JPH028726A - 屈折率測定方法 - Google Patents
屈折率測定方法Info
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- JPH028726A JPH028726A JP15899288A JP15899288A JPH028726A JP H028726 A JPH028726 A JP H028726A JP 15899288 A JP15899288 A JP 15899288A JP 15899288 A JP15899288 A JP 15899288A JP H028726 A JPH028726 A JP H028726A
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- lens
- interference fringes
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、レンズの屈折率測定方法に関し、特に、形
状及び屈折率が未知のプラスチック製のレンズの屈折率
及び屈折率分布を測定するのに適した、レンズの屈折率
測定方法に関するものである。
状及び屈折率が未知のプラスチック製のレンズの屈折率
及び屈折率分布を測定するのに適した、レンズの屈折率
測定方法に関するものである。
[従来の技術]
プラスチックレンズは、レンズの軽量化や原価低減、あ
るいは非球面レンズなどに対するニーズから、近年多用
されるようになっている。
るいは非球面レンズなどに対するニーズから、近年多用
されるようになっている。
しかし、プラスチックレンズを物性面の安定という観点
からみると、ガラスレンズに比べて、製造上、屈折率及
びその分布が不安定で変動が大きい欠点がある。したが
って、プラスチックレンズは、屈折率とその分布を成形
後に一個一個測定する必要がある。この場合、レンズを
破壊するわけにはいかないから、その測定は容易ではな
い、非球面レンズなどであればなおさらである。
からみると、ガラスレンズに比べて、製造上、屈折率及
びその分布が不安定で変動が大きい欠点がある。したが
って、プラスチックレンズは、屈折率とその分布を成形
後に一個一個測定する必要がある。この場合、レンズを
破壊するわけにはいかないから、その測定は容易ではな
い、非球面レンズなどであればなおさらである。
このようなプラスチックレンズの屈折率の測定方法とし
て、従来は次のようなものがあった。
て、従来は次のようなものがあった。
用いられる装置は、全体としては、マツ/\・ツエンダ
−の干渉計になっていて、−光束を平面波の参照光とし
て使い、もう−光束中に被検レンズを、被検レンズと屈
折率がほぼ等しいマツチング液に浸してセットする。さ
らに、屈折率参照用として、被検レンズに屈折率の近い
、屈折率既知のガラス試料も同時に液浸してセットする
。このよな液浸装置をマツハ・ツエンダ−干渉計の一光
東中に置くことにより生ずる干渉縞観測において、N本
の干渉縞が観測される間の試料の厚さの差を測定して、
その測定値から被検レンズの屈折率を求めていた。
−の干渉計になっていて、−光束を平面波の参照光とし
て使い、もう−光束中に被検レンズを、被検レンズと屈
折率がほぼ等しいマツチング液に浸してセットする。さ
らに、屈折率参照用として、被検レンズに屈折率の近い
、屈折率既知のガラス試料も同時に液浸してセットする
。このよな液浸装置をマツハ・ツエンダ−干渉計の一光
東中に置くことにより生ずる干渉縞観測において、N本
の干渉縞が観測される間の試料の厚さの差を測定して、
その測定値から被検レンズの屈折率を求めていた。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、マツチング液の屈折率は、温度変化等に伴って
変動するものである。したがって上述の測定方法では、
温度が変化すればN木の干渉縞の生じる範囲も変動し、
その度毎にその部分の試料の厚さを測定しなければなら
ない、また、レンズの屈折率分布が一様でなければ、不
規則な形の干渉縞が発生するので、N本の縞というのは
どのように解釈すればよいかが困難な事態が生じる。し
たがって、このような場合の屈折率測定においては、定
量解釈が難しい欠点があった。また、そのために測定の
自動化なども困難であった。
変動するものである。したがって上述の測定方法では、
温度が変化すればN木の干渉縞の生じる範囲も変動し、
その度毎にその部分の試料の厚さを測定しなければなら
ない、また、レンズの屈折率分布が一様でなければ、不
規則な形の干渉縞が発生するので、N本の縞というのは
どのように解釈すればよいかが困難な事態が生じる。し
たがって、このような場合の屈折率測定においては、定
量解釈が難しい欠点があった。また、そのために測定の
自動化なども困難であった。
この発明は、そのような従来の欠点を解消し。
形状及び屈折率が未知のレンズを破壊せずに、その屈折
率と屈折率分布を測定することができ、しかも定量解釈
が容易で、測定の自動化を行うのも容易なレンズの屈折
率測定方法を提供することを目的とする。
率と屈折率分布を測定することができ、しかも定量解釈
が容易で、測定の自動化を行うのも容易なレンズの屈折
率測定方法を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
上記の目的を達成するために、本発明のレンズの屈折率
測定方法は、屈折率及び形状が既知のガラス試料と、屈
折率及び形状が未知の被検レンズとを第1のマツチング
液中に浸し、これらにコヒーレント光を透過させて、そ
の透過光波を参照光波と重ね合わせて干渉縞を発生させ
、上記ガラス試料を透過した光波により生ずる干渉縞の
強度分布を出力してその出力から上記第1のマツチング
液の屈折率を求めると共に、上記被検レンズを透過した
光波により生ずる干渉縞の強度分布を出力して、その出
力から、その干渉縞を表す第1の多項式を求め1次に、
上記ガラス試料と被検レンズとを、屈折率が上記第1の
マツチング液とわずかに異なる第2のマツチング液中に
浸し、これらに上記コヒーレント光を透過させて、その
透過光波を参照光波と重ね合わせて干渉縞を発生させ、
上記ガラス試料を透過した光波により生ずる干渉縞の強
度分布を出力してその出力から上記第2のマツチング液
の屈折率を求めると共に、上記被検レンズを透過した光
波により生ずる干渉縞の強度分布を出力して、その出力
から、その干渉縞を表す第2の多項式を求めて、上記第
1及び第2のマツチング液の屈折率と第1及び第2の多
項式とから上記被検レンズの形状を求め、そして、上記
第1又は第2の多項式のディフォーカス項と収差項とを
分離して、上記ディフォーカス項と上記第1又は第2の
マツチング液の屈折率とから上記被検レンズの平均屈折
率を求め、上記収差項から上°記被検レンズの屈折率分
布を求めるようにしたことを特徴とする。
測定方法は、屈折率及び形状が既知のガラス試料と、屈
折率及び形状が未知の被検レンズとを第1のマツチング
液中に浸し、これらにコヒーレント光を透過させて、そ
の透過光波を参照光波と重ね合わせて干渉縞を発生させ
、上記ガラス試料を透過した光波により生ずる干渉縞の
強度分布を出力してその出力から上記第1のマツチング
液の屈折率を求めると共に、上記被検レンズを透過した
光波により生ずる干渉縞の強度分布を出力して、その出
力から、その干渉縞を表す第1の多項式を求め1次に、
上記ガラス試料と被検レンズとを、屈折率が上記第1の
マツチング液とわずかに異なる第2のマツチング液中に
浸し、これらに上記コヒーレント光を透過させて、その
透過光波を参照光波と重ね合わせて干渉縞を発生させ、
上記ガラス試料を透過した光波により生ずる干渉縞の強
度分布を出力してその出力から上記第2のマツチング液
の屈折率を求めると共に、上記被検レンズを透過した光
波により生ずる干渉縞の強度分布を出力して、その出力
から、その干渉縞を表す第2の多項式を求めて、上記第
1及び第2のマツチング液の屈折率と第1及び第2の多
項式とから上記被検レンズの形状を求め、そして、上記
第1又は第2の多項式のディフォーカス項と収差項とを
分離して、上記ディフォーカス項と上記第1又は第2の
マツチング液の屈折率とから上記被検レンズの平均屈折
率を求め、上記収差項から上°記被検レンズの屈折率分
布を求めるようにしたことを特徴とする。
[作用]
第9図及び第10図は、本発明のレンズの屈折率測定方
法の測定原理を示しているm X + y、 Zは座標
である。
法の測定原理を示しているm X + y、 Zは座標
である。
まず、屈折率nIIが被検レンズの屈折率n、とほぼ等
しいマツチング液に浸した被検レンズに、波長入の平面
波を透過させた時、その透過波と参照波とによって得ら
れる干渉縞Wo(x、y)を考える。
しいマツチング液に浸した被検レンズに、波長入の平面
波を透過させた時、その透過波と参照波とによって得ら
れる干渉縞Wo(x、y)を考える。
被検レンズの各面の形状を。
工面: Z+ =S+ (X 、 y)11面’ Z2
=82 (X * y)とし、中心肉厚をdとすると
、両面のSag量合計Sag(x 、 y)は Sag(x、y) = S + (x、y) +S
2 (x、y) ・(1)である。
=82 (X * y)とし、中心肉厚をdとすると
、両面のSag量合計Sag(x 、 y)は Sag(x、y) = S + (x、y) +S
2 (x、y) ・(1)である。
一方、屈折率n t (x + y)を、平均屈折率
ntoと屈折率分布Δnt(x、y)とに分離すると、 Wo(x、y)=Siag(x、y) @ [nto−
11+a I+[d−9ag(!、り]Δnt (x、
y) ++ (2)(2)式よりマツチング液の屈折率
n11を測定すれば、w、)(x、y)はn ta及び
Δnt(x。
ntoと屈折率分布Δnt(x、y)とに分離すると、 Wo(x、y)=Siag(x、y) @ [nto−
11+a I+[d−9ag(!、り]Δnt (x、
y) ++ (2)(2)式よりマツチング液の屈折率
n11を測定すれば、w、)(x、y)はn ta及び
Δnt(x。
y)のみの関数になるが、一般には、この二つのパラメ
ータを分離して求めることはできない。
ータを分離して求めることはできない。
さて、ここで上記の(2)式を、波面収差の展開式では
一般的なツェルニケの多項式を用いて展開すると、 Wo(x、y)−9ag(x、y) * Into−+
+a ]++d−9ag(i、を月Δnt (x、y)
・CI +C2fcosLf+C3fsjnf’<4
(2j2−1)+ C5/”cos2デ4−*−と書け
る。
一般的なツェルニケの多項式を用いて展開すると、 Wo(x、y)−9ag(x、y) * Into−+
+a ]++d−9ag(i、を月Δnt (x、y)
・CI +C2fcosLf+C3fsjnf’<4
(2j2−1)+ C5/”cos2デ4−*−と書け
る。
C2アcascJ)、 C3ア5infはチルト項、
ca (2/)2−1)はディフォーカス項(W2)C
sJ” cos2プ+・・・は収差項(W)である。
ca (2/)2−1)はディフォーカス項(W2)C
sJ” cos2プ+・・・は収差項(W)である。
そして、今[n (6nB ] # 0だから。
Sag(X 、 V) [nto nm ]は2
次関数で近似でき、ディフォーカス項とほぼ等しくなる
。
次関数で近似でき、ディフォーカス項とほぼ等しくなる
。
第11図は、一方の面が球面(曲率半径r)、他方の面
が平面(曲率半径oo)、直径がDであって屈折率分布
のない種々のRナンバー(R=r/D)のレンズを考え
、そのレンズに対して、稿本数3本(WQ=3人)及び
1本(Wo = 1人)なる縞を観測可能なようにマツ
チング液の調合を行ったと想定した場合の、収差項(Δ
W)の値を示している。縞読取の再現性をRIIlsで
入/25とすれば、稿本数3木の場合でもR>0.7と
なる。
が平面(曲率半径oo)、直径がDであって屈折率分布
のない種々のRナンバー(R=r/D)のレンズを考え
、そのレンズに対して、稿本数3本(WQ=3人)及び
1本(Wo = 1人)なる縞を観測可能なようにマツ
チング液の調合を行ったと想定した場合の、収差項(Δ
W)の値を示している。縞読取の再現性をRIIlsで
入/25とすれば、稿本数3木の場合でもR>0.7と
なる。
したがって、はとんどのRナンバーのレンズが、縞読取
再現性以下となり、観測された干渉縞の成分がディフォ
ーカス項のみで表されることを示している。
再現性以下となり、観測された干渉縞の成分がディフォ
ーカス項のみで表されることを示している。
したがって、読み取った縞WO(x、y)のディフォー
カス項から[nto−nmlが求められ、収差項Wから
Δnt(x、y)が求められ。
カス項から[nto−nmlが求められ、収差項Wから
Δnt(x、y)が求められ。
二つのパラメータの分離が可能となる。すなわズの平均
屈折率が求まる。
屈折率が求まる。
そこで、本発明においては、測定に際して、屈折率が互
いにわずかに異なる第1と第2のマツチング液を用いて
、その各々の場合における干渉縞解析から、まず被検レ
ンズのSag量を求めている。
いにわずかに異なる第1と第2のマツチング液を用いて
、その各々の場合における干渉縞解析から、まず被検レ
ンズのSag量を求めている。
即ち、第1と第2のマツチング液の屈折率をn Ial
+ n112とし、第1と第2のマツチング液を用い
たときに生じる干渉縞をWo、、Wヮとすると、Wo+
(x、y)−9ag(x、7) * [nto−nm+
]+[d−Sag(x、y)lΔnt (x、y) °
−(3)Wdx、y)=Sag(x、y)* [nto
−nm2]+[d−3ag(x、7月Δnt(x、り…
(ヰ)したがって(3)−(4)より、 (Se1. Se2は、第9図に示されるように、レン
ズ両面の最大Sag量である。) したがって、被検レンズのSag量即ち形状がわかれば
、そのレンズの屈折率分布が多項式の収差項から求まり
、さらにマツチング液の屈折率を知れば、多項式のディ
フォーカス項から、被検レンnm2−n1ll となり、各マツチング液の屈折率n1ll+n112を
求めれば、(5)式から被検レンズのSag量が求まる
。
+ n112とし、第1と第2のマツチング液を用い
たときに生じる干渉縞をWo、、Wヮとすると、Wo+
(x、y)−9ag(x、7) * [nto−nm+
]+[d−Sag(x、y)lΔnt (x、y) °
−(3)Wdx、y)=Sag(x、y)* [nto
−nm2]+[d−3ag(x、7月Δnt(x、り…
(ヰ)したがって(3)−(4)より、 (Se1. Se2は、第9図に示されるように、レン
ズ両面の最大Sag量である。) したがって、被検レンズのSag量即ち形状がわかれば
、そのレンズの屈折率分布が多項式の収差項から求まり
、さらにマツチング液の屈折率を知れば、多項式のディ
フォーカス項から、被検レンnm2−n1ll となり、各マツチング液の屈折率n1ll+n112を
求めれば、(5)式から被検レンズのSag量が求まる
。
なお、マツチング液の屈折率は、ガラス試料の既知の屈
折率と形状とから求めればよい。
折率と形状とから求めればよい。
[実施例]
第1図は、本発明に用いられる測定装置を示しており、
この装置は基本的にはマツハ赤ツエンダ−の干渉計にな
っている。1は、コヒーレント光(波長λ)を出射する
コヒーレント光源であり、例えば、)Ie−Neレーザ
光源が用いられる。コヒーレント光源lから出射された
光線は、ビームエキスパンダレンズ2によって拡げられ
、コリメータレンズ3によって平行光束となる。4は第
1のハーフミラ−であり、このハーフミラ−4で反射さ
れた光束は可動ミラー5でさらに反射されて透明容器6
を透過する。可動ミラー5は、その角度を任意に微動(
チルト)させることができる。
この装置は基本的にはマツハ赤ツエンダ−の干渉計にな
っている。1は、コヒーレント光(波長λ)を出射する
コヒーレント光源であり、例えば、)Ie−Neレーザ
光源が用いられる。コヒーレント光源lから出射された
光線は、ビームエキスパンダレンズ2によって拡げられ
、コリメータレンズ3によって平行光束となる。4は第
1のハーフミラ−であり、このハーフミラ−4で反射さ
れた光束は可動ミラー5でさらに反射されて透明容器6
を透過する。可動ミラー5は、その角度を任意に微動(
チルト)させることができる。
透明容器6は、歪みのないガラスで形成されている。7
は、開閉自在な蓋である。透明容器6内には、被検レン
ズlOの材質がポリメチルメタクリレート(アクリル)
の場合には、例えばジメチルシリコンオイルとフェニル
メチルシリコンオイルとを混合したマツチング液8が入
っている。
は、開閉自在な蓋である。透明容器6内には、被検レン
ズlOの材質がポリメチルメタクリレート(アクリル)
の場合には、例えばジメチルシリコンオイルとフェニル
メチルシリコンオイルとを混合したマツチング液8が入
っている。
マツチング液8内には、第2図にも示されるように、屈
折率ng及び形状(θ、L)が既知のガラス試料9と、
屈折率nt及び形状(d 、 Sag(x 、 y)
)が未知の被検レンズ10とが並列に。
折率ng及び形状(θ、L)が既知のガラス試料9と、
屈折率nt及び形状(d 、 Sag(x 、 y)
)が未知の被検レンズ10とが並列に。
透過光束に対して垂直に配置されている。被検レンズl
Oは、一般には例えばポリメチルメタクリレート(アク
リル)等のプラスチック製のレンズが対象となるが、ガ
ラスその他の材質のレンズを対象にしてもよい。
Oは、一般には例えばポリメチルメタクリレート(アク
リル)等のプラスチック製のレンズが対象となるが、ガ
ラスその他の材質のレンズを対象にしてもよい。
第1のハーフミラ−4を透過した光束は、第1の固定ミ
ラー11で反射された後、さらに第2のハーフミラ−1
2で反射されて、被検レンズlO又はガラス試料9を通
ってきた光波と重ね合わせられる。そして、2つの光波
の重なりによって生じる干渉縞が、第1の結像レンズ1
3によって撮像素子14表面上に結像する。
ラー11で反射された後、さらに第2のハーフミラ−1
2で反射されて、被検レンズlO又はガラス試料9を通
ってきた光波と重ね合わせられる。そして、2つの光波
の重なりによって生じる干渉縞が、第1の結像レンズ1
3によって撮像素子14表面上に結像する。
この第1の結像レンズ13と撮像素子14とは、一体と
なって図において上下方向に移動できるように設けられ
ている。したがって、第1図においては第1の結像レン
ズ13が被検レンズ10に対向しているが、第3図に示
されるように第1の結像レンズ13をガラス試料9に対
向させることもできる。
なって図において上下方向に移動できるように設けられ
ている。したがって、第1図においては第1の結像レン
ズ13が被検レンズ10に対向しているが、第3図に示
されるように第1の結像レンズ13をガラス試料9に対
向させることもできる。
第1図に戻って、撮像素子14は、例えば50X50個
の独立した光電素子により形成されている。そして、そ
の出力端に、AD変換器15、デジタル用演算回路16
及び表示装置17が順次接続されている。また、演算回
路16には、演算に必要なデータを記憶するメモリ18
と、既知のデータを入力する入力回路19とが順次接続
されている。尚、演算回路16としては、マイクロコン
ピュータその他の演算装置を用いることができる。
の独立した光電素子により形成されている。そして、そ
の出力端に、AD変換器15、デジタル用演算回路16
及び表示装置17が順次接続されている。また、演算回
路16には、演算に必要なデータを記憶するメモリ18
と、既知のデータを入力する入力回路19とが順次接続
されている。尚、演算回路16としては、マイクロコン
ピュータその他の演算装置を用いることができる。
20は、透明容器6内の状態を観察するための観察装置
であり、第2のハーフミラ−12に対向して設けられた
第2の固定ミラー21と、第2の結像レンズ22と、そ
の結像位置に設けられた撮像装置23とテレビモニタ2
4とにより構成されている。
であり、第2のハーフミラ−12に対向して設けられた
第2の固定ミラー21と、第2の結像レンズ22と、そ
の結像位置に設けられた撮像装置23とテレビモニタ2
4とにより構成されている。
本発明の測定方法によって被検レンズ10の屈折率測定
を行うには、まず、ガラス試料9に関する既知のデータ
(n g *θ、L)を入力回路19からメモリ18に
入力して記憶しておく。
を行うには、まず、ガラス試料9に関する既知のデータ
(n g *θ、L)を入力回路19からメモリ18に
入力して記憶しておく。
次に、マツチング液8の屈折率を調整する。この調整は
、被検レンズlOを透過した光波によって生ずる干渉縞
の数が例えば3本以下になるように、テレビモニタ24
を見ながら行う、干渉縞が1本以下になって、消えてし
まってもよい。具体的には、透明容器6の蓋7を取り外
しておいて、マツチング液8を構成する2種のシリコン
オイルのうちの一方をスポイト等で容器6内に点滴し、
マツチング液8を撹拌混合すればよい。このようにして
屈折率n重、の確定したものが1本発明における第1の
マツチング液である。
、被検レンズlOを透過した光波によって生ずる干渉縞
の数が例えば3本以下になるように、テレビモニタ24
を見ながら行う、干渉縞が1本以下になって、消えてし
まってもよい。具体的には、透明容器6の蓋7を取り外
しておいて、マツチング液8を構成する2種のシリコン
オイルのうちの一方をスポイト等で容器6内に点滴し、
マツチング液8を撹拌混合すればよい。このようにして
屈折率n重、の確定したものが1本発明における第1の
マツチング液である。
次に、第3図に示されるように、第1の結像レンズ13
をガラス試料9に対向させる。すると、第4図に示され
るように、ガラス試料9を透過した光波と参照光波との
重なりによって発生する干渉縞30が、撮像素子14に
結像する。そして、そのときの撮像素子14からの出力
によって、その縞の空間周波a F +を演算回路16
において演算する。これは公知のディスクリート・フー
リエ・トランスフオーム(DFT)により行うことがで
きるが、さらに高速なファースト番フーリエ・トランス
フオーム(FFT)によるのがよい。
をガラス試料9に対向させる。すると、第4図に示され
るように、ガラス試料9を透過した光波と参照光波との
重なりによって発生する干渉縞30が、撮像素子14に
結像する。そして、そのときの撮像素子14からの出力
によって、その縞の空間周波a F +を演算回路16
において演算する。これは公知のディスクリート・フー
リエ・トランスフオーム(DFT)により行うことがで
きるが、さらに高速なファースト番フーリエ・トランス
フオーム(FFT)によるのがよい。
この場合、撮像素子14上の干渉縞30に対して直角を
なす、第5図に示されるような線分31上の出力から、
第6図に示されるような略サインカーブ状の明るさの強
度分布を演算する。そして、その強度分布から、FFT
によって干渉縞の空間周波数F1を演算し、その値から
第1のマツチング液8の屈折率n atを求める。
なす、第5図に示されるような線分31上の出力から、
第6図に示されるような略サインカーブ状の明るさの強
度分布を演算する。そして、その強度分布から、FFT
によって干渉縞の空間周波数F1を演算し、その値から
第1のマツチング液8の屈折率n atを求める。
即ち、
F、=kl/L
(nlll−ng) L 拳 tan θ
= λ k。
= λ k。
であるから、
nmt=ng+入・F+/lanθ
により求められる。そしてtfllllの値はメモリ1
8に記憶しておく。
8に記憶しておく。
次に、第1図に示されるように、第1の結像レンズ13
を被検レンズ10に対向させる。すると、被検レンズ1
0を透過した光波と参照光波との重なりによって発生す
る干渉縞40が、第7図に示されるように、撮像素子1
4に結像する。そのときの撮像素子14からの出力を、
演算回路16において、まず高精度縞解析にかける。こ
の解析は、可動ミラー5を微小角度回動して縞にチルト
を与え、例えば公知の空間的フリンジ走査法により行う
、そして位相を決定して、ひきつづき演算回路16にお
いて第1の多項式W。l(x 、y)に展開する0本実
施例においては例えばツェルニケの多項式に展開してメ
モリ18に記憶する。
を被検レンズ10に対向させる。すると、被検レンズ1
0を透過した光波と参照光波との重なりによって発生す
る干渉縞40が、第7図に示されるように、撮像素子1
4に結像する。そのときの撮像素子14からの出力を、
演算回路16において、まず高精度縞解析にかける。こ
の解析は、可動ミラー5を微小角度回動して縞にチルト
を与え、例えば公知の空間的フリンジ走査法により行う
、そして位相を決定して、ひきつづき演算回路16にお
いて第1の多項式W。l(x 、y)に展開する0本実
施例においては例えばツェルニケの多項式に展開してメ
モリ18に記憶する。
次に、マツチング液8の混合比を少し変化させる。この
場合も、マツチング液8を構成する2種のシリコンオイ
ルのうちの一方をスポイト等で容器6内に点滴し、撹拌
混合する。このようにして屈折率n論2の確定したもの
が1本発明における第2のマツチング液である。この場
合、Mlのマツチング液の屈折率nl1が被検レンズl
Oの屈折率nlよりわずかに大きかったら、第2のマツ
チング液の屈折率n mtをnlよりわずかに小さく調
整し、逆に、n Illがntよりわずかに小さかった
ら、nm!をnlよりわずかに大きく調整するとよい。
場合も、マツチング液8を構成する2種のシリコンオイ
ルのうちの一方をスポイト等で容器6内に点滴し、撹拌
混合する。このようにして屈折率n論2の確定したもの
が1本発明における第2のマツチング液である。この場
合、Mlのマツチング液の屈折率nl1が被検レンズl
Oの屈折率nlよりわずかに大きかったら、第2のマツ
チング液の屈折率n mtをnlよりわずかに小さく調
整し、逆に、n Illがntよりわずかに小さかった
ら、nm!をnlよりわずかに大きく調整するとよい。
次に、上述の第1のマツチング液を用いた場合と全く同
様にして、ガラス試料9を透過した光波と参照光波との
重なりによって発生する干渉縞から、第2のマツチング
液の屈折率nuを求めて、その値をメモリ18に記憶す
る。
様にして、ガラス試料9を透過した光波と参照光波との
重なりによって発生する干渉縞から、第2のマツチング
液の屈折率nuを求めて、その値をメモリ18に記憶す
る。
次いで、やはり上述の第1のマツチング液を用いた場合
と全く同様にして、被検レンズlOを透過した光波と参
照光波との重なりによって干渉縞を発生させる。第8図
は、その時に撮像素子14に結像する干渉縞50を例示
している。そして、そのときの撮像素子14の出力から
、演算回路16において干渉縞を第2の多項式W田(x
、 y)に展開する。そして、この多項式のディフォ
ーカス項と収差項とをメモリ18に記憶しておく。
と全く同様にして、被検レンズlOを透過した光波と参
照光波との重なりによって干渉縞を発生させる。第8図
は、その時に撮像素子14に結像する干渉縞50を例示
している。そして、そのときの撮像素子14の出力から
、演算回路16において干渉縞を第2の多項式W田(x
、 y)に展開する。そして、この多項式のディフォ
ーカス項と収差項とをメモリ18に記憶しておく。
次いで、まず、第1と第2の多項式Wo1.Wo2の差
とPi4iと第2のマツチング液の屈折率n1m1゜n
1ltの差とから、被検レンズのSag量(即ち形状)
を、 sag(x、y)=WX−WX nllffi−nt として求める。
とPi4iと第2のマツチング液の屈折率n1m1゜n
1ltの差とから、被検レンズのSag量(即ち形状)
を、 sag(x、y)=WX−WX nllffi−nt として求める。
そして最大Sag量(Sel+Se2 )を求めて、メ
モリ18から第2のマツチング液の屈折率n1Ltを読
み出し、第2の多項式のディフォーカス項から、被検レ
ンズ10の平均屈折率ntoを、として求め、その結果
を表示装置17に出力して表示する。
モリ18から第2のマツチング液の屈折率n1Ltを読
み出し、第2の多項式のディフォーカス項から、被検レ
ンズ10の平均屈折率ntoを、として求め、その結果
を表示装置17に出力して表示する。
また、メモリ18から、被検レンズlOの各部分の肉厚
[d −Sag(x 、 y) ]を読み出し、第2の
多項式の収差項(W)から、被検レンズ10の屈折率分
布Δn (x、y)を。
[d −Sag(x 、 y) ]を読み出し、第2の
多項式の収差項(W)から、被検レンズ10の屈折率分
布Δn (x、y)を。
として求め、その結果を表示装置17に出力して表示す
る。
る。
尚、上記実施例においては、第2の多項式のディフォー
カス項と収差項をメモリ18に記憶して、それを測定分
析に用いたが、第2の多項式に代えて第1の多項式を用
いてもよい、その場合には、被検レンズlOの平均屈折
率ntoは、として求まる。n組は第1のマツチング液
の屈折率である。
カス項と収差項をメモリ18に記憶して、それを測定分
析に用いたが、第2の多項式に代えて第1の多項式を用
いてもよい、その場合には、被検レンズlOの平均屈折
率ntoは、として求まる。n組は第1のマツチング液
の屈折率である。
[発明の効果]
本発明のレンズの屈折率測定方法によれば、被検レンズ
はマツチング液に浸すだけなので、測定に際してレンズ
を破壊する必要がない、しかも、干渉縞の強度分布の出
力から、干渉縞を表す多項式のディフォーカス項を取り
出すことにより、屈折率及び形状が未知の被検レンズの
平均屈折率が求まり、多項式の収差項から屈折率分布が
求まるので、定量的に求めることが可能であり。
はマツチング液に浸すだけなので、測定に際してレンズ
を破壊する必要がない、しかも、干渉縞の強度分布の出
力から、干渉縞を表す多項式のディフォーカス項を取り
出すことにより、屈折率及び形状が未知の被検レンズの
平均屈折率が求まり、多項式の収差項から屈折率分布が
求まるので、定量的に求めることが可能であり。
したがって自動層1析等も容易に行うことができる等の
優れた効果を有する。
優れた効果を有する。
第1図ないし第3図は本発明による測定を行う測定装置
の一例を示す略示図、第4図ないし第6図はマツチング
液の屈折率を求める手順を示す略示図、第7図及び第8
図は被検レンズを透過した光波により撮像素子表面に生
ずる干渉縞を示す略示図、第9図及び第10図は本発明
の測定原理を説明する略示図、第11図は本発明の測定
原理による測定精度を説明する線図である。 代理人 弁理士 三 井 和 彦 第5図 第4図 第6図 第7図 jJ8図 第9図 第10図 参照通
の一例を示す略示図、第4図ないし第6図はマツチング
液の屈折率を求める手順を示す略示図、第7図及び第8
図は被検レンズを透過した光波により撮像素子表面に生
ずる干渉縞を示す略示図、第9図及び第10図は本発明
の測定原理を説明する略示図、第11図は本発明の測定
原理による測定精度を説明する線図である。 代理人 弁理士 三 井 和 彦 第5図 第4図 第6図 第7図 jJ8図 第9図 第10図 参照通
Claims (1)
- 屈折率及び形状が既知のガラス試料と、屈折率及び形状
が未知の被検レンズとを第1のマッチング液中に浸し、
これらにコヒーレント光を透過させて、その透過光波を
参照光波と重ね合わせて干渉縞を発生させ、上記ガラス
試料を透過した光波により生ずる干渉縞の強度分布を出
力してその出力から上記第1のマッチング液の屈折率を
求めると共に、上記被検レンズを透過した光波により生
ずる干渉縞の強度分布を出力して、その出力から、その
干渉縞を表す第1の多項式を求め、次に、上記ガラス試
料と被検レンズとを、屈折率が上記第1のマッチング液
とわずかに異なる第2のマッチング液中に浸し、これら
に上記ヒーレント光を透過させて、その透過光波を参照
光波と重ね合わせて干渉縞を発生させ、上記ガラス試料
を透過した光波により生ずる干渉縞の強度分布を出力し
てその出力から上記第2のマッチング液の屈折率を求め
ると共に、上記被検レンズを透過した光波により生ずる
干渉縞の強度分布を出力して、その出力から、その干渉
縞を表す第2の多項式を求めて、上記第1及び第2のマ
ッチング液の屈折率と第1及び第2の多項式とから上記
被検レンズの形状を求め、そして、上記第1又は第2の
多項式のディフォーカス項と収差項とを分離して、上記
ディフォーカス項と上記第1又は第2のマッチング液の
屈折率とから上記被検レンズの平均屈折率を求め、上記
収差項から上記被検レンズの屈折率分布を求めるように
したことを特徴とするレンズの屈折率測定方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15899288A JP2678464B2 (ja) | 1988-06-27 | 1988-06-27 | 屈折率測定方法 |
| US07/707,438 US5151752A (en) | 1988-06-16 | 1991-05-28 | Method of measuring refractive indices of lens and sample liquid |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15899288A JP2678464B2 (ja) | 1988-06-27 | 1988-06-27 | 屈折率測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH028726A true JPH028726A (ja) | 1990-01-12 |
| JP2678464B2 JP2678464B2 (ja) | 1997-11-17 |
Family
ID=15683855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15899288A Expired - Lifetime JP2678464B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-27 | 屈折率測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2678464B2 (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5684359A (en) * | 1994-06-06 | 1997-11-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Discharge lamp and illumination instrument for general illumination |
| JP2010085235A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | F K Kogaku Kenkyusho:Kk | 試料の高さの計測方法 |
| JP2010151578A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Canon Inc | 屈折率分布計測方法及び屈折率分布計測装置 |
| JP2011106975A (ja) * | 2009-11-18 | 2011-06-02 | Canon Inc | 屈折率分布の計測方法および計測装置 |
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| US8472014B2 (en) | 2010-05-25 | 2013-06-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Refractive index distribution measuring method and refractive index distribution measuring apparatus |
| US8786863B2 (en) | 2009-03-25 | 2014-07-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Transmitted wavefront measuring method, refractive-index distribution measuring method, and transmitted wavefront measuring apparatus that calculate a frequency distribution and obtain a transmitted wavefront of the object based on a primary frequency spectrum in the frequency distribution |
| JP2015105850A (ja) * | 2013-11-29 | 2015-06-08 | キヤノン株式会社 | 屈折率計測方法、屈折率計測装置および光学素子の製造方法 |
| CN105572050A (zh) * | 2015-12-21 | 2016-05-11 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 球面透镜材料均匀性的检测方法 |
| JP2016109593A (ja) * | 2014-12-08 | 2016-06-20 | キヤノン株式会社 | 屈折率計測方法、屈折率計測装置、及び光学素子の製造方法 |
-
1988
- 1988-06-27 JP JP15899288A patent/JP2678464B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5684359A (en) * | 1994-06-06 | 1997-11-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Discharge lamp and illumination instrument for general illumination |
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| US8786863B2 (en) | 2009-03-25 | 2014-07-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Transmitted wavefront measuring method, refractive-index distribution measuring method, and transmitted wavefront measuring apparatus that calculate a frequency distribution and obtain a transmitted wavefront of the object based on a primary frequency spectrum in the frequency distribution |
| US8310664B2 (en) | 2009-11-18 | 2012-11-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Refractive index distribution measuring method and refractive index distribution measuring apparatus |
| JP2011106975A (ja) * | 2009-11-18 | 2011-06-02 | Canon Inc | 屈折率分布の計測方法および計測装置 |
| JP2011117897A (ja) * | 2009-12-07 | 2011-06-16 | Canon Inc | 屈折率分布の計測方法および計測装置 |
| US8508725B2 (en) | 2009-12-07 | 2013-08-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Refractive index distribution measuring method and apparatus using position measurement and a reference object |
| US8472014B2 (en) | 2010-05-25 | 2013-06-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Refractive index distribution measuring method and refractive index distribution measuring apparatus |
| KR101288876B1 (ko) * | 2010-05-25 | 2013-07-23 | 캐논 가부시끼가이샤 | 굴절률 분포 계측방법 및 굴절률 분포 계측장치 |
| CN102297758A (zh) * | 2010-05-25 | 2011-12-28 | 佳能株式会社 | 折射率分布测量方法和折射率分布测量设备 |
| US8525982B2 (en) | 2010-05-25 | 2013-09-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Refractive index distribution measuring method and refractive index distribution measuring apparatus |
| JP2011247692A (ja) * | 2010-05-25 | 2011-12-08 | Canon Inc | 屈折率分布計測方法および屈折率分布計測装置 |
| JP4912504B1 (ja) * | 2010-09-16 | 2012-04-11 | キヤノン株式会社 | 屈折率の計測方法および計測装置 |
| US8520218B2 (en) | 2010-09-16 | 2013-08-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Measuring method of refractive index and measuring apparatus of refractive index |
| JP2012088342A (ja) * | 2012-02-10 | 2012-05-10 | Canon Inc | 屈折率分布計測方法および屈折率分布計測装置 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2678464B2 (ja) | 1997-11-17 |
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