JPH0734246B2 - ピークシフトエラー検出回路 - Google Patents
ピークシフトエラー検出回路Info
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- JPH0734246B2 JPH0734246B2 JP22758288A JP22758288A JPH0734246B2 JP H0734246 B2 JPH0734246 B2 JP H0734246B2 JP 22758288 A JP22758288 A JP 22758288A JP 22758288 A JP22758288 A JP 22758288A JP H0734246 B2 JPH0734246 B2 JP H0734246B2
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- Japan
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- peak shift
- circuit
- raw data
- head
- pulse
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/02—Recording, reproducing, or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B5/09—Digital recording
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエラー検出回
路に関し、 ピークシフト量の検出を簡略化し判定を容易にすること
を目的とし、 磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエラーを検出
するピークシフトエラー検出回路であって、ヘッドの出
力波形を一定の振幅に制御した後パルス状のローデータ
を作成するローデータ作成回路と、前記ローデータをゲ
ート信号により正側と負側に分け各々のパルスを一定周
期についてチャージしチャージした電圧の差によりピー
クシフト量を求める積分回路を備え、磁気ディスクの略
一周について積分して得られた定量値によりピークシフ
トの良否を判定するように構成する。
路に関し、 ピークシフト量の検出を簡略化し判定を容易にすること
を目的とし、 磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエラーを検出
するピークシフトエラー検出回路であって、ヘッドの出
力波形を一定の振幅に制御した後パルス状のローデータ
を作成するローデータ作成回路と、前記ローデータをゲ
ート信号により正側と負側に分け各々のパルスを一定周
期についてチャージしチャージした電圧の差によりピー
クシフト量を求める積分回路を備え、磁気ディスクの略
一周について積分して得られた定量値によりピークシフ
トの良否を判定するように構成する。
本発明は磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエラ
ー検出回路に関する。
ー検出回路に関する。
コンピュータシステムにおいて、外部記憶装置として磁
気ディスク装置が多用されている。磁気ディスク装置は
通常複数枚の磁気ディスクを同軸上に積層したシリンダ
ーにより構成され、各磁気ディスクの情報は各磁気ディ
スク毎に設けられたヘッドにより書込み及び読出しされ
る。
気ディスク装置が多用されている。磁気ディスク装置は
通常複数枚の磁気ディスクを同軸上に積層したシリンダ
ーにより構成され、各磁気ディスクの情報は各磁気ディ
スク毎に設けられたヘッドにより書込み及び読出しされ
る。
この場合、記録の高密度化に伴い、インダクタンスが小
さく高周波−高密度書込み性能が優れた薄膜ヘッドを用
いるが、薄膜ヘッドはその構造上従来のモノシリックヘ
ッドに比べポール長（ヘッドの媒体と対向する部分の長
さ）とギャップ長の比が極端に小さいため独特の漏洩磁
界分布を持つ。これが記録及び再生時に影響を及ぼし、
再生波形において孤立波の縁端がくぼむネガティブエッ
ジと呼ばれる現象や位相ずれとしてのピークシフトを生
じやすい。このヘッドによりピークシフト量が大きいと
磁気ディスクによるピークシフトと重なり合って読み取
りエラーを発生するので、ヘッドのシフト量としてある
一定量以下に抑える必要がある。
さく高周波−高密度書込み性能が優れた薄膜ヘッドを用
いるが、薄膜ヘッドはその構造上従来のモノシリックヘ
ッドに比べポール長（ヘッドの媒体と対向する部分の長
さ）とギャップ長の比が極端に小さいため独特の漏洩磁
界分布を持つ。これが記録及び再生時に影響を及ぼし、
再生波形において孤立波の縁端がくぼむネガティブエッ
ジと呼ばれる現象や位相ずれとしてのピークシフトを生
じやすい。このヘッドによりピークシフト量が大きいと
磁気ディスクによるピークシフトと重なり合って読み取
りエラーを発生するので、ヘッドのシフト量としてある
一定量以下に抑える必要がある。
まず、薄膜ヘッドによるピークシフトの発生原因を以下
に説明する。
に説明する。
第５図（ａ）（ｂ）（ｃ）において、（ａ）は有限な寸
法を持つ磁性層を磁化したときの理想フラックスパター
ンであり、（ｂ）は実際の書込みデータの磁化パターン
であり、（ｃ）はヘッドに読み取られる出力パターンで
ある。（ｂ）に示すように磁化を妨げる反発力が常に減
磁作用として反対方向に作用している。これは磁化され
た部分の両端に現れるＮ極とＳ極の磁界が磁性層内では
磁化方向と反対方向に作用する磁化反転が生じているた
めである。（ｃ）に示すように、この減磁作用による残
留磁化の低下は、ヘッドからの再生出力の低下のみなら
ず、出力信号の位相的なずれも大きくするいわゆるピー
クシフトを生じる。明らかなように（ｃ）の波形は
（ｂ）の波形の上下を加えた合成波形であり、PSはピー
クシフト量を示し、ARは振幅の減少量を示し、φはフラ
ックスの大きさを示す。
法を持つ磁性層を磁化したときの理想フラックスパター
ンであり、（ｂ）は実際の書込みデータの磁化パターン
であり、（ｃ）はヘッドに読み取られる出力パターンで
ある。（ｂ）に示すように磁化を妨げる反発力が常に減
磁作用として反対方向に作用している。これは磁化され
た部分の両端に現れるＮ極とＳ極の磁界が磁性層内では
磁化方向と反対方向に作用する磁化反転が生じているた
めである。（ｃ）に示すように、この減磁作用による残
留磁化の低下は、ヘッドからの再生出力の低下のみなら
ず、出力信号の位相的なずれも大きくするいわゆるピー
クシフトを生じる。明らかなように（ｃ）の波形は
（ｂ）の波形の上下を加えた合成波形であり、PSはピー
クシフト量を示し、ARは振幅の減少量を示し、φはフラ
ックスの大きさを示す。
通常、ヘッドのピークシフト量の検出は、マスタ磁気デ
ィスクに記録されている基準波形を被試験ヘッドで読み
取ったときの波形により評価されるが、従来、この出力
波形はオシロスコープ等を用いて目視にて観察し評価し
ている。
ィスクに記録されている基準波形を被試験ヘッドで読み
取ったときの波形により評価されるが、従来、この出力
波形はオシロスコープ等を用いて目視にて観察し評価し
ている。
このような薄膜ヘッドによる読み取り波形のピークシフ
トは、高密度化に記録された媒体に適用されるギャップ
の狭い薄膜ヘッドにおいて特に顕著に現れ、しかも従来
はピークシフト量を検出する回路は磁気ディスクについ
ては存在するがヘッドに関してはなく、前述のように薄
膜ヘッドからの出力波形をオシロスコープ等により目視
にて観察し評価している。しかしながら、その都度個々
に出力波形を観察し評価していたのでは時間を要し量産
ラインに適用しない。また、この出力波形は媒体からの
読み取り波形なので媒体による変動も重なり合い、個々
の出力波形を観察しても個々のヘッドの特性を評価する
のは容易でない。
トは、高密度化に記録された媒体に適用されるギャップ
の狭い薄膜ヘッドにおいて特に顕著に現れ、しかも従来
はピークシフト量を検出する回路は磁気ディスクについ
ては存在するがヘッドに関してはなく、前述のように薄
膜ヘッドからの出力波形をオシロスコープ等により目視
にて観察し評価している。しかしながら、その都度個々
に出力波形を観察し評価していたのでは時間を要し量産
ラインに適用しない。また、この出力波形は媒体からの
読み取り波形なので媒体による変動も重なり合い、個々
の出力波形を観察しても個々のヘッドの特性を評価する
のは容易でない。
本発明は、磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフトエ
ラーを検出するピークシフトエラー検出回路であって、
ヘッドの出力波形を一定の振幅に制御した後パルス状の
ローデータを作成するローデータ作成回路と、前記ロー
データをゲート信号により正側と負側に分け各々のパル
スを一定周期についてチャージしチャージした電圧の差
によりピークシフト量を求める積分回路を備え、磁気デ
ィスクの略一周について積分して得られた定量値により
ピークシフトの良否を判定するようにしたことを特徴と
する。
ラーを検出するピークシフトエラー検出回路であって、
ヘッドの出力波形を一定の振幅に制御した後パルス状の
ローデータを作成するローデータ作成回路と、前記ロー
データをゲート信号により正側と負側に分け各々のパル
スを一定周期についてチャージしチャージした電圧の差
によりピークシフト量を求める積分回路を備え、磁気デ
ィスクの略一周について積分して得られた定量値により
ピークシフトの良否を判定するようにしたことを特徴と
する。
薄膜ヘッドの出力波形を一定の振幅に制御した後パルス
状のローデータを作成し、前記ローデータをゲート信号
により正側と負側に分け各々のパルスを一定周期につい
てチャージしチャージした電圧の差によりピークシフト
量を求め、このピークシフト量を磁気ディスクの略一周
について積分し、その積分結果をA/D変換して定量値と
して検出し、得られた定量値によりピークシフトの良否
を判定する。これにより、薄膜ヘッドのピークシフトを
評価する上で磁気ディスク表面の状態による影響を無く
し性能を容易かつ正確に評価することができる。
状のローデータを作成し、前記ローデータをゲート信号
により正側と負側に分け各々のパルスを一定周期につい
てチャージしチャージした電圧の差によりピークシフト
量を求め、このピークシフト量を磁気ディスクの略一周
について積分し、その積分結果をA/D変換して定量値と
して検出し、得られた定量値によりピークシフトの良否
を判定する。これにより、薄膜ヘッドのピークシフトを
評価する上で磁気ディスク表面の状態による影響を無く
し性能を容易かつ正確に評価することができる。
第１図はピークシフトエラー検出回路の基本構成ブロッ
ク図である。Ｈは磁気ヘッド、11はリードスイッチ、12
はリードアンプ、13はAGC回路、14はフィルタ、15はロ
ーデータ作成回路、16はポジションゲート作成回路、17
はエラー電圧作成回路、18はA/D変換回路、19は加算回
路、そして20はシフトレジスタである。
ク図である。Ｈは磁気ヘッド、11はリードスイッチ、12
はリードアンプ、13はAGC回路、14はフィルタ、15はロ
ーデータ作成回路、16はポジションゲート作成回路、17
はエラー電圧作成回路、18はA/D変換回路、19は加算回
路、そして20はシフトレジスタである。
ヘッドから読み取られた出力波形RDは、リードスイッチ
11を経てリードアンプ12にて増幅された後、AGC回路13
にて利得を自動的に一定の振幅に制御する。AGC回路13
の出力はフィルタ14を経てローデータ作成回路15及びポ
ジションゲート作成回路16に入力され、ローデータ作成
回路15はパルス状のローデータRAWDATAを出力し、ポジ
ションゲート作成回路16はローデータを分周したゲート
信号POSGTを出力し、これらの信号から結果的にローデ
ータをゲートした信号GPをエラー電圧作成回路17に入力
する。エラー電圧作成回路17はローデータの１パルス毎
のピークシフト量、即ち、ずれ量を、一定周期分のコン
デンサのチャージ量により決まる電圧に変換した後積分
する。A/D変換回路18は積分結果PSVをデジタル値に変換
し、加算回路19にて加算した後シフトレジスタ20に格納
する。この格納データは定量値の測定結果TDを示してい
る。
11を経てリードアンプ12にて増幅された後、AGC回路13
にて利得を自動的に一定の振幅に制御する。AGC回路13
の出力はフィルタ14を経てローデータ作成回路15及びポ
ジションゲート作成回路16に入力され、ローデータ作成
回路15はパルス状のローデータRAWDATAを出力し、ポジ
ションゲート作成回路16はローデータを分周したゲート
信号POSGTを出力し、これらの信号から結果的にローデ
ータをゲートした信号GPをエラー電圧作成回路17に入力
する。エラー電圧作成回路17はローデータの１パルス毎
のピークシフト量、即ち、ずれ量を、一定周期分のコン
デンサのチャージ量により決まる電圧に変換した後積分
する。A/D変換回路18は積分結果PSVをデジタル値に変換
し、加算回路19にて加算した後シフトレジスタ20に格納
する。この格納データは定量値の測定結果TDを示してい
る。
第２図は本発明の一実施例要部回路図であり、特に、第
１図の回路15、16、17を詳細に示すものである。これら
の回路をまとめてピークシフト積分回路21とする。ピー
クシフト積分回路21において、211は微分回路、212はコ
ンパレータ（CMP）、213は遅延回路（DL）、214は排他
的論理和回路（EXOR）、215はゼロクロスコンパレータ
（ZCMP）、216はAND回路、217はフリップフロップ回路
（FF）、218、219、221は差動増幅回路、220は演算回路
である。また、PGは正側ゲート信号、MGは負側ゲート信
号、Ｓはリセット信号、RSはリセット信号、PPは正側パ
ルス、PMは負側パルスである。
１図の回路15、16、17を詳細に示すものである。これら
の回路をまとめてピークシフト積分回路21とする。ピー
クシフト積分回路21において、211は微分回路、212はコ
ンパレータ（CMP）、213は遅延回路（DL）、214は排他
的論理和回路（EXOR）、215はゼロクロスコンパレータ
（ZCMP）、216はAND回路、217はフリップフロップ回路
（FF）、218、219、221は差動増幅回路、220は演算回路
である。また、PGは正側ゲート信号、MGは負側ゲート信
号、Ｓはリセット信号、RSはリセット信号、PPは正側パ
ルス、PMは負側パルスである。
AGC回路13により定レベル化された読み取り信号は、微
分回路211により微分された後、コンパレータ212でパル
ス化されて、コンパレータ212でパルス化されて、排他
的論理和回路（EXOR）214に入力される。EXOR214には遅
延回路213を経た出力も取り込まれ、これらからローデ
ータが作成される。さらに、このローデータRAWDATAと
ゼロクロスコンパレータ215からの正側ゲート信号PGと
負側ゲート信号MGがANDゲート216に入力され、これらの
信号の一致が各々のANDゲート216でとられ、各々のAND
ゲートからのセット信号Ｓとリセット信号RSによりフリ
ップフロップ217が動作し正側パルスPP及び負側パルスP
Mを得る。
分回路211により微分された後、コンパレータ212でパル
ス化されて、コンパレータ212でパルス化されて、排他
的論理和回路（EXOR）214に入力される。EXOR214には遅
延回路213を経た出力も取り込まれ、これらからローデ
ータが作成される。さらに、このローデータRAWDATAと
ゼロクロスコンパレータ215からの正側ゲート信号PGと
負側ゲート信号MGがANDゲート216に入力され、これらの
信号の一致が各々のANDゲート216でとられ、各々のAND
ゲートからのセット信号Ｓとリセット信号RSによりフリ
ップフロップ217が動作し正側パルスPP及び負側パルスP
Mを得る。
ゼロクロスコンパレータ215は、AGC回路の出力を正側ゲ
ート信号PGと負側ゲート信号MGに分けてゲート信号を作
成する。これらの信号PG及びMGはポジションゲート信号
POSGTとして、各々のANDゲート216に入力される。これ
により、リード波形RDのピーク間隔T1の部分のゲートと
ピーク間隔T2の部分のゲートが行われる。
ート信号PGと負側ゲート信号MGに分けてゲート信号を作
成する。これらの信号PG及びMGはポジションゲート信号
POSGTとして、各々のANDゲート216に入力される。これ
により、リード波形RDのピーク間隔T1の部分のゲートと
ピーク間隔T2の部分のゲートが行われる。
ピークシフト積分回路21では、フリップフロップ217か
ら出力された正側パルスPP及び負側パルスPMをスイッチ
SW1及びSW2で切り換えてそれぞれのオペアンプにてチャ
ージする。本実施例では一回の測定がローデータRAWDAT
Aの256パルス分であるから、コンデンサに256パルス分
チャージする。尚、オペアンプ219の可変ボリュウーム
はオペアンプ218のチャージ速度と等しくするための調
整用である。
ら出力された正側パルスPP及び負側パルスPMをスイッチ
SW1及びSW2で切り換えてそれぞれのオペアンプにてチャ
ージする。本実施例では一回の測定がローデータRAWDAT
Aの256パルス分であるから、コンデンサに256パルス分
チャージする。尚、オペアンプ219の可変ボリュウーム
はオペアンプ218のチャージ速度と等しくするための調
整用である。
このような構成において、基本的動作は次のようにな
る。
る。
ピークシフト量の測定の対象となる信号はF1（3.28MH
z）のリード波形RDである。図示のようなリード波形の
うち、連続する２つのピーク間隔T1及びT2を測定し、こ
れらについて磁気ディスク一周の平均値を測定結果とす
る。ピークシフトはこのT1とT2の差の絶対値|T1−T2|と
なる。
z）のリード波形RDである。図示のようなリード波形の
うち、連続する２つのピーク間隔T1及びT2を測定し、こ
れらについて磁気ディスク一周の平均値を測定結果とす
る。ピークシフトはこのT1とT2の差の絶対値|T1−T2|と
なる。
本回路では、リード波形RDからローデータRAWDATAを作
成し、微分回路211によりパルス化したローデータRAWDA
TAを得、このRAWDATAの１パルスごとのずれ量（ピーク
シフト量）を電圧に変換して積分した後A/D変換して測
定結果を定量値で求める。この場合、ピークシフト量の
単位は時間なので10nsec/vの比で電圧に変換する。A/D
コンバータは8bitのものを使用し、基準電圧は5vとして
2.5vのオフセットをかけた入力とする。即ち、±25nsま
で測定可能とする。5v/256bitとなるので0.02v/bit即
ち、0.2ms/bitとなる。
成し、微分回路211によりパルス化したローデータRAWDA
TAを得、このRAWDATAの１パルスごとのずれ量（ピーク
シフト量）を電圧に変換して積分した後A/D変換して測
定結果を定量値で求める。この場合、ピークシフト量の
単位は時間なので10nsec/vの比で電圧に変換する。A/D
コンバータは8bitのものを使用し、基準電圧は5vとして
2.5vのオフセットをかけた入力とする。即ち、±25nsま
で測定可能とする。5v/256bitとなるので0.02v/bit即
ち、0.2ms/bitとなる。
前述のように、第１、２図において、リードアンプ12で
パッファされたリード信号RDはAGC回路13にて一定の振
幅レベルに制御され、フィルタ14を経てローデータRAWD
ATAとゲート信号POSGTが作成される。RAWDATAはPOSGTに
より正側及び負側になるようにゲートされ、その結果ゲ
ートされたパルスとしてエラー電圧発生回路に入力され
る。
パッファされたリード信号RDはAGC回路13にて一定の振
幅レベルに制御され、フィルタ14を経てローデータRAWD
ATAとゲート信号POSGTが作成される。RAWDATAはPOSGTに
より正側及び負側になるようにゲートされ、その結果ゲ
ートされたパルスとしてエラー電圧発生回路に入力され
る。
エラー電圧発生回路17ではゲートされたパルスの位相の
ずれ、即ち、ピークシフト量を一回の測定単位として25
6パルス分（周期分）チャージした後、A/D変換される。
このシーケンスはソフトウェアにより2n回繰り返すこと
が可能で、一回毎の測定値が加算回路19により加算され
る。そして、2n回の測定が終了した後加算結果をシフト
レジスタ20からｎ回シフトダウンすることにより平均値
が得られる。この結果をコンピュータで読み取り電圧を
時間に換算して評価（良否の判定）を行う。
ずれ、即ち、ピークシフト量を一回の測定単位として25
6パルス分（周期分）チャージした後、A/D変換される。
このシーケンスはソフトウェアにより2n回繰り返すこと
が可能で、一回毎の測定値が加算回路19により加算され
る。そして、2n回の測定が終了した後加算結果をシフト
レジスタ20からｎ回シフトダウンすることにより平均値
が得られる。この結果をコンピュータで読み取り電圧を
時間に換算して評価（良否の判定）を行う。
本実施例では磁気ディスクが一周する間に16回行い加算
回路とシフトレジスタにより16回の平均値が測定結果と
なる。尚、エラー電圧発生回路の特性はその内部コンデ
ンサの特性に大きく影響されるので温度変化、経年変化
等の特性の優れたものを使用する必要がある。
回路とシフトレジスタにより16回の平均値が測定結果と
なる。尚、エラー電圧発生回路の特性はその内部コンデ
ンサの特性に大きく影響されるので温度変化、経年変化
等の特性の優れたものを使用する必要がある。
第３、４図は第１図及び第２図の各点における信号タイ
ムチャートである。
ムチャートである。
第３図において、リード波形の実線は理想波形であり、
点線はシフトした波形である。前述のようにリード波形
RDをパルス化したものがローデータRAWDATAである。リ
ード波形RDのピークシフトは、磁気ディスクへの記録が
高密度するに伴い薄膜ヘッドを使用することおよび磁気
ディスク表面の材質等要因により生じるピーク間隔T1及
びT2のずれである。従って、ピークシフトはローデータ
RAWDATAのシフトでもあり、前述のように、このT1とT2
の差の絶対値|T1−T2|がピークシフト量となる。
点線はシフトした波形である。前述のようにリード波形
RDをパルス化したものがローデータRAWDATAである。リ
ード波形RDのピークシフトは、磁気ディスクへの記録が
高密度するに伴い薄膜ヘッドを使用することおよび磁気
ディスク表面の材質等要因により生じるピーク間隔T1及
びT2のずれである。従って、ピークシフトはローデータ
RAWDATAのシフトでもあり、前述のように、このT1とT2
の差の絶対値|T1−T2|がピークシフト量となる。
ポジションゲート信号POSGTは、前述のように、このRAW
DATAをゼロクロスコンパレータ215により正側ゲート信
号PGと負側ゲート信号MGに分けてゲート信号を作成す
る。これらの信号PG及びMGは各々のANDゲート216に入力
される。これにより、T1の部分のゲートとT2の部分のゲ
ートが行われる。
DATAをゼロクロスコンパレータ215により正側ゲート信
号PGと負側ゲート信号MGに分けてゲート信号を作成す
る。これらの信号PG及びMGは各々のANDゲート216に入力
される。これにより、T1の部分のゲートとT2の部分のゲ
ートが行われる。
フリップフロップ217から出力された正側パルスPP及び
負側パルスPMをスイッチSW1及びSW2で切り換えてそれぞ
れのオペアンプにてチャージする。本実施例では一回の
測定がローデータRAWDATAの256パルスであるから、256
パルス分チャージする。尚、オペアンプ219の可変ボリ
ュウームはオペアンプ218のチャージ速度と等しくする
ための調整用である。
負側パルスPMをスイッチSW1及びSW2で切り換えてそれぞ
れのオペアンプにてチャージする。本実施例では一回の
測定がローデータRAWDATAの256パルスであるから、256
パルス分チャージする。尚、オペアンプ219の可変ボリ
ュウームはオペアンプ218のチャージ速度と等しくする
ための調整用である。
このT1及びT2のパルス幅が等しければチャージ量も当然
等しくなり、チャージ量を加えたものはゼロになる。一
方、いずれかのパルス幅が広ければチャージ量の差が正
側若しくは負側に現れる。このチャージ量の差は電圧の
差であるから、この電圧差によりシフト量を判定するこ
とができる。尚、TEDGEはRAWDATAのT1の立上がりのエッ
ジパルス、REDGEはRAWDATAのT2の立上がりのエッジパル
スである。図に矢印で示すように、パルスTEDGEは反転G
Pの立上がりとなり、パルスREDGEはパルスGPの立上がり
となる。
等しくなり、チャージ量を加えたものはゼロになる。一
方、いずれかのパルス幅が広ければチャージ量の差が正
側若しくは負側に現れる。このチャージ量の差は電圧の
差であるから、この電圧差によりシフト量を判定するこ
とができる。尚、TEDGEはRAWDATAのT1の立上がりのエッ
ジパルス、REDGEはRAWDATAのT2の立上がりのエッジパル
スである。図に矢印で示すように、パルスTEDGEは反転G
Pの立上がりとなり、パルスREDGEはパルスGPの立上がり
となる。
第４図は、エラー検出回路における積分を説明する図で
ある。前述のように、ゲートパルスGPを一定周期分コン
デンサにチャージすると、その波形はPSVのように徐々
にコンデンサの電圧が上昇してＶボルトとなる。この電
圧を正側及び負側について求め比較するとピークシフト
量が得られる。
ある。前述のように、ゲートパルスGPを一定周期分コン
デンサにチャージすると、その波形はPSVのように徐々
にコンデンサの電圧が上昇してＶボルトとなる。この電
圧を正側及び負側について求め比較するとピークシフト
量が得られる。
以上説明したように、本発明によれば磁気ディスク装置
用のヘッドのピークシフトの検出、評価時間の短縮と平
均化が図れ、媒体等によるバラツキ誤差の低減と定量値
化により良否判定が容易になる。
用のヘッドのピークシフトの検出、評価時間の短縮と平
均化が図れ、媒体等によるバラツキ誤差の低減と定量値
化により良否判定が容易になる。
第１図は、本発明の基本構成ブロック図、 第２図は、本発明の一実施例要部構成ブロック図、 第３図は、本発明の信号タイムチャート、 第４図は、本発明のピークシフト量の積分を説明する
図、及び 第５図は、ピークシフトを説明する図である。 （符号の説明） 11……リードスイッチ、 12……リードアンプ、 13……AGC回路、 14……フィルタ、 15……ローデータ作成回路、 16……ポジションゲート作成回路、 17……エラー電圧作成回路、 18……A/D変換回路、 19……加算回路、 20……シフトレジスタ、 21……ピークシフト積分回路。
図、及び 第５図は、ピークシフトを説明する図である。 （符号の説明） 11……リードスイッチ、 12……リードアンプ、 13……AGC回路、 14……フィルタ、 15……ローデータ作成回路、 16……ポジションゲート作成回路、 17……エラー電圧作成回路、 18……A/D変換回路、 19……加算回路、 20……シフトレジスタ、 21……ピークシフト積分回路。
Claims (1)
- 【請求項１】磁気ディスク装置用ヘッドのピークシフト
エラーを検出するピークシフトエラー検出回路であっ
て、 ヘッドの出力波形を一定の振幅に制御した後パルス状の
ローデータを作成するローデータ作成回路と、 前記ローデータをゲート信号により正側と負側に分け各
々のパルスの一定周期についてチャージしチャージした
電圧の差によりピークシフト量を求める積分回路を備
え、 磁気ディスクの略一周について積分して得られた定量値
によりピークシフトの良否を判定するようにピークシフ
トエラー検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22758288A JPH0734246B2 (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | ピークシフトエラー検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22758288A JPH0734246B2 (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | ピークシフトエラー検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0276113A JPH0276113A (ja) | 1990-03-15 |
| JPH0734246B2 true JPH0734246B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=16863175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22758288A Expired - Lifetime JPH0734246B2 (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | ピークシフトエラー検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0734246B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5545988A (en) * | 1994-09-13 | 1996-08-13 | Tdk Corporation | Waveform signal processor with selective sampling |
-
1988
- 1988-09-13 JP JP22758288A patent/JPH0734246B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0276113A (ja) | 1990-03-15 |
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