JPH0282630A - Device for forming semiconductor chip array - Google Patents
Device for forming semiconductor chip arrayInfo
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- JPH0282630A JPH0282630A JP23516888A JP23516888A JPH0282630A JP H0282630 A JPH0282630 A JP H0282630A JP 23516888 A JP23516888 A JP 23516888A JP 23516888 A JP23516888 A JP 23516888A JP H0282630 A JPH0282630 A JP H0282630A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 半導体チップ配・列装置に関し。[Detailed description of the invention] 〔overview〕 Regarding semiconductor chip arrangement and array equipment.
UV照射とチップ配列とを同時に行うことにより製造工
程数を低減させると共に、前面チッピングがチップ表面
へ飛び乗ることを防止することにより動作不良チップの
発生を防止することを目的とし。The purpose is to reduce the number of manufacturing steps by simultaneously performing UV irradiation and chip arrangement, and to prevent the occurrence of malfunctioning chips by preventing front chipping from jumping onto the chip surface.
紫外光を照射すると接着力が低下するUVテープの表面
に接着された半導体チップに紫外光を照射して剥がれ易
くした後、コレットにより半導体チップをUVテープか
ら剥離して配列させる半導体チップ配列装置において、
半導体チップ突き上げ手段を備えた突き上げ部を有する
チップ配列部と半導体チップの接着された領域にスポッ
ト状に紫外光を発生するUV装置から紫外光が導入され
るUV照射部とを設け、チップ配列部に搬送されてきた
。UVテープの半導体チップが接着された領域だけにU
V照射部から紫外光を照射した後。Adhesive strength decreases when irradiated with ultraviolet light. After irradiating the semiconductor chips adhered to the surface of the UV tape with ultraviolet light to make them easier to peel off, a collet is used to peel the semiconductor chips from the UV tape and arrange them in a semiconductor chip array device. ,
The chip array section includes a chip array section having a push-up section equipped with a semiconductor chip push-up means, and a UV irradiation section into which ultraviolet light is introduced from a UV device that generates spot-like ultraviolet light in the area where the semiconductor chips are bonded. has been transported to. U is applied only to the area where the semiconductor chip of the UV tape is bonded.
After irradiating ultraviolet light from the V irradiation section.
突き上げ部の半導体チップ突き上げ手段により。By means of pushing up the semiconductor chip in the pushing up part.
当該半導体チ・7プをUVテープから剥がすように構成
する。The semiconductor chip 7 is configured to be peeled off from the UV tape.
本発明は、半導体チップ配列装置、特にUV照射部とチ
ップ配列部とを一体化すると共に、背面チッピングの発
生を防止した半導体チップ配列装置に関する。The present invention relates to a semiconductor chip array device, and particularly to a semiconductor chip array device that integrates a UV irradiation section and a chip array section and prevents the occurrence of back side chipping.
半導体チップ処理の自動化に伴い、粘着テープに半導体
ウェハを貼り付け2個々のICチップにダイシングする
ことが一触化している。With the automation of semiconductor chip processing, it is becoming increasingly common to attach a semiconductor wafer to an adhesive tape and then dice it into individual IC chips.
このため、ダイシング時には、テープから半導体チップ
が剥がれないように高接着力を有し、ダイシング後テー
プから半導体チップを剥離する際には、容易に剥がれる
ように低接着力となるようなテープが提供されている。For this reason, we provide a tape that has high adhesive strength so that the semiconductor chip does not peel off from the tape during dicing, and has low adhesive strength so that it can be easily peeled off when the semiconductor chip is peeled off from the tape after dicing. has been done.
このテープは、紫外光(UV)を照射するごとにより接
着力を低下させるようにしているので、UVテープと呼
ばれている。This tape is called a UV tape because its adhesive strength is reduced each time it is irradiated with ultraviolet light (UV).
しかしながら、UVテープを使用することで。However, by using UV tape.
UV照射工程が増えるので、生産性を向上させるために
、UV照射とチップ配列とを同時に、かつ。Since the number of UV irradiation steps increases, in order to improve productivity, UV irradiation and chip arrangement can be performed at the same time.
小スペースで行う必要がある。It needs to be done in a small space.
また、半導体チップをUVテープから剥離する際に発生
する背面チッピング(半導体片)は、半導体チップの表
面に傷を付け、動作不良チップが発生する原因になるの
で、UV照射を行う場所および照度を制御することによ
り、背面チッピングの発生を防止する必要がある。In addition, back side chipping (semiconductor chips) that occurs when peeling a semiconductor chip from the UV tape can damage the surface of the semiconductor chip and cause malfunctioning chips, so please be careful about the location and illuminance where UV irradiation is performed. It is necessary to prevent the occurrence of back side chipping by controlling.
従来の半導体チップ配列装置においては、 UVテー
プに貼付された半導体ウェハをダイシングした後、−括
してUV照射し、これをチ・7プ配列装置にセットし、
lチップごとにピックアップして配列していた。In conventional semiconductor chip array equipment, after dicing a semiconductor wafer pasted on UV tape, it is irradiated with UV light and placed in a chip array equipment.
Each chip was picked up and arranged.
従来の半導体チップ配列装置では、ダイシングの際に半
導体チップの背面のスクライプラインに沿って発生した
背面チッピングが、半導体チップをピックアップすると
きに半導体チップの表面に飛び乗ってしまい、動作不良
を生じさせる。という問題があった。In conventional semiconductor chip array devices, backside chipping that occurs along the scribe line on the backside of the semiconductor chip during dicing jumps onto the surface of the semiconductor chip when the semiconductor chip is picked up, causing malfunction. There was a problem.
また、UV照射を一括して独立の工程として行っている
ので5製造工程が増大する、という問題もあった。Furthermore, since UV irradiation is performed all at once as an independent process, there is a problem in that the number of manufacturing processes increases by five.
本発明は、これらの問題点を解決し、UV照射とチップ
配列とを同時に行うことにより製造工程数を低減させる
と共に、背面チッピングが半導体チップの表面に飛び乗
ることを防止した。半導体チップ配列装置を提供するこ
とを目的とする。The present invention solves these problems, reduces the number of manufacturing steps by simultaneously performing UV irradiation and chip arrangement, and prevents backside chipping from jumping onto the surface of the semiconductor chip. The object of the present invention is to provide a semiconductor chip array device.
上記目的を達成するために1本発明に係る半導体チンブ
配列装置は、紫外光を照射すると接着力が低下するUv
テープの表面に接着された半導体チップに紫外光を照射
して剥がれ易くした後、コレットにより半導体チンブを
UVテープから工11離して配列させる半導体チップ配
列装置において。In order to achieve the above object, the semiconductor chip array device according to the present invention has UV
In a semiconductor chip array device, in which semiconductor chips adhered to the surface of a tape are irradiated with ultraviolet light to make them easy to peel off, and then the semiconductor chips are arranged at a distance of 11 from the UV tape using a collet.
半導体チップ突き上げ手段を備えた突き上げ部を有する
チップ配列部と半導体チップの接着された領域にスポッ
ト状に紫外光を発生するUV装置から紫外光が導入され
るUV照射部とを設け、チップ配列部に搬送されてきた
。UVテープの半導体チップが接着された領域だけにU
V照射部から紫外光を照射した後、突き上げ部の半導体
チップ突き上げ手段により、当該半導体チップをUVテ
ープから剥がすように構成する。The chip array section includes a chip array section having a push-up section equipped with a semiconductor chip push-up means, and a UV irradiation section into which ultraviolet light is introduced from a UV device that generates spot-like ultraviolet light in the area where the semiconductor chips are bonded. has been transported to. U is applied only to the area where the semiconductor chip of the UV tape is bonded.
After irradiating ultraviolet light from the V irradiation section, the semiconductor chip is peeled off from the UV tape by the semiconductor chip push-up means of the push-up section.
第1図は1本発明の原理説明図である。FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention.
第1図において、1はUVテープ、2は半導体チップ、
3はチップ配列部、4は突き上げ部、5は突き上げ針、
6はコレット、7はスボ・y ト[I V装置、8は光
ファイバー、9はUV照射部である。In Figure 1, 1 is a UV tape, 2 is a semiconductor chip,
3 is a chip arrangement part, 4 is a push-up part, 5 is a push-up needle,
6 is a collet, 7 is a substrate IV device, 8 is an optical fiber, and 9 is a UV irradiation unit.
UVテープ1には、半導体チップ2が貼付されている。A semiconductor chip 2 is attached to the UV tape 1.
半導体チップ2は、ダイシングが終了したLSI、IC
などの半導体チップである。The semiconductor chip 2 is an LSI or IC that has been diced.
These are semiconductor chips such as
チップ配列部3は、内部が真空に引かれており。The inside of the chip array section 3 is evacuated.
その上に搬送されて来た。UVテープ1に貼付された半
導体チップ2をUV照射部9によりUV光を照射して剥
離する部分である。He was transported on top of that. This is the part where the semiconductor chip 2 attached to the UV tape 1 is peeled off by being irradiated with UV light by the UV irradiation unit 9.
突き上げ部4の上には、複数本の突き上げ針5が植立さ
れている。A plurality of push-up needles 5 are planted on the push-up portion 4.
突き上げ針5は、UV光照射により接着力の低下したU
Vテープ1を突き破って半導体チップ2を剥離させるた
めのものである。The push-up needle 5 is made of U whose adhesive strength has decreased due to UV light irradiation.
This is for breaking through the V-tape 1 and peeling off the semiconductor chip 2.
コレット6は、突き上げ針5により剥離された半導体チ
ップ2を吸着して移動させ、トレイに配列するためのも
のである。The collet 6 is for attracting and moving the semiconductor chips 2 peeled off by the push-up needles 5, and arranging them on a tray.
スボノ)UV装置7は、スポット状のUV光を発生する
ための装置である。The UV device 7 is a device for generating spot-like UV light.
光ファイバー8は、スポットUV装置7で発生したUV
光をUV照射部9へ導入するためのものである。The optical fiber 8 receives the UV generated by the spot UV device 7.
This is for introducing light into the UV irradiation section 9.
UV照射部9は、UV光をUVテープ1と半導体チップ
2との接着部分に照射するためのものである。The UV irradiation unit 9 is for irradiating UV light onto the adhesive portion between the UV tape 1 and the semiconductor chip 2.
本発明の半導体チップ配列装置は、チップ配列部3とU
V照射部9とが一体化されている。The semiconductor chip array device of the present invention has a chip array section 3 and a U
The V irradiation section 9 is integrated.
個々の半導体チップ2にダイシングされた半導体ウェハ
は、UVテープ1に接着されたままの状態でチップ配列
部3の上に載置される。チップ配列部3の大きさは、半
導体チップ2の1個分の大きさである。The semiconductor wafer diced into individual semiconductor chips 2 is placed on the chip array section 3 while being adhered to the UV tape 1. The size of the chip array section 3 is the size of one semiconductor chip 2.
チップ配列部3は真空に引かれているので、チップ配列
部3の上に載置されたUVテープ1はチップ配列部3に
固着される。この状態で、UV照射部9によりスポット
状のUV光をUVテープ1およびその上に接着された半
導体チップ2の部分に照射する。すると、UV光が照射
された部分のUVテープ1の接着力は低下するので、そ
の上に接着された半導体チップ2は剥がれやすくなる。Since the chip array section 3 is evacuated, the UV tape 1 placed on the chip array section 3 is fixed to the chip array section 3. In this state, the UV irradiation section 9 irradiates spot-shaped UV light onto the UV tape 1 and the semiconductor chip 2 bonded thereon. Then, the adhesive strength of the UV tape 1 in the portion irradiated with UV light decreases, and the semiconductor chip 2 bonded thereon becomes easily peeled off.
次いで、突き上げ部4を上昇させ、突き上げ部4の上に
多数植立された突き上げ針5により、半導体チップ2を
UVテープlから剥離する。Next, the push-up portion 4 is raised, and the semiconductor chip 2 is peeled off from the UV tape 1 using the push-up needles 5 set on the push-up portion 4 in large numbers.
UVテープ1から剥離された半導体チップ2は。The semiconductor chip 2 is peeled off from the UV tape 1.
コレット6により吸着、移動されてトレイに配列される
。They are attracted and moved by the collet 6 and arranged on a tray.
このように1本発明の半導体チ・7プ配列装置では、U
V照射とチップ配列とを同時に行っているので゛、製造
工程数を低減させることができる。また、UV照射は1
回につき半導体チップ1個分の面積に対して行うので、
背面チッピングが半導体チップの表面に飛び乗ることを
防止することができ、半導体チップの動作不良を防止す
ることができる。In this way, in the semiconductor chip array device of the present invention, U
Since V irradiation and chip arrangement are performed simultaneously, the number of manufacturing steps can be reduced. Also, UV irradiation is 1
Since it is performed on the area of one semiconductor chip per time,
It is possible to prevent backside chipping from jumping onto the surface of the semiconductor chip, and malfunction of the semiconductor chip can be prevented.
第2図は1本発明の1実施例構成図である。 FIG. 2 is a block diagram of one embodiment of the present invention.
第2図において、11はフレーム、12はUvテープ、
13は半導体チップ、14はチップ配列部、15はキャ
ップ、16は認識カメラ、17はスポットUV装置、1
8はUV光源、19は光ファイバー、20はUV照射部
、21はミラー、22は突き上げ部、23は突き上げ針
である。In Fig. 2, 11 is a frame, 12 is a UV tape,
13 is a semiconductor chip, 14 is a chip array section, 15 is a cap, 16 is a recognition camera, 17 is a spot UV device, 1
8 is a UV light source, 19 is an optical fiber, 20 is a UV irradiation section, 21 is a mirror, 22 is a push-up section, and 23 is a push-up needle.
フレーム11は、UVテープ12を支持するためのもの
である。The frame 11 is for supporting the UV tape 12.
UVテープ12には、半導体チップ13が貼付されてい
る。A semiconductor chip 13 is attached to the UV tape 12.
半導体チップ13は、ダイシングが終了したLSI、I
Cなどの半導体チップである。The semiconductor chip 13 is an LSI, an I
It is a semiconductor chip such as C.
チップ配列部14は、内部が真空に引かれており、その
上に搬送されて来た。UVテープ12に貼付された半導
体チップ13にUV光を照射して剥離する部分である。The inside of the chip array section 14 was evacuated, and the chip arrangement section 14 was transported onto the vacuum. This is the part where the semiconductor chip 13 attached to the UV tape 12 is irradiated with UV light and peeled off.
キャンプ15は、半導体チップ13が貼付されたUVテ
ープ12を吸着する部分である。The camp 15 is a portion that absorbs the UV tape 12 to which the semiconductor chip 13 is attached.
認識カメラ16は、チップ配列部14の上に搬送されて
来た半導体チップ13が良品であるか不良品であるかを
判別するためのものである。The recognition camera 16 is for determining whether the semiconductor chip 13 conveyed onto the chip array section 14 is a good product or a defective product.
スポットUV装置17の内部には、UV光源18が設け
られている。A UV light source 18 is provided inside the spot UV device 17 .
U■光a18は、スポット状のUV光を発生するための
光源である。The U-light a18 is a light source for generating spot-like UV light.
光ファイバー19は、スポラ)UV装置17で発生した
UV光をUV照射部20へ導入するためのものである。The optical fiber 19 is for introducing the UV light generated by the UV device 17 into the UV irradiation section 20 .
UV照射部20は、UV光をUVテープ12と半導体チ
ップ13との接着部分に照射するためのものである。The UV irradiation unit 20 is for irradiating UV light onto the adhesive portion between the UV tape 12 and the semiconductor chip 13.
ミラー21は、UV照射部20からのUV光をUVテー
プ12と半導体チップ13との接着部に向かわせるため
のものである。The mirror 21 is for directing the UV light from the UV irradiation unit 20 toward the bonded portion between the UV tape 12 and the semiconductor chip 13.
突き上げ部22には、複数本の突き上げ針23が植立さ
れている。A plurality of push-up needles 23 are installed in the push-up portion 22.
突き上げ針23は、UV照射により接着力の低下したU
Vテープ12を突き破って半導体チップ13を剥離させ
るためのものである。The push-up needle 23 is made of U whose adhesive strength has decreased due to UV irradiation.
This is for breaking through the V-tape 12 and peeling off the semiconductor chip 13.
以下、第2図を用いて1本発明の1実施例を説明する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.
本発明の半導体チップ配列装置は、チップ配列部14と
UV照射部20とが一体化されている。In the semiconductor chip array device of the present invention, the chip array section 14 and the UV irradiation section 20 are integrated.
個々の半導体チップ13にグイシングされ゛た半導体ウ
ェハは、UVテープ12に接着されたままの状態でチッ
プ配列部14上のキャップ15に載置される。キャップ
15の大きさは、半導体チップ13の1個分の大きさで
ある。The semiconductor wafer, which has been glued into individual semiconductor chips 13, is placed on the cap 15 on the chip arrangement section 14 while being adhered to the UV tape 12. The size of the cap 15 is the size of one semiconductor chip 13.
チップ配列部14は真空に引かれているのでキャンプ1
5の上に載置されたUVテープ12はチップ配列部14
に固着される。この状態で、UV照射部20によりスポ
ット状のUV光を発射し。Since the chip array section 14 is evacuated, camp 1
The UV tape 12 placed on the chip arrangement section 14
is fixed to. In this state, the UV irradiation section 20 emits a spot of UV light.
それをミラー21により反射させてUVテープ12およ
びその上に接着された半導体チップ13の部分に照射す
る。すると、UV光が照射された部分のUVテープ12
の接着力は低下するので、その上に接着された半導体チ
ップ13は剥がれやすくなる。次いで、突き上げ部22
を上昇させ、突き上げ部22の上に多数植立された突き
上げ針23により、半導体チップ13をUVテープ12
から剥離する。The light is reflected by a mirror 21 and irradiated onto the UV tape 12 and the semiconductor chip 13 bonded thereon. Then, the UV tape 12 in the area irradiated with UV light
Since the adhesive strength of the semiconductor chip 13 bonded thereon decreases, the semiconductor chip 13 bonded thereon becomes easily peeled off. Next, the push-up portion 22
is raised, and the semiconductor chip 13 is attached to the UV tape 12 by the push-up needles 23 planted on the push-up portion 22.
Peel it off.
UVテープ12から剥離された半導体チップ13は、コ
レット(図示せず)により吸着、移動されてトレイ等に
配列される。The semiconductor chips 13 peeled off from the UV tape 12 are attracted and moved by a collet (not shown) and arranged on a tray or the like.
このように2本発明の半導体チップ配列装置では、UV
照射とチップ配列とを同時に行っているので、製造工程
数を低減させることができる。また、UV照射は1回に
つき半導体チップ1個分の面積に対して行うので、背面
チッピングが半導体チップの表面に飛び乗ることを防止
することができ、半導体チップの動作不良を防止するこ
とができる。In this way, in the semiconductor chip array device of the present invention, UV
Since irradiation and chip arrangement are performed simultaneously, the number of manufacturing steps can be reduced. Further, since UV irradiation is applied to an area corresponding to one semiconductor chip at a time, it is possible to prevent backside chipping from jumping onto the surface of the semiconductor chip, and malfunction of the semiconductor chip can be prevented.
UV照射部20によるUV光の照射は、第2図に示すよ
うにシャッターによりスポット状にしてもよいし、また
、UV光源18を点滅させることによりスポット状にし
てもよい。The UV light irradiation by the UV irradiation unit 20 may be performed in a spot-like manner using a shutter as shown in FIG. 2, or may be performed in a spot-like manner by blinking the UV light source 18.
また、第2図では、UV照射部20をチップ配列部14
の側面に設けているが、突き上げ部22の周囲に環状に
設けてもよい。In addition, in FIG. 2, the UV irradiation section 20 is connected to the chip array section 14.
Although it is provided on the side surface of the raised portion 22, it may be provided in an annular shape around the raised portion 22.
本発明によれば、UV照射とチップ配列とを同時に行う
ことにより製造工程数を低減させることができると共に
、背面チッピングがチップ表面へ飛び乗ることを防止す
ることにより動作不良チップの発生を防止することがで
きる。According to the present invention, it is possible to reduce the number of manufacturing steps by simultaneously performing UV irradiation and chip arrangement, and to prevent malfunctioning chips from occurring by preventing backside chipping from jumping onto the chip surface. Can be done.
このような効果により2本発明は、LSI、1Cなどの
半導体装置の信頼性の向上に寄与するところが大きい。Due to these effects, the present invention greatly contributes to improving the reliability of semiconductor devices such as LSI and 1C.
第1図は本発明の原理説明図。 第2図は本発明の1実施例構成図 である。 第1図において 1:UVテープ 2:半導体チップ 3:チップ配列部 4:突き上げ部 5;突き上げ針 6:コレット 7:スポットUV装置 8:光ファイバー :U■照射部 FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention. Figure 2 is a configuration diagram of one embodiment of the present invention. It is. In Figure 1 1: UV tape 2: Semiconductor chip 3: Chip array section 4: Push-up part 5; Push-up needle 6: Colette 7: Spot UV device 8: Optical fiber :U■irradiation part
Claims (1)
の表面に接着された半導体チップ(2)に紫外光を照射
して剥がれ易くした後,コレット(6)により半導体チ
ップ(2)をUVテープ(1)から剥離して配列させる
半導体チップ配列装置において, 半導体チップ突き上げ手段(5)を備えた突き上げ部(
4)を有するチップ配列部(3)と半導体チップの接着
された領域にスポット状に紫外光を発生するUV装置(
7)から紫外光が導入されるUV照射部(9)とを設け
, チップ配列部(3)に搬送されてきた,UVテープ(1
)の半導体チップ(2)が接着された領域だけにUV照
射部(9)から紫外光を照射した後,突き上げ部(4)
の半導体チップ突き上げ手段(5)により,当該半導体
チップ(2)をUVテープ(1)から剥がす ことを特徴とする半導体チップ配列装置。[Claims] UV tape (1) whose adhesive strength decreases when irradiated with ultraviolet light
In a semiconductor chip array device in which the semiconductor chips (2) bonded to the surface of the UV tape (1) are irradiated with ultraviolet light to make them easier to peel off, and then the semiconductor chips (2) are peeled off from the UV tape (1) by a collet (6) and arranged. , a push-up section (with a semiconductor chip push-up means (5))
A UV device (
A UV irradiation section (9) is provided, into which ultraviolet light is introduced from 7).
) After irradiating ultraviolet light from the UV irradiation part (9) only to the area where the semiconductor chip (2) of
A semiconductor chip array device characterized in that the semiconductor chip (2) is peeled off from the UV tape (1) by the semiconductor chip pushing means (5).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23516888A JPH0282630A (en) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | Device for forming semiconductor chip array |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23516888A JPH0282630A (en) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | Device for forming semiconductor chip array |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0282630A true JPH0282630A (en) | 1990-03-23 |
Family
ID=16982068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23516888A Pending JPH0282630A (en) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | Device for forming semiconductor chip array |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0282630A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04225537A (en) * | 1990-12-27 | 1992-08-14 | Sharp Corp | Chip-position detecting method |
| JP2005044949A (en) * | 2003-07-25 | 2005-02-17 | Hitachi High-Technologies Corp | Semiconductor chip sorting apparatus, semiconductor chip sorting method, and semiconductor chip manufacturing method |
-
1988
- 1988-09-20 JP JP23516888A patent/JPH0282630A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04225537A (en) * | 1990-12-27 | 1992-08-14 | Sharp Corp | Chip-position detecting method |
| JP2005044949A (en) * | 2003-07-25 | 2005-02-17 | Hitachi High-Technologies Corp | Semiconductor chip sorting apparatus, semiconductor chip sorting method, and semiconductor chip manufacturing method |
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