JPH0227737B2 - - Google Patents

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JPH0227737B2
JPH0227737B2 JP57038509A JP3850982A JPH0227737B2 JP H0227737 B2 JPH0227737 B2 JP H0227737B2 JP 57038509 A JP57038509 A JP 57038509A JP 3850982 A JP3850982 A JP 3850982A JP H0227737 B2 JPH0227737 B2 JP H0227737B2
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JP
Japan
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pit
signal
pulse
error signal
tracking error
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JP57038509A
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English (en)
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JPS58155533A (ja
Inventor
Tsutomu Matsui
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Akai Electric Co Ltd
Original Assignee
Akai Electric Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、光ピツクアツプのトラツキングサ
ーボ信号検出方法に係り、特に、光スポツト走査
方向によつて2分される光センサ出力の差からデ
イスク情報面の各ピツトごとのトラツキングエラ
ー信号を検出するとともに該光センサ出力の和か
らデイスク情報面の各ピツトごとのピツト信号を
検出する光ピツクアツプにおいて、、逆相された
前記ピツト信号を零クロスコンパレータで正パル
スに変換し、該正パルスから立上りパルスおよび
立下りパルスを発生せしめ、該立上りパルスおよ
び該立下りパルスで該トラツキングエラー信号を
各々サンプル・ホールドし、この両サンプル・ホ
ールド信号を加算するとともにこの加算信号から
高周波成分を除去してトラツキングサーボ信号を
検出することを特徴とする光ピツクアツプのトラ
ツキングサーボ信号検出方法に関する。
従来光ビデオ・オーデイオデイスクプレーヤー
の光ピツクアツプにおけるトラツキングエラー信
号およびフオーカスエラー信号の検出は第1図に
示す方法で行われている。第1図に基づいて光学
系について説明すると、半導体レーザ1からの直
線偏光はコリメータレンズ2で平行光にされ、偏
光ビームスプリツタ3を直進し、1/4波長板4で
円偏光にし、90°偏向プリズム5、フオーカスF
およびトラツキングT駆動される対物レンズ6を
経てデイスク回転モータ7によつて回転されるデ
イスク情報面8に合焦し、その反射光は入射光に
対して逆回転の円偏光となり、対物レンズ6、
90°偏向プリズム5を経て、1/4波長板4で入射光
と直交する直線偏光となり、偏光ビームスプリツ
タ3で90°偏向され収束レンズ9、45°傾いた円筒
レンズ10を経て4分割センサ11で受光され
る。そしてトラツキングエラー信号Teは、加算
器AD、減算器SBを介して光スポツト走査方向す
なわちY軸によつて2分される4分割センサ11
の右部(#1+#2)と左部(#3+#4)との
差出力から検出しており、またフオーカスエラー
信号Feは加算器AD、減算器SBを介して対角部
(#2+#4)と対角部(#1+#3)との差出
力から検出している。
なおピツト信号RFは図示していないが加算器
を介して右部(#1+#2)と左部(#3+
#4)との和出力から検出している。かかる検出
においてデイスク情報面8上のピツトPを照射し
た光スポツトSは、ピツトPにより回折、反射さ
れて対物レンズ6に入射する。そしてピツトPに
より回折された反射光の強度分布はピツトPと光
スポツトSの相対的な位置関係により変化し、ピ
ツトPの深さが光スポツトSの波長λの5分の1
でかつピツトPの巾の3倍の光スポツトS径の条
件下で対物レンズ6面で観察したときの空間的な
強度分布、すなわち回折パターンを第2図に示す
が、このパターンからトラツキングエラー信号
Teは、第3図aに示すピツトPを光スポツトS
が傾めに走査する場合、第3図fに示すような波
形になる。なお第2図について簡単に説明すると
A列はピツトPと光スポツトSの位置関係を示
し、B列は対物レンズ6面での強度分布を示して
いる。またB列において細かい斜線を引いて示す
部分は反射光量分布の暗い部分を表わし、円は対
物レンズ6の開口を表わし、(〓〓)に囲まれた
数字は全体の変調度を表わし、他の数字は対物レ
ンズ6面での反射全光量、すなわち(〓〓)に囲
まれた数字を1としたときの4分割センサ11の
領域でのそれぞれの光量を表わしている。さらに
#のついた数字は4分割センサ11のそれぞれの
領域を表わしイ−α等は第3図aのイ,αと対応
している。
次に第2図の回折パターンから第3図fのトラ
ツキングエラー信号Teを得ることを説明する。
第3図aのピツトPのイのα位置については第
2図のイ−αに相当し、トラツキングエラー信号
Te={(#1+#2)−(#3+#4)}×全体の変
調度から{(0.15+0.55)−(0.19+0.11)}×0.15=
0.06を得る。またピツトPのβ位置については
{(0.42+0.42)−(0.08+0.08)}×0.23=0.156、

様にピツトPのイのγ位置については{(0.55+
0.15)−(0.19+0.11)}×0.15=0.06を得る。
またピツトPのない所は{(0.25+0.25)−(0.25
+0.25)}×1=0となる。このようにして第3図
fに示すような各ピツトPごとのトラツキングエ
ラー信号Teを得ている。
しかるに従来技術においては、このようにして
得られたトラツキングエラー信号Teを直接ロー
パスフイルタLPFに通し高周波成分を除去して
トラツキングサーボ信号Tsとしているが、デイ
スク情報面8の傾きによる直流成分がトラツキン
グエラー信号Teに入るため、サーボが不安定に
なるという問題点があつた。
この発明は、このような従来技術の問題点に着
目してなされたもので、トラツキングエラー信号
をサンプル・ホールドによつて二つの波形に変換
しかつ両者を重畳してそのレベルを上げることに
よつて上記問題点を解決することを目的としてい
る。
以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第4図は、この発明の一実施例を示す図であ
る。20はコンパレータで、第3図bに示すよう
な波形をもつ逆相されたピツト信号RFを入力と
し、基準電圧を0Vとすると零クロスコンパレー
タである。ピツト信号RFはコンパレータ20に
より第3図cに示すような一定の振幅をもつ正の
パルス波形に変換される。
31は立上りパルス発生器で、コンパレータ2
0の出力を入力とし、コンパレータ20の出力が
0レベルから一定レベルまで立ち上がるとき、パ
ルスを発生するものである。この立上りパルスは
第3図dに示すような波形になる。32は立下り
パルス発生器で、コンパレータ20の出力を入力
とし、コンパレータ20の出力が一定レベルから
0レベルまで立ち下がるとき、パルスを発生する
ものである。この立下りパルスは第3図eに示す
ような波形になる。41,42はアナログスイツ
チで、いずれも入力側には第3図fに示すような
波形をもつトラツキングエラー信号Teが加わり、
出力側は加算器ADの入力側に接続されている。
アナログスイツチ41のオン・オフは立上りパ
ルス、アナログスイツチ42のオン・オフは立下
りパルスによつて制御される。
アナログスイツチ41,42のオン・オフによ
つてトラツキングエラー信号Teをサンプル・ホ
ールドする。なおサンプリング期間はホールド期
間よりきわめて短いように定める。アナログスイ
ツチ41でサンプル・ホールドされたトラツキン
グエラー信号Teの波形は第3図gに示すような
変換された波形になり、アナログスイツチ42で
サンプル・ホールドされたトラツキングエラー信
号Teの波形は第3図hに示すような変換された
波形になる。加算器ADはアナログスイツチ4
1,42の出力を加算するもので、その出力波形
は第3図iに示すような波形になる。このように
して検出されたトラツキングエラー信号Te1と本
発明のような処理がなされていないトラツキング
エラー信号Teとのレベルを第3図aのイのαの
位置において比較すると、Teは0.060であるのに
対しTe1は0.120である。したがつてTe1はTeの2
倍(6dB)となり、感度よくトラツキングエラー
信号Te1を検出できる。
LPFはローパスフイルタで、加算器ADの出力
を入力としトラツキングエラー信号Te1に含まれ
ている高周波成分を除去してトラツキングサーボ
信号Tsを検出するものである。
トラツキングサーボ信号Tsの波形は第3図j
に示すような波形になる。このようにトラツキン
グエラー信号Teを直接ローパスフイルタLPFに
加えるのではなく、トラツキングエラー信号Te
の波形を変換しかつそのレベルを高くして、ロー
パスフイルタLPFに加えることにより直流成分
によるサーボの不安定を解消できる。
なおトラツキングサーボ信号Tsの位相補償を
行い、電流駆動によりトラツキング駆動用コイル
を作動させ、トラツキングサーボをかけている。
以上説明してきたようにこの発明は、光スポツ
ト走査方向によつて2分される光センサ出力の差
からデイスク情報面の各ピツトごとのトラツキン
グエラー信号を検出するとともに該光センサ出力
の和からデイスク情報面の各ピツトごとのピツト
信号を検出する光ピツクアツプにおいて、、逆相
された前記ピツト信号を零クロスコンパレータで
正パルスに変換し、該正パルスから立上りパルス
および立下りパルスを発生せしめ、該立上りパル
スおよび該立下りパルスで該トラツキングエラー
信号を各々サンプル・ホールドし、この両サンプ
ル・ホールド信号を加算するとともにこの加算信
号から高周波成分を除去してトラツキングサーボ
信号を検出することによつて、トラツキングエラ
ー信号のレベルを上げることができ、それに伴い
直流成分によるサーボの不安定の解消を図ること
ができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光ピツクアツプの光学系の斜視図およ
び4分割センサの信号処理系を示す図、第2図は
ピツト深さがλ/5のときの対物レンズ面での回
折パターンを示す図、第3図aはピツトを光スポ
ツトが走査する図、bはピツト信号の逆相波形を
示す図、cはコンパレータの出力波形を示す図、
dは立上りパルスの波形を示す図、eは立下りパ
ルスの波形を示す図、fはトラツキングエラー信
号の波形を示す図、gはアナログスイツチ41の
出力波形を示す図、hはアナログスイツチ42の
出力波形を示す図、iは加算器の出力波形を示す
図、jはトラツキングサーボ信号の波形を示す
図、第4図は、この発明の一実施例を示すブロツ
ク図である。 1……半導体レーザ、2……コリメータレン
ズ、3……偏光ビームスプリツタ、4……1/4波
長板、5……90°偏向プリズム、6……対物レン
ズ、7……デイスク回転モータ、8……デイスク
情報面、9……収束レンズ、10……円筒レン
ズ、11……4分割センサ、20……コンパレー
タ、31,32……パルス発生器、41,42…
…アナログスイツチ、AD……加算器、LPF……
ローパスフイルタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 光スポツト走査方向によつて2分される光セ
    ンサ出力の差からデイスク情報面の各ピツトごと
    のトラツキングエラー信号を検出するとともに、
    前記光センサ出力の和から前記デイスク情報面の
    各ピツトごとのピツト信号を検出する光ピツクア
    ツプにおいて、逆相された前記ピツト信号を零ク
    ロスコンパレータで正パルスに変換し、該正パル
    スから立上りパルスおよび立下りパルスを発生せ
    しめ、該立上りパルスおよび立下りパルスで前記
    トラツキングエラー信号を各々サンプル・ホール
    ドし、この両サンプル・ホールド信号を加算する
    とともに、この加算信号から高周波成分を除去し
    てトラツキングサーボ信号を検出することを特徴
    とする光ピツクアツプのトラツキングサーボ信号
    検出方法。
JP3850982A 1982-03-11 1982-03-11 光ピツクアツプのトラツキングサ−ボ信号検出方法 Granted JPS58155533A (ja)

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JP3850982A JPS58155533A (ja) 1982-03-11 1982-03-11 光ピツクアツプのトラツキングサ−ボ信号検出方法

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JPS63153043U (ja) * 1987-03-27 1988-10-07
JPH10198965A (ja) * 1997-01-10 1998-07-31 Sony Corp 光ディスク再生方法及び光ディスク再生装置

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