JPH0287029A - 分光光度計 - Google Patents

分光光度計

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JPH0287029A
JPH0287029A JP63239139A JP23913988A JPH0287029A JP H0287029 A JPH0287029 A JP H0287029A JP 63239139 A JP63239139 A JP 63239139A JP 23913988 A JP23913988 A JP 23913988A JP H0287029 A JPH0287029 A JP H0287029A
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JP
Japan
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signal
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photodiode
output
spectrophotometer
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JP63239139A
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English (en)
Inventor
Toshiaki Fukuma
福間 俊明
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
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    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
    • GPHYSICS
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    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4242Modulated light, e.g. for synchronizing source and detector circuit
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    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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    • G01J2001/4406Plural ranges in circuit, e.g. switchable ranges; Adjusting sensitivity selecting gain values
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    • G01J2001/4446Type of detector
    • G01J2001/446Photodiode

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、分光光度計、特にダブルビーム分゛光光度
計に関する。
(ロ)従来の技術 一般に、波長スキャニングを行う分光光度計には、通常
、光電子増倍機能がダブルビーム分光光度計を構成する
のに非常に適しているところから、検出器としてホトマ
ルチプライヤが使用される。
この種のホトマルチプライヤを用いた従来の分光光度計
の電気系統図を第2図に示している。
この分光光度計は、光源1からの光を分光した後対照側
セル3を通る光ビームと試料側セル4を通る光ビームに
チシンピングし、これらの光ビームをホトマルチプライ
ヤ5で受光し、さらにホトマルチプライヤ5の光電流を
、プリアンプ6で増幅し、スイッチ7.8により対照側
と試料側に分割し、対照側の信号はアンプ9で増幅し、
負電圧回路11を介して、ホトマルチプライヤ5にフィ
ードバックする一方、試料側の信号はアンプ10で増幅
し、A/D変換器に入力されるように構成されている。
この分光光度計では、対照側の信号がアンプ9、負電圧
回路11を介して、ホトマルチプライヤ5のダイノード
にフィードバックされ、対照側信号が一定になるように
制御される。試料側の信号は対照側が一定に制御されて
いる条件下でそのまま試料の透過率となりA/D変換さ
れ、データとして出力されることになる。
(ハ)発明が解決しようとする課題 上記従来の分光光度計では、ホトマルチプライヤを検出
器に用いるものであり、光電子増倍機能を持つという点
でホトマルチプライヤを使用することは利点であるが、
反面ホトマルチプライヤは、非常にコストが高くつく上
、回路的にも負電圧回路を要するなど複雑となり、全体
として分光光度計を構成する場合に価格が高くなるとい
う問題があった。
この発明は、上記問題点に着目してなさたものであって
、安価に構成し得る分光光度計を提供することを目的と
している。
(ニ)課題を解決するための手段及び作用この発明の分
光光度計は、光源(1)と、光源からの光を分光した後
第1と第2のビームにチョッピングし、それぞれ対照側
セル(3)と試料側セル(4)を通過させる分光器(2
)と、対照側セルからの光ビームと試料側セルからの光
ビームを交互に受光するホトダイオード(15)と、ホ
トダイオードの光電流を増幅する可変ゲインアンプ(1
7)と、前記チョッピング周期に同期して、それぞれ対
照側の出力及び試料側の出力をデジタル値に変換して導
出するA/D変換器(18)と、このA/D変換器から
の対照側出力値によって前記可変ゲインアンプのゲイン
を設定するゲイン設定器(19)とを備えて構成されて
いる。
この分光光度計では、ホトダイオードに受光される対照
側セルからの光ビームと試料側セルからの光ビームを可
変ゲインアンプで増幅し、AID変換して出力するが、
A/D変換器の出力中で、対照側セルからの出力に応じ
てゲイン設定器により、可変ゲインアンプのゲインを一
定に設定する。
後は、A/D変換器からの出力を試料側として導出する
際に、ホトダイオード15を通じ、可変ゲインアンプで
試料側信号を増幅する場合、同一のゲインで増幅し、同
じ<A/D変換器を通して出力することになる。この分
光光度計では、検出器にホトダイオードを使用するので
、また、負電圧回路等を使用する必要がないので安価に
構成することができる。
(ホ)実施例 以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
第1図は、この発明の一実施例を朱す分光光度計の電気
系統図である。第1図において、第2図と同一番号を付
したものは同一のものを示している。すなわち、光at
からの光ビームは、分光器2で分光された後、第1と第
2の光ビームにチョッピングされ、第1の光ビームは対
照側セル3を通過し、第2の光ビームは試料側セル4を
通過し、ホトダイオード15でこれら第1の光ビームと
第2光ビームを交互に受光し、プリアンプ6でホトダイ
オード15の光電流を増幅し、さらに可変ゲインアンプ
17で増幅した後、A/D変換器18を介して、デジタ
ル信号に変換して、パスライン21に出力するように構
成されている。パスライン21にはゲイン設定出力ポー
ト19及びCPU20が接続されている。A/D変換器
18から出力される対照側信号及び試料側信号の出力は
、光ダイオードのチョッピングに同期して出力されるよ
うに、CPU20で制御され、対照側信号が出力された
際に、この出力信号値によってゲイン設定器出力ポート
19が可変ゲインアンプ17のゲインを設定する。この
設定されたゲインでホトダイオード15及びA/D変換
器18の出力が試料側とされた時に、ホトダイオード1
5で受光された試料側への光信号はプリアンプ16で増
幅され、すでに設定されているゲインに従い、可変ゲイ
ンアンプ17で増幅され、A/D変換器18を介して出
力されることになる。
もっとも、この実施例分光光度計では、可変ゲインアン
プ17がゲインを段階的にしか変えられないものである
ため、対照側信号が完全に連続的に一定にされ得ないと
いう問題があり、したがって、透過率の信号を得るには
、試料側の信号を対照側の信号で割算を行う必要がある
。しかし、この実施例によれば、ホトダイオードを検出
器15として、使用するものであるから、ホトマルチプ
ライヤを使用する場合に比べて、極めて安価に構成する
ことができる。
(へ)発明の効果 この発明によれば、検出器として、ホトダイオードを用
い、ホトダイオードに入光される対照側光ビームと試料
側光ビームのチョッピングに同期して、A/D変換器の
出力を取出し、対照側信号のA/D変換器の出力値に応
じて、可変ゲインアンプのゲインを設定し、試料側の信
号を導出する際には、同一のゲインで可変ゲインアンプ
で試料側信号を増幅するものであるから、検出器は、従
来のホトマルチプライヤに比較して、極めて安価なホト
ダイオードを使用することができ、また、従来の分光光
度計のように、負電圧回路等を必要とせず、したがって
、全体として極めて低価格な分光光度計を実現すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示す分光光度計の電気
系統図、第2図は、従来の分光光度計の電気系統を示す
図である。 1:光源、       2:分光器、3:対照側セル
、   4:試料側セル、15:ホトダイオード、16
:プリアンプ、17:可変ゲインアンプ、18 : A
/D変換器、19ニゲイン設定出力ボート。 特許出願人     株式会社島津製作所代理人  弁
理士  中 村 茂 信 メ は

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源と、光源からの光を分光した後第1と第2の
    ビームにチョッピングし、それぞれ対照側セルと試料側
    セルを通過させる分光器と、対照側セルからの光ビーム
    と試料側セルからの光ビームを交互に受光するホトダイ
    オードと、ホトダイオードの光電流を増幅する可変ゲイ
    ンアンプと、前記チョッピング周期に同期して、それぞ
    れ対照側の出力及び試料側の出力をデジタル値に変換し
    て導出するA/D変換器と、このA/D変換器からの対
    照側出力値によって前記可変ゲインアンプのゲインを設
    定するゲイン設定器とを備え、このゲインで前記試料側
    の信号も増幅してA/D変換器を通して出力するように
    したことを特徴とする分光光度計。
JP63239139A 1988-09-24 1988-09-24 分光光度計 Pending JPH0287029A (ja)

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CN89107212A CN1020211C (zh) 1988-09-24 1989-09-16 分光光度计
EP89117458A EP0361311B1 (en) 1988-09-24 1989-09-21 Spectrophotometer
DE68923840T DE68923840T2 (de) 1988-09-24 1989-09-21 Spektralphotometer.

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EP0361311B1 (en) 1995-08-16
DE68923840D1 (de) 1995-09-21
US5106190A (en) 1992-04-21
CN1020211C (zh) 1993-03-31
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