JPH0271682A - 画像読取素子補正装置 - Google Patents
画像読取素子補正装置Info
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- JPH0271682A JPH0271682A JP63223888A JP22388888A JPH0271682A JP H0271682 A JPH0271682 A JP H0271682A JP 63223888 A JP63223888 A JP 63223888A JP 22388888 A JP22388888 A JP 22388888A JP H0271682 A JPH0271682 A JP H0271682A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 13
- 101100328887 Caenorhabditis elegans col-34 gene Proteins 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
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- Picture Signal Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の目的：
（産業上の利用分野）
この発明は、 ＣＣＤ、ＭＯＳ等で成るイメージセンサ
笠の画像読取素子の欠陥画素を自動的に検出して画像デ
ータを補正する画像読取素子補正装置に関する。
笠の画像読取素子の欠陥画素を自動的に検出して画像デ
ータを補正する画像読取素子補正装置に関する。
（従来の技術）
ＣＣＵ等で成るイメージセンサは通常画素毎に特性のば
らつきを有しており、従来もイメージセンサの画素のば
らつきを補正する為に予めイメージセンサの欠陥画素を
１画素毎に検出して、どの画素が欠陥画素であるかを予
めメモリに記憶しておき、実際に画像を読取る時に画像
データの補正を行なうようにしている。
らつきを有しており、従来もイメージセンサの画素のば
らつきを補正する為に予めイメージセンサの欠陥画素を
１画素毎に検出して、どの画素が欠陥画素であるかを予
めメモリに記憶しておき、実際に画像を読取る時に画像
データの補正を行なうようにしている。
（発明が解決しようとする課題）
上述した従来の欠陥画素補正装置では、イメージセンサ
の欠陥画素の検出と補正を同時に行なうことが出来ず、
イメージセンサに対して予め欠陥画素を検出して記憶し
ておき、実際の画像を読取る時に欠陥画素に対応して画
像データを補正するようにしている。そのため、欠陥画
素の検出と補正とを同時に行なうことができず、各画素
における光量変化に対１−る補正を行なうことができな
かった。
の欠陥画素の検出と補正を同時に行なうことが出来ず、
イメージセンサに対して予め欠陥画素を検出して記憶し
ておき、実際の画像を読取る時に欠陥画素に対応して画
像データを補正するようにしている。そのため、欠陥画
素の検出と補正とを同時に行なうことができず、各画素
における光量変化に対１−る補正を行なうことができな
かった。
この発明は上述のような事情よりなされたものであり、
この発明の目的は、画像読取素子の欠陥画素の検出とそ
の欠陥画素に対する補正とを同時に行なうことができる
画像読取素子補正装置を提供することにある。
この発明の目的は、画像読取素子の欠陥画素の検出とそ
の欠陥画素に対する補正とを同時に行なうことができる
画像読取素子補正装置を提供することにある。
発明の構成；
（課題を解決するための手段）
この発明は画像読取素子の欠陥画素検出補正装置に関す
るもので、この発明の上記目的は、画像読取素子への照
射光量を可変する光照射手段と、前記画像読取素子の画
素毎に前記光照射手段によりて可変された光量に対する
画素欠陥を検出する画素欠陥検出手段と、この画素欠陥
検出手段で検出された欠陥データを記憶する記憶手段と
、前記画像読取素子の画像読取データに対して前記記憶
手段からの記憶データを用いて画素毎に補正する画素欠
陥補正手段とを設けることによって達成される。
るもので、この発明の上記目的は、画像読取素子への照
射光量を可変する光照射手段と、前記画像読取素子の画
素毎に前記光照射手段によりて可変された光量に対する
画素欠陥を検出する画素欠陥検出手段と、この画素欠陥
検出手段で検出された欠陥データを記憶する記憶手段と
、前記画像読取素子の画像読取データに対して前記記憶
手段からの記憶データを用いて画素毎に補正する画素欠
陥補正手段とを設けることによって達成される。
（作用）
この発明ではイメージセンサに対して、光源の光ｉ？■
又はＮｏ（Ｎｅｕｔｒａｌ Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタ
を用いて所定の光量を与え、この所定光量に対してイメ
ージセンサの各画素の光景変化が所定範囲内となってい
るか否かを計測することによって、イメージセンサの欠
陥画素を検出するようにしている。この欠陥検出のデー
タを光量毎にメモリに記憶しておき、実際の画像を読取
った画像データに対して画像データを欠陥画素において
補正するようにしており、欠陥検出と画像データの補正
とを同時に行なって画像データを出力することができる
。
又はＮｏ（Ｎｅｕｔｒａｌ Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタ
を用いて所定の光量を与え、この所定光量に対してイメ
ージセンサの各画素の光景変化が所定範囲内となってい
るか否かを計測することによって、イメージセンサの欠
陥画素を検出するようにしている。この欠陥検出のデー
タを光量毎にメモリに記憶しておき、実際の画像を読取
った画像データに対して画像データを欠陥画素において
補正するようにしており、欠陥検出と画像データの補正
とを同時に行なって画像データを出力することができる
。
（実施例）
第１図はこの発明の一実施例を示しており、所定光景に
おけるイメージセンサｌＯの画像出力信号ＩＰはサンプ
ルホールド回路１を経てＡＤ変換器２に入力され、へ〇
変換されたデジイタル画像データＤＩ’は画素欠陥検出
回路２０及び画素欠陥補正回路３０に入力され、画素欠
陥検出回路２０で検出された欠陥データＤＩ’がゲート
３を経てＩＩＡＭ４に記↑ｎされる。
おけるイメージセンサｌＯの画像出力信号ＩＰはサンプ
ルホールド回路１を経てＡＤ変換器２に入力され、へ〇
変換されたデジイタル画像データＤＩ’は画素欠陥検出
回路２０及び画素欠陥補正回路３０に入力され、画素欠
陥検出回路２０で検出された欠陥データＤＩ’がゲート
３を経てＩＩＡＭ４に記↑ｎされる。
１１ＡＭ４に記憶された記憶データＤＰへはゲート３を
経て画素欠陥補正回路３０に入力され、実際の原稿を読
取ったときの画像データＤＰを補正して画像データＰＳ
として出力する。又、イメージセンサｌＯ。サンプルホ
ールド回路１．へ〇変換器２１画素欠陥検出回路２０及
び画素欠陥補正回路３０は画素クロックＰｘＣに同期を
取って制御され、アドレスカウンタ５はＩＩＡＭ４のデ
ータ記憶及びデータ読出に対してイメージセンサ１０の
画素との対応を取るようにしている。
経て画素欠陥補正回路３０に入力され、実際の原稿を読
取ったときの画像データＤＰを補正して画像データＰＳ
として出力する。又、イメージセンサｌＯ。サンプルホ
ールド回路１．へ〇変換器２１画素欠陥検出回路２０及
び画素欠陥補正回路３０は画素クロックＰｘＣに同期を
取って制御され、アドレスカウンタ５はＩＩＡＭ４のデ
ータ記憶及びデータ読出に対してイメージセンサ１０の
画素との対応を取るようにしている。
イメージセンサｌＯに対しては第２図で示すように光源
１１からレンズ１３を経て光を照射するようになってお
り、レンズ１３と光源１１との間には、光量を所定念に
調整するための例えば５段階（ＮＤＩ〜Ｎ０５）に区画
されたＮＯフィルタ１２が設けられており、ＮＯフィル
タ１２の位置を適宜調整することによっ、て、イメージ
センサｌＯに対して所定の光量を与えるようになってい
る。そして、原稿１４の画像データを読取る場合にはＮ
Ｏフィルタ１２を光路外に置いて、原）４１４を光源１
１とレンズ１３との間に装填して読取るようになってい
る。
１１からレンズ１３を経て光を照射するようになってお
り、レンズ１３と光源１１との間には、光量を所定念に
調整するための例えば５段階（ＮＤＩ〜Ｎ０５）に区画
されたＮＯフィルタ１２が設けられており、ＮＯフィル
タ１２の位置を適宜調整することによっ、て、イメージ
センサｌＯに対して所定の光量を与えるようになってい
る。そして、原稿１４の画像データを読取る場合にはＮ
Ｏフィルタ１２を光路外に置いて、原）４１４を光源１
１とレンズ１３との間に装填して読取るようになってい
る。
このような構成において、第２図のＮＯフィルタ１２の
位置を適宜調整して、イメージセンサ１０に対して第３
図で示すように光量をＮＯＩ〜ＮＤ５に変えた時のイメ
ージセンサ１０の出力ＤＰが、設定されたスレッシシル
ト値Ｌｌ及びＬ２の間の許容範囲に入っているか否かを
画素欠陥検出回路２０において検出する。これは、イメ
ージセンサｌＯの画素に欠陥がなければ、光量の増加に
従ってその画素出力値もほぼ比例する関係にあり、例え
ば第３図の特性■は全てがこのスレッショルド値Ｌｌ及
びＬ２の領域内に入っているので、全ての光１ＮＤｌ〜
Ｎ［ｌＳについて欠陥が存在しないことを示す、又、特
性■は光ｌ Ｎｏ５において欠陥を生じ、他の光１ＮＤ
１〜ＮＤ４では欠゛陥が存在せず、特性■は光ｆｆ１Ｎ
ＤＩ及びＮｏ２で欠陥となり、光量ＮＤ３〜ＮＤ５では
欠陥とならない様子を示している。このような多光１Ｎ
Ｄｌ〜ＮＤ５に応じた各画素毎の欠陥データを画素欠陥
検出回路２０において求め、その欠陥データＯＦをゲ・
−ト３を経てＲＡＭ４に記憶する。このようなイメージ
センサｌＯの欠陥検出を画像読取の最初に行なって、そ
の欠陥データＤＦをＩＩＡＭ４に記憶しておく。
位置を適宜調整して、イメージセンサ１０に対して第３
図で示すように光量をＮＯＩ〜ＮＤ５に変えた時のイメ
ージセンサ１０の出力ＤＰが、設定されたスレッシシル
ト値Ｌｌ及びＬ２の間の許容範囲に入っているか否かを
画素欠陥検出回路２０において検出する。これは、イメ
ージセンサｌＯの画素に欠陥がなければ、光量の増加に
従ってその画素出力値もほぼ比例する関係にあり、例え
ば第３図の特性■は全てがこのスレッショルド値Ｌｌ及
びＬ２の領域内に入っているので、全ての光１ＮＤｌ〜
Ｎ［ｌＳについて欠陥が存在しないことを示す、又、特
性■は光ｌ Ｎｏ５において欠陥を生じ、他の光１ＮＤ
１〜ＮＤ４では欠゛陥が存在せず、特性■は光ｆｆ１Ｎ
ＤＩ及びＮｏ２で欠陥となり、光量ＮＤ３〜ＮＤ５では
欠陥とならない様子を示している。このような多光１Ｎ
Ｄｌ〜ＮＤ５に応じた各画素毎の欠陥データを画素欠陥
検出回路２０において求め、その欠陥データＯＦをゲ・
−ト３を経てＲＡＭ４に記憶する。このようなイメージ
センサｌＯの欠陥検出を画像読取の最初に行なって、そ
の欠陥データＤＦをＩＩＡＭ４に記憶しておく。
その後に、ＮＯフィルタ１２をイメージセンサ１０の光
路外に置くと共に、原稿１４を光路内に置いてこの画像
データをイメージセンサｌＯで読取るが、この場合には
へ〇変換器２からの画像データＤＰを画素欠陥補正回路
３０に入力すると共に、ＲＡＭ４から画素欠陥に関する
記憶データＤＰＡを読出してゲート３を経て人力すると
共に、画素クロックＩ’ＸＣに基づいて第６図（＾）又
は（ＩＩ）で示すような、隣接データの補間による補正
を行なって画像データＰＳを出力する。
路外に置くと共に、原稿１４を光路内に置いてこの画像
データをイメージセンサｌＯで読取るが、この場合には
へ〇変換器２からの画像データＤＰを画素欠陥補正回路
３０に入力すると共に、ＲＡＭ４から画素欠陥に関する
記憶データＤＰＡを読出してゲート３を経て人力すると
共に、画素クロックＩ’ＸＣに基づいて第６図（＾）又
は（ＩＩ）で示すような、隣接データの補間による補正
を行なって画像データＰＳを出力する。
第４図は画素欠陥検出回路２０の一例を示しており、前
述の許容範囲を各光量ＮＤＩ −ＮＯ３＠に規定するウ
ィンドコンパレータ２！〜２５で構成され、作動するウ
ィンドコンパレータ２１〜２５は選択信号ＳＬＩ〜ＳＬ
５によって選択されるようになっている。そして、選択
されたウィンドコンパレータでは、人力される画像デー
タＯＰが設定されたスレッショルド値の許容範囲内に入
っているか否かに応じて、２値の欠陥データＤＦＩ〜Ｄ
Ｆ５を出力するようになっている。従って、第３図の特
性■〜■に関しては、次の表１のような欠陥データＤＦ
Ｉ〜ＤＦ５が出力される。
述の許容範囲を各光量ＮＤＩ −ＮＯ３＠に規定するウ
ィンドコンパレータ２！〜２５で構成され、作動するウ
ィンドコンパレータ２１〜２５は選択信号ＳＬＩ〜ＳＬ
５によって選択されるようになっている。そして、選択
されたウィンドコンパレータでは、人力される画像デー
タＯＰが設定されたスレッショルド値の許容範囲内に入
っているか否かに応じて、２値の欠陥データＤＦＩ〜Ｄ
Ｆ５を出力するようになっている。従って、第３図の特
性■〜■に関しては、次の表１のような欠陥データＤＦ
Ｉ〜ＤＦ５が出力される。
又、第５図は画素欠陥補正回路３０の詳細な構成例を示
しており、画素クロックＰｘＣはカウンタ３１及びラッ
チ回路３３〜３５に人力され、カウンタ３１は１ライン
同期で入力されるカウンタクリア信号ＴＣＬでクリアさ
れるようになっており、カウンタ３６の出力はＩＩＡＭ
／１１０Ｍ３２に人力され、ＲへＭ／１１０Ｍ３２の出
力はセレクタ３７にＡ又はＢの選択信号として入力され
ている。又、画像データＤＰはラッチ回路３３に入力さ
れ、その出力ＬＴＩはラッチ回路３４に入力されると共
に加算器３６に入力され、ラッチ回路３４の出力ＬＴ２
はラッチ回路３５に入力されると共にセレクタ３７のＢ
端子に入力され、ラッチ回路３５の出力ＬＴ３が加算器
３６に入力されている。さらに、加算器３６の出力デー
タはセレクタ３７のＡ端子に入力され、セレクタ３７か
ら補正された画像データＰＳが出力されるようになって
いる。なお、加算器３６はデータＬＴＩ及びＬ１２の加
算値を１ビツトシフト（÷２）して出力するようになっ
ており、データＬＴＩ及びＬ１２が異常値の場合には、
加算器３６の出力がセレクタ３７で選択されて画像デー
タＰＳとして出力される０通常はラッチ回路３４の出力
ＬＴ２が正常データとしてセレクタ３７で選択され、画
像データｐｓとして出力される。
しており、画素クロックＰｘＣはカウンタ３１及びラッ
チ回路３３〜３５に人力され、カウンタ３１は１ライン
同期で入力されるカウンタクリア信号ＴＣＬでクリアさ
れるようになっており、カウンタ３６の出力はＩＩＡＭ
／１１０Ｍ３２に人力され、ＲへＭ／１１０Ｍ３２の出
力はセレクタ３７にＡ又はＢの選択信号として入力され
ている。又、画像データＤＰはラッチ回路３３に入力さ
れ、その出力ＬＴＩはラッチ回路３４に入力されると共
に加算器３６に入力され、ラッチ回路３４の出力ＬＴ２
はラッチ回路３５に入力されると共にセレクタ３７のＢ
端子に入力され、ラッチ回路３５の出力ＬＴ３が加算器
３６に入力されている。さらに、加算器３６の出力デー
タはセレクタ３７のＡ端子に入力され、セレクタ３７か
ら補正された画像データＰＳが出力されるようになって
いる。なお、加算器３６はデータＬＴＩ及びＬ１２の加
算値を１ビツトシフト（÷２）して出力するようになっ
ており、データＬＴＩ及びＬ１２が異常値の場合には、
加算器３６の出力がセレクタ３７で選択されて画像デー
タＰＳとして出力される０通常はラッチ回路３４の出力
ＬＴ２が正常データとしてセレクタ３７で選択され、画
像データｐｓとして出力される。
なお、上述ではＮＤフィルタを用いてイメージセンサの
照射光量を所定位置に変えているが、光源そのものの発
光量を変えるようにしても良い。
照射光量を所定位置に変えているが、光源そのものの発
光量を変えるようにしても良い。
発明の効果；
以上のようにこの発明の画像読取素子補正装置によれば
、画像データに対する調整工数をｍ減できると共に、イ
メージセンサを交換しても画像データの補正を筒４１に
行なうことができ、画素欠陥の種類に対しても広い範囲
に対処できる利点がある。
、画像データに対する調整工数をｍ減できると共に、イ
メージセンサを交換しても画像データの補正を筒４１に
行なうことができ、画素欠陥の種類に対しても広い範囲
に対処できる利点がある。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック構成図、第
２図はイメージセンサに対する光量変化の手段を示す図
、第３図は光量に対する画素の特性例を示す図、第４図
は画素欠陥検出回路の一例を示すブロック構成図、第５
図は画素欠陥補正回路の一例を示すブロック構成図、第
６図及び第７図は画素データの補正を説明するための図
である。 １・・・サンプルボールド回路、２・・・Ａｎ変換器、
３・・・ゲート、４・・・１＾Ｍ、５・・・アドレスカ
ウンタ、ｌＯ・・・イメージセンサ、１１・・・光源、
１２・・・ＮＯフィルタ、１３・・・レンズ、１４・・
・原稿、２０・・・画素欠陥検出回路、３０・・・画素
欠陥補正回路。 、第 図 ＪＩ５’ 回 Ｌｊ５
２図はイメージセンサに対する光量変化の手段を示す図
、第３図は光量に対する画素の特性例を示す図、第４図
は画素欠陥検出回路の一例を示すブロック構成図、第５
図は画素欠陥補正回路の一例を示すブロック構成図、第
６図及び第７図は画素データの補正を説明するための図
である。 １・・・サンプルボールド回路、２・・・Ａｎ変換器、
３・・・ゲート、４・・・１＾Ｍ、５・・・アドレスカ
ウンタ、ｌＯ・・・イメージセンサ、１１・・・光源、
１２・・・ＮＯフィルタ、１３・・・レンズ、１４・・
・原稿、２０・・・画素欠陥検出回路、３０・・・画素
欠陥補正回路。 、第 図 ＪＩ５’ 回 Ｌｊ５
Claims (1)
- １、画像読取素子への照射光量を可変する光照射手段と
、前記画像読取素子の画素毎に前記光照射手段によって
可変された光量に対する画素欠陥を検出する画素欠陥検
出手段と、この画素欠陥検出手段で検出された欠陥デー
タを記憶する記憶手段と、前記画像読取素子の画像読取
データに対して前記記憶手段からの記憶データを用いて
画素毎に補正する画素欠陥補正手段とを具備したことを
特徴とする画像読取素子補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63223888A JPH0271682A (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | 画像読取素子補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63223888A JPH0271682A (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | 画像読取素子補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0271682A true JPH0271682A (ja) | 1990-03-12 |
Family
ID=16805281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63223888A Pending JPH0271682A (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | 画像読取素子補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0271682A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0529903A3 (en) * | 1991-08-23 | 1995-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | Image processing system |
| FR2788188A1 (fr) * | 1998-12-30 | 2000-07-07 | Hyundai Electronics Ind | Dispositif et procede de detection et de correction de pixels defectueux dans un capteur d'images |
| EP0986249A3 (en) * | 1998-09-08 | 2002-07-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Pixel defect detector for solid-state imaging device |
| EP0997845A3 (en) * | 1998-10-30 | 2003-06-25 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | A test efficient method of classifying image quality of an optical sensor using three categories of pixels |
| JP2008236631A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Seiko Epson Corp | 画像読取装置及び欠陥素子判定方法 |
-
1988
- 1988-09-07 JP JP63223888A patent/JPH0271682A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0529903A3 (en) * | 1991-08-23 | 1995-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | Image processing system |
| US5550936A (en) * | 1991-08-23 | 1996-08-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Image processing system |
| EP0986249A3 (en) * | 1998-09-08 | 2002-07-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Pixel defect detector for solid-state imaging device |
| US7106371B1 (en) | 1998-09-08 | 2006-09-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | Pixel defect detector for solid-state imaging device |
| EP0997845A3 (en) * | 1998-10-30 | 2003-06-25 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | A test efficient method of classifying image quality of an optical sensor using three categories of pixels |
| FR2788188A1 (fr) * | 1998-12-30 | 2000-07-07 | Hyundai Electronics Ind | Dispositif et procede de detection et de correction de pixels defectueux dans un capteur d'images |
| JP2000200896A (ja) * | 1998-12-30 | 2000-07-18 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | イメ―ジセンサにおける不良画素検出及び補正のための装置及びその方法 |
| US6674404B1 (en) | 1998-12-30 | 2004-01-06 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Apparatus and method for detecting and correcting defective pixels in image sensor |
| JP2008236631A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Seiko Epson Corp | 画像読取装置及び欠陥素子判定方法 |
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