JPH0274852A - 欠陥周期の測定方法 - Google Patents
欠陥周期の測定方法Info
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- JPH0274852A JPH0274852A JP63226190A JP22619088A JPH0274852A JP H0274852 A JPH0274852 A JP H0274852A JP 63226190 A JP63226190 A JP 63226190A JP 22619088 A JP22619088 A JP 22619088A JP H0274852 A JPH0274852 A JP H0274852A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ウェブ状物体に存在する欠陥の周期を算出す
る測定方法に関するものである。
る測定方法に関するものである。
フィルム、紙等のシート状物、金属物その他の製作物の
表面に存在する欠陥を検出するために種々の表面検査装
置が知られており、これらの装置によって例えば傷やピ
ンホール等の欠陥を検出して製品の品質管理が行われて
いる。
表面に存在する欠陥を検出するために種々の表面検査装
置が知られており、これらの装置によって例えば傷やピ
ンホール等の欠陥を検出して製品の品質管理が行われて
いる。
このような表面検査装置では単なる傷やピンホールの欠
陥検出だけでなく、これらの欠陥が周期的に現れる場合
の検出が行われており、従来では例えば特開昭４９−３
５０９１号公報に示されるような周期性キズ検出回路方
式がある。
陥検出だけでなく、これらの欠陥が周期的に現れる場合
の検出が行われており、従来では例えば特開昭４９−３
５０９１号公報に示されるような周期性キズ検出回路方
式がある。
これによれば、キズ信号（欠陥信号）が入力されたとき
、その入力時より指定された周期後に時間ゲートを開き
、この時間内の欠陥信号の有無を調べている。そして、
この動作を数周期にわたって行い、この期間内に設定値
以上の個数になるときに周期的欠陥であると判定するも
のである。
、その入力時より指定された周期後に時間ゲートを開き
、この時間内の欠陥信号の有無を調べている。そして、
この動作を数周期にわたって行い、この期間内に設定値
以上の個数になるときに周期的欠陥であると判定するも
のである。
ところが、上記の表面検査装置では、最初の欠陥信号が
得られた時点を基準にして欠陥周期を測定するため、最
初の欠陥信号が単発的なものである場合には、再び周期
測定を行わなくてはならない。したがって、製造ライン
中でリアルタイムに欠陥周期を測定しようとする場合に
は適用しにくい面がある。
得られた時点を基準にして欠陥周期を測定するため、最
初の欠陥信号が単発的なものである場合には、再び周期
測定を行わなくてはならない。したがって、製造ライン
中でリアルタイムに欠陥周期を測定しようとする場合に
は適用しにくい面がある。
このような事情から、被検査物を走行方向に細分し、各
々のデータセルについて一欠陥部のあるものを「１」、
欠陥部のないものを「０」として２値化し、被検査物の
走行させながらこの２値化データを取り込んで２値化デ
ータ列（ｄ＋、ｄｚ。
々のデータセルについて一欠陥部のあるものを「１」、
欠陥部のないものを「０」として２値化し、被検査物の
走行させながらこの２値化データを取り込んで２値化デ
ータ列（ｄ＋、ｄｚ。
ｄ３．・・、ｄ７〕を作成してから、
で表される自己相関関数ＡＣ（ｊ ）により、間隔ｊで
分布する欠陥部の組み合わせ個数を求める手法が提案さ
れている。（１）式における（ｄ、−ｄ、、、）は、ｉ
番目の２値化デークｄ、と、ｉ＋ｊ （ｊ＝１．２．・
・、ｎ−１）番目の２値化データとの積を表したもので
、この両者の２値化データが各々「ｌ」であるとき、す
なわち両者が欠陥部分であるときにのみ「１」となる。
分布する欠陥部の組み合わせ個数を求める手法が提案さ
れている。（１）式における（ｄ、−ｄ、、、）は、ｉ
番目の２値化デークｄ、と、ｉ＋ｊ （ｊ＝１．２．・
・、ｎ−１）番目の２値化データとの積を表したもので
、この両者の２値化データが各々「ｌ」であるとき、す
なわち両者が欠陥部分であるときにのみ「１」となる。
したがって、上記（１）式は、ｎ個の検査データからな
る２値化データ列（ｄ＋ 、ｄｚ、ｄｓ、 ・・・ｄ
、）について、間隔「ｊ」で分布している欠陥部の組み
合わせ個数を表すものとなっている。
る２値化データ列（ｄ＋ 、ｄｚ、ｄｓ、 ・・・ｄ
、）について、間隔「ｊ」で分布している欠陥部の組み
合わせ個数を表すものとなっている。
したがって、こうして得られた自己相関関数ＡＣ（ｊ）
に基づいてデータ処理を行い、ＡＣ（ｋｆｏ） ＞Ｏ
・ ・ ・（２）、 （但し、ｋ＝１．２．３ ・・Ｉ
２）を判別条件として基本周期ｆ０を算出することがで
きるようになる。
に基づいてデータ処理を行い、ＡＣ（ｋｆｏ） ＞Ｏ
・ ・ ・（２）、 （但し、ｋ＝１．２．３ ・・Ｉ
２）を判別条件として基本周期ｆ０を算出することがで
きるようになる。
しかしながら、上述した従来のデータ処理を行う場合に
は、表面検査装置によって得られた２値化データ列（ｄ
＋ 、ｄｉ、ｄ３＋ ・・・ｄ、）の全てについて、
（１）式の自己相関関数ＡＣ（ｊ）を算出しなくてはな
らず、その計算時間はｎ・ （ｎ−１）に比例する。す
なわち、ｎ個の検査データについて、ｎ・ （ｎ−１）
回の乗算及び加算を繰返し行わなくてはならない。なお
、このｎの値は測定対象とするウェブ７の長さしを、送
り方向の単位長Ｓで除算した値に等しい。
は、表面検査装置によって得られた２値化データ列（ｄ
＋ 、ｄｉ、ｄ３＋ ・・・ｄ、）の全てについて、
（１）式の自己相関関数ＡＣ（ｊ）を算出しなくてはな
らず、その計算時間はｎ・ （ｎ−１）に比例する。す
なわち、ｎ個の検査データについて、ｎ・ （ｎ−１）
回の乗算及び加算を繰返し行わなくてはならない。なお
、このｎの値は測定対象とするウェブ７の長さしを、送
り方向の単位長Ｓで除算した値に等しい。
このようなデータ処理時の計算時間は、ハードウェアの
性能やプログラムの記述によって異なるが、これまでで
は欠陥の周期成分の算出に時間がかかっており、リアル
タイム測定を行うためには処理能力が高い大型計算機、
あるいは専用のハードウェアを必要としていた。
性能やプログラムの記述によって異なるが、これまでで
は欠陥の周期成分の算出に時間がかかっており、リアル
タイム測定を行うためには処理能力が高い大型計算機、
あるいは専用のハードウェアを必要としていた。
本発明はこのような従来技術に鑑みてなされたもので、
欠陥周期の基本周期を算出するためのアルゴリズムを改
良し、大型コンピュータや専用のハードウェアを用いる
ことなく、欠陥周期の迅速な算出を可能とする測定方法
を提供することを目的とする。
欠陥周期の基本周期を算出するためのアルゴリズムを改
良し、大型コンピュータや専用のハードウェアを用いる
ことなく、欠陥周期の迅速な算出を可能とする測定方法
を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］
本発明は上記目的を達成するために、被検査物から得ら
れた検査データを正常データと欠陥データとに２値化し
、前記欠陥データの各々についてその相互間の距離を求
めた後、これらの距離について頻度計算を行って距離の
周期成分を算出し、この周期成分から欠陥データの基本
周期を抽出するようにしたものである。
れた検査データを正常データと欠陥データとに２値化し
、前記欠陥データの各々についてその相互間の距離を求
めた後、これらの距離について頻度計算を行って距離の
周期成分を算出し、この周期成分から欠陥データの基本
周期を抽出するようにしたものである。
上記手法によれば、正常データと欠陥データとからなる
ｎ個の検査データについて、欠陥データだけに着目して
これらの相互間の距離を求めるため、従来のように正常
データに対する乗算処理を行わずに済むようになり、計
算時間を大幅に短縮することができるようになる。
ｎ個の検査データについて、欠陥データだけに着目して
これらの相互間の距離を求めるため、従来のように正常
データに対する乗算処理を行わずに済むようになり、計
算時間を大幅に短縮することができるようになる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例について説明す
る。
る。
本発明を平版印刷板の製造工程で実施するためのシステ
ム構成の概略を示す第１図において、供給リール２には
版材の素材となるアルミニウムウェブ等のベース材３が
巻かれており、ベース材３は搬送ローラ４により加工機
５に連続して供給される。加工機５は例えばベース材３
の表面を研磨するためのもので、この加工機５内には加
工用のローラ６が設けられている。ベース材３が加工機
５を経由すると、その表面が平滑面に仕上げられたウェ
ブ７となり、搬送ローラ８．９を介して巻き取りリール
１０で巻き取られる。
ム構成の概略を示す第１図において、供給リール２には
版材の素材となるアルミニウムウェブ等のベース材３が
巻かれており、ベース材３は搬送ローラ４により加工機
５に連続して供給される。加工機５は例えばベース材３
の表面を研磨するためのもので、この加工機５内には加
工用のローラ６が設けられている。ベース材３が加工機
５を経由すると、その表面が平滑面に仕上げられたウェ
ブ７となり、搬送ローラ８．９を介して巻き取りリール
１０で巻き取られる。
搬送ローラ８，９間には、投光器１２と受光器１３とか
らなるフライインゲスポット方式の表面検査装置が配設
されている。投光器１２は、細径の検査ビームをウェブ
７の幅方向に、走査しながら照射するスキャナで構成さ
れ、その走査信号はレーンデータ発生回路１４に入力さ
れる。そして、レーンデータ発生回路１４は、スキャナ
の走査信号に対応してウェブ７の幅方向の位置を表すレ
ーンデータ信号をデータ処理ユニット１５に出力する。
らなるフライインゲスポット方式の表面検査装置が配設
されている。投光器１２は、細径の検査ビームをウェブ
７の幅方向に、走査しながら照射するスキャナで構成さ
れ、その走査信号はレーンデータ発生回路１４に入力さ
れる。そして、レーンデータ発生回路１４は、スキャナ
の走査信号に対応してウェブ７の幅方向の位置を表すレ
ーンデータ信号をデータ処理ユニット１５に出力する。
受光器１３はウェブ７の幅方向に延長されており、ウェ
ブ７の表面からの散乱反射光を受光し、正反射光を受光
しない構成となっている。したがって、ウェブ７の表面
が正常であるときには、受光器１３からの光電出力は一
定レベル以下となり、ウェブ７の表面に欠陥部があると
きには、その部分からの散乱反射光によって受光器１３
からの光電出力は一定レベル以上になる。
ブ７の表面からの散乱反射光を受光し、正反射光を受光
しない構成となっている。したがって、ウェブ７の表面
が正常であるときには、受光器１３からの光電出力は一
定レベル以下となり、ウェブ７の表面に欠陥部があると
きには、その部分からの散乱反射光によって受光器１３
からの光電出力は一定レベル以上になる。
この受光器１３からの光電出力は、２値化回路１６によ
って「１」もしくは「０」に２値化される。すなわち、
ウェブ７に欠陥部が存在せず、受光器１３に入射した光
が一定レベル以下であるときには、２値化回路１６から
は「欠陥なし」を表す「０」の正常データがデータ処理
ユニット１５に送られ、逆にピンホール欠陥の存在によ
って受光器１３からの光電出力が一定しベル以上のとき
には、「欠陥あり」を表す欠陥データ「１」がデータ処
理ユニット１５に供出される。これらの検査データは、
投光器１２の走査信号と同期してデータ処理ユニット１
５に入力されるから、検査データの各々をウェブ７の幅
方向での位置と対応づけることができる。また、搬送ロ
ーラ８にはエンコーダ１７が接続されている。そして、
エンコーダ１７からは、ウェブ７の送り方向での位置を
表すデータがデータ処理ユニット１５へと供給されるこ
とになる。
って「１」もしくは「０」に２値化される。すなわち、
ウェブ７に欠陥部が存在せず、受光器１３に入射した光
が一定レベル以下であるときには、２値化回路１６から
は「欠陥なし」を表す「０」の正常データがデータ処理
ユニット１５に送られ、逆にピンホール欠陥の存在によ
って受光器１３からの光電出力が一定しベル以上のとき
には、「欠陥あり」を表す欠陥データ「１」がデータ処
理ユニット１５に供出される。これらの検査データは、
投光器１２の走査信号と同期してデータ処理ユニット１
５に入力されるから、検査データの各々をウェブ７の幅
方向での位置と対応づけることができる。また、搬送ロ
ーラ８にはエンコーダ１７が接続されている。そして、
エンコーダ１７からは、ウェブ７の送り方向での位置を
表すデータがデータ処理ユニット１５へと供給されるこ
とになる。
データ処理ユニット１５には、例えばキーボードからな
るデータ設定部１８が接続され、欠陥周期の測定を行う
際の初期データの設定が行われる。
るデータ設定部１８が接続され、欠陥周期の測定を行う
際の初期データの設定が行われる。
この初期データの設定、あるいは欠陥周期の測定結果は
ＣＲＴ１９に表示され、必要に応じてプリンタ２０でプ
リントアウトされる。
ＣＲＴ１９に表示され、必要に応じてプリンタ２０でプ
リントアウトされる。
上記システムによって欠陥周期の測定を行うには、まず
データ設定部１８によりウェブ７の検査表面をデータセ
ルに区画するためのデータ入力が行われる。すなわち、
レーンデータ信号発生回路１４からのレーンデータ信号
に基づいて、ウェブ７を幅方向にどの程度のピッチで分
割し、またエンコーダ１７からのデータから、ウェブ７
の送り方向についてどの程度の単位長Ｓを設定するかが
決められる。さらに、このデータ設定部１８によって、
測定対象とする欠陥周期に応じて、測定対象とするウェ
ブ７の長さしを設定する。なお、この実施例では、予想
される欠陥周期の最大値の６倍程度を測定対象とする長
さしとしている。
データ設定部１８によりウェブ７の検査表面をデータセ
ルに区画するためのデータ入力が行われる。すなわち、
レーンデータ信号発生回路１４からのレーンデータ信号
に基づいて、ウェブ７を幅方向にどの程度のピッチで分
割し、またエンコーダ１７からのデータから、ウェブ７
の送り方向についてどの程度の単位長Ｓを設定するかが
決められる。さらに、このデータ設定部１８によって、
測定対象とする欠陥周期に応じて、測定対象とするウェ
ブ７の長さしを設定する。なお、この実施例では、予想
される欠陥周期の最大値の６倍程度を測定対象とする長
さしとしている。
これらの初期設定の後、ウェブ７を一定速度で走行させ
ながら、投光器１２．受光器１３を作動させる。ウェブ
７の表面から光電的に検出される検査データは、２値化
回路１６によって正常データと欠陥データとに変換され
、データ処理ユニット１５に供給される。これらの２値
化データは、レーンデータ発生回路１４からのレーンデ
ータ信号とエンコーダ１７からのデータによって、ウェ
ブ７の幅方向と長さ方向で位置決めされ、これらの対応
したアドレス位置に格納される。
ながら、投光器１２．受光器１３を作動させる。ウェブ
７の表面から光電的に検出される検査データは、２値化
回路１６によって正常データと欠陥データとに変換され
、データ処理ユニット１５に供給される。これらの２値
化データは、レーンデータ発生回路１４からのレーンデ
ータ信号とエンコーダ１７からのデータによって、ウェ
ブ７の幅方向と長さ方向で位置決めされ、これらの対応
したアドレス位置に格納される。
第２図は、このようにして得られたｍ個の２値化データ
をウェブ７に対応させて配列した概念図で、測定対象と
なるウェブ７の長さしを単位長Ｓで分割したおのおのの
領域に２値化データを当てはめている。なお、第２図は
ウェブ７の幅方向については＃１〜＃３の３つのレーン
までを図示したものである。
をウェブ７に対応させて配列した概念図で、測定対象と
なるウェブ７の長さしを単位長Ｓで分割したおのおのの
領域に２値化データを当てはめている。なお、第２図は
ウェブ７の幅方向については＃１〜＃３の３つのレーン
までを図示したものである。
レーン＃１について欠陥周期を算出する例について説明
する。図示のように、レーン＃１においては、測定対象
長しの中に９個（ｍ＝ ９ ）の欠陥データが含まれて
いる。これらの欠陥データの各々は、単位長Ｓに基づい
てウェブ７の長さ方向での位置情報と対応づけられてい
る。したがって、レーン＃ｌについて左側から順に欠陥
データにｄ１＋ｌ＋ ・・・ｄ、の記号を付すと、図
示したように、全ての欠陥データ相互間の間隔を表す距
離データＰ４、を求めることができる。なお、距離デー
タ！１．は単位長Ｓの整数倍となっている。そして、本
発明方法においては、この距離データ！１、をもとにし
た自己相関関数ＡＣ（ｆ、、）が求められ、この自己相
関関数ＡＣ（ｆｆｉｉｊ）は、距離データ（２ｉｊＯ値
が等しい２つの欠陥データの組み合わせの頻度を意味し
ている。
する。図示のように、レーン＃１においては、測定対象
長しの中に９個（ｍ＝ ９ ）の欠陥データが含まれて
いる。これらの欠陥データの各々は、単位長Ｓに基づい
てウェブ７の長さ方向での位置情報と対応づけられてい
る。したがって、レーン＃ｌについて左側から順に欠陥
データにｄ１＋ｌ＋ ・・・ｄ、の記号を付すと、図
示したように、全ての欠陥データ相互間の間隔を表す距
離データＰ４、を求めることができる。なお、距離デー
タ！１．は単位長Ｓの整数倍となっている。そして、本
発明方法においては、この距離データ！１、をもとにし
た自己相関関数ＡＣ（ｆ、、）が求められ、この自己相
関関数ＡＣ（ｆｆｉｉｊ）は、距離データ（２ｉｊＯ値
が等しい２つの欠陥データの組み合わせの頻度を意味し
ている。
ところで本発明方法においては、上記の自己相関関数Ａ
Ｃ（ｊ２ｉＪ）を用いて測定対象長さしについて１回の
測定を行う場合には、欠陥データの個数をｍとすると、
自己相関関数ＡＣ（ｊ２ｉＪ）の算出に要する計算時間
の最大値はＩｎ・ （ｍ−１）に比例し、欠陥データの
個数と相関をもっている。この欠陥データの個数の最大
値Ｍ ｍ ａ ｘは、測定対象としている欠陥周期の最
小値Ｘ ｓ ｉ ｎによって決り、以下の関係がある。
Ｃ（ｊ２ｉＪ）を用いて測定対象長さしについて１回の
測定を行う場合には、欠陥データの個数をｍとすると、
自己相関関数ＡＣ（ｊ２ｉＪ）の算出に要する計算時間
の最大値はＩｎ・ （ｍ−１）に比例し、欠陥データの
個数と相関をもっている。この欠陥データの個数の最大
値Ｍ ｍ ａ ｘは、測定対象としている欠陥周期の最
小値Ｘ ｓ ｉ ｎによって決り、以下の関係がある。
Ｘ ＩＩｔ ｎ
このようにして算出された自己相関関数ＡＣ（ｆｆ８、
）は、従来において（１）式で示した自己相関関数（但
し、０≦ｊ≦ｎ−１） と等価なデータとなる。こうして求めた相関関数ＡＣ（
ｆ、、）は、判別条件によって周期性の有無が判定され
る。この判別条件は、周期的に存在するｍ個の欠陥の周
期成分は、基本周期成分及び２倍から（ｍ−１）倍まで
の周期成分からなっていることを利用するもので、 八Ｃ（ｆ。）〉０ かつ ＡＣ（２・ｒｏ）＞Ｏかつ・
・・ ・ ・ 八Ｃ（尼 ・ ｆｏ）＞０（但し、上式
において！は周期性有無判定条件の最大周期成分 ２・
ｒｏ を示すための倍数１（プリセット値）を意味して
おり、ｌくｍである） の条件式に基づいて基本周期ｒ。を算出するものである
。
）は、従来において（１）式で示した自己相関関数（但
し、０≦ｊ≦ｎ−１） と等価なデータとなる。こうして求めた相関関数ＡＣ（
ｆ、、）は、判別条件によって周期性の有無が判定され
る。この判別条件は、周期的に存在するｍ個の欠陥の周
期成分は、基本周期成分及び２倍から（ｍ−１）倍まで
の周期成分からなっていることを利用するもので、 八Ｃ（ｆ。）〉０ かつ ＡＣ（２・ｒｏ）＞Ｏかつ・
・・ ・ ・ 八Ｃ（尼 ・ ｆｏ）＞０（但し、上式
において！は周期性有無判定条件の最大周期成分 ２・
ｒｏ を示すための倍数１（プリセット値）を意味して
おり、ｌくｍである） の条件式に基づいて基本周期ｒ。を算出するものである
。
上述のように、本発明においては自己相関関数ＡＣ（ｆ
ｆ。、）の計算時間はｍ・ （ｍ−１）に比例するから
、その最大値はＭ ｍ ａ ｘ ・ （Ｍ、、、 −
１）に比例する。そして、Ｍ ＩＩ ｍ ＸはＸｌ、７
によって決り、Ｘ ｍｉ、は周期測定の分解能を考慮し
て単位長Ｓの１０倍程度以上にされるから、正常データ
及び欠陥データからなる検査データの総数ｎを用いて表
すと、 となる。そして本発明の周期成分計算では、最も時間を
要する場合で距離計算（整数の引き算）と頻度計算（整
数の加算）をＭ ａｍ、・ （Ｍ、、。
ｆ。、）の計算時間はｍ・ （ｍ−１）に比例するから
、その最大値はＭ ｍ ａ ｘ ・ （Ｍ、、、 −
１）に比例する。そして、Ｍ ＩＩ ｍ ＸはＸｌ、７
によって決り、Ｘ ｍｉ、は周期測定の分解能を考慮し
て単位長Ｓの１０倍程度以上にされるから、正常データ
及び欠陥データからなる検査データの総数ｎを用いて表
すと、 となる。そして本発明の周期成分計算では、最も時間を
要する場合で距離計算（整数の引き算）と頻度計算（整
数の加算）をＭ ａｍ、・ （Ｍ、、。
１）回繰返すことになる。
一方、（１）弐で表される自己相関関数ＡＣ（ｊ ）を
用いた場合の周期計算では、２値化データの乗算と加算
をｎ・ （ｎ−１）回繰り返す。両者共、−回当りの計
算時間はハードウェアやプログラムの記述により異なる
が、この１回の計算時間を各々同じ時間と仮定すると、
それぞれの周期計算に要する合計時間の比は、 ｒｌ ｎ １０ ｎ・ （ｎ−１）ｎ ・ （ｎ−１） となる。したがって本発明方法では、ｎ個の２値化デー
タの中に含まれる欠陥データの個数ｍによって計算時間
は異なってくるが、最も時間がかかる場合であっても、
（１）式の自己相関関数を用いる計算手法に対し、１／
１００の計算時間で済むようになる。
用いた場合の周期計算では、２値化データの乗算と加算
をｎ・ （ｎ−１）回繰り返す。両者共、−回当りの計
算時間はハードウェアやプログラムの記述により異なる
が、この１回の計算時間を各々同じ時間と仮定すると、
それぞれの周期計算に要する合計時間の比は、 ｒｌ ｎ １０ ｎ・ （ｎ−１）ｎ ・ （ｎ−１） となる。したがって本発明方法では、ｎ個の２値化デー
タの中に含まれる欠陥データの個数ｍによって計算時間
は異なってくるが、最も時間がかかる場合であっても、
（１）式の自己相関関数を用いる計算手法に対し、１／
１００の計算時間で済むようになる。
以上のデータ処理手法によって周期性欠陥の測定が開始
され、周期性欠陥が検出された場合にはプリンタ２０が
作動し、周期欠陥が発生していることをプリントアウト
する。第３図は、プリンタ２０からの実際の印字出力例
の一部を図示したものである。
され、周期性欠陥が検出された場合にはプリンタ２０が
作動し、周期欠陥が発生していることをプリントアウト
する。第３図は、プリンタ２０からの実際の印字出力例
の一部を図示したものである。
通常の平版製造工程に本発明方法を実施する場合には、
例えば測定対象とする欠陥周期が１００〜８４Ｂ２．ｍ
ｍ、単位長Ｓは１５ｍ、ｍに設定される。ウェブ７の幅
は最大１５００ｍｍ程度で、幅方向には１００ｍｍ毎に
分割されるから、１５ｍｍＸ１００ｍｍの領域が１個の
データ検出領域となり、ウェブ７が１５ｍｍ走行される
ごとに１５ビツトの２値化データが検査データとしてサ
ンプリングされる。
例えば測定対象とする欠陥周期が１００〜８４Ｂ２．ｍ
ｍ、単位長Ｓは１５ｍ、ｍに設定される。ウェブ７の幅
は最大１５００ｍｍ程度で、幅方向には１００ｍｍ毎に
分割されるから、１５ｍｍＸ１００ｍｍの領域が１個の
データ検出領域となり、ウェブ７が１５ｍｍ走行される
ごとに１５ビツトの２値化データが検査データとしてサ
ンプリングされる。
第３図に示した出力例では８〜１５番目のレーンについ
て図示が省略されているが、測定対象長５０ｍ毎に１５
レーンの全てについて周期性欠陥の測定が並行して行わ
れている。また、周期性をもった欠陥の最大個数として
は５００個に設定され、欠陥の個数がこれを越えた場合
には、これらの欠陥には周期性がないものとして、計算
は実行しないようにプログラムされている。
て図示が省略されているが、測定対象長５０ｍ毎に１５
レーンの全てについて周期性欠陥の測定が並行して行わ
れている。また、周期性をもった欠陥の最大個数として
は５００個に設定され、欠陥の個数がこれを越えた場合
には、これらの欠陥には周期性がないものとして、計算
は実行しないようにプログラムされている。
測定はウェブ７が５０ｍ走行される毎に行われるが、第
３図の出力例では測定結果は１００ｍ毎に集計されて出
力されている。平版印刷工程で発生する周期性欠陥の多
くは、例えば第１図に示した搬送ローラ４，８．９ある
いは加圧ローラ６等のように、ウェブ７を駆動するため
のローラの表面欠陥によって引き起こされるため、第３
図の出力例ではそのローラ径に換算した数値、すなわち
測定された欠陥周期をローラ径で割った値を表示してお
り、５番目のレーン（ウェブ７のエツジから４００〜５
００ｍｍの領域）について、先頭から３０００〜３４０
０ｍの位置にローラ径が２７４ｍｍのものによる周期性
欠陥があることを示している。
３図の出力例では測定結果は１００ｍ毎に集計されて出
力されている。平版印刷工程で発生する周期性欠陥の多
くは、例えば第１図に示した搬送ローラ４，８．９ある
いは加圧ローラ６等のように、ウェブ７を駆動するため
のローラの表面欠陥によって引き起こされるため、第３
図の出力例ではそのローラ径に換算した数値、すなわち
測定された欠陥周期をローラ径で割った値を表示してお
り、５番目のレーン（ウェブ７のエツジから４００〜５
００ｍｍの領域）について、先頭から３０００〜３４０
０ｍの位置にローラ径が２７４ｍｍのものによる周期性
欠陥があることを示している。
以上のように本発明では、検査データを２値化してから
、まずその中に含まれている欠陥データの相互間の距離
を算出した後、この距離の頻度を表す自己相関関数を利
用して欠陥の周期性を判別するようにしている。したが
って、２値化データの全てについて乗算及び加算を施し
、この結果得られた自己相関関数を利用して欠陥周期を
算出す４゜ る従来手法と比較すると、その計算処理時間を大幅に短
縮することができるようになり、処理能力が高い大型計
算機や専用のハードウェアを併用しなくても、リアルタ
イムで欠陥周期の測定を行うことが可能となる。
、まずその中に含まれている欠陥データの相互間の距離
を算出した後、この距離の頻度を表す自己相関関数を利
用して欠陥の周期性を判別するようにしている。したが
って、２値化データの全てについて乗算及び加算を施し
、この結果得られた自己相関関数を利用して欠陥周期を
算出す４゜ る従来手法と比較すると、その計算処理時間を大幅に短
縮することができるようになり、処理能力が高い大型計
算機や専用のハードウェアを併用しなくても、リアルタ
イムで欠陥周期の測定を行うことが可能となる。
第１図は本発明を実施する際に用いられる測定システム
の概略構成図である。 第２図は検査データ及びこれによって求められる自己相
関関数の内容を示す説明図である。 第３図は測定結果の印字出力例を示す説明図である。 ８．９・・搬送ローラ ・・加工機 ・・ウェブ ・・投光器 ・・受光器 ・・ＣＲＴ ・・プリンタ。
の概略構成図である。 第２図は検査データ及びこれによって求められる自己相
関関数の内容を示す説明図である。 第３図は測定結果の印字出力例を示す説明図である。 ８．９・・搬送ローラ ・・加工機 ・・ウェブ ・・投光器 ・・受光器 ・・ＣＲＴ ・・プリンタ。
Claims (1)
- （１）走行する被検査物に存在する欠陥の周期を測定す
る方法において、 被検査物から得られた検査データを正常データと欠陥デ
ータとに２値化し、前記欠陥データの各々についてその
相互間の距離を求めた後、これらの距離について頻度計
算を行って距離の周期成分を算出し、この周期成分から
欠陥データの基本周期を抽出することを特徴とする欠陥
周期の測定方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63226190A JPH0786474B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 欠陥周期の測定方法 |
| EP89116688A EP0358236B1 (en) | 1988-09-09 | 1989-09-08 | Method of measuring period of surface defect |
| DE68928510T DE68928510T2 (de) | 1988-09-09 | 1989-09-08 | Verfahren zur Messung der Periode eines Oberflächenfehlers |
| US07/405,215 US4982600A (en) | 1988-09-09 | 1989-09-11 | Method of measuring the period of surface defects |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63226190A JPH0786474B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 欠陥周期の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0274852A true JPH0274852A (ja) | 1990-03-14 |
| JPH0786474B2 JPH0786474B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=16841298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63226190A Expired - Fee Related JPH0786474B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 欠陥周期の測定方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
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| US (1) | US4982600A (ja) |
| EP (1) | EP0358236B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0786474B2 (ja) |
| DE (1) | DE68928510T2 (ja) |
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| JP2016003903A (ja) * | 2014-06-16 | 2016-01-12 | Ckd株式会社 | 検査システム及びｐｔｐ包装機 |
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- 1989-09-11 US US07/405,215 patent/US4982600A/en not_active Expired - Lifetime
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