JPH09243694A - リアクトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】整流器用変圧器が正常な場合は必ず低減電圧の
電流波形と規定電圧の電流波形とが同じになる試験方法
を提供する。 【解決手段】二次巻線ｔを電圧調整リアクトルＶＣＲと
抵抗Ｒとを介して接地し、内蔵された電圧調整リアクト
ルＶＣＲの鉄心Ｆを飽和させない状態でインパルス試験
電圧Ｖを印加する。

Description

【発明の詳細な説明】

【発明の属する技術分野】この発明は、交流−直流変換
装置に用いられる整流器用変圧器のインパルス試験方法
に関し、とくに、装置が正常なときは電流波形に変歪が
生じない試験方法に関する。

【従来の技術】交流−直流変換装置は、整流器用変圧器
と整流器とにより構成され、整流器用変圧器は、電源側
の交流高電圧を直流側で必要な低電圧に変換し、この低
電圧を電圧調整リアクトルを介して整流器に出力するも
のである。この整流器用変圧器の出力を受けて、整流器
が直流に変換して負荷側へ出力する。整流器用変圧器
は、交流側の一次巻線と直流側の二次巻線とを備え、二
次巻線には電圧調整リアクトルが接続されている。この
電圧調整リアクトルには制御巻線が備られ、整流器側へ
の出力電圧の微調整がなされる。整流器用変圧器は高電
圧機器なので、整流器とは分離され、電圧調整リアクト
ルを含めた状態でインパルス試験などの高電圧絶縁試験
が行われる。図１３と図１４とは、従来のリアクトル内
蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方法を示す試験回
路図であり、図１３に一次巻線側の試験回路図を、図１
４に二次巻線側および電圧調整リアクトルの試験回路図
が示されている。この回路図を用いて、整流器用変圧器
の巻線構成と試験方法とを説明する。図１３において、
整流器用変圧器が２つの一次巻線Ｔ１，Ｔ２を備え、そ
れぞれの一次巻線Ｔ１，Ｔ２は星形に結線されるととも
に、各端子１Ｕ，１Ｖ，１Ｗ同士が接続されている。ま
た、図１４において、二次巻線ｔ３，ｔ４は一次巻線Ｔ
１に対応する巻線であり、三角結線されている。一方、
二次巻線ｔ１，ｔ２は一次巻線Ｔ２に対応する巻線であ
り、星形結線されている。二次巻線ｔ１ないしｔ４の各
端子ｕ１，ｖ１，ｗ１，・・・には、それぞれ２台の電
圧調整リアクトルＶＣＲが接続され、合計２４個の出力
端子ｔ０が設けられている。この端子ｔ０のそれぞれに
図示されていない整流器が接続される。二次巻線の各端
子に２台の電圧調整リアクトルＶＣＲが接続されてある
のは、端子ｔ０に整流素子をそれぞれ向きを変えて接続
するためのものである。例えば、電圧調整リアクトルＶ
ＣＲの一方にある整流素子のカソード側が接続され、他
方が別の整流素子のアノード側が接続される。また、図
１４において、電圧調整リアクトルＶＣＲは、円筒状の
鉄心の内部をその軸方向に主導体が貫通したものであ
る。主導体の一方端が二次巻線ｔ１ないしｔ４の各端子
に接続され、主導体の他方端が出力端子ｔ０に接続され
ている。なお、図１４では図示されていないが、電圧調
整リアクトルＶＣＲの鉄心にそれぞれ制御巻線が巻回さ
れている。インパルス試験においては、図１３のように
一次巻線Ｔ１，Ｔ２の端子１Ｕに負極性のインパルス電
圧Ｖが印加され、一次巻線Ｔ１，Ｔ２の端子１Ｖと１Ｗ
が接地される。端子１Ｖ，１Ｗと接地Ｅとの間に電流シ
ャントＳが介装され、インパルス試験電圧Ｖの印加時に
流れる電流波形が観測される。図１３の試験回路は、イ
ンパルス試験における一例であり、端子１Ｖ，１Ｗにも
同様にして他の端子を接地してインパルス試験電圧Ｖが
印加される。また、各試験においては正極性のインパル
ス試験電圧Ｖも印加される。一方、二次巻線ｔ１ないし
ｔ４側は、図１４のように出力端子ｔ０でそれぞれ接地
される。図１５は、図１３および図１４の回路をまとめ
て示した試験回路図である。整流器用変圧器である供試
器ＴＲの端子１Ｕに負極性のインパルス試験電圧Ｖが印
加され、端子１Ｖと１Ｗが電流シャントＳを介して接地
されている。一方、２４個の出力端子ｔ０の内、１２個
が接地されている。出力端子ｔ０には、ｕ１Ｐ，ｕ３
Ｐ，・・などの記号が符されている。この記号は、第１
文字と第２文字とで二次巻線の端子を示し、第３文字で
整流素子を向きを示す。第３文字がＰならば、その出力
端子ｔ０に整流素子のアノード側が接続され、第３文字
がＮならば、その出力端子ｔ０に整流素子のカソード側
が接続される。例えば、記号ｕ１Ｐは、二次巻線ｔ１の
端子ｕ１が電圧調整リアクトルＶＣＲを介して整流素子
のアノード側に接続される。図１５の試験回路におい
て、インパルス試験電圧Ｖが印加されたときに、電流シ
ャントＳにより電流波形が観測されることは前述された
が、同時に、インパルス試験電圧Ｖの電圧波形も図示さ
れていない観測装置によって観測される。インパルス試
験は、きめられた波高値をもった規定電圧に供試器が耐
えるか否かを調べる試験である。供試器が絶縁破壊すれ
ば、通常は異常音が聞こえたり、電圧波形が途中で零に
変化するので、供試器が規定電圧に耐えたか否かを知る
ことができる。しかし、供試器の内部が部分的に絶縁破
壊しただけの場合は、異常音も聞こえず、また、電圧波
形も全く変化しないことがある。そのために、インパル
ス試験では、規定電圧を印加する前に、規定電圧より低
い低減電圧を予め印加する。低減電圧と規定電圧の印加
において流れる電流波形を互いに比較することが行われ
る。供試器が正常ならば、両者の電流波形には変化がな
い（電流レベルは異なる）が、内部に部分的な絶縁破壊
が発生すると電流波形が互いに異なってくるので供試器
の故障の有無を知ることができる。これは、部分的な絶
縁破壊が発生すると、内部回路におけるインピーダンス
が急変するためである。

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たような従来の方法は、供試器が正常であっても低減電
圧と規定電圧との電流波形が同じにならない場合があ
り、供試器故障の判定が困難になるという問題があっ
た。すなわち、供試器が正常であっても、インパルス試
験電圧を何度も印加しているうちに電流波形が変化し、
あたかも供試器が故障したかのように判定される場合が
あった。図１６は、従来のインパルス試験方法による電
圧・電流波形図であり、それぞれ（Ａ）は低減電圧印加
時の波形、（Ｂ）と（Ｃ）と（Ｄ）は規定電圧印加時の
波形である。図１５の試験回路において、（１×５０）
μｓの負極性標準雷インパルスの試験電圧Ｖが印加され
た。各図において、上段の波形が印加された電圧波形と
その電圧の基線（零ライン）であり、下段の波形が電流
シャントＳ（図１５）で観測された電流波形とその電流
の基線である。初めに、低減電圧を印加し、次に規定電
圧を順次繰り返して複数回印加した。（Ａ）が初めに低
減電圧が印加されたときに観測されたものであり、
（Ｂ），（Ｃ），（Ｄ）が、それぞれ規定電圧の印加の
順に観測されたものである。図１６において、（Ａ）と
（Ｂ）とは、電流波形が互いに同じであるが、（Ｂ），
（Ｃ），（Ｄ）となるにしたがって、電流波形に変化が
見られる。これでは、供試器が故障したか否かを判定す
ることができない。このような場合、供試器を分解して
内部が損傷されていないかを調べたり、交流電圧を印加
して供試器が正常か否を調べることなどがなされ、合否
の判定に時間がかかったり、正確な判定ができなかった
りしていた。この発明の目的は、供試器が正常な場合は
必ず低減電圧の電流波形と規定電圧の電流波形とが同じ
になる試験方法を提供することにある。

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の方法によれば、一次巻線を交流側の巻線
とするとともに、二次巻線を直流側の巻線とし、二次巻
線の出力端が電圧調整リアクトルを介して整流器に接続
され、電圧調整リアクトルの鉄心に制御巻線が巻回され
てなるリアクトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試
験方法であって、二次巻線が電圧調整リアクトルを介し
て接地され、一次巻線の他方端が接地された状態で一次
巻線の一方端にインパルスの試験電圧が印加される方法
において、電圧調整リアクトルの鉄心を飽和させない状
態で試験電圧を印加することとするとよい。その理由を
次に示す。供試器が正常な場合でも、低減電圧の電流波
形と規定電圧の電流波形とが同じにならないのは、電圧
調整リアクトルの鉄心が飽和するためであることが分か
った。図１７は、従来の試験回路（図１５）の原理図で
ある。この図は、図１５の試験回路を簡潔に等価回路的
に示したものである。整流器用変圧器が一次巻線Ｔと二
次巻線ｔとにより構成され、二次巻線ｔに直列に電圧調
整リアクトルＶＣＲが接続されている。二次巻線ｔの各
端子は全て電圧調整リアクトルＶＣＲを介して接地され
ているので、二次巻線Ｔの両端は、等価回路的には電圧
調整リアクトルＶＣＲを介して短絡されている。図１７
において、一次巻線Ｔの端子１Ｕと接地Ｅとの間にイン
パルス試験電圧Ｖが印加され、電流シャントＳによっ
て、そこを流れる電流Ｉが観測される。この電流Ｉによ
って二次巻線ｔに電圧が誘起され、出力端子ｔ０を介し
て接地された電圧調整リアクトルＶＣＲに電流Ｉ１が流
れるようになる。図１８は、従来の試験回路による電圧
調整リアクトルの鉄心の磁気状態を示す特性図である。
実線Ｍは、電圧調整リアクトル鉄心自体の特性であり、
正極側では点Ｑ１で、負極側では点Ｑ２でそれぞれ飽和
している。図１８において、電圧調整リアクトルの鉄心
Ｆ（図１７）は、試験の開始前は、その磁気状態が原点
Ｏにある。鉄心Ｆが電流Ｉ１で磁化されると、その磁気
状態が点線Ｍ１で示す経路を辿る。その場合、電流Ｉ１
の大きさによって、鉄心Ｆの磁気状態に二つのケースが
考えられる。第一のケースは、鉄心Ｆが点Ｐまで磁化さ
れた場合である。その場合は、電流Ｉ１が零になると、
鉄心Ｆの磁気状態は点Ｐ１の位置に来て残留磁気が残っ
たままになる。また、第二のケースは、鉄心Ｆが点Ｑ１
を超えて飽和領域Ｑまで磁化された場合である。その場
合は、電流Ｉ１が零になると、鉄心Ｆの磁気状態は点Ｐ
２の位置に来て残留磁気が残る。第一のケースでは、磁
気特性が点線Ｍ１のようにほぼ線形なので、電流Ｉの波
形に変化は見られず問題は起きない。しかし、第二のケ
ースでは、点Ｑ１から鉄心Ｆが飽和するので、電圧調整
リアクトルＶＣＲのインピーダンスが変化し、電流Ｉの
波形が変化する。例えば、第一のケースが低減電圧Ｖの
印加に相当し、第二のケースが規定電圧Ｖの印加に相当
すると仮定すると、観測される電流波形が互いに異な
り、供試器が正常であっても内部に故障が生じたのでは
ないかと疑われてしまう。また、第一のケースが規定電
圧Ｖの印加に相当する場合であっても、次の試験電圧Ｖ
の印加は、点Ｐ１の残留磁気が残ったところから始まる
ので、電圧Ｖを数回も印加すると、鉄心Ｆが飽和領域Ｑ
まで磁化され電流波形が変化する可能性がある。発明者
らは、上記のことから、電圧調整リアクトルの鉄心を飽
和させない状態で試験電圧を印加する方法を用いると、
供試器が正常な場合は必ず低減電圧の電流波形と規定電
圧の電流波形とが同じになることを発見した。図１は、
この発明の方法を説明するための電圧調整リアクトルの
鉄心の磁気状態を示す特性図である。横軸および縦軸の
目盛りは図１８と同じであり、実線Ｍは電圧調整リアク
トルの鉄心自体の特性である。上述の方法は、この実線
Ｍの磁気特性において、点線Ｍ２で示す経路を辿る未飽
和領域Ｂ０以内に鉄心の磁束を必ず抑えることである。
鉄心を飽和させないようにするためには、電圧調整リア
クトルの鉄心の磁束密度を下げる方法があるが、これで
は鉄心が太くなり、電圧調整リアクトルの体格が大きく
なってしまう。鉄心の磁束密度を下げないで電圧調整リ
アクトルの鉄心を飽和させない方法として、二次巻線を
電圧調整リアクトルと抵抗とを介して接地した状態で試
験電圧を印加する方法を発明者らが発見した。図２は、
この発明の方法を説明するための抵抗が介装されて行わ
れる試験回路の原理図である。電圧調整リアクトルＶＣ
Ｒの出力端子ｔ０が抵抗Ｒを介して接地されている。そ
の他の構成は、図１７と同じであるので、同じ部分には
同一参照符号を付け詳細な説明をここで繰り返すことは
省略する。電圧調整リアクトルＶＣＲを流れる電流Ｉ２
の大きさが、抵抗Ｒによって制限されるので鉄心Ｆが飽
和することがなくなり、電流シャントＳによって観測さ
れる電流ＩＲの波形がインパルス電圧の大きさによって
変化することがなくなる。このように、インパルス試験
のときだけ抵抗を挿入することによって、電圧調整リア
クトルに流れる電流を抑制し、鉄心が飽和しないように
することができる。また、電圧調整リアクトルの鉄心を
飽和させない別の方法として、電圧調整リアクトルの鉄
心に試験電圧で磁化される極性とは逆極性の飽和磁界を
与えた後、一旦前記鉄心の磁界を零に戻し、これに続け
て試験電圧を印加する方法も発明者らが発見した。図３
は、この発明の方法を説明するための電圧調整リアクト
ルの鉄心の磁気状態を示す特性図である。横軸および縦
軸の目盛りは図１と同じであり、実線Ｍは電圧調整リア
クトルの鉄心自体の特性である。上述の方法は、この実
線Ｍの磁気特性において、電圧調整リアクトルの鉄心を
負極性側に一旦磁化させ、磁気状態を実線Ｍ３を辿って
負極性側で飽和する点Ｑ２の位置にまで至らす。そこ
で、電流を零にし、磁気状態を実線Ｍ４を辿らせて点Ｐ
３の位置に至らす。磁気状態が点Ｐ３にあるときにイン
パルス試験を行えば、点線Ｍ２に沿った未飽和領域Ｂ０
の幅全体を使うことができる。例えば、低減電圧または
規定電圧の印加によってそれぞれ領域Ｂ１，Ｂ２が使わ
れても、未飽和領域Ｂ０の幅が広いので電流波形が変化
することはない。かかる方法において、試験電圧印加の
度に逆極性の飽和磁界を与えることとするとよい。試験
電圧レベルによっては、数回のインパルス試験電圧を続
けて印加しても構わない。要は、その試験において鉄心
の磁気状態が未飽和領域Ｂ０以内にあれば構わない。し
かし、試験電圧印加の度に何時も鉄心の磁気状態を図３
の点Ｐ３の状態に戻しておけば、未飽和領域Ｂ０を点Ｐ
３から全幅いっぱいに使うことができ、鉄心が飽和領域
にかかってしまうような試験の失敗がなくなり、再試験
と言う無駄な時間を節約することができる。電圧調整リ
アクトルの鉄心に逆極性の飽和磁界を与える一つの方法
として、試験電圧の極性とは逆極性のインパルス電圧を
一次巻線の一方端に印加するとよい。また、電圧調整リ
アクトルの鉄心に逆極性の飽和磁界を与える別の方法と
して、制御巻線に直流電流を流してもよい。また、この
発明の別の方法によれば、一次巻線を交流側の巻線とす
るとともに、二次巻線を直流側の巻線とし、二次巻線の
出力端が電圧調整リアクトルを介して整流器に接続さ
れ、電圧調整リアクトルの鉄心に制御巻線が巻回されて
なるリアクトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験
方法であって、電圧調整リアクトルの鉄心を試験電圧で
磁化される極性と同じ極性の側に飽和させた状態で試験
電圧を印加することとするとよい。その理由を次に示
す。図４は、この発明のさらに別の方法を説明するため
の電圧調整リアクトルの鉄心の磁気状態を示す特性図で
ある。横軸および縦軸の目盛りは図１と同じであり、実
線Ｍは電圧調整リアクトルの鉄心自体の特性である。上
述の方法は、この実線Ｍの磁気特性において、点Ｑ１よ
りさらに磁化させ、点線Ｍ５に沿った範囲、すなわち、
飽和領域Ｈ０内に鉄心の磁化状態を常に維持しておく方
法である。この飽和領域Ｈ０内ならば、電圧調整リアク
トルのインピーダンスが変化することはなく、観測され
る電流波形が低減電圧の場合と規定電圧の場合とで変化
することはなくなる。鉄心の磁化状態を飽和領域Ｈ０内
に維持するためには、鉄心の飽和用の巻線を予め巻回し
ておく方法もあるが、既に配されている制御巻線に直流
電流を試験中、常時流せば鉄心を飽和状態におくことが
できる。

【発明の実施の形態】以下に、この発明の方法が用いら
れた実施例を紹介する。図５は、この発明の実施例にか
かるインパルス試験方法を示す試験回路図である。図２
の原理図にしたがって、電圧調整リアクトルの出力端子
ｔ０が抵抗Ｒを介して接地されている。その他は、図１
５と同じである。図６は、図５の試験回路による電圧・
電流波形図であり、それぞれ（Ａ）は低減電圧印加時の
波形、（Ｂ）と（Ｃ）と（Ｄ）は規定電圧印加時の波形
である。各図において、電圧波形と電流波形と基線の並
べ方は、図１６の場合と同じである。初めに、低減電圧
が印加され、次に規定電圧が順次印加された。（Ａ）が
初めに低減電圧が印加されたときに観測されたものであ
り、（Ｂ），（Ｃ），（Ｄ）が、規定電圧の印加順に観
測されたものである。図６において、（Ａ）ないし
（Ｄ）の電流波形にはいずれも差異がないことが分か
る。抵抗Ｒの介装によって、電圧調整リアクトルの鉄心
が飽和しなくなり、整流器用変圧器ＴＲの故障の有無を
直ちに、かつ、正確に判定できるようになった。図７
は、この発明の異なる実施例にかかるインパルス試験方
法による電圧・電流波形図であり、それぞれ（Ａ）は低
減電圧印加時の波形、（Ｂ）と（Ｃ）と（Ｄ）は規定電
圧印加時の波形である。各図において、電圧波形と電流
波形と基線の並べ方は、図６の場合と同じである。図７
の試験回路は図１５によった。（Ａ）は、初めに正極性
で、かつ、低減電圧と同一レベル、同一波形のインパル
ス電圧を印加し、その後、負極性の正規の低減電圧が印
加されて得られたものである。また、（Ｂ）は、正規の
低減電圧が印加された後に、正極性で、かつ、規定電圧
と同一レベル、同一波形のインパルス電圧を印加し、そ
の後、負極性の正規の規定電圧が印加されて得られたも
のである。以下、（Ｃ）と（Ｄ）は、同様に、規定電圧
の印加の前に逆極性にインパルス電圧を印加し、その順
に得られたものである。すなわち、最初の正極性のイン
パルス電圧印加によって、図３において説明されたよう
に、電圧調整リアクトルの鉄心が実線Ｍ３，Ｍ４にそっ
て磁化され、点Ｐ３の状態において、正規の低減電圧ま
たは規定電圧が印加されたことになる。図７において、
（Ａ）ないし（Ｄ）の電流波形にはいずれも差異がない
ことが分かる。予め逆極性のインパルス電圧を印加する
ことによって、電圧調整リアクトルの鉄心が飽和しなく
なり、整流器用変圧器ＴＲの故障の有無を直ちに、か
つ、正確に判定できるようになった。図８は、この発明
のさらに異なる実施例にかかるインパルス試験方法を示
す試験回路図であり、図１５と異なる点は、別の符号の
出力端子ｔ０が接地されている点と、図示されていない
制御巻線に直流電流が流される点だけである。図９は、
図８の試験回路において図示されていなかった制御巻線
の結線状態を示す試験回路図である。二次巻線ｔと出力
端子ｔ０との間に介装された電圧調整リアクトルＶＣＲ
の鉄心にそれぞれ３個の制御巻線Ｇが巻回されている。
各電圧調整リアクトルＶＣＲの制御巻線Ｇの一つが互い
に直列に接続され、この直列回路の両端に直流電源Ａ１
が結線されている。この直流電源Ａ１によって制御巻線
Ｇに流される直流電流の極性方向は、電圧調整リアクト
ルＶＣＲの鉄心がインパルス試験において正規の低減電
圧または規定電圧の印加によって磁化される方向とは逆
方向に磁化されるようになっている。各インパルス電圧
の前に予め直流電流を制御巻線Ｇに流し、電圧調整リア
クトルＶＣＲの鉄心を磁化して置く。すなわち、事前の
直流電圧印加によって、図３において説明されたよう
に、電圧調整リアクトルの鉄心のそれぞれが実線Ｍ３，
Ｍ４にそって磁化され、点Ｐ３の状態において正規の低
減電圧または規定電圧が印加される。なお、図９では一
次巻線は記載が省略されているが、一次巻線は図１３と
同じ構成である。図１０は、図８および図９の試験回路
による電圧・電流波形図であり、それぞれ（Ａ）は低減
電圧印加時の波形、（Ｂ）と（Ｃ）は規定電圧印加時の
波形である。各図において、電圧波形と電流波形と基線
の並べ方は、図６の場合と同じである。（Ａ）は、初め
に図９の直流電源Ａ１が生かされ、つぎに直流電源Ａ１
が遮断された状態で正規の低減電圧が印加されて得られ
たものである。また、（Ｂ）は、（Ａ）において正規の
低減電圧が印加された後に、再び、図９の直流電源Ａ１
が生かされ、つぎに直流電源Ａ１が遮断された状態で正
規の規定電圧が印加されて得られたものである。さら
に、（Ｃ）は、（Ｂ）において正規の規定電圧が印加さ
れた後に、再び、図９の直流電源Ａ１が生かされ、つぎ
に直流電源Ａ１が遮断された状態で正規の規定電圧が印
加されて得られたものである。図１０において、（Ａ）
ないし（Ｃ）の電流波形にはいずれも差異がないことが
分かる。予め直流電圧を印加することによって、電圧調
整リアクトルの鉄心が飽和しなくなり、整流器用変圧器
ＴＲの故障の有無を直ちに、かつ、正確に判定できるよ
うになった。図１１は、この発明のさらに異なる実施例
にかかるインパルス試験方法を示す試験回路図である。
図９と異なる点は、直流電源Ａ２の極性方向が直流電源
Ａ１の逆に向いていることだけである。また、一次巻線
や二次巻線の結線は、図８と同じである。この直流電源
Ａ２によって制御巻線Ｇに流される直流電流の極性方向
は、電圧調整リアクトルＶＣＲの鉄心がインパルス試験
において正規の低減電圧または規定電圧の印加によって
磁化される方向と同じ方向に磁化されるようになってい
る。各インパルス電圧の印加においては、直流電流を制
御巻線Ｇに常時流し、電圧調整リアクトルＶＣＲの全て
の鉄心を常に飽和状態にして置く。すなわち、直流電圧
印加によって、図４において説明されたように、電圧調
整リアクトルの鉄心のそれぞれが磁化され、点Ｑ３の状
態において正規の低減電圧または規定電圧が印加される
ようになっている。図１２は、図１１の試験回路による
電圧・電流波形図であり、それぞれ（Ａ）は低減電圧印
加時の波形、（Ｂ）と（Ｃ）と（Ｄ）は規定電圧印加時
の波形である。各図において、電圧波形と電流波形と基
線の並べ方は、図６の場合と同じである。図１９の直流
電源Ａ２が生かされた状態で、（Ａ）は、初めに正規の
低減電圧が印加されて得られたものである。（Ｂ）は、
（Ａ）において正規の低減電圧が印加された後に得られ
たものであり、以下（Ｃ）、（Ｄ）は、（Ｂ）の後に順
に正規の規定電圧が印加されて得られたものである。図
１２において、（Ａ）ないし（Ｄ）の電流波形にはいず
れも差異がないことが分かる。直流電圧を常時印加する
ことによって、電圧調整リアクトルの鉄心が飽和状態に
あり、整流器用変圧器ＴＲの故障の有無を直ちに、か
つ、正確に判定できるようになった。

【発明の効果】電圧調整リアクトルの鉄心を飽和させな
いようにして試験電圧を印加する方法、具体的には、電
圧調整リアクトルを抵抗を介して接地した状態で試験電
圧を印加する、あるいは、事前に逆極性のインパルス電
圧または直流電圧を印加した後に試験電圧を印加するこ
とによって、供試器の故障の有無を直ちに、かつ正確に
判定できるようになり、試験時間が短縮されるととも
に、信頼性の高い品質保証試験ができるようになる。ま
た、かかる構成において、試験電圧印加の度に逆極性の
飽和磁界を与えることにより、各試験において供試器の
前記鉄心を確実に飽和させないようにすることができ、
再試験など試験時間が増えるのを防止することができ
る。また、この発明の方法は前述のように、電圧調整リ
アクトルの鉄心を飽和させる、具体的には、電圧調整リ
アクトルの制御巻線に直流電流を流した状態で試験電圧
を印加する。この方法によっても、低減電圧の電流波形
と規定電圧の電流波形とが同じになり、供試器の故障の
有無を直ちに、かつ正確に判定できるようになり、試験
時間が短縮されるとともに、信頼性の高い品質保証試験
ができるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の方法を説明するための電圧調整リア
クトルの鉄心の磁気状態を示す特性図

【図２】この発明の方法として抵抗が介装されて行われ
る試験回路の原理図

【図３】この発明の別の方法を説明するための電圧調整
リアクトルの鉄心の磁気状態を示す特性図

【図４】この発明のさらに別の方法を説明するための電
圧調整リアクトルの鉄心の磁気状態を示す特性図

【図５】この発明の実施例にかかるインパルス試験方法
を示す試験回路図

【図６】図５の試験回路による電圧・電流波形図であ
り、それぞれ（Ａ）は低減電圧印加時の波形図、（Ｂ）
と（Ｃ）と（Ｄ）は規定電圧印加時の波形図

【図７】この発明の異なる実施例にかかるインパルス試
験方法による電圧・電流波形図であり、それぞれ（Ａ）
は低減電圧印加時の波形図、（Ｂ）と（Ｃ）と（Ｄ）は
規定電圧印加時の波形図

【図８】この発明のさらに異なる実施例にかかるインパ
ルス試験方法を示す試験回路図

【図９】図８の試験回路において図示されていなかった
制御巻線の結線状態を示す試験回路図

【図１０】図８および図９の試験回路による電圧・電流
波形図

【図１１】この発明のさらに異なる実施例にかかるイン
パルス試験方法を示す試験回路図

【図１２】図１１の試験回路による電圧・電流波形図

【図１３】従来のリアクトル内蔵形整流器用変圧器のイ
ンパルス試験方法による一次巻線側の試験回路図

【図１４】従来のリアクトル内蔵形整流器用変圧器のイ
ンパルス試験方法による二次巻線側の試験回路図

【図１５】図１３および図１４の回路をまとめて示した
試験回路図

【図１６】従来のインパルス試験方法による電圧・電流
波形図であり、それぞれ（Ａ）は低減電圧印加時の波形
図、（Ｂ）と（Ｃ）と（Ｄ）は規定電圧印加時の波形図

【図１７】従来の試験回路の原理図

【図１８】従来の試験回路による電圧調整リアクトルの
鉄心の磁気状態を示す特性図

【符号の説明】

Ｔ，Ｔ１，Ｔ２：一次巻線、ｔ，ｔ１，ｔ２：二次巻
線、ＶＣＲ：電圧調整リアクトル、Ｆ：鉄心、ｔ０：出
力端子、Ｒ：抵抗、Ｓ：電流シャント、Ｅ：接地、Ａ
１，Ａ２：直流電源

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】一次巻線を交流側の巻線とするとともに、
   二次巻線を直流側の巻線とし、二次巻線の出力端が電圧
   調整リアクトルを介して整流器に接続され、電圧調整リ
   アクトルの鉄心に制御巻線が巻回されてなるリアクトル
   内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方法であって、
   二次巻線が電圧調整リアクトルを介して接地され、一次
   巻線の他方端が接地された状態で一次巻線の一方端にイ
   ンパルスの試験電圧が印加される方法において、電圧調
   整リアクトルの鉄心を飽和させない状態で試験電圧を印
   加することを特徴とするリアクトル内蔵形整流器用変圧
   器のインパルス試験方法。
2. 【請求項２】請求項１に記載の方法において、二次巻線
   を電圧調整リアクトルと抵抗とを介して接地した状態で
   試験電圧を印加することを特徴とするリアクトル内蔵形
   整流器用変圧器のインパルス試験方法。
3. 【請求項３】請求項１に記載の方法において、電圧調整
   リアクトルの鉄心に試験電圧で磁化される極性とは逆極
   性の飽和磁界を与えた後、一旦前記鉄心の磁界を零に戻
   し、これに続けて試験電圧を印加することを特徴とする
   リアクトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方
   法。
4. 【請求項４】請求項３に記載の方法において、試験電圧
   印加の度に逆極性の飽和磁界を与えることを特徴とする
   リアクトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方
   法。
5. 【請求項５】請求項３または４に記載の方法において、
   試験電圧の極性とは逆極性のインパルス電圧を一次巻線
   の一方端に印加することによって電圧調整リアクトルの
   鉄心に逆極性の飽和磁界を与えることを特徴とするリア
   クトル内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方法。
6. 【請求項６】請求項３または４に記載の方法において、
   電圧調整リアクトルの制御巻線に直流電流を流すことに
   よって電圧調整リアクトルの鉄心に逆極性の飽和磁界を
   与えることを特徴とするリアクトル内蔵形整流器用変圧
   器のインパルス試験方法。
7. 【請求項７】一次巻線を交流側の巻線とするとともに、
   二次巻線を直流側の巻線とし、二次巻線の出力端が電圧
   調整リアクトルを介して整流器に接続され、電圧調整リ
   アクトルの鉄心に制御巻線が巻回されてなるリアクトル
   内蔵形整流器用変圧器のインパルス試験方法であって、
   電圧調整リアクトルの鉄心を試験電圧で磁化される極性
   と同じ極性の側に飽和させた状態で試験電圧を印加する
   ことを特徴とするリアクトル内蔵形整流器用変圧器のイ
   ンパルス試験方法。
8. 【請求項８】請求項７記載の方法において、制御巻線に
   直流電流を流すことによって電圧調整リアクトルの鉄心
   を飽和させることを特徴とするリアクトル内蔵形整流器
   用変圧器のインパルス試験方法。