JPS5892938A - 傷測定装置 - Google Patents
傷測定装置Info
- Publication number
- JPS5892938A JPS5892938A JP56193269A JP19326981A JPS5892938A JP S5892938 A JPS5892938 A JP S5892938A JP 56193269 A JP56193269 A JP 56193269A JP 19326981 A JP19326981 A JP 19326981A JP S5892938 A JPS5892938 A JP S5892938A
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- Japan
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- counting
- scanning
- value
- memory
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、連続して移動する被測定物体２例えば連続し
て圧延される鉄板等の表面傷を判定する装置に関するも
のである。
て圧延される鉄板等の表面傷を判定する装置に関するも
のである。
従来、連続して圧延される鉄板等の表面傷を検出する装
置としては、フライングスポット方式、またはテレビカ
メラによる画像を分析するパターン認識による傷検出方
式が採用されている。しかしながらフライ／ゲスポット
方式では、傷の有無を判明することはできるが、傷の大
きさ及び傷の連続性を判定することは困難である。一方
、テレビカメラにより画像認識として処理する方式では
、画像１フレ一ム分のメモリーを設けなくてはならず、
また傷の連続性、−幅等を演算して判定するためには、
数百ミリ秒を必要とし、連続して高速走行する鉄板等で
は莫大なメモリーを必要とし、且つ、判定速度が追従で
きない等の欠点があった。
置としては、フライングスポット方式、またはテレビカ
メラによる画像を分析するパターン認識による傷検出方
式が採用されている。しかしながらフライ／ゲスポット
方式では、傷の有無を判明することはできるが、傷の大
きさ及び傷の連続性を判定することは困難である。一方
、テレビカメラにより画像認識として処理する方式では
、画像１フレ一ム分のメモリーを設けなくてはならず、
また傷の連続性、−幅等を演算して判定するためには、
数百ミリ秒を必要とし、連続して高速走行する鉄板等で
は莫大なメモリーを必要とし、且つ、判定速度が追従で
きない等の欠点があった。
本発明は、上記従来の欠点を除去すると共に、コストの
低下を図れるようにした傷測定装置を提供することを目
的とする。以下本発明の詳細をその一実施例を示す図面
と共に説明する。第１図は本測定装置の概略の構成を示
す図であって、１は照明機による光源、２は高速に矢印
方向に移動する鉄板等の被測定物体、３は光電検出器、
４は処理器、６は印字或いはマーキング等の機能を備え
た端末機である。
低下を図れるようにした傷測定装置を提供することを目
的とする。以下本発明の詳細をその一実施例を示す図面
と共に説明する。第１図は本測定装置の概略の構成を示
す図であって、１は照明機による光源、２は高速に矢印
方向に移動する鉄板等の被測定物体、３は光電検出器、
４は処理器、６は印字或いはマーキング等の機能を備え
た端末機である。
また第２図は光電検出器３の構成を示すもので、６は撮
影レンズ、７は撮影レンズ６の後に光軸と直角方向に配
置したラインセンサーである。
影レンズ、７は撮影レンズ６の後に光軸と直角方向に配
置したラインセンサーである。
上記構成の装置において、光源１により測定物体２を斜
照射し、その反射光を光電検出器３の前部に設けた撮影
レンズ６を経由して、ラインセンサー７で撮影しビデオ
信号を得る。そのビデオ信号を処理器４にあらかじめ設
定した判定条件と比較して、傷と判定すれば警報を発生
すると共に、傷の位置２寸法等を端末機６により印字等
の手段により出力する。
照射し、その反射光を光電検出器３の前部に設けた撮影
レンズ６を経由して、ラインセンサー７で撮影しビデオ
信号を得る。そのビデオ信号を処理器４にあらかじめ設
定した判定条件と比較して、傷と判定すれば警報を発生
すると共に、傷の位置２寸法等を端末機６により印字等
の手段により出力する。
また第３図は前記ラインセンサ７の出力を２値化する場
合の説明図であって、ラインセンサ７を測定物体２の走
査方向と直角方□向ｌに沿って走査すれば、傷の個所イ
で出力が急減するビデイオ出力波形８が得られるので、
これを適当なスライスレベル９（破線）を境いに１と０
で２値化すれば、鉄板の端部等の基準位置１ｏを起点と
して、距離りの位置に巾Ｗのパルス出力１１が得られる
。被測定物体２の走行速度をＶ、−回の走査に要する時
間をｔ、走査回数をｎとすれば、ｎ回・の計測により、
ｖＸｔＸｎの長さの範囲の計測を行うことができる。
合の説明図であって、ラインセンサ７を測定物体２の走
査方向と直角方□向ｌに沿って走査すれば、傷の個所イ
で出力が急減するビデイオ出力波形８が得られるので、
これを適当なスライスレベル９（破線）を境いに１と０
で２値化すれば、鉄板の端部等の基準位置１ｏを起点と
して、距離りの位置に巾Ｗのパルス出力１１が得られる
。被測定物体２の走行速度をＶ、−回の走査に要する時
間をｔ、走査回数をｎとすれば、ｎ回・の計測により、
ｖＸｔＸｎの長さの範囲の計測を行うことができる。
しかし、鉄板等の測定物体２上に実際に生ずる傷のパタ
ンには、第４図に示す各種の場合が生ずる。
ンには、第４図に示す各種の場合が生ずる。
同図において、８１Ｌは巾の広い傷の例、８ｂは巾が狭
くて長い傷の例、８ｃは斜方向に長い傷の例、８ｄは長
さ方向に途切れを有する傷の例、８６は巾方向に途切れ
のある傷の例、８ｆは平行して走る２本の傷の例である
。傷の判定は上記各種の傷に対して、各偶の位置り、巾
Ｗ、異常発見繰返し走査数Ｇをカウントし、これをあら
かじめ設定１１゜ した各種の設定値と比較して判断させるようになってい
る。
くて長い傷の例、８ｃは斜方向に長い傷の例、８ｄは長
さ方向に途切れを有する傷の例、８６は巾方向に途切れ
のある傷の例、８ｆは平行して走る２本の傷の例である
。傷の判定は上記各種の傷に対して、各偶の位置り、巾
Ｗ、異常発見繰返し走査数Ｇをカウントし、これをあら
かじめ設定１１゜ した各種の設定値と比較して判断させるようになってい
る。
第６図は第１図に示した実施例における電気的６ベーノ
構成を詳細に示すブロック図であって、１２はタイミン
グ回路、１３は映像回路、１４は２値化回路、１６はカ
ウンター、１６はゲート回路、１７は演算回路、１？は
一時メモリー回路、１９ａ〜１９０はそれぞれ第１番目
〜第３のメモリー回路、２０１Ｌ〜２０（ｉは、第１〜
第４の条件の設定器で、他の第１図と同一の符号は同一
の名称を表わすものとする。前記第１〜第３のメモリー
回路として、例えば、第１のメモリー回路１９＆には、
−眸メモリー回路１８からの各傷毎のＷとＬの値、第２
のメモリー回路１９ｂには同じく各傷毎の繰り返しカウ
ント数Ｇの値、第３のメモリー回路１９０には走査回数
ｎが記憶される。−１第１の条件設定器２０ＩＬは傷の
対象とするＷの最小値Ｗｍ１ｎ と、良品の限界傷の
巾ＷＩＩＩＩＬｘの両方の値が、第２の条件設定器２ｏ
ｂには、不良と判定する傷の長さに対応する繰り返しカ
ウント数の値Ｃｌｌ１ＩＬｘが、第３の条件設定器２０
０には、第１回と第２回目の走査（以下同じ）のＬの値
Ｌ１とＬ２の間の差の値から傷が連続とみなされる限界
値（ΔＬｍａｘ ）が、また第４の条件設定器２０ｄに
は、測定物２の長さ方向の途切れに対し、傷の連続とみ
なす限界値（ΔＯｒｍｘ ）がそれぞれ設定されている
ものとする。
グ回路、１３は映像回路、１４は２値化回路、１６はカ
ウンター、１６はゲート回路、１７は演算回路、１？は
一時メモリー回路、１９ａ〜１９０はそれぞれ第１番目
〜第３のメモリー回路、２０１Ｌ〜２０（ｉは、第１〜
第４の条件の設定器で、他の第１図と同一の符号は同一
の名称を表わすものとする。前記第１〜第３のメモリー
回路として、例えば、第１のメモリー回路１９＆には、
−眸メモリー回路１８からの各傷毎のＷとＬの値、第２
のメモリー回路１９ｂには同じく各傷毎の繰り返しカウ
ント数Ｇの値、第３のメモリー回路１９０には走査回数
ｎが記憶される。−１第１の条件設定器２０ＩＬは傷の
対象とするＷの最小値Ｗｍ１ｎ と、良品の限界傷の
巾ＷＩＩＩＩＬｘの両方の値が、第２の条件設定器２ｏ
ｂには、不良と判定する傷の長さに対応する繰り返しカ
ウント数の値Ｃｌｌ１ＩＬｘが、第３の条件設定器２０
０には、第１回と第２回目の走査（以下同じ）のＬの値
Ｌ１とＬ２の間の差の値から傷が連続とみなされる限界
値（ΔＬｍａｘ ）が、また第４の条件設定器２０ｄに
は、測定物２の長さ方向の途切れに対し、傷の連続とみ
なす限界値（ΔＯｒｍｘ ）がそれぞれ設定されている
ものとする。
次に上記実施例動作を第４図、第６図によシ説明する。
ラインセンサ７は、タイミング回路１２の出力により、
その光学像の走査を行ない、その出力ビデオ信号８は、
映像回路１３で増幅処理が行われた後、２値化回路１４
によりディジタル化される。前記タイミング回路１２か
ら供給されるクロック信号と同期信号によシカウンタ１
６を動作させ、前記カウンターの出力をゲート回路１６
によシ制御し、ディジタル出力が１になる場合毎に組に
仕分けし、前記各組のＬとＷの値を一時メモリー１８に
記憶する。以下説明の便宜上、傷が一本の場合の例につ
いて説明する。次にＷの値を第１の条件設定器２０！Ｌ
のＷｍ１Ｌ）Ｃ及びＴｗｉｎと比較し、”＞”ｍ認の時
は不良とみなし直ちに警報を発生し、一方Ｗ＜Ｗｍ１ｎ
の場合は傷でないとみなし無視する。％ＩＬｚ’ ＞Ｗ
） Ｗｍ１ｎの場合は、前記りとＷの値を第１のメモリ
ー回路に移し、第２回目の走査に入り、第１回目と同様
な動作を行うと共に、第２のメモリー回路１９ｂの繰り
返しカウント値Ｃに１を加える。また、第１のメモリー
回路１９！ＬのＬの値を一時メモリー１８のＬの値と比
較し、この差が前記ΔＬｍｕ以下の場合は、同−傷とみ
なして第２のメモリー回路１９ｂのＣの値をリセットす
ることなく次の走査に進む。従って第３図８０の斜の傷
の場合は測定物の進行方向に長い第４図に示した傷８ｂ
と同様に走査ごとにカウント値Ｃが増してゆく。この時
、第３の条件設定器２００の限界カウント値Δｃｍａｘ
以下の場合には走査を繰返すが、Ｃ〉ΔｃｍＩＬｘにな
ると細い長い傷とみなして不良と判定して警報を発生す
る。以下同一動作を繰返すが、第４図ｄに示したように
、傷に途切れがある場合は、一時傷が消滅したと判定し
ても、途切れの回数が第４の条件設定器２０ｄの設定値
Ｃｉ以下の場合は、前記第２のメモリー回路１９ｂの値
をリセットせずに動作を継続する。
その光学像の走査を行ない、その出力ビデオ信号８は、
映像回路１３で増幅処理が行われた後、２値化回路１４
によりディジタル化される。前記タイミング回路１２か
ら供給されるクロック信号と同期信号によシカウンタ１
６を動作させ、前記カウンターの出力をゲート回路１６
によシ制御し、ディジタル出力が１になる場合毎に組に
仕分けし、前記各組のＬとＷの値を一時メモリー１８に
記憶する。以下説明の便宜上、傷が一本の場合の例につ
いて説明する。次にＷの値を第１の条件設定器２０！Ｌ
のＷｍ１Ｌ）Ｃ及びＴｗｉｎと比較し、”＞”ｍ認の時
は不良とみなし直ちに警報を発生し、一方Ｗ＜Ｗｍ１ｎ
の場合は傷でないとみなし無視する。％ＩＬｚ’ ＞Ｗ
） Ｗｍ１ｎの場合は、前記りとＷの値を第１のメモリ
ー回路に移し、第２回目の走査に入り、第１回目と同様
な動作を行うと共に、第２のメモリー回路１９ｂの繰り
返しカウント値Ｃに１を加える。また、第１のメモリー
回路１９！ＬのＬの値を一時メモリー１８のＬの値と比
較し、この差が前記ΔＬｍｕ以下の場合は、同−傷とみ
なして第２のメモリー回路１９ｂのＣの値をリセットす
ることなく次の走査に進む。従って第３図８０の斜の傷
の場合は測定物の進行方向に長い第４図に示した傷８ｂ
と同様に走査ごとにカウント値Ｃが増してゆく。この時
、第３の条件設定器２００の限界カウント値Δｃｍａｘ
以下の場合には走査を繰返すが、Ｃ〉ΔｃｍＩＬｘにな
ると細い長い傷とみなして不良と判定して警報を発生す
る。以下同一動作を繰返すが、第４図ｄに示したように
、傷に途切れがある場合は、一時傷が消滅したと判定し
ても、途切れの回数が第４の条件設定器２０ｄの設定値
Ｃｉ以下の場合は、前記第２のメモリー回路１９ｂの値
をリセットせずに動作を継続する。
なお、傷の途切が前記Ｃｉ以上の場合には、傷が消滅し
たとみなして、前記第１．第２のメモリー記不良の警報
を発した場合も同様とする。複数本の傷に対しても前記
メモリーの数を増設すれば同様に測定出来る。さらに第
４図に示した傷８Ｃのように走査方向に途切のあると、
長い傷を複数個の短い傷と判定してしまい良品と判定す
る恐れがあるので、これを防止するために、同−走査回
数内の各組の傷のＷを加算し、これを第６の条件設定器
（図示せず）に設定したＷの上限値ＷｇｕｌＤ と比
較し、前記加算値の値がｗｓｕｍ以上の場合は、不良傷
と判定するようにしてもよい。
たとみなして、前記第１．第２のメモリー記不良の警報
を発した場合も同様とする。複数本の傷に対しても前記
メモリーの数を増設すれば同様に測定出来る。さらに第
４図に示した傷８Ｃのように走査方向に途切のあると、
長い傷を複数個の短い傷と判定してしまい良品と判定す
る恐れがあるので、これを防止するために、同−走査回
数内の各組の傷のＷを加算し、これを第６の条件設定器
（図示せず）に設定したＷの上限値ＷｇｕｌＤ と比
較し、前記加算値の値がｗｓｕｍ以上の場合は、不良傷
と判定するようにしてもよい。
なお上記構成で演算回路１７は、各種データの入出力の
制御９条件判定、メモリーの制御、警報の発生等の出力
動作を全て行う機能を有しているものとする。前記演算
回路１７の各種機能は市販のマイコン等により容易に実
現できるので、その詳細な説明は省略する。・・ １：： 上記の装置によれば、メモリーも簡単で、然も効果的な
判断が可能である。即ち、通常の画像メモリーを必要と
せず、ディジタルメモリーとコン９７゛−７゛ パレータ−の組合わせで判定速度も１ｏ ｍ５ｅｃ以下
となる。本方式はテレビカメラによるノくターン計測法
に利用しても有効であるが、移動する被判定物の場合に
は、テレビカメラのような２次元センサーよシも検出速
度の早いラインセンサーカメラの方が更に有利である。
制御９条件判定、メモリーの制御、警報の発生等の出力
動作を全て行う機能を有しているものとする。前記演算
回路１７の各種機能は市販のマイコン等により容易に実
現できるので、その詳細な説明は省略する。・・ １：： 上記の装置によれば、メモリーも簡単で、然も効果的な
判断が可能である。即ち、通常の画像メモリーを必要と
せず、ディジタルメモリーとコン９７゛−７゛ パレータ−の組合わせで判定速度も１ｏ ｍ５ｅｃ以下
となる。本方式はテレビカメラによるノくターン計測法
に利用しても有効であるが、移動する被判定物の場合に
は、テレビカメラのような２次元センサーよシも検出速
度の早いラインセンサーカメラの方が更に有利である。
以上の説明から明らか々ように本発明によれば単に測定
物の走査方向の傷の計測を行えるだけでなく、走査方向
と直角方向の傷の広がり、或いは斜方向の傷についても
計測でき、さらに傷に途切れがあっても測定が継続する
ようになっているので、各種複合条件によって綜合的に
しかも高速に傷の測定、監視が行える利点を有する。
物の走査方向の傷の計測を行えるだけでなく、走査方向
と直角方向の傷の広がり、或いは斜方向の傷についても
計測でき、さらに傷に途切れがあっても測定が継続する
ようになっているので、各種複合条件によって綜合的に
しかも高速に傷の測定、監視が行える利点を有する。
第１図は本発明の一実施例による傷測定装畳の概略の構
成を示す側面図、第２図は同要部の側面図、第３図は同
要部の信号波形図、第４図は傷の種類を示す説明図、第
６図は同実施例の電気的構成を示すブロック図である。 ２・・・・・・被測定物体、６・・・・・・端末機、７
・・・・・・ライ ０ ンセンサー、１４・・・・・・２値化回路、１６・・・
・・・カウンター、１６・・・・・・ゲート回路、１７
・・・・・・演算回路、１Ｂ・・・・・・一時メモリ−
１１９・・・・・・メモリー回路、２０・・・・・・条
件設定器。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第３図
成を示す側面図、第２図は同要部の側面図、第３図は同
要部の信号波形図、第４図は傷の種類を示す説明図、第
６図は同実施例の電気的構成を示すブロック図である。 ２・・・・・・被測定物体、６・・・・・・端末機、７
・・・・・・ライ ０ ンセンサー、１４・・・・・・２値化回路、１６・・・
・・・カウンター、１６・・・・・・ゲート回路、１７
・・・・・・演算回路、１Ｂ・・・・・・一時メモリ−
１１９・・・・・・メモリー回路、２０・・・・・・条
件設定器。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第３図
Claims (1)
- 連続して走行する被測定物体表面の傷の反射光をライン
センサーにより走査して検出する検出手段と、前記検出
した値を２値化する２値化手段と、前記２値化した値を
計数して傷の位置と巾との値を求める計数手段と、前記
走査を繰り返し、前記計数手段の出力を遂次記憶する記
憶手段と、前記計数された傷が同一の傷に属するか否か
を判定する判定生膜と、前記同一の傷の走査の繰り返し
回数を計数して記憶する計数・記憶手段と、被測定物体
の良或いは不良を傷により判定する判定条件を設定する
だめの条件設定手段と、前記傷の位置と巾と同一の傷の
走査繰り返し数とを前記条件設定値と比較して結果を出
力する演算手段とを備えたことを特徴とする傷測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56193269A JPS5892938A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 傷測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56193269A JPS5892938A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 傷測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5892938A true JPS5892938A (ja) | 1983-06-02 |
Family
ID=16305124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56193269A Pending JPS5892938A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 傷測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5892938A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6425748U (ja) * | 1987-08-06 | 1989-02-13 | ||
| JPH05232044A (ja) * | 1991-11-22 | 1993-09-07 | Elkem Technol As | 連続鋳造金属ビレットのピンホールを検出する方法 |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP56193269A patent/JPS5892938A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6425748U (ja) * | 1987-08-06 | 1989-02-13 | ||
| JPH05232044A (ja) * | 1991-11-22 | 1993-09-07 | Elkem Technol As | 連続鋳造金属ビレットのピンホールを検出する方法 |
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