JPH0276113A - ピークシフトエラー検出回路 - Google Patents
ピークシフトエラー検出回路Info
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- JPH0276113A JPH0276113A JP22758288A JP22758288A JPH0276113A JP H0276113 A JPH0276113 A JP H0276113A JP 22758288 A JP22758288 A JP 22758288A JP 22758288 A JP22758288 A JP 22758288A JP H0276113 A JPH0276113 A JP H0276113A
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- peak shift
- circuit
- magnetic disk
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/02—Recording, reproducing, or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B5/09—Digital recording
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
Landscapes
- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエラー検出回
路に関し、 ピークシフト量の検出を簡略化し判定を容易にすること
を目的とし、 磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエラーを検出
するピークシフトエラー検出回路であって、ヘッドの出
力波形を一定の振幅に制御した後パルス状のローデータ
を作成するローデータ作成回路と、前記ローデータをゲ
ート信号により正側と負側に分け各々のパルスを一定周
期についてチャージしチャージした電圧の差によりピー
クシフト量を求める積分回路を備え、磁気ディスクの略
一周について積分して得られた定量値によりピークシフ
トの良否を判定するように構成する。
路に関し、 ピークシフト量の検出を簡略化し判定を容易にすること
を目的とし、 磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエラーを検出
するピークシフトエラー検出回路であって、ヘッドの出
力波形を一定の振幅に制御した後パルス状のローデータ
を作成するローデータ作成回路と、前記ローデータをゲ
ート信号により正側と負側に分け各々のパルスを一定周
期についてチャージしチャージした電圧の差によりピー
クシフト量を求める積分回路を備え、磁気ディスクの略
一周について積分して得られた定量値によりピークシフ
トの良否を判定するように構成する。
本発明は磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエラ
ー検出回路に関する。
ー検出回路に関する。
コンピュータシステムにおいて、外部記憶装置として磁
気ディスク装置が多用されている。磁気ディスク装置は
通常複数枚の磁気ディスクを同軸上に積層したシリンダ
ーにより構成され、各磁気ディスクの情報は各磁気ディ
スク毎に設けられたヘッドにより書込み及び読出しされ
る。
気ディスク装置が多用されている。磁気ディスク装置は
通常複数枚の磁気ディスクを同軸上に積層したシリンダ
ーにより構成され、各磁気ディスクの情報は各磁気ディ
スク毎に設けられたヘッドにより書込み及び読出しされ
る。
この場合、記録の高密度化に伴い、インダクタンスが小
さく高周波−高密度書込み性能が優れた薄膜ヘッドを用
いるが、薄膜ヘッドはその構造上従来のモノシリツクヘ
ッドに比ベボール長（ヘッドの媒体と対向する部分の長
さ）とギャップ長の比が極端に小さいため独特の漏洩磁
界分布を持つ。
さく高周波−高密度書込み性能が優れた薄膜ヘッドを用
いるが、薄膜ヘッドはその構造上従来のモノシリツクヘ
ッドに比ベボール長（ヘッドの媒体と対向する部分の長
さ）とギャップ長の比が極端に小さいため独特の漏洩磁
界分布を持つ。
これが記録及び再生時に影響を及ぼし、再生波形におい
て孤立波の縁端がくぼむネガティブエツジと呼ばれる現
象や位相ずれとしてのピークシフトを生じやすい。この
ヘッドによるピークシフト量が大きいと磁気ディスクに
よるピークシフトと重なり合って読み取りエラーを発生
するので、ヘッドのシフト量としである一定量以下に抑
える必要がある。
て孤立波の縁端がくぼむネガティブエツジと呼ばれる現
象や位相ずれとしてのピークシフトを生じやすい。この
ヘッドによるピークシフト量が大きいと磁気ディスクに
よるピークシフトと重なり合って読み取りエラーを発生
するので、ヘッドのシフト量としである一定量以下に抑
える必要がある。
〔従来の技術〕
まず、薄膜ヘッドによるピークシフトの発生原因を以下
に説明する。
に説明する。
第５図（ａ） （ｂ） （ｃ）において、（ａ）は有限
な寸法を持つ磁性層を磁化したときの理想フランクスパ
ターンであり、（ｂ）は実際の書込みデータの磁化パタ
ーンであり、（ｃ）はヘッドに読み取られる出カバター
ンである。（ｂ）に示すように磁化を妨げる反発力が常
に減磁作用として反対方向に作用している。これは磁化
された部分の両端に現れるＮ極とＳ極の磁界が磁性層内
では磁化方向と反対方向に作用する磁化反転が生じてい
るためである。
な寸法を持つ磁性層を磁化したときの理想フランクスパ
ターンであり、（ｂ）は実際の書込みデータの磁化パタ
ーンであり、（ｃ）はヘッドに読み取られる出カバター
ンである。（ｂ）に示すように磁化を妨げる反発力が常
に減磁作用として反対方向に作用している。これは磁化
された部分の両端に現れるＮ極とＳ極の磁界が磁性層内
では磁化方向と反対方向に作用する磁化反転が生じてい
るためである。
（ｃ）に示すように、この減磁作用による残留磁化の低
下は、ヘッドからの再生出力の低下のみならず、出力信
号の位相的なずれも大きくするいわゆるピークシフトを
生じる。明らかなように（ｃ）の波形は（ｂ）の波形の
上下を加えた合成波形であり、ＰＳはピークシフト量を
示し、ＡＲは振幅の減少量を示し、φはフラックスの大
きさを示す。
下は、ヘッドからの再生出力の低下のみならず、出力信
号の位相的なずれも大きくするいわゆるピークシフトを
生じる。明らかなように（ｃ）の波形は（ｂ）の波形の
上下を加えた合成波形であり、ＰＳはピークシフト量を
示し、ＡＲは振幅の減少量を示し、φはフラックスの大
きさを示す。
通常、ヘッドのピークシフト量の検出は、マスク磁気デ
ィスクに記録されている基準波形を被試験ヘッドで、読
み取ったときの波形により評価されるが、従来、この出
力波形はオシウスコープ等を用いて目視にて観察し評価
している。
ィスクに記録されている基準波形を被試験ヘッドで、読
み取ったときの波形により評価されるが、従来、この出
力波形はオシウスコープ等を用いて目視にて観察し評価
している。
このような薄膜ヘッドによる読み取り波形のピークシフ
トは、高密度化に記録された媒体に適用されるギャップ
の狭い薄膜ヘッドにおいて特に顕著に現れ、しかも従来
はピークシフト量を検出する回路は磁気ディスクについ
ては存在するがヘッドに関してはなく、前述のように薄
膜ヘッドからの出力波形をオシロスコープ等により目視
にて観察し評価している。しかしながら、その都度側々
に出力波形を観察し評価していたのでは時間を要し量産
ラインに適用しない。また、この出力波形は媒体からの
読み取り波形なので媒体による変動も重なり合い、個々
の出力波形を観察しても個々のヘッドの特性を評価する
のは容易でない。
トは、高密度化に記録された媒体に適用されるギャップ
の狭い薄膜ヘッドにおいて特に顕著に現れ、しかも従来
はピークシフト量を検出する回路は磁気ディスクについ
ては存在するがヘッドに関してはなく、前述のように薄
膜ヘッドからの出力波形をオシロスコープ等により目視
にて観察し評価している。しかしながら、その都度側々
に出力波形を観察し評価していたのでは時間を要し量産
ラインに適用しない。また、この出力波形は媒体からの
読み取り波形なので媒体による変動も重なり合い、個々
の出力波形を観察しても個々のヘッドの特性を評価する
のは容易でない。
本発明は、磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエ
ラーを検出するピークシフトエラー検出回路であって、
ヘッドの出力波形を一定の振幅に制御した後パルス状の
ローデータを作成するローデータ作成回路と、前記ロー
データをゲート信号により正側と負側に分け各々のパル
スを一定周期についてチャージしチャージした電圧の差
によりピークシフト量を求める積分回路を備え、磁気デ
ィスクの略一周について積分して得られた定量値により
ピークシフトの良否を判定するようにしたことを特徴と
する。
ラーを検出するピークシフトエラー検出回路であって、
ヘッドの出力波形を一定の振幅に制御した後パルス状の
ローデータを作成するローデータ作成回路と、前記ロー
データをゲート信号により正側と負側に分け各々のパル
スを一定周期についてチャージしチャージした電圧の差
によりピークシフト量を求める積分回路を備え、磁気デ
ィスクの略一周について積分して得られた定量値により
ピークシフトの良否を判定するようにしたことを特徴と
する。
薄膜ヘッドの出力波形を一定の振幅に制御した後パルス
状のローデータを作成し、前記ローデータをゲート信号
により正側と負側に分け各々のパルスを一定周期につい
てチャージしチャージした電圧の差によりピークシフト
量を求め、このピークシフト量を磁気ディスクの略一周
について積分し、その積分結果をＡ／Ｄ変換して定量値
として検出し、得られた定量値によりピークシフトの良
否を判定する。これにより、薄膜ヘッドのピークシフト
を評価する上で磁気ディスク表面の状態による影響を無
くし性能を容易かつ正確に評価することができる。
状のローデータを作成し、前記ローデータをゲート信号
により正側と負側に分け各々のパルスを一定周期につい
てチャージしチャージした電圧の差によりピークシフト
量を求め、このピークシフト量を磁気ディスクの略一周
について積分し、その積分結果をＡ／Ｄ変換して定量値
として検出し、得られた定量値によりピークシフトの良
否を判定する。これにより、薄膜ヘッドのピークシフト
を評価する上で磁気ディスク表面の状態による影響を無
くし性能を容易かつ正確に評価することができる。
第１図はピークシフトエラー検出回路の基本構成ブロッ
ク図である。Ｈは磁気ヘッド、１１はリードスイッチ、
１２はリードアンプ、１３はＡＧＣ回路、１４はフィル
タ、１５はローデータ作成回路、１６はポジションゲー
ト作成回路、１７はエラー電圧作成回路、１８はＡ／Ｄ
変換回路、１９は加算回路、そして２０はシフトレジス
タである。
ク図である。Ｈは磁気ヘッド、１１はリードスイッチ、
１２はリードアンプ、１３はＡＧＣ回路、１４はフィル
タ、１５はローデータ作成回路、１６はポジションゲー
ト作成回路、１７はエラー電圧作成回路、１８はＡ／Ｄ
変換回路、１９は加算回路、そして２０はシフトレジス
タである。
ヘッドから読み取られた出力波形ＲＤは、リードスイッ
チ１１を経てリードアンプ１２にて増幅された後、ＡＧ
Ｃ回路１３にて利得を自動的に一定の振幅に制御する。
チ１１を経てリードアンプ１２にて増幅された後、ＡＧ
Ｃ回路１３にて利得を自動的に一定の振幅に制御する。
ＡＧＣ回路１３の出力はフィルタ１４を経てローデータ
作成回路１５及びポジションゲート作成回路１６に入力
され、ローデータ作成回路１５はパルス状のローデータ
ｌ？ＡＷＤＡＴＡを出力し、ポジションゲート作成回路
１６はローデータを分周したゲート信号ＰＯＳＧＴを出
力し、これらの信号から結果的にローデータをゲートし
た信号ＧＰをエラー電圧作成回路１７に入力する。エラ
ー電圧作成回路１７はローデータの１パルス毎のピーク
シフト量、即ち、ずれ量を、一定周期骨のコンデンサの
チャージ量により決まる電圧に変換した後積分する。Ａ
／Ｄ変換回路１８は積分結果ＰＳｖをデジタル値に変換
し、加算回路１９にて加算した後シフトレジスタ２０に
格納する。この格納データは定量値の測定結果ＴＤを示
している。
作成回路１５及びポジションゲート作成回路１６に入力
され、ローデータ作成回路１５はパルス状のローデータ
ｌ？ＡＷＤＡＴＡを出力し、ポジションゲート作成回路
１６はローデータを分周したゲート信号ＰＯＳＧＴを出
力し、これらの信号から結果的にローデータをゲートし
た信号ＧＰをエラー電圧作成回路１７に入力する。エラ
ー電圧作成回路１７はローデータの１パルス毎のピーク
シフト量、即ち、ずれ量を、一定周期骨のコンデンサの
チャージ量により決まる電圧に変換した後積分する。Ａ
／Ｄ変換回路１８は積分結果ＰＳｖをデジタル値に変換
し、加算回路１９にて加算した後シフトレジスタ２０に
格納する。この格納データは定量値の測定結果ＴＤを示
している。
第２図は本発明の一実施例要部回路図であり、特に、第
１図の回路１５．１６．１７を詳細に示すものである。
１図の回路１５．１６．１７を詳細に示すものである。
これらの回路をまとめてピークシフト積分回路２１とす
る。ピークシフト積分回路２１において、２１１は微分
回路、２１２はコンパレータ（ＣＭＰ）、２１３は遅延
回路（ＤＬ）、２１４は排他的論理和回路（ＥＸＯＲ）
、２１５はゼロクロスコンパレータ（ＺＣＭＰ）、２１
６はＡＮＤ回路、２１７はフリップフロップ回路（ＦＦ
）、２１８．２１９．２２１は差動増幅回路、２２０は
演算回路である。また、ＰＧは正側ゲート信号、肝は負
側ゲート信号、Ｓはリセット信号、Ｒ３はリセット信号
、ＰＰは正側パルス、ＰＭは負側パルスである。
る。ピークシフト積分回路２１において、２１１は微分
回路、２１２はコンパレータ（ＣＭＰ）、２１３は遅延
回路（ＤＬ）、２１４は排他的論理和回路（ＥＸＯＲ）
、２１５はゼロクロスコンパレータ（ＺＣＭＰ）、２１
６はＡＮＤ回路、２１７はフリップフロップ回路（ＦＦ
）、２１８．２１９．２２１は差動増幅回路、２２０は
演算回路である。また、ＰＧは正側ゲート信号、肝は負
側ゲート信号、Ｓはリセット信号、Ｒ３はリセット信号
、ＰＰは正側パルス、ＰＭは負側パルスである。
ＡＧＣ回路１３により定レベル化された読み取り信号は
、微分回路２１１により微分された後、コンパレータ２
１２でパルス化されて、コンパレータ２１２でパルス化
されて、排他的論理和回路（ＥＸＯＲ）２１４に入力さ
れる。ＥＸＯＲ２１４には遅延回路２１３を経た出力も
取り込まれ、これらからローデータが作成される。さら
に、このローデータｌ？ｊＶＤＡＴＡ とゼロクロスコ
ンパレータ２１５からの正側ゲート信号ＰＧと負側ゲー
ト信号ＭＧがＡＮＤゲート２１６に入力され、これらの
信号の一致が各々のＡＮＤゲート２１６でとられ、各々
のＡＮＤゲートからのセント信号Ｓとリセット信号Ｒ５
によりフリップフロップ２１７が動作し正側パルスＰＰ
及び負側パルスＰＭを得る。
、微分回路２１１により微分された後、コンパレータ２
１２でパルス化されて、コンパレータ２１２でパルス化
されて、排他的論理和回路（ＥＸＯＲ）２１４に入力さ
れる。ＥＸＯＲ２１４には遅延回路２１３を経た出力も
取り込まれ、これらからローデータが作成される。さら
に、このローデータｌ？ｊＶＤＡＴＡ とゼロクロスコ
ンパレータ２１５からの正側ゲート信号ＰＧと負側ゲー
ト信号ＭＧがＡＮＤゲート２１６に入力され、これらの
信号の一致が各々のＡＮＤゲート２１６でとられ、各々
のＡＮＤゲートからのセント信号Ｓとリセット信号Ｒ５
によりフリップフロップ２１７が動作し正側パルスＰＰ
及び負側パルスＰＭを得る。
ゼロクロスコンパレータ２１５は、ＡＧＣ回１１の出力
を正側ゲート信号ＰＧと負側ゲート信号ＭＧに分けてゲ
ート信号を作成する。これらの信号ＰＧ及び肛はポジシ
ョンゲート信号ＰＯ３ＧＴとして、各々のＡＮＤゲート
２１６に入力される。これにより、リード波形ＲＤのピ
ーク間隔Ｔ１の部分のゲートとピーク間隔Ｔ２の部分の
ゲートが行われる。
を正側ゲート信号ＰＧと負側ゲート信号ＭＧに分けてゲ
ート信号を作成する。これらの信号ＰＧ及び肛はポジシ
ョンゲート信号ＰＯ３ＧＴとして、各々のＡＮＤゲート
２１６に入力される。これにより、リード波形ＲＤのピ
ーク間隔Ｔ１の部分のゲートとピーク間隔Ｔ２の部分の
ゲートが行われる。
ピークシフト積分回路２１では、フリップフロップ２１
７から出力された正側パルスＰＰ及び負側パルスＰＭを
スイッチＳＷＩ及び舖２で切り換えてそれぞれのオペア
ンプにてチャージする。本実施例では一回の測定がロー
データＲＡＷＤＡＴＡの２５６パルス分であるから、コ
ンデンサに２５６パルス分チャージする。尚、オペアン
プ２１９の可変ボリュウームはオペアンプ２１８のチャ
ージ速度と等しくするための調整用である。
７から出力された正側パルスＰＰ及び負側パルスＰＭを
スイッチＳＷＩ及び舖２で切り換えてそれぞれのオペア
ンプにてチャージする。本実施例では一回の測定がロー
データＲＡＷＤＡＴＡの２５６パルス分であるから、コ
ンデンサに２５６パルス分チャージする。尚、オペアン
プ２１９の可変ボリュウームはオペアンプ２１８のチャ
ージ速度と等しくするための調整用である。
このような構成において、基本的動作は次のようになる
。
。
ピークシフト量の測定の対象となる信号はＦｌ（３，２
８ＭＨｚ）のリード波形ＲＤである。図示のようなリー
ド波形のうち、連続する２つのピーク間隔Ｔ１及びＴ２
を測定し、これらについて磁気ディスク−周の平均値を
測定結果とする。ピークシフトはこのＴｌとＴ２の差の
絶対値ｌＴｌ−７２１となる。
８ＭＨｚ）のリード波形ＲＤである。図示のようなリー
ド波形のうち、連続する２つのピーク間隔Ｔ１及びＴ２
を測定し、これらについて磁気ディスク−周の平均値を
測定結果とする。ピークシフトはこのＴｌとＴ２の差の
絶対値ｌＴｌ−７２１となる。
本回路では、リード波形ＲＤからローデータＲＡＭＤＡ
ＴＡを作成し、微分回路２１１によりパルス化したロー
データＲＡＭＤＡＴＡを得、このＲＡ−ＤＡＴＡの１パ
ルスごとのずれ！（ピークシフト量）を電圧に変換して
積分した後Ａ／Ｄ変換して測定結果を定量値で求める。
ＴＡを作成し、微分回路２１１によりパルス化したロー
データＲＡＭＤＡＴＡを得、このＲＡ−ＤＡＴＡの１パ
ルスごとのずれ！（ピークシフト量）を電圧に変換して
積分した後Ａ／Ｄ変換して測定結果を定量値で求める。
この場合、ピークシフト量の単位は時間なので１０ｎｓ
ｅｃ／ ｖの比で電圧に変換する。 Ａ／Ｄコンバータ
は８ｂｉｔのものを使用し、基準電圧は５ｖとして２．
５νのオフセットをかけた入力とする。即ち、±２５ｎ
ｓまで測定可能とする。５シ／２５６ｂｉｔとなるので
０．０２ｖ／ｂｉｔ即ち、０．２ｎｓ／ｂｉｔとなる。
ｅｃ／ ｖの比で電圧に変換する。 Ａ／Ｄコンバータ
は８ｂｉｔのものを使用し、基準電圧は５ｖとして２．
５νのオフセットをかけた入力とする。即ち、±２５ｎ
ｓまで測定可能とする。５シ／２５６ｂｉｔとなるので
０．０２ｖ／ｂｉｔ即ち、０．２ｎｓ／ｂｉｔとなる。
前述のように、第１．２図において、リー°ドアンプ１
２でバッファされたリード信号ＲＤはＡＧＣ回路１３に
て一定の振幅レベルに制御され、フィルタ１４を経てロ
ーデータＲＡ賀ＤＡＴＡとゲート信号ＰＯ３ＧＴが作成
される。ＲＡＷＤＡＴＡはＰＯＳＧ↑により正側及び負
側になるようにゲートされ、その結果ゲートされたパル
スとしてエラー電圧発生回路に入力される。
２でバッファされたリード信号ＲＤはＡＧＣ回路１３に
て一定の振幅レベルに制御され、フィルタ１４を経てロ
ーデータＲＡ賀ＤＡＴＡとゲート信号ＰＯ３ＧＴが作成
される。ＲＡＷＤＡＴＡはＰＯＳＧ↑により正側及び負
側になるようにゲートされ、その結果ゲートされたパル
スとしてエラー電圧発生回路に入力される。
エラー電圧発生回路１７ではゲートされたパルスの位相
のずれ、即ち、ピークシフト量を一回の測定単位として
２５６パルス分（周期分）チャージした後、＾／Ｄ変換
される。このシーケンスはソフトウェアにより２″回繰
り返すことが可能で、−回毎の測定値が加算回路１９に
より加算される。そして、２″回の測定が終了した後加
算結果をシフトレジスタ２０から０回シフトダウンする
ことにより平均値が得られる。この結果をコンピュータ
で読み取り電圧を時間に換算して評価（良否の判定）を
行う。
のずれ、即ち、ピークシフト量を一回の測定単位として
２５６パルス分（周期分）チャージした後、＾／Ｄ変換
される。このシーケンスはソフトウェアにより２″回繰
り返すことが可能で、−回毎の測定値が加算回路１９に
より加算される。そして、２″回の測定が終了した後加
算結果をシフトレジスタ２０から０回シフトダウンする
ことにより平均値が得られる。この結果をコンピュータ
で読み取り電圧を時間に換算して評価（良否の判定）を
行う。
本実施例では磁気ディスクが一周する間に１６回行い加
算回路とシフトレジスタにより１６回の平均値が測定結
果となる。尚、工、ラー電圧発生回路の特性はその内部
コンデンサの特性に大きく影響されるので温度変化、経
年変化等の特性の優れたものを使用する必要がある。
算回路とシフトレジスタにより１６回の平均値が測定結
果となる。尚、工、ラー電圧発生回路の特性はその内部
コンデンサの特性に大きく影響されるので温度変化、経
年変化等の特性の優れたものを使用する必要がある。
第３．４図は第１図及び第２図の各点における信号タイ
ムチャートである。
ムチャートである。
第３図区おいて、リード波形の実線は理想波形であり、
点線はシフトした波形である。前述のよつ１２．リード
波形ＲＤをパルス化したものがローデータＲＡＷＤＡＴ
Ａである。リード波形２口のピークシフトは、磁気ディ
スクへの記録が高密度するに伴い薄膜ヘッドを使用する
ことおよび磁気ディスク表面の材質等要因により生じる
ピーク間隔ＴＩ及びＴ２のずれである。従って、ピーク
シフトはローデータＲＡＷＤＡＴＡのシフトでもあり、
前述のように、このＴ１とＴ２の差の絶対値ｌＴｌ−７
２１がピークシフト量となる。
点線はシフトした波形である。前述のよつ１２．リード
波形ＲＤをパルス化したものがローデータＲＡＷＤＡＴ
Ａである。リード波形２口のピークシフトは、磁気ディ
スクへの記録が高密度するに伴い薄膜ヘッドを使用する
ことおよび磁気ディスク表面の材質等要因により生じる
ピーク間隔ＴＩ及びＴ２のずれである。従って、ピーク
シフトはローデータＲＡＷＤＡＴＡのシフトでもあり、
前述のように、このＴ１とＴ２の差の絶対値ｌＴｌ−７
２１がピークシフト量となる。
ポジションゲート信号ＰＯ３ＧＴは、前述のように、こ
のＲＡＷＤＡＴＡをゼロクロスコンパレータ２１５によ
り正側ゲート信号ＰＧと負側ゲート信号ＭＧに分けてゲ
ート信号を作成する。これらの信号ＰＧ及びＭＧは各々
のＡＮＤゲート２１６に入力される。これにより、Ｔｌ
の部分のゲートとＴ２の部分のゲートが行われる。
のＲＡＷＤＡＴＡをゼロクロスコンパレータ２１５によ
り正側ゲート信号ＰＧと負側ゲート信号ＭＧに分けてゲ
ート信号を作成する。これらの信号ＰＧ及びＭＧは各々
のＡＮＤゲート２１６に入力される。これにより、Ｔｌ
の部分のゲートとＴ２の部分のゲートが行われる。
フリップフロップ２１７から出力された正側パルスＰＰ
及び負側パルス門をスイッチＳＷＩ及びＳＮ２で切り換
えてそれぞれのオペアンプにてチャージする０本実施例
では一回の測定がローデータＲＡＭＤＡＴＡの２５６パ
ルスであるから、２５６パルス分チャージする。尚、オ
ペアンプ２１９の可変ボリュウームはオペアンプ２１Ｂ
のチャージ速度と等しくするための調整用である。
及び負側パルス門をスイッチＳＷＩ及びＳＮ２で切り換
えてそれぞれのオペアンプにてチャージする０本実施例
では一回の測定がローデータＲＡＭＤＡＴＡの２５６パ
ルスであるから、２５６パルス分チャージする。尚、オ
ペアンプ２１９の可変ボリュウームはオペアンプ２１Ｂ
のチャージ速度と等しくするための調整用である。
このＴ１及びＴ２のパルス幅が等しければチャージ量も
当然等しくなり、チャージ量を加えたものはゼロになる
。一方、いずれかのパルス幅が広ければチャージ量の差
が正側若しくは負側に現れる。
当然等しくなり、チャージ量を加えたものはゼロになる
。一方、いずれかのパルス幅が広ければチャージ量の差
が正側若しくは負側に現れる。
このチャージ量の差は電圧の差であるから、この電圧差
によりシフト量を判定することができる。
によりシフト量を判定することができる。
尚、ＴＥＤＧＥはＲＡＷＤＡＴＡのＴｌの立上がりのエ
ツジパルス、Ｒ１！ＤＧＥはＲＡＷＤＡＴＡのＴ２の立
上がりのエツジパルスである。図に矢印で示すように、
パルスＴＥＤＧＥは反転ＧＰの立上がりとなり、パルス
ＲＨＤＧＥはパルスＧＰの立上がりとなる。
ツジパルス、Ｒ１！ＤＧＥはＲＡＷＤＡＴＡのＴ２の立
上がりのエツジパルスである。図に矢印で示すように、
パルスＴＥＤＧＥは反転ＧＰの立上がりとなり、パルス
ＲＨＤＧＥはパルスＧＰの立上がりとなる。
第４図は、エラー検出回路における積分を説明する図で
ある。前述のように、ゲートパ、ルスＧＰを一定周期分
コンデンサにチャージすると、その波形はＰＳｖのよう
に徐々にコンデンサの電圧が上昇してＶボルトとなる。
ある。前述のように、ゲートパ、ルスＧＰを一定周期分
コンデンサにチャージすると、その波形はＰＳｖのよう
に徐々にコンデンサの電圧が上昇してＶボルトとなる。
この電圧を正側及び負側について求め、比較するとピー
クシフト量が得られる。
クシフト量が得られる。
以上説明したように、本発明によれば磁気ディスク装置
用のヘッドのピークシフトの検出、評価時間の短縮と平
均化が図れ、媒体等によるバラツキ誤差の低減と定量値
化により良否判定が容易になる。
用のヘッドのピークシフトの検出、評価時間の短縮と平
均化が図れ、媒体等によるバラツキ誤差の低減と定量値
化により良否判定が容易になる。
第１図は、本発明の基本構成ブロック図、第２図は、本
発明の一実施例要部構成ブロック図、 第３図は、本発明の信号タイムチャート、第４図は、本
発明のピークシフト量の積分を説明する図、及び 第５図は、ピークシフトを説明する図である。 （符号の説明） １１・・・リードスイッチ、 １２・・・リードアンプ、 １３・・・ＡＧＣ回路、 １４・・・フィルタ、 Ｉ５・・・ローデータ作成回路、 １６・・・ポジションゲート作成回路、１７・・・エラ
ー電圧作成回路、 １８・・−Ａ／Ｄ変換回路、 １９・・・加算回路、 ２０・・・シフトレジスタ、 ２１・・・ピークシフト積分回路。
発明の一実施例要部構成ブロック図、 第３図は、本発明の信号タイムチャート、第４図は、本
発明のピークシフト量の積分を説明する図、及び 第５図は、ピークシフトを説明する図である。 （符号の説明） １１・・・リードスイッチ、 １２・・・リードアンプ、 １３・・・ＡＧＣ回路、 １４・・・フィルタ、 Ｉ５・・・ローデータ作成回路、 １６・・・ポジションゲート作成回路、１７・・・エラ
ー電圧作成回路、 １８・・−Ａ／Ｄ変換回路、 １９・・・加算回路、 ２０・・・シフトレジスタ、 ２１・・・ピークシフト積分回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエラーを検出
するピークシフトエラー検出回路であって、 ヘッドの出力波形を一定の振幅に制御した後パルス状の
ローデータを作成するローデータ作成回路と、 前記ローデータをゲート信号により正側と負側に分け各
々のパルスを一定周期についてチャージしチャージした
電圧の差によりピークシフト量を求める積分回路を備え
、 磁気ディスクの略一周について積分して得られた定量値
によりピークシフトの良否を判定するようにしたピーク
シフトエラー検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22758288A JPH0734246B2 (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | ピークシフトエラー検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22758288A JPH0734246B2 (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | ピークシフトエラー検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0276113A true JPH0276113A (ja) | 1990-03-15 |
| JPH0734246B2 JPH0734246B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=16863175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22758288A Expired - Lifetime JPH0734246B2 (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | ピークシフトエラー検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0734246B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5545988A (en) * | 1994-09-13 | 1996-08-13 | Tdk Corporation | Waveform signal processor with selective sampling |
-
1988
- 1988-09-13 JP JP22758288A patent/JPH0734246B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5545988A (en) * | 1994-09-13 | 1996-08-13 | Tdk Corporation | Waveform signal processor with selective sampling |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0734246B2 (ja) | 1995-04-12 |
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