JPH0277637A - 粘弾性測定装置 - Google Patents
粘弾性測定装置Info
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- JPH0277637A JPH0277637A JP22953588A JP22953588A JPH0277637A JP H0277637 A JPH0277637 A JP H0277637A JP 22953588 A JP22953588 A JP 22953588A JP 22953588 A JP22953588 A JP 22953588A JP H0277637 A JPH0277637 A JP H0277637A
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Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野〕
この発明は、セラミック材料等の硬質の物質の剛性率(
ヤング率)、内部摩擦損失等を測定するのに使用して好
適なねじれ自由減衰振動法を翔いた粘弾性測定装置に関
する。
ヤング率)、内部摩擦損失等を測定するのに使用して好
適なねじれ自由減衰振動法を翔いた粘弾性測定装置に関
する。
高分子物質等の粘弾性的性質を測定する方法として、下
記に述べるように種々のものが知られている。
記に述べるように種々のものが知られている。
a、引張り試験機による応力と歪みの関係から粘弾性を
測定する方法。
測定する方法。
これは、従来から一般的な方法として行われてきたが、
高温での測定を行う場合に、チャック部の伸びの誤差が
発生し易く、また、高温での歪み検出用のストレインゲ
ージの使用が難しかった。
高温での測定を行う場合に、チャック部の伸びの誤差が
発生し易く、また、高温での歪み検出用のストレインゲ
ージの使用が難しかった。
更に1.この測定法は、破壊試験のために、試験片を多
数必要とする欠点があつた。
数必要とする欠点があつた。
b、音波の伝播速度から粘弾性を測定する方法。
超音波の伝播速度とその密度から粘弾性を測定する。こ
の方法の最大の欠点は、超音波発振子と試料とを接着す
る接着剤が高温まで耐えられないことである。
の方法の最大の欠点は、超音波発振子と試料とを接着す
る接着剤が高温まで耐えられないことである。
C0強制振動による試料の共振周波数から粘弾性を測定
する方法。
する方法。
この方法は、比較的小さな試料を用いて測定可能であり
、振動数からヤング率を計算するため、精度が高く、・
また、高温での測定が比較的簡単な利点を有する。しか
しながら、強制振動のために、駆動エネルギーを発生す
るための強力な駆動部が必要であり、測定装置の構成が
大形且つ複雑となる問題がある。然も、装置の共振周波
数と駆動周波数との干渉による誤差等により、精度の良
いデータを得ることが難しかった。
、振動数からヤング率を計算するため、精度が高く、・
また、高温での測定が比較的簡単な利点を有する。しか
しながら、強制振動のために、駆動エネルギーを発生す
るための強力な駆動部が必要であり、測定装置の構成が
大形且つ複雑となる問題がある。然も、装置の共振周波
数と駆動周波数との干渉による誤差等により、精度の良
いデータを得ることが難しかった。
d、ねじれ自由減衰振動法
高温で測定する際に、上述の問題を生ぜず、また、非破
壊試験6ために、試験片を多く必要とせず、更に、強力
な駆動部を必要としない利点がある。
壊試験6ために、試験片を多く必要とせず、更に、強力
な駆動部を必要としない利点がある。
従って、ねじれ自由減衰振動法は、低温(液体窒素温度
)から高温(例えば1500°C)までの範囲における
セラミック材料の機械的性質例えば引張り強さ、曲げの
強さ、剛性率(ヤング率)、内部摩擦損失等の測定に好
適である。即ち、内部摩擦損失の測定により、セラミッ
ク中の欠陥(ボア、クラック等)を実際に則した条件下
で検出でき、また、評価できる。
)から高温(例えば1500°C)までの範囲における
セラミック材料の機械的性質例えば引張り強さ、曲げの
強さ、剛性率(ヤング率)、内部摩擦損失等の測定に好
適である。即ち、内部摩擦損失の測定により、セラミッ
ク中の欠陥(ボア、クラック等)を実際に則した条件下
で検出でき、また、評価できる。
〔発明が解決しようとする課題〕
第7図は、ねじれ自由減衰振動法の概略を示すものであ
り、1が試料、2が固定の下部チャック、3が軸4と連
結された上部チャック、5が慣性体、6がピアノ線であ
る。ピアノ線6には、滑車7を介してバランス錘(図示
せず)が繋がれている。
り、1が試料、2が固定の下部チャック、3が軸4と連
結された上部チャック、5が慣性体、6がピアノ線であ
る。ピアノ線6には、滑車7を介してバランス錘(図示
せず)が繋がれている。
第7図Bは、第7図Aを上方から見た図である。
慣性体5に対して外力F1を一発加えて、初期振幅を与
え、試料1の自由減衰振動波形がセンサ(図示せず)に
より検出される。第8図は、自由減衰振動波形を示し、
この波形の複数の振幅から剛性率等が求められる。
え、試料1の自由減衰振動波形がセンサ(図示せず)に
より検出される。第8図は、自由減衰振動波形を示し、
この波形の複数の振幅から剛性率等が求められる。
従って、第8図に示すような波形が正確且つ安定に得ら
れることがねじれ自由減衰振動法で最も重要である。し
かしながら、セラミック材料等の硬質の試料の場合には
、減衰振動波形が安定に得られない問題があった。この
理由は、慣性体5の。
れることがねじれ自由減衰振動法で最も重要である。し
かしながら、セラミック材料等の硬質の試料の場合には
、減衰振動波形が安定に得られない問題があった。この
理由は、慣性体5の。
外力F1が加わった一端部が円弧運動するが、試料1が
硬いほど軸4も矢印で示す方向に平行移動し、本来のね
じれ運動に横振動或いは縦振動が重畳されるからである
。慣性体5の他端に可逆的に外力F2を与えたとしても
、Flのみによる一方向よりは、改善できるとは言え、
他の振動を完全に除去することが困難であった。
硬いほど軸4も矢印で示す方向に平行移動し、本来のね
じれ運動に横振動或いは縦振動が重畳されるからである
。慣性体5の他端に可逆的に外力F2を与えたとしても
、Flのみによる一方向よりは、改善できるとは言え、
他の振動を完全に除去することが困難であった。
従って、この発明の目的は、頗る硬質の試料の場合でも
、正確且つ安定な減衰波形のデータを得ることができる
ように、改良されたねじれ自由減衰振動法による粘弾性
測定装置を提供することにある。
、正確且つ安定な減衰波形のデータを得ることができる
ように、改良されたねじれ自由減衰振動法による粘弾性
測定装置を提供することにある。
この発明では、初期的な外力を与えることで発生するね
じれ自由減衰振動波形から試料の粘弾性を測定するよう
にした粘弾性−測定装置において、試料の共振周波数の
略々%の周波数の外力が初期的な外力として、試料に加
えられる。
じれ自由減衰振動波形から試料の粘弾性を測定するよう
にした粘弾性−測定装置において、試料の共振周波数の
略々%の周波数の外力が初期的な外力として、試料に加
えられる。
試料の共振周波数が予め測定される。慣性体に初期的な
ねじれを与えるために、駆動コイルが使用される。どの
駆動コイルに試料の共振周波数の略々4の周波数の駆動
信号を供給し、駆動コイルで試料の共振周波数の吸引力
が発生する。この吸引力が初期的な外力とされるので、
短時間、駆動信号を供給することにより、試料は、瞬時
にしてその機械的共振に引き込まれる。従って、試料は
、安定な最大振幅で振動を継続する。試料が共振点で充
分に振動した後、駆動信号の供給が断たれる。
ねじれを与えるために、駆動コイルが使用される。どの
駆動コイルに試料の共振周波数の略々4の周波数の駆動
信号を供給し、駆動コイルで試料の共振周波数の吸引力
が発生する。この吸引力が初期的な外力とされるので、
短時間、駆動信号を供給することにより、試料は、瞬時
にしてその機械的共振に引き込まれる。従って、試料は
、安定な最大振幅で振動を継続する。試料が共振点で充
分に振動した後、駆動信号の供給が断たれる。
この後に、縦振動、横振動等の雑振動がない極めて安定
な自由減衰振動波形が得られる。硬い試料の場合でも、
振動が共振からの誘導があるために、供給エネルギーは
、小さくて良く、また、駆動時間も短時間に抑えること
ができる。
な自由減衰振動波形が得られる。硬い試料の場合でも、
振動が共振からの誘導があるために、供給エネルギーは
、小さくて良く、また、駆動時間も短時間に抑えること
ができる。
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。第1図は、この発明の一実施例の構成を示し、1
1がセラミック等の試料を示す。
する。第1図は、この発明の一実施例の構成を示し、1
1がセラミック等の試料を示す。
試料11の一端が下部チャックに相当する固定軸12の
上端に固着され、試料11の他端が上部チャックに相当
する駆動軸13の下端に固着される。
上端に固着され、試料11の他端が上部チャックに相当
する駆動軸13の下端に固着される。
試料11の周囲には、ヒーター14(二点鎖線で示す)
が設けられ、また、図示せずも、温度センサが設けられ
ている。ヒーター14により、試料11の周囲の温度が
所定の温度とされる。
が設けられ、また、図示せずも、温度センサが設けられ
ている。ヒーター14により、試料11の周囲の温度が
所定の温度とされる。
回転軸13には、慣性体15が取りつけられている。慣
性体15は、回転軸13を貫通する軸16と、軸16の
両端に固着された円柱ブロック17A及び17Bとから
なる0円柱ブロック17A及び17Bは、充分な慣性モ
ーメントを発生するに足る重さを等しく有する金属ブロ
ックである。
性体15は、回転軸13を貫通する軸16と、軸16の
両端に固着された円柱ブロック17A及び17Bとから
なる0円柱ブロック17A及び17Bは、充分な慣性モ
ーメントを発生するに足る重さを等しく有する金属ブロ
ックである。
円板状の慣性体15を使用することもできる。慣性体1
5の軸16の一端に金属例えばアルミの金属小片18が
取りつけられている。金属小片18は、変位センサー(
破線で示す)19と対向し、金属小片18と変位センサ
ー19との間隙の変化から振動波形の検出がされる。試
料11がセラミック材料のような硬質の材料の場合、ね
じれは、最大で±1°の回転角の範囲である。勿論、こ
の発明は、セラミック材料以外の物質の測定に適用でき
る。
5の軸16の一端に金属例えばアルミの金属小片18が
取りつけられている。金属小片18は、変位センサー(
破線で示す)19と対向し、金属小片18と変位センサ
ー19との間隙の変化から振動波形の検出がされる。試
料11がセラミック材料のような硬質の材料の場合、ね
じれは、最大で±1°の回転角の範囲である。勿論、こ
の発明は、セラミック材料以外の物質の測定に適用でき
る。
回転軸13に対して、回転力を与えるために、回転軸1
3に水平方向に延びる軸20が固着される。この軸20
の両端に作動軸21A及び21Bが軸20の延長方向と
直交する水平面内で互いに逆方向に突出されている0作
動軸21Aは、一方の駆動コイル(二点鎖線で示す)2
21/2の作動空隙内に挿入され、作動軸21Bは、他
方の駆動コイル22Bの作動空隙内に挿入される。
3に水平方向に延びる軸20が固着される。この軸20
の両端に作動軸21A及び21Bが軸20の延長方向と
直交する水平面内で互いに逆方向に突出されている0作
動軸21Aは、一方の駆動コイル(二点鎖線で示す)2
21/2の作動空隙内に挿入され、作動軸21Bは、他
方の駆動コイル22Bの作動空隙内に挿入される。
回転軸13は、軸受23により回転自在に支持され、回
転軸13の上端には、チャック24が設けられ、このチ
ャック24にピアノ線25の一端が繋がれている。ピア
ノ線25は、滑車26及び27をめぐらされ、バランス
用の錘28がピアノ線25の先端に係合されている。
転軸13の上端には、チャック24が設けられ、このチ
ャック24にピアノ線25の一端が繋がれている。ピア
ノ線25は、滑車26及び27をめぐらされ、バランス
用の錘28がピアノ線25の先端に係合されている。
第1図に示す装置は、図示せずも、円筒状の容器内に収
納され、測定に際して、容器内が真空とされたり、容器
内に所定の不活性ガスが導入される。
納され、測定に際して、容器内が真空とされたり、容器
内に所定の不活性ガスが導入される。
第2図は、回転軸13に対して回転力を与える駆動部の
詳細を示し、作動軸21Aは、ネジ30Aで軸20に取
りつけられ、作動軸21Aが駆動コイル221/2の中
心の作動空隙内に挿入される。
詳細を示し、作動軸21Aは、ネジ30Aで軸20に取
りつけられ、作動軸21Aが駆動コイル221/2の中
心の作動空隙内に挿入される。
作動軸21B及び駆動コイル22Bからなる駆動部も第
2図と同様の構成とされている。
2図と同様の構成とされている。
第3図は、試料11の振動波形を検出する部分の詳細を
示し、慣性体15の軸16に取りつけられた金属小片1
8が変位センサー19と所定の空隙31を介して対向さ
れる。試料11の振動時、即ち、慣性体15の軸16の
振動時に、この空隙31の距離が変動し、この距離に応
じてレベルが変化する検出信号が変位センサー19から
得られる。変位センサー19は、空隙31の距離の変動
を磁気的或いは静電的に検出する構成のものである。
示し、慣性体15の軸16に取りつけられた金属小片1
8が変位センサー19と所定の空隙31を介して対向さ
れる。試料11の振動時、即ち、慣性体15の軸16の
振動時に、この空隙31の距離が変動し、この距離に応
じてレベルが変化する検出信号が変位センサー19から
得られる。変位センサー19は、空隙31の距離の変動
を磁気的或いは静電的に検出する構成のものである。
この発明では、第4図Aに示すように、上述の駆動コイ
ル22A及び22Bに対して、試料11の機械的な共振
周波数の%の周波数の正弦波信号を駆動信号として供給
する。駆動コイル22A及び22Bは、第4図Bに示す
ように、駆動信号の二倍の周波数、即ち、試料11の共
振周波数の吸引力を発生する。従って、駆動信号を短時
間、試料11に与えることにより、試料11は、安定な
振動状態に引き込まれる。この時の駆動エネルギーは、
共振を利用しているので、極めて少なくて良い、試料1
1が共振状態に引き込まれた後に、駆動信号を断ち、試
料11の減衰振動波形が変位センサー19により検出さ
れる。この振動減衰波形は、正弦波振動で起動された後
に得られるものであるため、横振動、縦振動等の不要な
振動の影響を受けない安定な減衰波形である。駆動信号
の周波数は、試料11の共振周波数の略々ηに選定すれ
ば良い。
ル22A及び22Bに対して、試料11の機械的な共振
周波数の%の周波数の正弦波信号を駆動信号として供給
する。駆動コイル22A及び22Bは、第4図Bに示す
ように、駆動信号の二倍の周波数、即ち、試料11の共
振周波数の吸引力を発生する。従って、駆動信号を短時
間、試料11に与えることにより、試料11は、安定な
振動状態に引き込まれる。この時の駆動エネルギーは、
共振を利用しているので、極めて少なくて良い、試料1
1が共振状態に引き込まれた後に、駆動信号を断ち、試
料11の減衰振動波形が変位センサー19により検出さ
れる。この振動減衰波形は、正弦波振動で起動された後
に得られるものであるため、横振動、縦振動等の不要な
振動の影響を受けない安定な減衰波形である。駆動信号
の周波数は、試料11の共振周波数の略々ηに選定すれ
ば良い。
第5図は、この発明の一実施例の電気的構成を示すもの
で、変位センサー19からの検出信号がアンプ40に供
給され、アンプ40の出力信号が表示装置41、A/D
変換器42及び周波数カウンタ43に供給される0表、
示装置41は、検出信号の波形を表示し、波形観測のた
めに使用される。
で、変位センサー19からの検出信号がアンプ40に供
給され、アンプ40の出力信号が表示装置41、A/D
変換器42及び周波数カウンタ43に供給される0表、
示装置41は、検出信号の波形を表示し、波形観測のた
めに使用される。
A/D変換器42は、振動減衰波形の周波数の少なくと
も二倍以上のサンプリング周波数で、8ビットの測定デ
ータを発生する0周波数カウンタ43は、検出信号の周
波数をディジタル的に計測する。
も二倍以上のサンプリング周波数で、8ビットの測定デ
ータを発生する0周波数カウンタ43は、検出信号の周
波数をディジタル的に計測する。
44は、温度制御回路を示し、温度制御回路44からヒ
ーター14に対する駆動信号が発生する。
ーター14に対する駆動信号が発生する。
試料11の周囲温度を所望の値に制御するために、温度
センサー45からの検出信号が温度制御回路44に供給
される。46は、装置の動作を制御するためのCPUで
、CPU46と表示装置41と、A/D変換器42と、
周波数カウンタ43と、温度制御回路44とがバスを介
して結合されている。
センサー45からの検出信号が温度制御回路44に供給
される。46は、装置の動作を制御するためのCPUで
、CPU46と表示装置41と、A/D変換器42と、
周波数カウンタ43と、温度制御回路44とがバスを介
して結合されている。
また、CPU46から可変周波数発振回路47に対して
制御信号が供給される。前述のように、試料の共振周波
数の略々%の周波数の駆動信号を発生するように、可変
周波数発振回路47の発振周波数が例えばマニユアルで
設定される。CPU46からの制御信号は、発振のオン
/オフを制御するための信号である。可変周波数発振回
路47の出力信号がパワーアンプ48を介して駆動コイ
ル22A及び22Bに加えられる。
制御信号が供給される。前述のように、試料の共振周波
数の略々%の周波数の駆動信号を発生するように、可変
周波数発振回路47の発振周波数が例えばマニユアルで
設定される。CPU46からの制御信号は、発振のオン
/オフを制御するための信号である。可変周波数発振回
路47の出力信号がパワーアンプ48を介して駆動コイ
ル22A及び22Bに加えられる。
A/D変換器42、周波数カウンタ43、CPU46は
、インターフェース49を介して外部制御部50と結合
されている。外部制御部50は、CPU51.プロッタ
52及びプリンタ53から構成されており、測定データ
の解析、測定データ及び解析結果のプリントアウトが行
われる。
、インターフェース49を介して外部制御部50と結合
されている。外部制御部50は、CPU51.プロッタ
52及びプリンタ53から構成されており、測定データ
の解析、測定データ及び解析結果のプリントアウトが行
われる。
粘弾性の測定の開始に先立って、試料11を装着した後
に、試料11の周囲温度が所望の温度に調整される。こ
の温度条件下或いは温度制御がされていない状態におけ
る試料11の共振周波数が調べられる。−例として、慣
性体15を叩いた時に得られる変位センサー19の検出
信号の周波数を周波数カウンタ44で読み取ることで、
試料11の機械的な共振周波数を知ることができる。こ
の共振周波数の略々ηの周波数で発振するように、可変
周波数発振回路47が調整される0発振周波数の設定を
CPU46により、自動的に行っても良い。
に、試料11の周囲温度が所望の温度に調整される。こ
の温度条件下或いは温度制御がされていない状態におけ
る試料11の共振周波数が調べられる。−例として、慣
性体15を叩いた時に得られる変位センサー19の検出
信号の周波数を周波数カウンタ44で読み取ることで、
試料11の機械的な共振周波数を知ることができる。こ
の共振周波数の略々ηの周波数で発振するように、可変
周波数発振回路47が調整される0発振周波数の設定を
CPU46により、自動的に行っても良い。
駆動信号の周波数の調整がされた後に、CPU46の制
御により、短時間(数秒程度の間)、駆動信号が駆動コ
イル22A及び22Bに供給される。駆動コイル22A
及び22Bで発生した吸引力により、慣性体15に駆動
信号の二倍の周波数の回転力が与えられ、試料11が共
振状態に引き込まれる0次に、駆動信号の供給が断たれ
、試料11の減衰振動波形が変位センサー19で検出さ
れる。この減衰振動波形は、表示装置41で表示される
と共に、A/D変換器42でディジタルの測定データに
変換される。
御により、短時間(数秒程度の間)、駆動信号が駆動コ
イル22A及び22Bに供給される。駆動コイル22A
及び22Bで発生した吸引力により、慣性体15に駆動
信号の二倍の周波数の回転力が与えられ、試料11が共
振状態に引き込まれる0次に、駆動信号の供給が断たれ
、試料11の減衰振動波形が変位センサー19で検出さ
れる。この減衰振動波形は、表示装置41で表示される
と共に、A/D変換器42でディジタルの測定データに
変換される。
この測定データが外部制御部50にインターフェース4
9を介して供給され、試料11の剛性率、ヤング率、内
部損失等の測定項目に関するデータが自動的に算出され
、測定データ或いは測定項目のデータがプリントアウト
される。
9を介して供給され、試料11の剛性率、ヤング率、内
部損失等の測定項目に関するデータが自動的に算出され
、測定データ或いは測定項目のデータがプリントアウト
される。
上述の実施例では、CPU46により、可変周波数発振
回路47を一定の時間、オン状態として、駆動信号を発
生したが、第6図に示す構成により、試料11が充分に
共振状態に引き込まれたことを検出して、駆動信号をオ
フとしても良い、第6図において、54は、可変周波数
発振回路47とパワーアンプ48の間に挿入されたゲー
ト回路である。ゲート回路54は、制御信号発生回路5
5からの制御信号でオン/オフされる。
回路47を一定の時間、オン状態として、駆動信号を発
生したが、第6図に示す構成により、試料11が充分に
共振状態に引き込まれたことを検出して、駆動信号をオ
フとしても良い、第6図において、54は、可変周波数
発振回路47とパワーアンプ48の間に挿入されたゲー
ト回路である。ゲート回路54は、制御信号発生回路5
5からの制御信号でオン/オフされる。
制御信号発生回路55には、CPUからの発振開始信号
が端子56から供給され、また、レベル検出回路57か
らの検出信号が供給される。レベル検出回路57には、
端子58からアンプ40を介された変位センサー19の
検出信号が供給される。この検出信号の振幅が基準レベ
ルより太き(なることがレベル検出回路57で検出され
、レベル検出回路57の出力信号が制御信号発生回路5
5に供給される。制御信号発生回路55では、検出信号
のレベルが太き(なった時に、ゲート回路54をオフと
する制御信号が発生する。従って、起動時から試料11
が共振状態に引き込まれる迄の期間、駆動信号が駆動コ
イル22A及び22Bに供給される。
が端子56から供給され、また、レベル検出回路57か
らの検出信号が供給される。レベル検出回路57には、
端子58からアンプ40を介された変位センサー19の
検出信号が供給される。この検出信号の振幅が基準レベ
ルより太き(なることがレベル検出回路57で検出され
、レベル検出回路57の出力信号が制御信号発生回路5
5に供給される。制御信号発生回路55では、検出信号
のレベルが太き(なった時に、ゲート回路54をオフと
する制御信号が発生する。従って、起動時から試料11
が共振状態に引き込まれる迄の期間、駆動信号が駆動コ
イル22A及び22Bに供給される。
なお、試料11の上部を固定し、その下部に慣性体を設
け、従って、ピアノ線及びバランス錘を必要としないね
じれ自由減衰振動型の粘弾性測定装置に対しても、この
発明は、上述と同様に適用できる。
け、従って、ピアノ線及びバランス錘を必要としないね
じれ自由減衰振動型の粘弾性測定装置に対しても、この
発明は、上述と同様に適用できる。
この発明に依れば、試料の機械的共振周波数の%の周波
数の駆動信号により初期の外力を与えるために、試料が
安定に振動し、縦振動、横振動のような雑振動に影響さ
れない安定な減衰波形を得ることができる。従って、試
料の剛性率、ヤング率、内部損失等を高い精度で測定す
ることができる。然も、共振を利用しているので、駆動
のためのエネルギーは、小さくて良く、供給時間も短時
間で良い。
数の駆動信号により初期の外力を与えるために、試料が
安定に振動し、縦振動、横振動のような雑振動に影響さ
れない安定な減衰波形を得ることができる。従って、試
料の剛性率、ヤング率、内部損失等を高い精度で測定す
ることができる。然も、共振を利用しているので、駆動
のためのエネルギーは、小さくて良く、供給時間も短時
間で良い。
第1図はこの発明の一実施例の構成を示す正面図、第2
図は駆動コイルの部分の拡大断面図、第3図は変位セン
サーの周辺の拡大断面図、第4図はこの発明の駆動原理
の説明に用いる路線図、第5図はこの発明の一実施例の
電気的構成を示すブロック図、第6図は駆動信号の供給
を制御するための構成の一例のブロック図である。 図面における主要な符号の説明 11:試料、13:回転軸、15:慣性体、19:変位
センサー、 22A、22B:駆動コイル、25:ピアノ線。 代理人 弁理士 杉 浦 正 知 第2図 第31!1 第4図 AtvJ田訃クメ色のイクジ 第6図 手続補正書動側 昭和63年特許願第229535号 2、発明の名称 粘弾性測定装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都立川市高松町1丁目100番地名称 株
式 会 社 し ス カ代表取締役 佐々
木信博(他1名) 4、代理人 〒170 住所 東京都豊島区東池袋1丁目48番lO号昭和63
年12月20日 7、補正の内容 (1)明細書中、第16頁1行、「ブロック図である。 」を下記の通り訂正する。 「ブロック図、第7図はねじれ自由減衰振動法の概略を
示す路線図、第8図は自由減衰振動波形を示す波形図で
ある。」
図は駆動コイルの部分の拡大断面図、第3図は変位セン
サーの周辺の拡大断面図、第4図はこの発明の駆動原理
の説明に用いる路線図、第5図はこの発明の一実施例の
電気的構成を示すブロック図、第6図は駆動信号の供給
を制御するための構成の一例のブロック図である。 図面における主要な符号の説明 11:試料、13:回転軸、15:慣性体、19:変位
センサー、 22A、22B:駆動コイル、25:ピアノ線。 代理人 弁理士 杉 浦 正 知 第2図 第31!1 第4図 AtvJ田訃クメ色のイクジ 第6図 手続補正書動側 昭和63年特許願第229535号 2、発明の名称 粘弾性測定装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都立川市高松町1丁目100番地名称 株
式 会 社 し ス カ代表取締役 佐々
木信博(他1名) 4、代理人 〒170 住所 東京都豊島区東池袋1丁目48番lO号昭和63
年12月20日 7、補正の内容 (1)明細書中、第16頁1行、「ブロック図である。 」を下記の通り訂正する。 「ブロック図、第7図はねじれ自由減衰振動法の概略を
示す路線図、第8図は自由減衰振動波形を示す波形図で
ある。」
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 初期的な外力を与えることで発生するねじれ自由減衰振
動波形から上記試料の粘弾性を測定するようにした粘弾
性測定装置において、 上記試料の共振周波数の略々1/2の周波数の外力を上
記初期的な外力として、上記試料に加えるようにしたこ
とを特徴とする粘弾性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22953588A JPH0277637A (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | 粘弾性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22953588A JPH0277637A (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | 粘弾性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0277637A true JPH0277637A (ja) | 1990-03-16 |
Family
ID=16893693
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22953588A Pending JPH0277637A (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | 粘弾性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0277637A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5476197A (en) * | 1977-11-30 | 1979-06-18 | Nippon Steel Corp | Internal friction measuring apparatus by torsional vibrations |
| JPS56115941A (en) * | 1980-02-18 | 1981-09-11 | Kawasaki Steel Corp | Measurement of internal friction and twist pendulum for measurement thereof |
-
1988
- 1988-09-13 JP JP22953588A patent/JPH0277637A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5476197A (en) * | 1977-11-30 | 1979-06-18 | Nippon Steel Corp | Internal friction measuring apparatus by torsional vibrations |
| JPS56115941A (en) * | 1980-02-18 | 1981-09-11 | Kawasaki Steel Corp | Measurement of internal friction and twist pendulum for measurement thereof |
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