JPH0276143A - magneto-optical reproducing device - Google Patents

magneto-optical reproducing device

Info

Publication number
JPH0276143A
JPH0276143A JP22664388A JP22664388A JPH0276143A JP H0276143 A JPH0276143 A JP H0276143A JP 22664388 A JP22664388 A JP 22664388A JP 22664388 A JP22664388 A JP 22664388A JP H0276143 A JPH0276143 A JP H0276143A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase difference
light
polarized light
substrate
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22664388A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toru Sasaki
徹 佐々木
Yasuo Otsuka
康男 大塚
Yoshihiro Katase
片瀬 順弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP22664388A priority Critical patent/JPH0276143A/en
Publication of JPH0276143A publication Critical patent/JPH0276143A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To make the polarized light beams of all the partial luminous fluxes into linear polarized light beams and to improve a C/N by correcting the turbulence of the polarized light beams to occur when laser beams are converged on a disk substrate having optical anisotropy. CONSTITUTION:The title device is equipped with a transparent substrate 3, for example, a LiNbO3 substrate, to change the shape of its index ellipsoid to indicate the optical anisotropy of the medium when an electric field is impressed to it, and further, a phase difference correcting means 9 composed by providing an electrode so that the electric field can be impressed to the surface of the substrate and the side surface of the substrate is provided in convergent light composed of light beams from a laser beam 5 to be made incident to an optical information recording medium 2. Further, the device guides reflected light beams from the optical information recoding medium 2 to light detectors 19a and 19b, controls the phase difference correcting means 9 using a control means so that phase difference to be generated in the phase difference correcting means 9 and phase difference to be generated in the optical information recording medium 2 can be offset with each other, and corrects the turbulence of the polarized light beams in the luminous flux. Thus, the fluctuation of DC light quantity and the decrease of AC light quantity can be prevented, and the C/N can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光磁気再生装置に係り、特にディスク基板の複
屈折による分布を有する位相差を相殺するのに好適な光
学ヘッドに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a magneto-optical reproducing device, and particularly to an optical head suitable for canceling a phase difference having a distribution due to birefringence of a disk substrate.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の光磁気再生装置は1%開昭60−226045丹
公報忙記載のように、対物レンズと検光子の間に。
The conventional magneto-optical reproducing device is located between the objective lens and the analyzer, as described in the publication of 1986-226045.

ディスク単独又はそれと該再生装債の光学部品で生ずる
偏光の乱れを補正する位相差補正手段が設けられている
A phase difference correction means is provided for correcting the disturbance of polarization caused by the disk alone or by the optical components of the disk and the playback device.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

最初に、上記従来技術と本発明が補正しようとする偏光
の乱れ特に、ディスクで生ずる偏光の乱れについて説明
する。
First, a description will be given of the polarization disturbance that the above-mentioned prior art and the present invention attempt to correct, particularly the polarization disturbance that occurs on the disk.

m2図は、記碌膜1とディスク基板1を有するディスク
1に対物レンズIIJCより平行光束300が。
In Fig. m2, a parallel light beam 300 is emitted from the objective lens IIJC onto a disk 1 having a recording film 1 and a disk substrate 1.

絞り込まれる様子を表したものである。また、第3南は
、平行光束300の各部分光束の偏光状態を示したもの
でい。この図における各部分光束の偏光状態は偏光方向
が一定の直線偏光である。第3図で示される平行光束3
00が、対物レンズ11によりディスク1に絞り込まれ
、記録膜1で反射した後、再たび、対物レンズ11Vc
より平行光束となったときの偏光の乱れは次のように解
析できる。
This shows how the results are narrowed down. Moreover, the third south shows the polarization state of each partial light beam of the parallel light beam 300. The polarization state of each partial light beam in this figure is linearly polarized light with a constant polarization direction. Parallel light beam 3 shown in Figure 3
00 is focused on the disk 1 by the objective lens 11, and after being reflected by the recording film 1, it is again focused on the objective lens 11Vc.
Disturbance of polarization when the beam becomes more parallel can be analyzed as follows.

まず、光が屈折率の異なる媒体に入射する際に。First, when light enters a medium with a different refractive index.

P偏光成分とS偏光成分の透過率の違いで行こる偏光面
の回転が、対物レンズIIKより、基板3に絞り込まれ
る収束光301中の各部分光束毎に異なるため、ディス
ク入射直後の収束光Y301とすると第4図(1)で示
すように、収束光301中における各部分光束の偏光方
向の違いによる偏光の乱れが生ずる0次に、光学異方性
を有するディスク基板(例えば、ポリカーボネート基板
)K、収束光が透過するために、各部分光束に異なった
位相差δが生じ偏光の乱れが生じる。その結果、記録膜
で反射し再たび、対物レンズ11で平行光とされた光束
300は、第4図(■)で示されるように、各部分光束
の偏光方向と位相差δが異なった偏光の乱れを生ずる。
The rotation of the plane of polarization, which is caused by the difference in transmittance between the P-polarized light component and the S-polarized light component, differs for each partial light beam in the convergent light 301 that is narrowed down to the substrate 3 by the objective lens IIK. Y301, as shown in FIG. 4 (1), the polarization is disturbed due to the difference in the polarization direction of each partial beam in the convergent light 301. )K, since the convergent light is transmitted, a different phase difference δ occurs in each partial beam, resulting in disturbance of polarization. As a result, the light beam 300 reflected by the recording film and made into parallel light by the objective lens 11 is polarized light with a different polarization direction and phase difference δ of each partial light beam, as shown in FIG. 4 (■). This causes a disturbance.

以上のように、ディスク1で生ずる偏光の乱れは、2種
類の偏光の乱れが重なった結果と言える。
As described above, it can be said that the disturbance of polarization that occurs on the disk 1 is the result of two types of disturbances of polarization overlapping.

しかし、上記従来技術では、ディスク基板3に収束光3
01が入射する際に生ずる偏光の乱れについては述べら
れているものの1元学的異方性を有するディスク基板に
収束光が透過する過程で生ずる偏光の乱れKついては配
慮されていなかった。
However, in the above conventional technology, the convergent light 3 is placed on the disk substrate 3.
Although the disturbance of polarization that occurs when 01 is incident has been described, the disturbance of polarization K that occurs during the process of convergent light transmitting through a disk substrate having monological anisotropy has not been considered.

その結果、実際に光学的異方性を有する基板を用いたデ
ィスク1を反射した元の偏光の乱れを十分に補正できな
いといった問題があった。
As a result, there was a problem in that disturbances in the original polarized light reflected from the disk 1 using a substrate actually having optical anisotropy could not be sufficiently corrected.

そこで2本発明の目的は、上記した従来技術の問題点を
解決し、ディスク1で生ずる光束中の偏光の乱れt補正
することのできる位相差補正手段を有する光磁気再生装
置を提供することにある。
Therefore, the second object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and to provide a magneto-optical reproducing device having a phase difference correction means capable of correcting the disturbance t of polarization in the light flux generated on the disk 1. be.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的は1例えば電界を印加すると、その媒体の光学
的異方性を表す屈折率楕円体の形状が変化する透明基板
1例えばLiNbO3基板と、該基板表面と側面に、電
界を印加出来るように電極を設けて構成された位相差補
正手段を、レーザ元が光学的情報記録媒体に入射する収
束光中に設は該光学的情報記録媒体からの反射光を光検
出器に導き、該位相差補正手段で生ずる位相差と、該光
学的情報記録媒体で生ずる位相差が相殺するように、前
記制御手段を用いて該位相差補正手段を制御することに
より達成される。
The above objectives are 1. For example, when an electric field is applied, the shape of the refractive index ellipsoid representing the optical anisotropy of the medium changes. 1. A transparent substrate, for example, a LiNbO3 substrate, and an electric field can be applied to the surface and side surfaces of the substrate. A phase difference correction means constituted by providing an electrode is installed in the convergent light beam incident on the optical information recording medium from the laser source, and guides the reflected light from the optical information recording medium to the photodetector, and corrects the phase difference. This is achieved by controlling the phase difference correction means using the control means so that the phase difference produced by the correction means and the phase difference produced in the optical information recording medium cancel each other out.

〔作用〕[Effect]

上記L 1Nb03等の電気光学結晶は、電界が印加さ
れると、その結晶の光学的異方性を表す屈折率楕円体が
電界の強弱に応じて変化する。よってIJbOs基板の
表面に、電界が印加されるように電極群を構成した位相
差補正手段を対物レンズとディスク基板間の収束光中に
設ける。そして1位相差補正手段のL 1Nbo3基板
の光学的異方性を表す屈折率楕円体t、該位相差補正手
段に印加する電圧を制御することKより、元ディスクに
収束光が入射することによって生ずる偏光の乱れ(位相
差分布)とほぼしい位相差分布を発生させることができ
る。
When an electric field is applied to an electro-optic crystal such as L 1Nb03, the refractive index ellipsoid representing the optical anisotropy of the crystal changes depending on the strength of the electric field. Therefore, a phase difference correction means having an electrode group configured to apply an electric field to the surface of the IJbOs substrate is provided in the convergent light between the objective lens and the disk substrate. Then, by controlling the refractive index ellipsoid t representing the optical anisotropy of the L1Nbo3 substrate of the phase difference correction means, and the voltage applied to the phase difference correction means, the convergent light is incident on the original disk. It is possible to generate a phase difference distribution that is approximately the same as the resulting polarization disturbance (phase difference distribution).

また、前記制御手段は、光学的情報記録媒体から反射さ
れたレーザ元の一部を、ビームスプリッタによって光検
出器へ導き、光電変換された検出信号から1位相差補正
手段で生ずる位相差を制御するための制御信号を、以下
の制御方法によって。
The control means guides a part of the laser beam reflected from the optical information recording medium to a photodetector using a beam splitter, and controls a phase difference generated by the phase difference correction means from the photoelectrically converted detection signal. The control signal for the following control method.

位相差補正手段に供給する。Supplied to the phase difference correction means.

位相差補正手段で生ずる位相差が変化する方向に、一定
周波数でウオブリングし、一方、該検出信号から、バン
ドパスフィルタにより、前記ウオブリング周波数成分を
検出し、この信号と該ウオブリング信号の乗算結果を、
ローパスフィルタを通して得た信号レベルが零となるよ
うに1位相差補正手段で生ずる位相差を制御する。
The wobbling frequency component is wobbled at a constant frequency in the direction in which the phase difference generated by the phase difference correction means changes, and the wobbling frequency component is detected from the detection signal using a band pass filter, and the result of multiplying this signal and the wobbling signal is ,
1. The phase difference generated by the phase difference correction means is controlled so that the signal level obtained through the low-pass filter becomes zero.

上記制御方法により得た該制御信号によって。by the control signal obtained by the above control method.

該ディスクで生ずる位相差と、該位相差補正手段で生ず
る位相差が相殺されるように制御され、その結果、ノイ
ズの原因となるDC光量の変動、及びAC党量の減少を
防止し、CN比を向上することから出来る。
The phase difference generated by the disk and the phase difference generated by the phase difference correction means are controlled so as to cancel each other out, and as a result, fluctuations in the amount of DC light that cause noise and decreases in the amount of AC light are prevented, and the CN This can be done by improving the ratio.

〔実施例〕〔Example〕

以下1図面な参照して本発明の実施例につぎ説明する。 Embodiments of the present invention will now be described with reference to one drawing.

第1゛図は1本発明の一実施例としての元磁気再生装置
を示したブロック図である。本実施例ではディスクにお
いて元が反射される場合を例にとり説明する。
FIG. 1 is a block diagram showing an original magnetic reproducing device as an embodiment of the present invention. This embodiment will be explained by taking as an example the case where the original is reflected on the disk.

この図において、1は1元反射性の磁性記録膜2、およ
びカバーガラス3を有する光磁気ディスクであり、モー
タ4によって回転する。記録信号の再生は、直線偏光光
源である半導体レーザ5から出るレーザ光が、コリメー
トレンズ6により平行光とされ、ビーム整形プリズム7
ではほぼ円形の光強度分布に整形されたのち、ビームス
プリッタ(偏光子)8に入射する。ここで、偏光子8は
In this figure, reference numeral 1 denotes a magneto-optical disk having a one-dimensional reflective magnetic recording film 2 and a cover glass 3, and is rotated by a motor 4. To reproduce a recorded signal, laser light emitted from a semiconductor laser 5, which is a linearly polarized light source, is collimated by a collimating lens 6, and then passed through a beam shaping prism 7.
After the light is shaped into a substantially circular light intensity distribution, it enters a beam splitter (polarizer) 8. Here, the polarizer 8 is.

レーザ光源5から出射される直線偏光の偏光方向をP(
またはS)偏光とすると、入射する元のS(またはP)
偏光成分はほぼ全反射するように配置してるる。このた
めP(またはS)偏光成分の一部を反射し、残りを透過
する。このうちの透過レーザ光は、さらにミラー10ヲ
介して、対物レンズ11により集光され1位相差補正手
段9およびディスク基板3を透過して記録膜2とに照射
される。
The polarization direction of the linearly polarized light emitted from the laser light source 5 is P(
or S) polarized light, the incident original S (or P)
The polarized light component is arranged so that almost total reflection occurs. Therefore, part of the P (or S) polarized light component is reflected and the rest is transmitted. Of these, the transmitted laser beam is further condensed by an objective lens 11 via a mirror 10, transmitted through a phase difference correcting means 9 and a disk substrate 3, and irradiated onto a recording film 2.

このとぎ、記録膜2に照射されたレーザ光は、カー効果
によって、記録膜2の記録部および未記録部の磁気モー
メントの配向状態により偏光面が角度θk(または−θ
k)だけ変化する。
At this point, due to the Kerr effect, the polarization plane of the laser beam irradiated onto the recording film 2 is at an angle θk (or −θ
k) changes.

さらに、記録膜2かもの反射光は、再び、ディスク基板
32位相差補正手段9を透過したのち。
Further, the reflected light from the recording film 2 passes through the disk substrate 32 and the phase difference correction means 9 again.

対物レンズ11で平行光に戻り、ミラー10’に介して
It returns to parallel light through the objective lens 11 and passes through the mirror 10'.

第1の偏光子8で、S(またはP)偏光成分は全反射さ
れ、P(またはS)偏光成分は一部は反射され、残りは
透過される。この反射光は、さらに、第2のビームスプ
リッタ(偏光子)12より、偏光子8と同様にS(また
はP)偏光成分はほぼ全て反射され、P(またはS)偏
光成分は一部は反射され、残りは透過される。
At the first polarizer 8, the S (or P) polarized light component is totally reflected, a part of the P (or S) polarized light component is reflected, and the rest is transmitted. In this reflected light, almost all of the S (or P) polarized light component is reflected by the second beam splitter (polarizer) 12, similar to the polarizer 8, and a portion of the P (or S) polarized light component is reflected. and the rest are passed through.

ここで、透過したレーザ光は、凸レンズ13で集光され
1円柱レンズ14を介してサーボ用検出器15に入射す
る。このサーボ用光検出器15は、その検出方法に応じ
て複数に分割されており、プリアンプ29 、305−
介してそれらの出力信号70′Ik処理して。
Here, the transmitted laser light is focused by a convex lens 13 and enters a servo detector 15 via a cylindrical lens 14. This servo photodetector 15 is divided into a plurality of parts depending on the detection method, and preamplifiers 29, 305-
Processing their output signals 70'Ik via.

フォーカス誤差信号およびトラック誤差信号を得【、デ
ィスクl上にレーザ光が正確に位置決めされるように、
対物レンズttV制御する。
Obtain a focus error signal and a tracking error signal [so that the laser beam is accurately positioned on the disk l]
Objective lens ttV control.

一方、第2の偏光子12で反射したレーザ光は。On the other hand, the laser beam reflected by the second polarizer 12.

1/2波長板16.凸レンズ17ヲ介して、偏光ビーム
スプリッタ(検光子)18に入射して2分岐される。
1/2 wavelength plate 16. The light enters a polarizing beam splitter (analyzer) 18 through a convex lens 17 and is split into two.

2分岐されたレーザ光のうち、一方の光は第1の光検出
器19a K、入射し、また、もう一方の光は第2の光
検出器19bに入射し、それぞれの光電変換系20 、
21を経て電気信号へ変換される。さらに。
Of the two branched laser beams, one beam is incident on the first photodetector 19aK, and the other beam is incident on the second photodetector 19b, and the respective photoelectric conversion systems 20,
21, it is converted into an electrical signal. moreover.

これらの光検出器19a 、 19bで検出された信号
は。
The signals detected by these photodetectors 19a and 19b are as follows.

プリアンプ22および23で増幅され、差動回路24に
入力される。差動回路24では、プリアンプ22または
23により入力された各信号の同位相の成分が差し引か
れ、同時に逆位相の成分が加算されることから、再生信
号の振幅はプリアンプ22により入力される信号の振幅
と、プリアンプ23により人力される信号の振幅との和
として出力25される。
The signal is amplified by preamplifiers 22 and 23 and input to a differential circuit 24. In the differential circuit 24, components of the same phase of each signal inputted by the preamplifier 22 or 23 are subtracted, and at the same time components of opposite phase are added. Therefore, the amplitude of the reproduced signal is equal to that of the signal inputted by the preamplifier 22. The sum of the amplitude and the amplitude of the signal manually input by the preamplifier 23 is output 25.

次に、この光磁気ディスク1上に記録された情報がいか
にして検出されるかについて、第2図を用いて説明する
Next, how the information recorded on the magneto-optical disk 1 is detected will be explained using FIG. 2.

第5図(atは1元磁気ディスク1の記録膜2.および
偏光ビームスプリッタ18に入射するレーザ光が直線偏
光である場合(ディスク基板や光学部品等に複屈折が無
い場合)の再生信号の光量振幅を示したものである。
FIG. 5 (at is the recording film 2 of the one-source magnetic disk 1. When the laser beam incident on the polarizing beam splitter 18 and the recording film 2 of the one-source magnetic disk 1 is linearly polarized light (when there is no birefringence in the disk substrate or optical components), the reproduced signal is This shows the light intensity amplitude.

この図において、  101および102は、レーザ光
のP(またはS)偏光およびS(またはP)偏光方向を
示している。又、103および104は、第1図の偏光
ビームスプリッタ18におけるP(またはS)偏光およ
びS(またはP)偏光方向を示しており、即ち、103
および104の一方が偏光ビームスプリッタ18の透過
軸である。
In this figure, 101 and 102 indicate P (or S) polarization and S (or P) polarization direction of laser light. Further, 103 and 104 indicate the P (or S) polarization and the S (or P) polarization direction in the polarizing beam splitter 18 in FIG.
and 104 is the transmission axis of the polarizing beam splitter 18.

図に示すように、直線偏光105としてレーザ光が記録
膜上2に照射されると、その反射レーザ光は、磁気モー
メントの配向状態にて、角度θにおよび一部にの偏光面
の回転を生じ2直線偏光106a 。
As shown in the figure, when laser light is irradiated onto the recording film 2 as linearly polarized light 105, the reflected laser light rotates at an angle θ and partially rotates the plane of polarization in the orientation state of the magnetic moment. The resulting two-linearly polarized light 106a.

106bとして反射される。この現象がカー効果であり
、この回転角θにはカー回転角と呼ばれる。さらに1本
実施例では、第1図に示すように差動検出の構成をとっ
ているため、偏光子18のP(またはS)偏光およびS
(またはP)偏光面に、同−振幅の再生信号が得られる
よう和、その偏光方向103および104は、レーザ光
の偏光方向101および102 K対し−c、約4f傾
tj<よ5Kl/2波長板16は配意されている。従っ
て、直線偏光106a e106bとして反射された反
射レーザ光は、検光子1Bで2分岐されることにより、
直線偏光106aは光量耐と光量al図に示すように光
量振幅がal e atのとぎ、光量すなわち光強度は
その2乗で4.alとなるとして得られ、直線偏光10
6bは元量bFと元量りとして得られる。°従って1元
検出器19a 、 19bで検出される光量としては、
一方は 、Fからbでまでの光量変化として検出され、
他方は、b;からa;までの光量変化として検出される
。ここで、直線偏光106a 、 106bとして反射
された反射レーザ光が検光子18で検波されるまで、直
線偏光のまま偏光が保持されたとすれば、再生信号は光
量d饗およびd:にて検出され、DC元光量でおよびc
:が等しい。
106b. This phenomenon is the Kerr effect, and this rotation angle θ is called the Kerr rotation angle. Furthermore, in this embodiment, since a differential detection configuration is adopted as shown in FIG. 1, P (or S) polarized light and S
(or P) The polarization directions 103 and 104 are summed to obtain reproduced signals with the same amplitude in the polarization plane, and the polarization directions 103 and 104 are -c with respect to the polarization directions 101 and 102 of the laser beam, with an approximately 4f slope tj<5Kl/2 A wave plate 16 is provided. Therefore, the reflected laser beam reflected as linearly polarized light 106a e106b is split into two by the analyzer 1B, so that
The linearly polarized light 106a has a light intensity amplitude of al e at as shown in the light intensity and light intensity diagram, and the light intensity, that is, the light intensity is 4. al, obtained as linearly polarized light 10
6b is obtained as the element quantity bF and the element quantity. °Therefore, the amount of light detected by the one-element detectors 19a and 19b is:
On the other hand, is detected as a change in light intensity from F to b,
The other is detected as a change in light amount from b; to a;. Here, if the polarization of the reflected laser beams reflected as linearly polarized lights 106a and 106b is maintained as linearly polarized light until it is detected by the analyzer 18, then the reproduced signal will be detected at the light amounts d and d:. , in the DC original light intensity and c
: are equal.

次に1元磁気ディスク1に複屈折が存在し光磁気ディス
クlの記録膜2.および偏光ビームスプリッタ18に入
射するレーザ光が楕円偏光である場合について、@5図
(b)t’用いて説明する。
Next, birefringence exists in the one-dimensional magnetic disk 1, and the recording film 2 of the magneto-optical disk 1. The case where the laser beam incident on the polarizing beam splitter 18 is elliptically polarized light will be explained using @5 (b) t'.

第3図(5)はその様な場合の再生信号の光量振幅を示
したものである。この図において、第3図(a)と同一
番号を付したものは、同一部である。
FIG. 3(5) shows the light intensity amplitude of the reproduced signal in such a case. In this figure, parts with the same numbers as in FIG. 3(a) are the same parts.

図のように、レーザ光が楕円偏光107gおよび107
bの場合は第5図(a)に示される直線偏光106aお
よび106bに比べ、P(またはS)偏光成分が減り。
As shown in the figure, the laser beam is elliptically polarized 107g and 107g.
In case b, the P (or S) polarized light component is reduced compared to the linearly polarized lights 106a and 106b shown in FIG. 5(a).

その分、新た[8(またはP)偏光成分が生じ、さらに
偏光面の回転を生ずる。このため検出される信号光量d
:′およびdrは、第5図(a)の直線偏光のとぎに検
出される信号振幅d饗およびd:PC比べて小さ(なり
、かつ、このときのDC元量C1およびC2は等しくな
らない、よってキャリア成分が減少し。
Accordingly, a new [8 (or P) polarization component is generated, and the polarization plane is further rotated. Therefore, the amount of signal light detected d
:' and dr are smaller than the signal amplitudes d and d:PC detected at the end of the linearly polarized light in FIG. 5(a). Therefore, the carrier component decreases.

ノイズ成分であるDC元量差が生じ、CN比を低下させ
てしまう。この楕円偏光107aおよび107bは。
A DC element amount difference, which is a noise component, occurs, resulting in a decrease in the CN ratio. These elliptically polarized lights 107a and 107b are.

光磁気ディスク1のディスク基板31C,レーザ光が入
射および反射する際に生ずる。P(またはS)偏光とS
(またはP)偏光との位相差によるものか主であり、デ
ィスク基板3の材料として1元弾性定数の大きいポリカ
ーボネート(以後、PCと記す)等のプラスチックを用
いた場合、*に太き・な位相差を生じる。さらに第3図
で示されるように、この位相差は、レーザ光(平行光3
00)が。
This occurs when the laser beam is incident on and reflected from the disk substrate 31C of the magneto-optical disk 1. P (or S) polarized light and S
(or P) This is mainly due to the phase difference with the polarized light, and when a plastic such as polycarbonate (hereinafter referred to as PC) with a large one-dimensional elastic constant is used as the material of the disk substrate 3, Generates a phase difference. Furthermore, as shown in FIG. 3, this phase difference is caused by laser light (parallel light 3
00) is.

対物レンズ11により、ディスク11C絞り込まれるた
め、つまり、ディスク基板3を透過する光は収束′yt
、301となっているため、第4図(1)で示される偏
光の乱れを有している。
Since the objective lens 11 narrows down the disk 11C, the light passing through the disk substrate 3 converges 'yt
, 301, the polarization is disturbed as shown in FIG. 4(1).

次に、上記位相差分有光ついて1.第6図、第7図、@
8図を用いてさらに詳細に説明する。
Next, regarding the above-mentioned phase difference light, 1. Figure 6, Figure 7, @
This will be explained in more detail using FIG.

第6図は、平行光束300が対物レンズ11によりディ
スクlに絞り込まれる収束光中のある部分光束Uのディ
スク基板に対する入射方向を示したものである。
FIG. 6 shows the direction of incidence of a certain partial light beam U on the disk substrate in the convergent light of the parallel light beam 300 focused onto the disk l by the objective lens 11.

この図において、X軸はディスク基板3牛径方向、y軸
はディスク基板3円周方向、2軸は基板厚さ方向である
。また、この図における部分光束Uは、X軸から入射射
影角ψの方向化、2軸から入射角θ傾いて基板3に入射
している。
In this figure, the X axis is the radial direction of the disk substrate 3, the y axis is the circumferential direction of the disk substrate 3, and the two axes are the substrate thickness direction. Further, the partial light flux U in this figure is incident on the substrate 3 in the direction of the incident projection angle ψ from the X axis and at an incident angle θ tilted from the two axes.

第7図は、平行光束300が対物レンズ11により。In FIG. 7, a parallel light beam 300 is generated by the objective lens 11.

ディスクIK微少スポットとして絞り込まれ、記録膜2
で反射され、再び、対物レンズlit経て平行光束30
0となった時の光束上表し【いる。
It is narrowed down as a disc IK minute spot, and the recording film 2
, and again passes through the objective lens lit as a parallel beam of light 30
The luminous flux when it reaches 0 is expressed above.

この図において、Dは元東径、0は光束中心。In this figure, D is the original east diameter, and 0 is the center of the luminous flux.

ψは、第6図における入射射影角であり、座標は。ψ is the incident projection angle in FIG. 6, and the coordinates are.

第6図と同一の座標系で示している。It is shown in the same coordinate system as FIG. 6.

第8図は、第7図の光束のA−A間とB −B’間の位
相差Jを表したものである。この図中で1曲線h(ψ=
θ°)はA −A’間1曲線v (91=90’ )は
B−8間であり、δ0は光束中心における位相差を示し
ている。この図のように、光束の外周に位置する部分光
束はど1位相差は急激に増加する。
FIG. 8 shows the phase difference J between A and A and B and B' of the light beam in FIG. In this figure, one curve h (ψ=
θ°) is between A and A', one curve v (91=90') is between B and 8, and δ0 indicates the phase difference at the center of the light beam. As shown in this figure, the phase difference of the partial light beams located on the outer periphery of the light beam increases rapidly.

この原因は以下の理由からである。The reason for this is as follows.

位相差δは、■式で与えられるよ5に、屈折率差Δnと
光路長dが太き(なると、それぞれに比例して増大する
。よって、第2図、第6図で示されるように、光学的異
方性を有するディスク基板に収束光が入射する場合、■
・・・・・・光路長dは、θが増大するに従い長(なる
。■・・・・・・PC基板のよう虻、その基板の光学的
異方性を表す屈折率楕円体の基板・板厚方向の主屈折率
Nzが2面内方向の主屈折率(Nx、Ny)IC比較し
て大きい、2軸異方性の場合、屈折率差Δnは、入射角
θに依存しており。
The phase difference δ is given by the equation , when convergent light is incident on a disk substrate with optical anisotropy, ■
...The optical path length d becomes longer as θ increases. In the case of biaxial anisotropy, where the principal refractive index Nz in the plate thickness direction is larger than the principal refractive index (Nx, Ny) IC in the two in-plane directions, the refractive index difference Δn depends on the incident angle θ. .

θが大きくなるに従い大ぎ(なる。As θ increases, it becomes larger.

よって、θが大きくなる。すなわち光束300の外周に
位置する部分光束はど1位相差は増大し。
Therefore, θ becomes large. That is, the phase difference of the partial light beams located on the outer periphery of the light beam 300 increases.

その位相差δは、第8図に示される分布となる。The phase difference δ has a distribution shown in FIG.

また、第8図における曲線v、hは完全に一致していな
い。この原因は、PC基板の屈折率楕円体の主屈折率N
xとNyが等しくないためである。
Moreover, the curves v and h in FIG. 8 do not completely match. The cause of this is the principal refractive index N of the refractive index ellipsoid of the PC board.
This is because x and Ny are not equal.

本発明は、第4図(1)および、第8図で説明したよう
に1元磁気再生装置において、ON比の低下をもたらす
レーザ光中の位相差が、分布を有している場合において
も1位相差補正手段9により補正することにより、常に
、第3図に示すような直線偏光とし、良好な再生信号ヲ
侍ようとするものである。
As explained in FIG. 4 (1) and FIG. 1. By correcting the phase difference by the phase difference correction means 9, linearly polarized light as shown in FIG. 3 is always obtained, and a good reproduced signal can be obtained.

そこで、この位相差補正手段9につぎ、第9図。Therefore, next to this phase difference correction means 9, FIG.

第10図、第11図を用いて説明する。This will be explained using FIGS. 10 and 11.

本実施例では1位相差補正手段9として、結晶く電界を
加えると、屈折率が変化する電気光学結晶を利用してお
り、その結晶として2三方晶系の一軸性電気元学結晶で
あるLiNbos基板を用いた例を示す。
In this embodiment, as the first phase difference correction means 9, an electro-optic crystal whose refractive index changes when an electric field is applied to the crystal is used. An example using a substrate will be shown.

第9図は本実施例の位相差補正手段9の斜視構成図であ
る。400はLiNb0a基板である。401は。
FIG. 9 is a perspective configuration diagram of the phase difference correction means 9 of this embodiment. 400 is a LiNb0a substrate. 401 is.

基板400の裏面と表面との間に電界を印加するための
透明電極であり、そして透明電極間には電圧Einが印
加されている。ここで、!、圧Ein ’Y可変するこ
とにより、基板400の光学異方性を表す屈折率楕円体
の形状を変えることができる。
This is a transparent electrode for applying an electric field between the back surface and the front surface of the substrate 400, and a voltage Ein is applied between the transparent electrodes. here,! , the shape of the refractive index ellipsoid representing the optical anisotropy of the substrate 400 can be changed by varying the pressures Ein'Y.

このよ5&C構成された位相差補正手段9を第10図に
示す。対物レンズ11とディスク基板3との間の収束光
中に設け、印加電圧Einを制御することKより、ディ
スク1で生ずる位相差分布と符号が逆で1分布状態が同
じ位相差分布を発生させることにより、互いに位相差を
相殺させ、ディスク1で生ずる偏光の乱れを補正する。
The phase difference correction means 9 having such a 5&C configuration is shown in FIG. K is provided in the convergent light between the objective lens 11 and the disk substrate 3, and by controlling the applied voltage Ein, a phase difference distribution with the opposite sign and the same 1 distribution state as the phase difference distribution occurring in the disk 1 is generated. By doing so, the phase differences are mutually cancelled, and the disturbance of polarization occurring on the disk 1 is corrected.

すなわち811図で示すように、ディスクlで生ずる位
相差%注(曲線り、v)とは、符号が逆(図1では負ン
の位相差・特性(曲ah、v)v、位相差補正手段9で
発生させることにより8位相差を相殺することができる
In other words, as shown in Fig. 811, the sign of the phase difference %Note (curved, v) occurring on the disk l is opposite (in Fig. 1, the negative phase difference/characteristic (curve ah, v) v, phase difference correction By generating the signal in the means 9, the eight phase differences can be canceled out.

本実施例では&LiNbO3基板を用いたが、他の電気
光学結晶でも同様な効果を得ることができる。
Although a &LiNbO3 substrate was used in this embodiment, similar effects can be obtained with other electro-optic crystals.

次に第9図、10図、11図で説明した1位相差補正手
段9と使用した位相差補正方法を説明する。
Next, a phase difference correction method used with the phase difference correction means 9 explained in FIGS. 9, 10, and 11 will be explained.

第1図において、36はウオブリング信号発生回路、3
7は加振回路であり1位相差補正手段9で生ずる位相差
が発生する方向に位相差補正手段9の印加電圧Et−ウ
オブリングする。38は包絡線検波器であり、差動回路
24の出力から再生信号25の振幅、すなわち信号中の
AC成分すなわち第5図におけるdを包絡線検波する。
In FIG. 1, 36 is a wobbling signal generation circuit;
Reference numeral 7 denotes an excitation circuit which wobbles the applied voltage Et of the phase difference correction means 9 in the direction in which the phase difference generated by the phase difference correction means 9 is generated. 38 is an envelope detector which performs envelope detection of the amplitude of the reproduced signal 25, that is, the AC component in the signal, ie, d in FIG. 5 from the output of the differential circuit 24.

また、26はバンドパスフィルタ、33は乗算器であり
、バンドパスフィルタ26の出力信号と、ウオブリング
信号発生回路36より出力されるウオブリング信号をア
ナログ乗′算する。さらに、34はローパスフィルタ、
27は位相差補正駆動回路であり1位相差補正手段9の
電圧EY可変することにより1位相差補正を行う。
Further, 26 is a band pass filter, and 33 is a multiplier, which performs analog multiplication of the output signal of the band pass filter 26 and the wobbling signal output from the wobbling signal generation circuit 36. Furthermore, 34 is a low-pass filter;
Reference numeral 27 denotes a phase difference correction driving circuit, which performs one phase difference correction by varying the voltage EY of the one phase difference correction means 9.

これらの動作につぎ、さらに図面ケ用いて説明する。第
12図は、再生信号振幅d、すなわち信号中のAC成分
と、レーザ光中の位相差δの関係を示したものである。
These operations will be further explained with reference to the drawings. FIG. 12 shows the relationship between the reproduced signal amplitude d, that is, the AC component in the signal, and the phase difference δ in the laser beam.

図の曲線44に示すように、レーザ光中の位相差δ=0
.すなわちδ0のときは振幅dが最大値となるが1位相
差を生じたとぎ、すなわちδ1またはδ2のとぎには、
振幅dが減少する。
As shown in the curve 44 in the figure, the phase difference δ in the laser beam is 0.
.. In other words, when δ0, the amplitude d reaches its maximum value, but when one phase difference occurs, that is, after δ1 or δ2,
The amplitude d decreases.

曲線44がこのような軌跡をたどるとき、レーザ光中に
、δ0〜δ2の位相差があると位相差補正手段9がウオ
ブリング信号発生回路36.および加振回路37により
発生するウオブリング信号45にて加振されると、再生
信号振幅中に46〜48のごときウオブリング周波数成
分を生ずる。すなわちレーザ光中の位相差が(δ0)の
とぎには、ウオブリング信号45の振幅中心で再生信号
振幅dが最大とな91位相差δが正、負のいずれに変化
しても、振幅dが低下するため、46のような、ウオブ
リング信号45の2倍の周波数の信号が検出される。こ
れに対して1位相差がδ1およびδ2のとぎは、47お
よび48に示すように、ウオブリング信号45と同一周
波数で。
When the curve 44 follows such a trajectory, if there is a phase difference of δ0 to δ2 in the laser beam, the phase difference correction means 9 converts the wobbling signal generation circuit 36. When excited by the wobbling signal 45 generated by the vibrating circuit 37, wobbling frequency components such as 46 to 48 are generated in the amplitude of the reproduced signal. That is, when the phase difference in the laser beam is (δ0), the reproduced signal amplitude d is maximum at the amplitude center of the wobbling signal 45.91 Regardless of whether the phase difference δ changes to positive or negative, the amplitude d becomes As a result, a signal such as 46 having twice the frequency of the wobbling signal 45 is detected. On the other hand, the edges with one phase difference between δ1 and δ2 are at the same frequency as the wobbling signal 45, as shown at 47 and 48.

振幅および位相が変調された信号が検出される。An amplitude and phase modulated signal is detected.

との信号47および48は1曲線の傾きが異なる位置。Signals 47 and 48 are at positions where the slope of one curve is different.

すなわち位相差δの符号が異なるとぎに検出された信号
であるため1周囲に一致しているが位相が逆転している
In other words, since the signals are detected when the signs of the phase difference δ are different, they match around one circumference, but the phases are reversed.

ところで、実際に検出される再生信号振幅dの包結線波
形は、第13図(1)に示されるように、ウオブリング
周波数成分による変調を受ける。この図で111は再生
信号振幅である信号中のAC成分を示す。このAC成分
111は、包結線検波器38で包路線検波され、さらに
バンドパスフィルタ26で再生信号である高周波成分、
およびトラッキング。
Incidentally, the envelope waveform of the reproduced signal amplitude d that is actually detected is modulated by the wobbling frequency component, as shown in FIG. 13(1). In this figure, reference numeral 111 indicates the AC component in the signal, which is the reproduced signal amplitude. This AC component 111 is envelope-detected by the envelope detector 38, and then passed through the band-pass filter 26 to generate a high-frequency component, which is a reproduced signal.
and tracking.

フォーカシング等の低周波成分が除去されることによ’
7.(Illに示すような振幅と位相が変調された信号
112が検出される。したがって、この信号にはウオブ
リング周波数成分が含まれ【お91位相差δ=0(δ0
)でOとなり、δの符号によって位相か逆転している。
By removing low frequency components such as focusing,
7. (A signal 112 whose amplitude and phase are modulated as shown in FIG.
) becomes O, and the phase is reversed depending on the sign of δ.

この信号112は、さらIC(IIDに示すウオブリン
グ信号発生回路25により出力されるウオブリング信号
113と1乗算器33にてアナログ乗算され、その結果
、■に示す乗算出力、すなわち位相検波出力114が得
られる。そしてこの乗算出力114から、さらにローパ
スフィルタ34によりウオブリング周波数成分を除去す
ると、 (V)に示すような信号115が得られる。こ
の信号115は、出力0で位相差δ=0(ao)’Ie
よぎり、且つ位相差δが正または負の場合には極性が異
なり1位相差量に応じて出力が増加することから、この
信号115ケ用いて位相補正を行うことができる。ここ
で。
This signal 112 is further analog multiplied by a wobbling signal 113 outputted by a wobbling signal generation circuit 25 shown in IC (IID) in a 1 multiplier 33, and as a result, a multiplication output shown in (■), that is, a phase detection output 114 is obtained. When the wobbling frequency component is further removed from this multiplication output 114 by the low-pass filter 34, a signal 115 as shown in (V) is obtained.This signal 115 has an output of 0 and a phase difference of δ=0(ao). 'Ie
When the phase difference δ is positive or negative, the polarity is different and the output increases according to one phase difference amount. Therefore, phase correction can be performed using these 115 signals. here.

上記したδ0はげとは限らず、  lso’の整数倍、
すなわちn ・180’ (n=o 、±1.±2 、
 ・)であればよい。すなわち、この位相制御信号11
5がOになるよ51C,位相差補正駆動回路27により
位相差補正手段9を制御すればし一ザ光中の位相差δヲ
180゜の整数倍に補正することができる。
Not necessarily the above-mentioned δ0 baldness, but an integral multiple of lso',
That is, n ・180' (n=o, ±1.±2,
・) is sufficient. That is, this phase control signal 11
If the phase difference correction means 9 is controlled by the phase difference correction drive circuit 27, the phase difference δ in one beam can be corrected to an integral multiple of 180°.

このように本発明によれば、光磁気ディスクlの記録膜
2.および検光子17へ入射するレーザ光を直線偏光に
補正するため、再生信号振幅dを最大に得ることができ
、CN比を向上することができる。さらに偏光子8にも
ほぼ直線偏光に補正したレー・ザ光が入射するため、偏
光子8および12において、所定の偏光特性を得ること
ができる。
As described above, according to the present invention, the recording film 2. of the magneto-optical disk l. Since the laser light incident on the analyzer 17 is corrected to linearly polarized light, the reproduced signal amplitude d can be maximized and the CN ratio can be improved. Furthermore, since the laser beam corrected to be substantially linearly polarized is also incident on the polarizer 8, predetermined polarization characteristics can be obtained in the polarizers 8 and 12.

また、補正する位相差の周波数が低い場合とはバンドパ
スフィルタ26ヲローパスフイルタとし。
Moreover, when the frequency of the phase difference to be corrected is low, the band pass filter 26 is used as a low pass filter.

さらに必要に応じ、ローパスフィルタ34の後に。Further, if necessary, after the low-pass filter 34.

さらにもう1個のローパスフィルタを設けてもよい。Furthermore, one more low-pass filter may be provided.

°尚1本実施例では、この位相差補正手段を対物レンズ
とディスク基板間に設置する構成としたがこれに限るも
のではない、この位相差補正手段は収束光中に設置する
ことによって効果を発生するから、対物レンズ内の収束
光中和設置してもよい。
1. In this embodiment, the phase difference correction means is installed between the objective lens and the disk substrate, but this is not restrictive.This phase difference correction means can be installed in the convergent light to achieve the effect. Since this occurs, a convergent light neutralizer may be installed within the objective lens.

たとえば、第14図のような、3枚レンズ構成の対物レ
ンズの場合には、それらレンズ間に設置すれば良い、さ
らに、第15図のように、構成するレンズ自体をこの位
相差補正手段としてもよい。
For example, in the case of an objective lens with a three-lens configuration as shown in Fig. 14, it is sufficient to install it between these lenses.Furthermore, as shown in Fig. 15, the constituent lenses themselves can be used as the phase difference correction means. Good too.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上、詳細に説明したように、本発明罠よれば光学的異
方性を有するディスク基板忙、レーザ元が絞り込まれる
際に生ずる。偏光の乱れを補正すること釦より、光学的
情報記録媒体および検光子に入射するレーザ光を均一な
偏光、すなわち、2束内のすべての部分光束の偏光を直
線偏光とし。
As described above in detail, according to the present invention, the optical anisotropy of the disk substrate occurs when the laser source is narrowed down. The correction button for polarization disturbance makes the laser beam incident on the optical information recording medium and the analyzer uniformly polarized, that is, the polarization of all partial beams within the two beams is linearly polarized.

再生信号振幅が最大に得られるため、CN比を向上する
ことが出来る。
Since the reproduced signal amplitude can be maximized, the CN ratio can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す光磁気再生装置のブロ
ック図、第2図、第3図、第4図は偏光の乱れについて
の説明図、第5図は位相差が光磁気信号に及ぼす影響の
説明図、第6図、第7図。 第8図は絞り込み光忙よる偏光の乱れの贈明図。 第9図、第10図、第11図は実施例の位相差補正手段
の説明図、第12図、第13図は位相補正の制御手段の
説明図、第14図、第15図は位相差補正手段の実施例
の説明図である。 l・・・光磁気ディスク、2・・・記録膜。 3・・・ディスク基板、 9・・・位相差補正手段、1
1・・・対物レンズ、   17・・・検光子。 105 、106・・・直線偏光、 107 、108・・・楕円偏光。 300・・・・平行光束、301・・・収束光。 400・・・TJ I NbO3基板。 第 1 図 L・・九名花気〒4スフ    5−41体し12−・
・富乙喀ネ1隨       9・・ イtL漆呂i袖
正つ泥13− デースフ某KL      rM−1卆
貧尤チイヤi人年Ti七 dl  用勝刀 第2図 ¥730 ツ 第5図 (b) 346 図 Z 第7図 第 90         第1Oい %71閃 第12図 f 第14図 叉 %13図 第75図
Fig. 1 is a block diagram of a magneto-optical reproducing device showing an embodiment of the present invention, Figs. 2, 3, and 4 are explanatory diagrams of disturbance of polarization, and Fig. 5 shows that the phase difference is a magneto-optical signal. 6 and 7 are explanatory diagrams of the influence on Figure 8 is a diagram showing the disturbance of polarized light due to light aperture. FIGS. 9, 10, and 11 are explanatory diagrams of the phase difference correction means of the embodiment, FIGS. 12 and 13 are explanatory diagrams of the phase correction control means, and FIGS. 14 and 15 are explanatory diagrams of the phase difference correction means. It is an explanatory view of an example of a correction means. 1... Magneto-optical disk, 2... Recording film. 3... Disc substrate, 9... Phase difference correction means, 1
1... Objective lens, 17... Analyzer. 105, 106... linearly polarized light, 107, 108... elliptically polarized light. 300... Parallel light flux, 301... Convergent light. 400...TJ I NbO3 substrate. Figure 1 L...Nine flower spirits 〒4 Sufu 5-41 bodies and 12-...
・Tomiotsu Tsune 1 9... It L Urushiro I Sode Sho Tsu Mud 13- Desufu certain KL rM-1 卆小尤Chiiyai人年Ti7 dl Yokatsuto Figure 2 ¥730 Tsu Figure 5 ( b) 346 Figure Z Figure 7 Figure 90 1st O%71 Flash Figure 12f Figure 14 or %13 Figure 75

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、直線偏光光源と、光学的情報記録媒体と、該直線偏
光光源から発射された光束を、該光学的情報記録媒体に
照射する対物レンズと、該光学的情報記録媒体で透過ま
たは反射された光束を、光検出系に分離するビームスプ
リッタと、該ビームスプリッタで分離された光束が入射
する光検出器と、該直線偏光光源から発射された光束の
少なくとも2つ以上の部分光束に、異なる位相差を与え
る位相差補正手段を有する光学的情報再生装置において
該位相差補正手段を、光束の入射角度および入射方向に
よって、発生する位相差が異なる光学的異方性を有する
光学結晶を用いた構成とし、該位相差補正手段を、該対
物レンズと該光学的情報記録媒体間中の収束光中に設け
たことを特徴とする光磁気再生装置。
1. A linearly polarized light source, an optical information recording medium, an objective lens that irradiates the optical information recording medium with the light beam emitted from the linearly polarized light source, and a light beam transmitted or reflected by the optical information recording medium. A beam splitter that separates a light beam into a photodetection system, a photodetector into which the light beam separated by the beam splitter is incident, and at least two or more partial beams of the light beam emitted from the linearly polarized light source have different positions. In an optical information reproducing device having a phase difference correction means for providing a phase difference, the phase difference correction means is configured using an optical crystal having optical anisotropy in which the generated phase difference differs depending on the incident angle and direction of the light beam. A magneto-optical reproducing apparatus characterized in that the phase difference correcting means is provided in a convergent beam between the objective lens and the optical information recording medium.
JP22664388A 1988-09-12 1988-09-12 magneto-optical reproducing device Pending JPH0276143A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22664388A JPH0276143A (en) 1988-09-12 1988-09-12 magneto-optical reproducing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22664388A JPH0276143A (en) 1988-09-12 1988-09-12 magneto-optical reproducing device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0276143A true JPH0276143A (en) 1990-03-15

Family

ID=16848397

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22664388A Pending JPH0276143A (en) 1988-09-12 1988-09-12 magneto-optical reproducing device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0276143A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995029483A1 (en) * 1994-04-23 1995-11-02 Sony Corporation Magnetooptic recording medium and magnetooptic recording head
WO2005119673A1 (en) * 2004-06-03 2005-12-15 Sharp Kabushiki Kaisha Polarization splitting element and optical pickup device
JP2009294679A (en) * 2004-12-02 2009-12-17 Asahi Glass Co Ltd Projection-type display device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995029483A1 (en) * 1994-04-23 1995-11-02 Sony Corporation Magnetooptic recording medium and magnetooptic recording head
US6002653A (en) * 1994-04-23 1999-12-14 Sony Corporation Magneto-optical head unit capable of compensating the Kerr ellipticity
WO2005119673A1 (en) * 2004-06-03 2005-12-15 Sharp Kabushiki Kaisha Polarization splitting element and optical pickup device
JP2009294679A (en) * 2004-12-02 2009-12-17 Asahi Glass Co Ltd Projection-type display device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH034975B2 (en)
JP2706128B2 (en) Magneto-optical reproducing device
JP2657413B2 (en) Light head
JPH0731837B2 (en) Optical pickup device
JP3626003B2 (en) Optical information storage device
JPH0276143A (en) magneto-optical reproducing device
JPS63100640A (en) Magneto-optical reproducing device
JPS62248151A (en) magneto-optical reproducing device
US5249171A (en) Opto-magnetic pick-up device including phase difference correcting means
JPS63187438A (en) magneto-optical reproducing device
JPS6318549A (en) magneto-optical reproducing device
JPH0445134Y2 (en)
JPH08297883A (en) Magneto-optical disk device
JPS59157856A (en) Reproduction structure for photomagnetic information recorder
JP2862024B2 (en) Magneto-optical signal reproducing device
JPS62134839A (en) Optical magnetic reproducing device
JP3490527B2 (en) Light head
JPS60223044A (en) magneto-optical reproducing device
JPH01300448A (en) Magneto-optical head device
JPS6361936A (en) Double reflection measuring instrument
JPH06259790A (en) Optical pickup device
JPS61199252A (en) Photomagnetic recording and reproducing device
JPH03173964A (en) Magneto-optical signal reproducing device
JPH0386953A (en) Magneto-optical recording/reproducing device
JPS61165845A (en) Optical reproducer