り１２は面積をもつているので、光
ａ，ｂ，ｃが反射した付近の線条体８の表面の状
態も平均して検知されることになる。
ａ，ｂ，ｃが反射した付近の線条体８の表面の状
態も平均して検知されることになる。
即ち、線条体８の表面の反射光量レベルを検知
しているものであり、表面に欠陥が存在すると、
その部分の反射光量は変化し全体の光量も変化す
る。線条体８の表面に粒のような突起があるとき
は、検知光量はピーク状に増し、筋や凹みがある
ときは低いレベルとなる。
しているものであり、表面に欠陥が存在すると、
その部分の反射光量は変化し全体の光量も変化す
る。線条体８の表面に粒のような突起があるとき
は、検知光量はピーク状に増し、筋や凹みがある
ときは低いレベルとなる。
また、表面色相が明るいときは出力レベルが高
く暗い色相のときは低レベルとなることが実験の
結果でも確かめられた。
く暗い色相のときは低レベルとなることが実験の
結果でも確かめられた。
また、これらの欠陥の発生状況は、粒、凹みお
よび局部的変色は不連続であり、色相の欠陥は一
般になだらかな変化を示し、かなりの距離を経て
色相差が判明する。
よび局部的変色は不連続であり、色相の欠陥は一
般になだらかな変化を示し、かなりの距離を経て
色相差が判明する。
したがつて、色相欠陥を知るには、まず線条体
８の曲りやうねりおよび局部的な欠陥による現象
を除いて把握する必要がある。
８の曲りやうねりおよび局部的な欠陥による現象
を除いて把握する必要がある。
第２図は第１図の処理装置のブロツク線図であ
る。
る。
図において、１６は受光素子１５の検知信号、
１７はローパスフイルタ、１８は積分回路、１９
は色相レベル表示器、２０はハイパスフイルタ、
２１は高目閾値回路、２２は低目閾値回路、２
３，２４はカウンタである。
１７はローパスフイルタ、１８は積分回路、１９
は色相レベル表示器、２０はハイパスフイルタ、
２１は高目閾値回路、２２は低目閾値回路、２
３，２４はカウンタである。
検知信号１６はローパスフイルタ１７とハイパ
スフイルタ２０に入力される。
スフイルタ２０に入力される。
ローパスフイルタ１７に入つた検知信号１６
は、その中に含まれている局部欠陥により、信号
成分がカツトされ、積分回路１８で一定時間積分
される。
は、その中に含まれている局部欠陥により、信号
成分がカツトされ、積分回路１８で一定時間積分
される。
この積分値は線条体８の或長さ区間の平均色相
を示すものであり、色相レベル表示器１９に表示
される。
を示すものであり、色相レベル表示器１９に表示
される。
一方、ハイパスフイルタ２０に入つた検知信号
１６は、粒、凹み、局部的な変色等を示す高周減
成分信号だけが通過し、高目閾値回路２１，低目
閾値回路２２で欠陥の判定を行う。
１６は、粒、凹み、局部的な変色等を示す高周減
成分信号だけが通過し、高目閾値回路２１，低目
閾値回路２２で欠陥の判定を行う。
この欠陥に対応する信号の変動はカウンタ２
３，２４で欠陥の個数をして計数表示される。
３，２４で欠陥の個数をして計数表示される。
したがつて、線条体８の表面色相と表面欠陥は
独立に検知表示することが可能となる。
独立に検知表示することが可能となる。
なお、受光側の絞り１２に近接して受光用レン
ズ１３を設置し、絞り１１の像を受光素子の光電
検知面に結像させているので、受光位置の変動を
生ずることがなく、検知精度は向上している。
ズ１３を設置し、絞り１１の像を受光素子の光電
検知面に結像させているので、受光位置の変動を
生ずることがなく、検知精度は向上している。
また、線条体８は平行光束で照明されているの
で、線条体８が少々移動しても受光側の絞り１２
に線条体８の反射光は到達し、安定した出力が得
られる。
で、線条体８が少々移動しても受光側の絞り１２
に線条体８の反射光は到達し、安定した出力が得
られる。
以上本実施例の線条体の外観検査装置は、線条
体の120度離れた３点からの反射光量を、線条体
８の表面色を吸収する狭帯域フイルタを通過させ
て検知し、この検知信号を高周波成分と低周波成
分とに分離して測定、表示することによつて、連
続移動する線条体の欠陥を高精度にして高精度に
検査することができるという効果をもつている。
体の120度離れた３点からの反射光量を、線条体
８の表面色を吸収する狭帯域フイルタを通過させ
て検知し、この検知信号を高周波成分と低周波成
分とに分離して測定、表示することによつて、連
続移動する線条体の欠陥を高精度にして高精度に
検査することができるという効果をもつている。
第３図は第１図の変形例である線条体の外観検
査装置の系統図であり、第１図と同じ部分には同
一符号を付してある。
査装置の系統図であり、第１図と同じ部分には同
一符号を付してある。
この場合は光源１から光束をハーフミラー６で
集光させ、対物レンズ７とミラー１０間は平行光
束でない状態で線条体８に入射させている。
集光させ、対物レンズ７とミラー１０間は平行光
束でない状態で線条体８に入射させている。
したがつて、線条体８への入射光と反射光とは
異なる経路を辿ることになるが、作用、効果は第
１図の場合と同様で、光源１とハーフミラー６の
間隔が短縮されるという利点を生じている。
異なる経路を辿ることになるが、作用、効果は第
１図の場合と同様で、光源１とハーフミラー６の
間隔が短縮されるという利点を生じている。
本発明の線条体の外観検査装置は、連続的に移
動する線条体の欠陥を特に色相変化を狭帯域フイ
ルタを通して高精度にきわめて正確に検査するこ
とができるという効果をもつている。
動する線条体の欠陥を特に色相変化を狭帯域フイ
ルタを通して高精度にきわめて正確に検査するこ
とができるという効果をもつている。
第１図は本発明の一実施例である線条体の外観
検査装置の系統図、第２図は第１図の処理装置の
ブロツク線図、第３図は第１図の変形例である線
条体の外観検査装置の系統図である。 １：光源、２：コンデンサレンズ、３：熱線吸
収フイルタ、４：光彩絞り、５，１１，１２：絞
り、６：ハーフミラー、７：対物レンズ、８：線
条体、１０：ミラー、１３：受光用レンズ、１
４：狭帯域フイルタ、１５：受光素子、１６：処
理装置、１７：ローパスフイルタ、１８：積分回
路、１９：色相レベル表示器、２０：ハイパスフ
イルタ、２１：高目閾値回路、２２：低目閾値回
路、２３，２４：カウンタ。
検査装置の系統図、第２図は第１図の処理装置の
ブロツク線図、第３図は第１図の変形例である線
条体の外観検査装置の系統図である。 １：光源、２：コンデンサレンズ、３：熱線吸
収フイルタ、４：光彩絞り、５，１１，１２：絞
り、６：ハーフミラー、７：対物レンズ、８：線
条体、１０：ミラー、１３：受光用レンズ、１
４：狭帯域フイルタ、１５：受光素子、１６：処
理装置、１７：ローパスフイルタ、１８：積分回
路、１９：色相レベル表示器、２０：ハイパスフ
イルタ、２１：高目閾値回路、２２：低目閾値回
路、２３，２４：カウンタ。
Claims (1)
- １ 連続移動する線条体の外観検査装置におい
て、前記線条体の同一位置における外周面上複数
個所からの反射光を集合し狭帯域フイルタを通過
させて受光素子により検知する反射光量検知系
と、前記反射光量検知系の出力信号をローパスフ
イルタを通して一定時間積分することにより色相
欠陥を検知して表示する一方、該出力信号をハイ
パスフイルタを通して高周波成分のみを分離する
ことにより局部的欠陥を検知して計数表示する信
号処理装置とからなり、ここに前記狭帯域フイル
タは線条体の表面色光を選択吸収する干渉フイル
タからなることを特徴とする線条体の外観検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11692179A JPS5640744A (en) | 1979-09-12 | 1979-09-12 | Inspection device for external appearance of thread |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11692179A JPS5640744A (en) | 1979-09-12 | 1979-09-12 | Inspection device for external appearance of thread |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5640744A JPS5640744A (en) | 1981-04-17 |
| JPH027021B2 true JPH027021B2 (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=14698958
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11692179A Granted JPS5640744A (en) | 1979-09-12 | 1979-09-12 | Inspection device for external appearance of thread |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5640744A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4616139A (en) * | 1983-05-31 | 1986-10-07 | Hauni-Werke Korber & Co. Kg. | Apparatus for optical scanning of the exterior of a moving cigarette rod or the like |
| JP3635657B2 (ja) | 2001-01-22 | 2005-04-06 | ツインバード工業株式会社 | サイクロン式掃除機 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5249083A (en) * | 1975-10-17 | 1977-04-19 | Hitachi Ltd | Device for detecting surface defects of one dimensionally continuous o bjects to be examined |
| JPS609206B2 (ja) * | 1979-08-22 | 1985-03-08 | 工業技術院長 | 水素炎の着色剤 |
-
1979
- 1979-09-12 JP JP11692179A patent/JPS5640744A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5640744A (en) | 1981-04-17 |
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