JPH02775B2 - - Google Patents
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- JPH02775B2 JPH02775B2 JP3850882A JP3850882A JPH02775B2 JP H02775 B2 JPH02775 B2 JP H02775B2 JP 3850882 A JP3850882 A JP 3850882A JP 3850882 A JP3850882 A JP 3850882A JP H02775 B2 JPH02775 B2 JP H02775B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 23
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、光ピツクアツプのトラツキングサ
ーボ信号検出方法に係り、特に、光スポツト走査
方向によつて２分される光センサ出力の差からデ
イスク情報面の各ピツトごとのトラツキングエラ
ー信号を検出する光ピツクアツプにおいて、該ト
ラツキングエラー信号の正・負部分について各々
の半波直線検波回路、リミツタ・増幅器およびク
ランプ回路を通過せしめ、得られた正・負部分
各々の信号を加算するとともにこれに該トラツキ
ングエラー信号を加算し、この加算信号を全波検
波回路に通過せしめてトラツキングサーボ信号を
検出することを特徴とする光ピツクアツプのトラ
ツキングサーボ信号検出方法に関する。従来光ビ
デオ・オーデイオデイスクプレーヤーの光ピツク
アツプにおけるトラツキングエラー信号およびフ
オーカスエラー信号の検出は第１図に示す方法で
行われている。第１図に基づいて光学系について
説明すると、半導体レーザ１からの直線偏光はコ
リメータレンズ２で平行光にされ、偏光ビームス
プリツタ３を直進し、1/4波長板４で円偏光にし、
90゜偏向プリズム５、フオーカスＦおよびトラツ
キングＴ駆動される対物レンズ６を経てデイスク
回転モータ７によつて回転されるデイスク情報面
８に合焦し、その反射光は入射光に対して逆回転
の円偏光となり、対物レンズ６、90゜偏向プリズ
ム５を経て、1/4波長板４で入射光と直交する直
線偏光となり、偏光ビームスプリツタ３で90゜偏
向され収束レンズ９、45゜傾いた円筒レンズ１０
を経て４分割センサ１１で受光される。そしてト
ラツキングエラー信号Teは、加算器AD、減算器
SBを介して光スポツト走査方向すなわちＹ軸に
よつて２分される４分割センサ１１の右部（＃ １
＋＃ ２）と左部（＃ ３＋＃ ４）との差出力から検
出しており、またフオーカスエラー信号Feは加
算器AD、減算器SBを介して対角部（＃ ２＋＃
４）と対角部（＃ １＋＃ ３）との差出力から検出
している。
ーボ信号検出方法に係り、特に、光スポツト走査
方向によつて２分される光センサ出力の差からデ
イスク情報面の各ピツトごとのトラツキングエラ
ー信号を検出する光ピツクアツプにおいて、該ト
ラツキングエラー信号の正・負部分について各々
の半波直線検波回路、リミツタ・増幅器およびク
ランプ回路を通過せしめ、得られた正・負部分
各々の信号を加算するとともにこれに該トラツキ
ングエラー信号を加算し、この加算信号を全波検
波回路に通過せしめてトラツキングサーボ信号を
検出することを特徴とする光ピツクアツプのトラ
ツキングサーボ信号検出方法に関する。従来光ビ
デオ・オーデイオデイスクプレーヤーの光ピツク
アツプにおけるトラツキングエラー信号およびフ
オーカスエラー信号の検出は第１図に示す方法で
行われている。第１図に基づいて光学系について
説明すると、半導体レーザ１からの直線偏光はコ
リメータレンズ２で平行光にされ、偏光ビームス
プリツタ３を直進し、1/4波長板４で円偏光にし、
90゜偏向プリズム５、フオーカスＦおよびトラツ
キングＴ駆動される対物レンズ６を経てデイスク
回転モータ７によつて回転されるデイスク情報面
８に合焦し、その反射光は入射光に対して逆回転
の円偏光となり、対物レンズ６、90゜偏向プリズ
ム５を経て、1/4波長板４で入射光と直交する直
線偏光となり、偏光ビームスプリツタ３で90゜偏
向され収束レンズ９、45゜傾いた円筒レンズ１０
を経て４分割センサ１１で受光される。そしてト
ラツキングエラー信号Teは、加算器AD、減算器
SBを介して光スポツト走査方向すなわちＹ軸に
よつて２分される４分割センサ１１の右部（＃ １
＋＃ ２）と左部（＃ ３＋＃ ４）との差出力から検
出しており、またフオーカスエラー信号Feは加
算器AD、減算器SBを介して対角部（＃ ２＋＃
４）と対角部（＃ １＋＃ ３）との差出力から検出
している。
なおピツト信号RFは図示していないが加算器
を介して右部（＃ １＋＃ ２）と左部（＃ ３＋＃
４）との和出力から検出している。かかる検出に
おいてデイスク情報面８上のピツトＰを照射した
光スポツトＳは、ピツトＰにより回折、反射され
て対物レンズ６に入射する。そしてピツトＰによ
り回折された反射光の強度分布はピツトＰと光ス
ポツトＳの相対的な位置関係により変化し、ピツ
トＰの深さが光スポツト７の波長λの５分の１で
かつピツトＰの巾の３倍の光スポツトＳ径の条件
下で対物レンズ６面で観察したときの空間的な強
度分布、すなわち回折パターンを第２図に示す
が、このパターンからトラツキングエラー信号
Teは、第３図ａに示すピツトＰを光スポツトＳ
が傾めに走査する場合、第３図ｃに示すような波
形になる。なお第２図について簡単に説明すると
Ａ列はピツトＰと光スポツトＳの位置関係を示
し、Ｂ列は対物レンズ６面での強度分布を示して
いる。またＢ列において細かい斜線を引いて示す
部分は反射光量分布の暗い部分を表わし、円は対
物レンズ６の開口を表わし、（〓〓）に囲まれた
数字は全体の変調度を表わし、他の数字は対物レ
ンズ６面での反射全光量、すなわち（〓〓）に囲
まれた数字を１としたときの４分割センサ11の領
域でのそれぞれの光量を表わしている。さらに＃
のついた数字は４分割センサ１１のそれぞれの領
域を表わし、イ−α等は第３図ａのイ，αと対応
している。
を介して右部（＃ １＋＃ ２）と左部（＃ ３＋＃
４）との和出力から検出している。かかる検出に
おいてデイスク情報面８上のピツトＰを照射した
光スポツトＳは、ピツトＰにより回折、反射され
て対物レンズ６に入射する。そしてピツトＰによ
り回折された反射光の強度分布はピツトＰと光ス
ポツトＳの相対的な位置関係により変化し、ピツ
トＰの深さが光スポツト７の波長λの５分の１で
かつピツトＰの巾の３倍の光スポツトＳ径の条件
下で対物レンズ６面で観察したときの空間的な強
度分布、すなわち回折パターンを第２図に示す
が、このパターンからトラツキングエラー信号
Teは、第３図ａに示すピツトＰを光スポツトＳ
が傾めに走査する場合、第３図ｃに示すような波
形になる。なお第２図について簡単に説明すると
Ａ列はピツトＰと光スポツトＳの位置関係を示
し、Ｂ列は対物レンズ６面での強度分布を示して
いる。またＢ列において細かい斜線を引いて示す
部分は反射光量分布の暗い部分を表わし、円は対
物レンズ６の開口を表わし、（〓〓）に囲まれた
数字は全体の変調度を表わし、他の数字は対物レ
ンズ６面での反射全光量、すなわち（〓〓）に囲
まれた数字を１としたときの４分割センサ11の領
域でのそれぞれの光量を表わしている。さらに＃
のついた数字は４分割センサ１１のそれぞれの領
域を表わし、イ−α等は第３図ａのイ，αと対応
している。
次に第２図の回折パターンから第３図ｃのトラ
ツキングエラー信号Teを得ることを説明する。
ツキングエラー信号Teを得ることを説明する。
第３図ａのピツトＰのイのα位置については第
２図のイ−αに相当し、トラツキングエラー信号
Te＝｛（＃ １＋＃ ２）−（＃ ３＋＃ ４）｝×全体の変
調度から｛（0.15＋0.55）−（0.19＋0.11）｝×0.15＝
0.66を得る。またピツトＰのβ位置については
｛（0.42＋0.42）−（0.08＋0.08）｝×0.23＝0.156、
同
様にピツトＰのイのγ位置については｛（0.55＋
0.15）−（0.19＋0.11）｝×0.15＝0.66を得る。
２図のイ−αに相当し、トラツキングエラー信号
Te＝｛（＃ １＋＃ ２）−（＃ ３＋＃ ４）｝×全体の変
調度から｛（0.15＋0.55）−（0.19＋0.11）｝×0.15＝
0.66を得る。またピツトＰのβ位置については
｛（0.42＋0.42）−（0.08＋0.08）｝×0.23＝0.156、
同
様にピツトＰのイのγ位置については｛（0.55＋
0.15）−（0.19＋0.11）｝×0.15＝0.66を得る。
またピツトＰのない所は｛（0.25＋0.25）−（0.25
＋0.25）｝×１＝０となる。このようにして第３図
ｃに示すような各ピツトＰごとのトラツキングエ
ラー信号Teを得ている。
＋0.25）｝×１＝０となる。このようにして第３図
ｃに示すような各ピツトＰごとのトラツキングエ
ラー信号Teを得ている。
しかるに従来技術においては、このようにして
得られたトラツキングエラー信号Teを直接ロー
パスフイルタLPFに通し高周波成分を除去して
トラツキングサーボ信号Tsとしているが、トラ
ツキングサーボ信号Tsはトラツキングエラー信
号Teのピーク値には及ばないため、小であり
Ｓ／Ｎが低くなるという問題点があり、またデイ
スク情報面８の傾きによる直流成分もトラツキン
グエラー信号Teに入るため、サーボが不安定に
なるという問題点があつた。
得られたトラツキングエラー信号Teを直接ロー
パスフイルタLPFに通し高周波成分を除去して
トラツキングサーボ信号Tsとしているが、トラ
ツキングサーボ信号Tsはトラツキングエラー信
号Teのピーク値には及ばないため、小であり
Ｓ／Ｎが低くなるという問題点があり、またデイ
スク情報面８の傾きによる直流成分もトラツキン
グエラー信号Teに入るため、サーボが不安定に
なるという問題点があつた。
この発明は、このような従来技術の問題点に着
目してなされたもので、トラツキングエラー信号
を基にして形成された直流分をトラツキングエラ
ー信号に重畳して、トラツキングエラー信号全体
のレベルを上げることによつて上記問題点を解決
することを目的としている。
目してなされたもので、トラツキングエラー信号
を基にして形成された直流分をトラツキングエラ
ー信号に重畳して、トラツキングエラー信号全体
のレベルを上げることによつて上記問題点を解決
することを目的としている。
以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第４図は、この発明の一実施例を示すブロツク
図である。
図である。
２１，２２は半波直線検波回路で、いずれも入
力側にはトラツキングエラー信号Teが加わる。
半波直線検波回路２１はトラツキングエラー信号
Teの内正の部分のみを検波するもので、その出
力波形Ｄは第３図ｄに示すような波形になる。半
波直線検波回路２２はトラツキングエラー信号
Teの内負の部分のみを検波するものでその出力
波形Ｅは第３図ｅに示すように波形になる。
力側にはトラツキングエラー信号Teが加わる。
半波直線検波回路２１はトラツキングエラー信号
Teの内正の部分のみを検波するもので、その出
力波形Ｄは第３図ｄに示すような波形になる。半
波直線検波回路２２はトラツキングエラー信号
Teの内負の部分のみを検波するものでその出力
波形Ｅは第３図ｅに示すように波形になる。
３１，３２はリミツタ・増幅器で、いずれも入
力側には半波直線検波回路２１，２２の出力が加
わる。リミツタ・増幅器３１は半波直線検波回路
２１の出力波形の上下を押えて、出力波形を一定
振幅にするとともにそれを増幅するものである。
リミツタ・増幅器３２は半波直線検波回路２２の
出力波形の上下を押えて、出力波形を一定振幅に
するとともにそれを増幅するものである。そして
いずれも一定振幅・増幅の度合は、トラツキング
エラー信号Teの振幅の小さいところ、すなわち
第３図ａにおけるイとロの間またはロとハの間の
トラツキングエラー信号Teを基準としてトラツ
キングエラー信号Teを直接後述の全波検波回路
に通した場合に生ずるピーク値の低減を補うよう
に定める。
力側には半波直線検波回路２１，２２の出力が加
わる。リミツタ・増幅器３１は半波直線検波回路
２１の出力波形の上下を押えて、出力波形を一定
振幅にするとともにそれを増幅するものである。
リミツタ・増幅器３２は半波直線検波回路２２の
出力波形の上下を押えて、出力波形を一定振幅に
するとともにそれを増幅するものである。そして
いずれも一定振幅・増幅の度合は、トラツキング
エラー信号Teの振幅の小さいところ、すなわち
第３図ａにおけるイとロの間またはロとハの間の
トラツキングエラー信号Teを基準としてトラツ
キングエラー信号Teを直接後述の全波検波回路
に通した場合に生ずるピーク値の低減を補うよう
に定める。
４１，４２はクランプ回路で、いずれも入力側
にはリミツタ・増幅器３１，３２の出力が加わ
る。クランプ回路４１，４２はいずれもリミツ
タ・増幅器３１，３２の出力レベルを後述の全波
検波回路のダイオードレベルに合わせるべくシフ
トするものである。
にはリミツタ・増幅器３１，３２の出力が加わ
る。クランプ回路４１，４２はいずれもリミツ
タ・増幅器３１，３２の出力レベルを後述の全波
検波回路のダイオードレベルに合わせるべくシフ
トするものである。
クランプ回路４１，４２の出力波形Ｆ，Ｇは第
３図ｆ，ｇに示すような波形になる。AD1は加算
器で、入力側にはクランプ回路４１，４２の出力
が加わり、クランプ回路４１，４２の出力を加算
するものである。加算器AD1の出力波形Ｈは第３
図ｈに示すような波形になる。AD2は加算器で、
入力側には加算器AD1の出力およびトラツキング
エラー信号Teが加わり加算器AD1の出力とトラ
ツキングエラー信号Teを加算するものである。
これにより加算器AD1の出力レベル分だけトラツ
キングエラー信号Teのレベルは増大される。
３図ｆ，ｇに示すような波形になる。AD1は加算
器で、入力側にはクランプ回路４１，４２の出力
が加わり、クランプ回路４１，４２の出力を加算
するものである。加算器AD1の出力波形Ｈは第３
図ｈに示すような波形になる。AD2は加算器で、
入力側には加算器AD1の出力およびトラツキング
エラー信号Teが加わり加算器AD1の出力とトラ
ツキングエラー信号Teを加算するものである。
これにより加算器AD1の出力レベル分だけトラツ
キングエラー信号Teのレベルは増大される。
加算器AD2の出力波形Ｉは第３図ｉに示すよう
な波形になる。５０は全波検波回路で、入力側に
は加算器AD2の出力が加わり、加算器AD2の出力
に含まれている高周波成分を除去してトラツキン
グサーボ信号Tsを検出するものである。トラツ
キングサーボ信号Tsの波形は第３図ｊに示すよ
うな波形になる。このようにトラツキングエラー
信号Teにトラツキングエラー信号Teを基にして
形成された直流分を重畳して、全体としてレベル
を上げたのちに全波検波回路５０に加えることに
より、トラツキングサーボ信号Tsのレベルをト
ラツキングエラー信号Teのピーク値と同等にで
き、Ｓ／Ｎの改善、直流成分によるサーボの不安
定も解消できる。なおトラツキングサーボ信号
Tsの位相補償を行い、電流駆動によりトラツキ
ング駆動用コイルを作動させ、トラツキングサー
ボをかけている。
な波形になる。５０は全波検波回路で、入力側に
は加算器AD2の出力が加わり、加算器AD2の出力
に含まれている高周波成分を除去してトラツキン
グサーボ信号Tsを検出するものである。トラツ
キングサーボ信号Tsの波形は第３図ｊに示すよ
うな波形になる。このようにトラツキングエラー
信号Teにトラツキングエラー信号Teを基にして
形成された直流分を重畳して、全体としてレベル
を上げたのちに全波検波回路５０に加えることに
より、トラツキングサーボ信号Tsのレベルをト
ラツキングエラー信号Teのピーク値と同等にで
き、Ｓ／Ｎの改善、直流成分によるサーボの不安
定も解消できる。なおトラツキングサーボ信号
Tsの位相補償を行い、電流駆動によりトラツキ
ング駆動用コイルを作動させ、トラツキングサー
ボをかけている。
以上説明してきたようにこの発明は、光スポツ
ト走査方向によつて２分される光センサ出力の差
からデイスク情報面の各ピツトごとのトラツキン
グエラー信号を検出する光ピツクアツプにおい
て、該トラツキングエラー信号の正・負部分につ
いて各々の半波直線検波回路、リミツタ・増幅器
およびクランプ回路を通過せしめ、得られた正・
負部分各々の信号を加算するとともにこれに該ト
ラツキングエラー信号を加算し、この加算信号を
全波検波回路に通過せしめてトラツキングサーボ
信号を検出することによつて、トラツキングエラ
ー信号のレベルを上げることができ、それに伴い
Ｓ／Ｎの改善、直流成分によるサーボの不安定の
解消を図ることができるという効果が得られる。
ト走査方向によつて２分される光センサ出力の差
からデイスク情報面の各ピツトごとのトラツキン
グエラー信号を検出する光ピツクアツプにおい
て、該トラツキングエラー信号の正・負部分につ
いて各々の半波直線検波回路、リミツタ・増幅器
およびクランプ回路を通過せしめ、得られた正・
負部分各々の信号を加算するとともにこれに該ト
ラツキングエラー信号を加算し、この加算信号を
全波検波回路に通過せしめてトラツキングサーボ
信号を検出することによつて、トラツキングエラ
ー信号のレベルを上げることができ、それに伴い
Ｓ／Ｎの改善、直流成分によるサーボの不安定の
解消を図ることができるという効果が得られる。
第１図は光ピツクアツプの光学系の斜視図およ
び従来の４分割センサの信号処理系を示す図、第
２図はピツト深さがλ／５のときの対物レンズ面
での回折パターンを示す図、第３図ａはピツトを
光スポツトが走査する図、ｂはピツト信号の逆相
波形を示す図、ｃはトラツキングエラー信号の波
形を示す図、ｄは半波直線検波回路２１の出力波
形を示す図、ｅは半波直線検波回路２２の出力波
形を示す図、ｆはクランプ回路４１の出力波形を
示す図、ｇはクランプ回路４２の出力波形を示す
図、ｈは加算器AD1の出力波形を示す図、ｉは加
算器AD2の出力波形を示す図、ｊはトラツキング
サーボ信号の波形を示す図、第４図は、この発明
の一実施例を示すブロツク図である。 １……半導体レーザ、２……コリメータレン
ズ、３……偏光ビームスプリツタ、４……1/4波
長板、５……90゜偏向プリズム、６……対物レン
ズ、７……デイスク回転モータ、８……デイスク
情報面、９……収束レンズ、１０……円筒レン
ズ、１１……４分割センサ、２１，２２……半波
直線検波回路、３１，３２……リミツタ・増幅
器、４１，４２……クランプ回路、５０……全波
検波回路、AD1，AD2……加算器。
び従来の４分割センサの信号処理系を示す図、第
２図はピツト深さがλ／５のときの対物レンズ面
での回折パターンを示す図、第３図ａはピツトを
光スポツトが走査する図、ｂはピツト信号の逆相
波形を示す図、ｃはトラツキングエラー信号の波
形を示す図、ｄは半波直線検波回路２１の出力波
形を示す図、ｅは半波直線検波回路２２の出力波
形を示す図、ｆはクランプ回路４１の出力波形を
示す図、ｇはクランプ回路４２の出力波形を示す
図、ｈは加算器AD1の出力波形を示す図、ｉは加
算器AD2の出力波形を示す図、ｊはトラツキング
サーボ信号の波形を示す図、第４図は、この発明
の一実施例を示すブロツク図である。 １……半導体レーザ、２……コリメータレン
ズ、３……偏光ビームスプリツタ、４……1/4波
長板、５……90゜偏向プリズム、６……対物レン
ズ、７……デイスク回転モータ、８……デイスク
情報面、９……収束レンズ、１０……円筒レン
ズ、１１……４分割センサ、２１，２２……半波
直線検波回路、３１，３２……リミツタ・増幅
器、４１，４２……クランプ回路、５０……全波
検波回路、AD1，AD2……加算器。
Claims (1)
- １ 光スポツト走査方向によつて２分される光セ
ンサ出力の差からデイスク情報面の各ピツトごと
のトラツキングエラー信号を検出する光ピツクア
ツプにおいて、該トラツキングエラー信号の正・
負部分について各々の半波直線検波回路、リミツ
タ・増幅器およびクランプ回路を通過せしめ、得
られた正・負部分各々の信号を加算するとともに
これに該トラツキングエラー信号を加算し、この
加算信号を全波検波回路に通過せしめてトラツキ
ングサーボ信号を検出することを特徴とする光ピ
ツクアツプのトラツキングサーボ信号検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3850882A JPS58155532A (ja) | 1982-03-11 | 1982-03-11 | 光ピツクアツプのトラツキングサ−ボ信号検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3850882A JPS58155532A (ja) | 1982-03-11 | 1982-03-11 | 光ピツクアツプのトラツキングサ−ボ信号検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58155532A JPS58155532A (ja) | 1983-09-16 |
| JPH02775B2 true JPH02775B2 (ja) | 1990-01-09 |
Family
ID=12527205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3850882A Granted JPS58155532A (ja) | 1982-03-11 | 1982-03-11 | 光ピツクアツプのトラツキングサ−ボ信号検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58155532A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0474482U (ja) * | 1990-11-09 | 1992-06-30 |
-
1982
- 1982-03-11 JP JP3850882A patent/JPS58155532A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0474482U (ja) * | 1990-11-09 | 1992-06-30 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58155532A (ja) | 1983-09-16 |
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