JPH0281573A - 電子撮像カメラの測光装置 - Google Patents
電子撮像カメラの測光装置Info
- Publication number
- JPH0281573A JPH0281573A JP63233231A JP23323188A JPH0281573A JP H0281573 A JPH0281573 A JP H0281573A JP 63233231 A JP63233231 A JP 63233231A JP 23323188 A JP23323188 A JP 23323188A JP H0281573 A JPH0281573 A JP H0281573A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photometric
- image pickup
- beam splitter
- light
- photometry
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子撮像カメラ、特に固体撮像素子を用いたス
チルカメラ用の測光装置に関する。
チルカメラ用の測光装置に関する。
従来、光学画像を固体撮像素子により映像信号に変換し
て磁気媒体に記録するビデオカメラや電子スチルカメラ
では一般に自動露出機構が内蔵されており、被写体輝度
の測定、露出量の演算、その演算値に応じた露出制御が
自動化されている。ここで測光に関しては、光軸上にハ
ーフミラ−やプリズムを配設して、入射光の一部を測光
素子へ導びくビーム・スプリッタ一方式と、光軸上に可
動ミラーを入れて測光素子へ光を導くクイックリターン
ミラ一方式と、従来の銀塩カメラにふ・いてフィルム面
からの拡散反射光を測光素子で受ける測光方式に準じた
、固体撮像面からの反射光を測光素子に導＜ ＴＴＬダ
イレクト測光方式等が知られている。（例えば特開昭６
１−１２９９８２号）。
て磁気媒体に記録するビデオカメラや電子スチルカメラ
では一般に自動露出機構が内蔵されており、被写体輝度
の測定、露出量の演算、その演算値に応じた露出制御が
自動化されている。ここで測光に関しては、光軸上にハ
ーフミラ−やプリズムを配設して、入射光の一部を測光
素子へ導びくビーム・スプリッタ一方式と、光軸上に可
動ミラーを入れて測光素子へ光を導くクイックリターン
ミラ一方式と、従来の銀塩カメラにふ・いてフィルム面
からの拡散反射光を測光素子で受ける測光方式に準じた
、固体撮像面からの反射光を測光素子に導＜ ＴＴＬダ
イレクト測光方式等が知られている。（例えば特開昭６
１−１２９９８２号）。
前記方式の内、ビームスプリッタ一方式ではファインダ
ー用とは別個に測光用としてハーフミラ−やハーフプリ
ズムを光路中に配設するため、複雑になると共にスペー
スを要しコスト高となる。また撮像素子に入る前の入射
光の１部が測光用に使われるため撮像素子への入射光が
その分だけ減少してしまう。次にクイックリターン・ミ
ラ一方式では可動ミラーを配設するため、メカニズムが
複雑となりスペースを要しコスト高となる。さらにＴＴ
Ｌダイレクト測光方式では第２図に示すごとく撮像素子
表面部からの拡散反射光を斜め位置に配した測光素子で
受光するため、撮像素子前面部の斜め位置に受光部を設
けるためのスペースを要し構造も複雑となる。
ー用とは別個に測光用としてハーフミラ−やハーフプリ
ズムを光路中に配設するため、複雑になると共にスペー
スを要しコスト高となる。また撮像素子に入る前の入射
光の１部が測光用に使われるため撮像素子への入射光が
その分だけ減少してしまう。次にクイックリターン・ミ
ラ一方式では可動ミラーを配設するため、メカニズムが
複雑となりスペースを要しコスト高となる。さらにＴＴ
Ｌダイレクト測光方式では第２図に示すごとく撮像素子
表面部からの拡散反射光を斜め位置に配した測光素子で
受光するため、撮像素子前面部の斜め位置に受光部を設
けるためのスペースを要し構造も複雑となる。
本発明は固体撮像素子を用いた電子カメラのＴＴＬダイ
レクト測光方式の改良であって、撮像素子からの主とし
て正反射光を簡易で高精度に検出する測光装置を提供す
ることを目的とする。
レクト測光方式の改良であって、撮像素子からの主とし
て正反射光を簡易で高精度に検出する測光装置を提供す
ることを目的とする。
上記目的を達成するために、固体撮像素子表面からの主
として正反射光を撮像光学系の光路中に配設したファイ
ンダー用ビームスプリッタ−の裏面で反射させ、その反
射光を受光するように測光素子を配設することにより達
成される。
として正反射光を撮像光学系の光路中に配設したファイ
ンダー用ビームスプリッタ−の裏面で反射させ、その反
射光を受光するように測光素子を配設することにより達
成される。
このように構成された測光装置では固体撮像素子表面か
らの反射光を簡易に測光できる。
らの反射光を簡易に測光できる。
実施例について図面を参照して説明する。
第１図は本発明を適用した電子カメラ用測光装置の一実
施例を示す。レンズ系１の後方には光学ファインダー用
のビームスプリッタ−２が配置されており、ファインダ
ー光学系により被写体（不図示）を目視できるものとな
っている。ビームスプリッタ−２の後方には絞り機構３
、マスターレンズ４、赤外カットフィルター５、ローパ
スフィルター６が配置斤され、入射光はそれらを通って
固体撮像素子７に入射する。入射光の１部は固体撮像素
子７の表面で反射され、主として正反相分がビームスプ
リッタ−２の裏面で反射され沖１光レンズ８を通って測
光素子９に導ひかれる。測光素子９は入射光の強さに応
じた電気信号を沖！光信号として出力し、測光回路１０
にて演算し、シャッター制御回路１１および絞り制御回
路１ｚによって適正露光を得る。
施例を示す。レンズ系１の後方には光学ファインダー用
のビームスプリッタ−２が配置されており、ファインダ
ー光学系により被写体（不図示）を目視できるものとな
っている。ビームスプリッタ−２の後方には絞り機構３
、マスターレンズ４、赤外カットフィルター５、ローパ
スフィルター６が配置斤され、入射光はそれらを通って
固体撮像素子７に入射する。入射光の１部は固体撮像素
子７の表面で反射され、主として正反相分がビームスプ
リッタ−２の裏面で反射され沖１光レンズ８を通って測
光素子９に導ひかれる。測光素子９は入射光の強さに応
じた電気信号を沖！光信号として出力し、測光回路１０
にて演算し、シャッター制御回路１１および絞り制御回
路１ｚによって適正露光を得る。
次に第１図の実施例においてビームスプリッタ−２にポ
イントタイプハーフミラ−を使用した場合の絞り値と測
光素子９の出力値との関係を示す測定例を第３図に示す
。
イントタイプハーフミラ−を使用した場合の絞り値と測
光素子９の出力値との関係を示す測定例を第３図に示す
。
本図から小絞り側まで良好なリニアリティが得られて勝
る。
る。
ビームスプリッタ−２にポイントタイプハーフミラ−を
使用すると、入射光量のロスが少なく、撮像素子７への
到達光量が多くとれ、また絞り機構３の羽根部からの反
射光が測光系に入らないというメリットがある。
使用すると、入射光量のロスが少なく、撮像素子７への
到達光量が多くとれ、また絞り機構３の羽根部からの反
射光が測光系に入らないというメリットがある。
以上のように本発明によれば、入射光が撮像素子表面で
反射し、さらに主として正反射光がビームスプリッタ−
裏面で反射し、その反射光を測光素子で受光することに
より、簡単な構造で高精度なＴ Ｔ Ｌダイレクト測光
が可能となる。
反射し、さらに主として正反射光がビームスプリッタ−
裏面で反射し、その反射光を測光素子で受光することに
より、簡単な構造で高精度なＴ Ｔ Ｌダイレクト測光
が可能となる。
第１図は本発明を適用した電子カメラ用測光装置の１実
施例の構成を示すブロック図である。 第２図は従来の測光装置の１例の構成を示すブロック図
である。 第３図はビームスプリッタ−にポイントタイプハーフミ
ラ−を使用した場合の測定例である。
施例の構成を示すブロック図である。 第２図は従来の測光装置の１例の構成を示すブロック図
である。 第３図はビームスプリッタ−にポイントタイプハーフミ
ラ−を使用した場合の測定例である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被写体の光を通し光像を形成する撮像光学系と、光
像を受けこれを電気信号に変換する電子撮像部と、前記
撮像光学系の光路内にあつて入射光をファインダー系へ
反射し、前記電子撮像部からの反射光を測光系へ反射す
るビームスプリッターとを具備する電子撮像カメラの測
光装置。 ２、前記ビームスプリッターをポイントハーフミラーで
構成することを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載
の電子撮像カメラの測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63233231A JPH0281573A (ja) | 1988-09-17 | 1988-09-17 | 電子撮像カメラの測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63233231A JPH0281573A (ja) | 1988-09-17 | 1988-09-17 | 電子撮像カメラの測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0281573A true JPH0281573A (ja) | 1990-03-22 |
Family
ID=16951810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63233231A Pending JPH0281573A (ja) | 1988-09-17 | 1988-09-17 | 電子撮像カメラの測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0281573A (ja) |
-
1988
- 1988-09-17 JP JP63233231A patent/JPH0281573A/ja active Pending
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