JPH02703Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH02703Y2 JPH02703Y2 JP13000482U JP13000482U JPH02703Y2 JP H02703 Y2 JPH02703 Y2 JP H02703Y2 JP 13000482 U JP13000482 U JP 13000482U JP 13000482 U JP13000482 U JP 13000482U JP H02703 Y2 JPH02703 Y2 JP H02703Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- continuity
- test
- contacts
- transformer
- Prior art date
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- Expired
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は、音響機器及び映像機器に使用されて
いる各種変成器の耐電圧試験装置に関する。
いる各種変成器の耐電圧試験装置に関する。
従来の構成とその問題点
従来の試験装置においては、第１図に示す様
に、試験装置本体５からリード線を介してテスト
棒又は治具などの一対の接触子６が導出されてお
り、供試変成器１の例えば一次コイル２と二次コ
イル３間の耐電圧試験を行なう場合には、接触子
６を一次コイル２及び二次コイル３に接触させ、
試験装置本体５から接触子６に所定の電圧を印加
していた。ところが、接触子６が接触していない
場合、不良品であつても良品と判断してしまうと
いう問題があつた。
に、試験装置本体５からリード線を介してテスト
棒又は治具などの一対の接触子６が導出されてお
り、供試変成器１の例えば一次コイル２と二次コ
イル３間の耐電圧試験を行なう場合には、接触子
６を一次コイル２及び二次コイル３に接触させ、
試験装置本体５から接触子６に所定の電圧を印加
していた。ところが、接触子６が接触していない
場合、不良品であつても良品と判断してしまうと
いう問題があつた。
考案の目的
本考案は、上記問題点に鑑み、接触子が接触し
ているか否かを検出できる様にした耐電圧試験装
置の提供を目的とする。
ているか否かを検出できる様にした耐電圧試験装
置の提供を目的とする。
考案の構成
本考案は、この目的を達成するため、試験電圧
を印加する第１の接触子と、該第１の接触子とは
別の第２の接触子を設け、これら両接触子間の導
通検出回路を設け、この導通検出回路にて前記第
１の接触子の接触状態を確認し、試験電圧が印加
されたか否かを判断できる様にした変成器の耐電
圧試験装置を提供する。
を印加する第１の接触子と、該第１の接触子とは
別の第２の接触子を設け、これら両接触子間の導
通検出回路を設け、この導通検出回路にて前記第
１の接触子の接触状態を確認し、試験電圧が印加
されたか否かを判断できる様にした変成器の耐電
圧試験装置を提供する。
実施例の説明
以下、本考案の実施例を第２図乃至第４図によ
り説明する。なお、第１図で説明したものと実質
的に同一の構成要素については同一の参照番号を
付して説明を省略する。第２図は第１図と同様に
一次コイル２と二次コイル３間の耐電圧を試験し
ている状態を示している。７は、第１図における
接触子６と同様の試験用の所定の電圧を印加する
一対の第１の接触子であり、８はこの第１の接触
子７とは別に設けられた一対の第２の接触子であ
つて、それぞれ一次コイル２及び二次コイル３に
互いに離間して接触せしめられている。９はこれ
ら第１及び第２の接触子７，８間の導通状態を検
出する導通検出器であり、第１及び第２の接触子
７，８と導通検出器９により、被検出体である一
次コイル２又は二次コイル３との接触により閉じ
られる導通検出回路１０が構成されている。な
お、導通検出器９としては、第４図に示す様な構
成のものを採用することができる。すなわち、第
４図において１１は交流電源、１２は導通試験用
電源トランス、１３は導通電流検出トランス、１
４は導通電流検出トランジスタ、１５は直流電
源、１６は導通信号負荷であり、第１と第２の接
触子７，８間に電源トランス１２にて導通試験電
圧を印加すると、導通している場合は導通検出回
路１０が閉じてて電流が流れ、これにより検出ト
ランス１３を介して検出トランジスタ１４がオン
して導通信号負荷１６が動作し、導通していない
場合は導通検出回路１０が閉じないので動作しな
い。この導通検出回路９は、試験装置本体５内に
組込むことができる。４は変成器１の鉄芯であ
る。
り説明する。なお、第１図で説明したものと実質
的に同一の構成要素については同一の参照番号を
付して説明を省略する。第２図は第１図と同様に
一次コイル２と二次コイル３間の耐電圧を試験し
ている状態を示している。７は、第１図における
接触子６と同様の試験用の所定の電圧を印加する
一対の第１の接触子であり、８はこの第１の接触
子７とは別に設けられた一対の第２の接触子であ
つて、それぞれ一次コイル２及び二次コイル３に
互いに離間して接触せしめられている。９はこれ
ら第１及び第２の接触子７，８間の導通状態を検
出する導通検出器であり、第１及び第２の接触子
７，８と導通検出器９により、被検出体である一
次コイル２又は二次コイル３との接触により閉じ
られる導通検出回路１０が構成されている。な
お、導通検出器９としては、第４図に示す様な構
成のものを採用することができる。すなわち、第
４図において１１は交流電源、１２は導通試験用
電源トランス、１３は導通電流検出トランス、１
４は導通電流検出トランジスタ、１５は直流電
源、１６は導通信号負荷であり、第１と第２の接
触子７，８間に電源トランス１２にて導通試験電
圧を印加すると、導通している場合は導通検出回
路１０が閉じてて電流が流れ、これにより検出ト
ランス１３を介して検出トランジスタ１４がオン
して導通信号負荷１６が動作し、導通していない
場合は導通検出回路１０が閉じないので動作しな
い。この導通検出回路９は、試験装置本体５内に
組込むことができる。４は変成器１の鉄芯であ
る。
以上の構成において、第１の接触子７及び第２
の接触子８を、耐電圧試験を行うべき一次コイル
２と二次コイル３の各々にそれぞれ接触せしめ、
試験装置本体５により第１の接触子７，７間に所
定の電圧を印加して一次コイル２と二次コイル３
間の耐圧試験を行なう。その際、第１の接触子７
及び第２の接触子８が接触しておれば、上述の通
り導通検出器９が動作して接触状態が確認され、
正常に耐圧試験が行なわれたことが確認される。
また接触不良のために試験装置本体５からの試験
電圧が印加されていないときは、導通検出器９が
動作しないので、そのことが判断できる。
の接触子８を、耐電圧試験を行うべき一次コイル
２と二次コイル３の各々にそれぞれ接触せしめ、
試験装置本体５により第１の接触子７，７間に所
定の電圧を印加して一次コイル２と二次コイル３
間の耐圧試験を行なう。その際、第１の接触子７
及び第２の接触子８が接触しておれば、上述の通
り導通検出器９が動作して接触状態が確認され、
正常に耐圧試験が行なわれたことが確認される。
また接触不良のために試験装置本体５からの試験
電圧が印加されていないときは、導通検出器９が
動作しないので、そのことが判断できる。
第３図は、一次コイル２と鉄芯４間の耐圧試験
を行なつている状態を示しており、作用は第２図
における説明と同様である。
を行なつている状態を示しており、作用は第２図
における説明と同様である。
考案の効果
本考案の耐電圧試験装置によれば、以上の説明
から明らかな様に、試験電圧を印加する第１の接
触子と、この第１の接触子とは別の第２の接触子
を設け、これら両接触子間の導通検出回路を設け
ているので、接触子が接触不良の場合は検出する
ことができ、接触不良によつて不良品を良品とし
て判断する様なことがなくなる。
から明らかな様に、試験電圧を印加する第１の接
触子と、この第１の接触子とは別の第２の接触子
を設け、これら両接触子間の導通検出回路を設け
ているので、接触子が接触不良の場合は検出する
ことができ、接触不良によつて不良品を良品とし
て判断する様なことがなくなる。
第１図は従来例の概略構成図、第２図及び第３
図は本考案の一実施例を示し、第２図は一次コイ
ルと二次コイル間の耐電圧試験を行なつている状
態の概略構成図、第３図はコイルと鉄芯間の耐電
圧試験を行なつている状態の概略構成図、第４図
は導通検出器の一例の回路図である。 １は変成器、２は一次コイル、３は二次コイ
ル、４は鉄芯、５は試験装置本体、７は第１の接
触子、８は第２の接触子、９は導通検出器、１０
は導通検出回路。
図は本考案の一実施例を示し、第２図は一次コイ
ルと二次コイル間の耐電圧試験を行なつている状
態の概略構成図、第３図はコイルと鉄芯間の耐電
圧試験を行なつている状態の概略構成図、第４図
は導通検出器の一例の回路図である。 １は変成器、２は一次コイル、３は二次コイ
ル、４は鉄芯、５は試験装置本体、７は第１の接
触子、８は第２の接触子、９は導通検出器、１０
は導通検出回路。
Claims (1)
- 試験電圧を印加する第１の接触子と、この第１
の接触子とは別の第２の接触子を設け、これら両
接触子間の導通検出回路を設けたことを特徴とす
る変成器の耐電圧試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13000482U JPS5934370U (ja) | 1982-08-27 | 1982-08-27 | 変成器の耐電圧試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13000482U JPS5934370U (ja) | 1982-08-27 | 1982-08-27 | 変成器の耐電圧試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5934370U JPS5934370U (ja) | 1984-03-03 |
| JPH02703Y2 true JPH02703Y2 (ja) | 1990-01-09 |
Family
ID=30294388
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13000482U Granted JPS5934370U (ja) | 1982-08-27 | 1982-08-27 | 変成器の耐電圧試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5934370U (ja) |
-
1982
- 1982-08-27 JP JP13000482U patent/JPS5934370U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5934370U (ja) | 1984-03-03 |
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