JPH0288766A - スパッタ電極、スパッタリング装置およびスパッタリング方法 - Google Patents
スパッタ電極、スパッタリング装置およびスパッタリング方法Info
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- JPH0288766A JPH0288766A JP23869788A JP23869788A JPH0288766A JP H0288766 A JPH0288766 A JP H0288766A JP 23869788 A JP23869788 A JP 23869788A JP 23869788 A JP23869788 A JP 23869788A JP H0288766 A JPH0288766 A JP H0288766A
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- sputtering
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、基板上に薄膜を形成するスパッタリング装置
を構成するスパッタ電極にかかわり、特に、基板を静止
状態でターゲットに対向させるか、または基板をターゲ
ットに対向させながら一方向に移動させる方式で成膜す
る場合に、膜厚分布の一様性に優れた成膜を行うのに好
適な、またはターゲラ1〜板の利用効率の向上を可能と
するスパッタ電極、ならびにこのスパッタ電極を装備し
たスパッタリング装置およびこの装置を用いて行うスパ
ッタリング方法に関する。
を構成するスパッタ電極にかかわり、特に、基板を静止
状態でターゲットに対向させるか、または基板をターゲ
ットに対向させながら一方向に移動させる方式で成膜す
る場合に、膜厚分布の一様性に優れた成膜を行うのに好
適な、またはターゲラ1〜板の利用効率の向上を可能と
するスパッタ電極、ならびにこのスパッタ電極を装備し
たスパッタリング装置およびこの装置を用いて行うスパ
ッタリング方法に関する。
従来からよく知られているように、マグネトロンスパッ
タ電極は、例えば特公昭53−19319号公報に記載
されているように、ターゲット面上から真空槽側の空間
に漏洩させ再びターゲット面上に戻る弓状の磁力線で形
成されるトンネル状の磁界を、ターゲット板上で円また
は楕円などの終点を持たない閉曲線状に配置し、その部
分にグロー放電を発生させてスパッタリングを行ってい
る。
タ電極は、例えば特公昭53−19319号公報に記載
されているように、ターゲット面上から真空槽側の空間
に漏洩させ再びターゲット面上に戻る弓状の磁力線で形
成されるトンネル状の磁界を、ターゲット板上で円また
は楕円などの終点を持たない閉曲線状に配置し、その部
分にグロー放電を発生させてスパッタリングを行ってい
る。
上記のマグネトロンスパッタリングは、多くの場合、真
空槽内で、ターゲット材の皮膜をターゲットに対向して
配置された基板上に形成するために使用されるが、ター
ゲット上に漏洩する磁界の強度を変化させることによっ
て基板上の皮膜の膜厚の分布を制御する方法に関する記
述は上記公報にはない。
空槽内で、ターゲット材の皮膜をターゲットに対向して
配置された基板上に形成するために使用されるが、ター
ゲット上に漏洩する磁界の強度を変化させることによっ
て基板上の皮膜の膜厚の分布を制御する方法に関する記
述は上記公報にはない。
また、特公昭54−32638号公報に記載された例で
は、楕円形のグロー放電プラズマをターゲット板上で移
動させてターゲットの利用効率の向上を図っている。さ
らに、特開昭60−221571号公報の中で従来の技
術として紹介されている例では、ドーナツ状のグロー放
電プラズマリングを発生させる軸対称形状の磁石を偏心
回転運動させて、ターゲットの利用効率の向上を図って
いる。しかしながら、プラズマリングを移動させながら
ターゲットを使用してゆくにしたがって不均一な侵食が
発生する場合があり、部分的に深い侵食が生じた場合に
は、ターゲット板の特定の領域が他の領域に比べて速く
消耗するため、ターゲット板の利用効率が下がる。しか
し、上記従来の技術では、このようなターゲット板の不
均一な消耗を解消する方法に関する記述はなされていな
い。
は、楕円形のグロー放電プラズマをターゲット板上で移
動させてターゲットの利用効率の向上を図っている。さ
らに、特開昭60−221571号公報の中で従来の技
術として紹介されている例では、ドーナツ状のグロー放
電プラズマリングを発生させる軸対称形状の磁石を偏心
回転運動させて、ターゲットの利用効率の向上を図って
いる。しかしながら、プラズマリングを移動させながら
ターゲットを使用してゆくにしたがって不均一な侵食が
発生する場合があり、部分的に深い侵食が生じた場合に
は、ターゲット板の特定の領域が他の領域に比べて速く
消耗するため、ターゲット板の利用効率が下がる。しか
し、上記従来の技術では、このようなターゲット板の不
均一な消耗を解消する方法に関する記述はなされていな
い。
縦横比の大きい長方形型スパッタ電極を効率良く使用で
きるように、磁界の変化によってプラズマリングを移動
させるためには1例えば磁界発生源として永久磁石を使
用して、磁極を二重の長円形に配置し、内側と外側の磁
極の間に弓状の磁界を発生させて、その部分に長円形状
のグロー放電プラズマを生じさせ、さらにそのプラズマ
を短径方向に往復運動させるのが最も簡単である。この
場合、長円形状のグロー放電プラズマリングの長手のほ
ぼ直線部分の真下のターゲット板面は、プラズマリング
のほぼ直線の部分がリングに沿った中心軸に対して直角
方向に移動するために、はぼ均一に侵食されるが、リン
グの中心軸が円弧状に湾曲しているコーナ一部分の真下
のターゲット板面は、リングの中心軸と移動方向が直角
でないため、長円形状グロー放電プラズマの移動にもか
かわらず、ターゲット板の同一部分上を長時間スパッタ
することになり、はぼ直線の部分よりも速く侵食される
。従って、コーナ一部分の寿命によってターゲット板全
体の寿命が決まり、利用効率が低く留まる。このため、
ターゲット材料コストが上昇し、またターゲット板の寿
命が短いために交換頻度が増加し、生産上に不都合をも
たらすという欠点がある。
きるように、磁界の変化によってプラズマリングを移動
させるためには1例えば磁界発生源として永久磁石を使
用して、磁極を二重の長円形に配置し、内側と外側の磁
極の間に弓状の磁界を発生させて、その部分に長円形状
のグロー放電プラズマを生じさせ、さらにそのプラズマ
を短径方向に往復運動させるのが最も簡単である。この
場合、長円形状のグロー放電プラズマリングの長手のほ
ぼ直線部分の真下のターゲット板面は、プラズマリング
のほぼ直線の部分がリングに沿った中心軸に対して直角
方向に移動するために、はぼ均一に侵食されるが、リン
グの中心軸が円弧状に湾曲しているコーナ一部分の真下
のターゲット板面は、リングの中心軸と移動方向が直角
でないため、長円形状グロー放電プラズマの移動にもか
かわらず、ターゲット板の同一部分上を長時間スパッタ
することになり、はぼ直線の部分よりも速く侵食される
。従って、コーナ一部分の寿命によってターゲット板全
体の寿命が決まり、利用効率が低く留まる。このため、
ターゲット材料コストが上昇し、またターゲット板の寿
命が短いために交換頻度が増加し、生産上に不都合をも
たらすという欠点がある。
また、前記の縦横比の大きい長方形状スパッタ電極に、
移動しない長円形のグロー放電プラズマリングを発生さ
せ、その放電の前面で長方形の短手方向に基板を移動し
て成膜する場合、形成される膜は、プラズマリングの中
心から基板の移動方向と直角方向に離れるほど薄くなる
膜厚分布を示す。このとき、膜厚がほぼ均一である領域
の、ターゲット長手方向に沿った長さを有効領域長とす
ると、この有効領域長が長いスパッタ電極の方が有利な
ことは明らかである。
移動しない長円形のグロー放電プラズマリングを発生さ
せ、その放電の前面で長方形の短手方向に基板を移動し
て成膜する場合、形成される膜は、プラズマリングの中
心から基板の移動方向と直角方向に離れるほど薄くなる
膜厚分布を示す。このとき、膜厚がほぼ均一である領域
の、ターゲット長手方向に沿った長さを有効領域長とす
ると、この有効領域長が長いスパッタ電極の方が有利な
ことは明らかである。
従来の装置のスパッタ電極の有効領域長は、プラズマリ
ングの長手方向直線部分の長さより短い。
ングの長手方向直線部分の長さより短い。
従って、ターゲット板としては、基板の成膜領域の幅、
つまり有効領域長よりもかなり大きなターゲット板を使
用する必要があり、ターゲットの材料コストが上昇する
とともに、装置も大型化するという欠点がある。
つまり有効領域長よりもかなり大きなターゲット板を使
用する必要があり、ターゲットの材料コストが上昇する
とともに、装置も大型化するという欠点がある。
以上述べたことから、膜厚分布の一様性に優れた成膜を
実現すること、もしくはターゲット板の利用効率が高く
、ターゲットの材料コストを抑えて行えるスパッタリン
グ成膜を実現することが課題である。
実現すること、もしくはターゲット板の利用効率が高く
、ターゲットの材料コストを抑えて行えるスパッタリン
グ成膜を実現することが課題である。
上記課題は、スパッタ電極でのグロー放電プラズマリン
グを発生させている磁界の強度を、該グロー放電プラズ
マリングの各部分で異なった強度となるように制御する
ことにより、解決される。
グを発生させている磁界の強度を、該グロー放電プラズ
マリングの各部分で異なった強度となるように制御する
ことにより、解決される。
上記のような磁界の制御は、以下述べるような方法で実
現できる。
現できる。
まず、磁界発生手段として永久磁石を使用する場合は、
永久磁石を継鉄上に並べてターゲット板のスパッタ面の
反対側に配置する際に、特定部分の永久磁石の種類、磁
極の形状、磁極の材質、磁極とターゲット板との間の距
離を他の部分と異ならせる等の方法で、特定部分の磁気
回路抵抗を他の部分と異ならせ、磁極からターゲット板
を通過して真空側ターゲット面上に漏洩する磁界の強度
を特定部分だけ異なった大きさとすることができる。
永久磁石を継鉄上に並べてターゲット板のスパッタ面の
反対側に配置する際に、特定部分の永久磁石の種類、磁
極の形状、磁極の材質、磁極とターゲット板との間の距
離を他の部分と異ならせる等の方法で、特定部分の磁気
回路抵抗を他の部分と異ならせ、磁極からターゲット板
を通過して真空側ターゲット面上に漏洩する磁界の強度
を特定部分だけ異なった大きさとすることができる。
また、磁界発生手段として1個のコイルからなる電磁石
を使用する場合には、永久磁石を使用する場合と同様に
、特定部分の磁極の形状、磁極の材質、磁極とターゲッ
ト板との距離を他の部分と異ならせる等の方法で、特定
部分の磁気回路抵抗を他の部分と異ならせ、磁極からタ
ーゲット板を通過して真空側ターゲット面上に漏洩する
磁界の強度を特定部分だけ異なった大きさとすることが
できる。
を使用する場合には、永久磁石を使用する場合と同様に
、特定部分の磁極の形状、磁極の材質、磁極とターゲッ
ト板との距離を他の部分と異ならせる等の方法で、特定
部分の磁気回路抵抗を他の部分と異ならせ、磁極からタ
ーゲット板を通過して真空側ターゲット面上に漏洩する
磁界の強度を特定部分だけ異なった大きさとすることが
できる。
さらに、磁界発生手段として2個以上のコイルからなる
電磁石を使用する場合には、コイル1個の場合と同様に
、特定部分の磁極の形状、磁極の材質、磁極とターゲッ
ト板との距離を他の部分と異ならせる等の方法で、特定
部分の磁気回路抵抗を他の部分と異ならせるか、または
、それぞれの電磁石の励磁電流を制御して、それぞれの
起磁力を異なった大きさにすることで、磁極からターゲ
ット板を通過して真空側ターゲット面上に漏洩する磁界
の強度を特定部分だけ異なった大きさとすることができ
る。
電磁石を使用する場合には、コイル1個の場合と同様に
、特定部分の磁極の形状、磁極の材質、磁極とターゲッ
ト板との距離を他の部分と異ならせる等の方法で、特定
部分の磁気回路抵抗を他の部分と異ならせるか、または
、それぞれの電磁石の励磁電流を制御して、それぞれの
起磁力を異なった大きさにすることで、磁極からターゲ
ット板を通過して真空側ターゲット面上に漏洩する磁界
の強度を特定部分だけ異なった大きさとすることができ
る。
スパッタリング現象は、前述のトンネル状磁界の強度の
増加によって、進行速度が増加する。従って、特定部分
の磁界を強くすればその部分のターゲット板の侵食速度
が増加するが、同時に基板上に形成される皮膜の成膜速
度も上昇する。従って、グロー放電プラズマリングの各
部分で異なった磁界強度にした場合には、磁界強度の大
きい領域に発生したグロー放電直下のターゲット面は、
他の部分より速い速度で侵食され、また、この領域にほ
ぼ対向した基板上の領域では、スパッタリングガスの被
スパツタ粒子の散乱効果によって多少緩和されるものの
、基板上の他の部分より速い速度で皮膜が形成される。
増加によって、進行速度が増加する。従って、特定部分
の磁界を強くすればその部分のターゲット板の侵食速度
が増加するが、同時に基板上に形成される皮膜の成膜速
度も上昇する。従って、グロー放電プラズマリングの各
部分で異なった磁界強度にした場合には、磁界強度の大
きい領域に発生したグロー放電直下のターゲット面は、
他の部分より速い速度で侵食され、また、この領域にほ
ぼ対向した基板上の領域では、スパッタリングガスの被
スパツタ粒子の散乱効果によって多少緩和されるものの
、基板上の他の部分より速い速度で皮膜が形成される。
この原理を応用すると、ターゲット板上の磁界を、その
磁界強度がグロー放電プラズマリングの各部分で異なる
ように制御することによって、ターゲット板の侵食の進
行速度を特定のパターンにすることが可能であり、また
同様の制御方法で、基板上で特定の膜厚分布を実現する
ことが可能であり、前述の課題を解決することができる
。
磁界強度がグロー放電プラズマリングの各部分で異なる
ように制御することによって、ターゲット板の侵食の進
行速度を特定のパターンにすることが可能であり、また
同様の制御方法で、基板上で特定の膜厚分布を実現する
ことが可能であり、前述の課題を解決することができる
。
以下、本発明によるスパッタ電極の第1の実施例を第1
図に従って説明する。本図は、長方形のターゲット板上
に長円形のグロー放電プラズマリングを発生させ、しか
も、そのプラズマリングを長円の短手方向に往復運動さ
せながらスパッタリング成膜を行うスパッタ電極の短手
方向の断面を概略的に示したものである。ただし、スパ
ッタ電極の説明に関係のない真空槽、支持部材、電源、
真空排気装置およびガス導入装置などは、図示を省略し
である。図において、1はターゲット板、2はグロー放
電プラズマリング、3は継鉄、41は外側マグネット、
42は内側マグネット、5は弓状磁界、6は磁石駆動用
モータであり、モータ6の駆動力は送りねじ7、ナツト
8を介して伝えられて、継鉄3を短手方向に往復運動さ
せる。なお、図示しない基板は、ターゲット板1に対向
しながら、ターゲット板1の短手方向に移動して、皮膜
が形成される。
図に従って説明する。本図は、長方形のターゲット板上
に長円形のグロー放電プラズマリングを発生させ、しか
も、そのプラズマリングを長円の短手方向に往復運動さ
せながらスパッタリング成膜を行うスパッタ電極の短手
方向の断面を概略的に示したものである。ただし、スパ
ッタ電極の説明に関係のない真空槽、支持部材、電源、
真空排気装置およびガス導入装置などは、図示を省略し
である。図において、1はターゲット板、2はグロー放
電プラズマリング、3は継鉄、41は外側マグネット、
42は内側マグネット、5は弓状磁界、6は磁石駆動用
モータであり、モータ6の駆動力は送りねじ7、ナツト
8を介して伝えられて、継鉄3を短手方向に往復運動さ
せる。なお、図示しない基板は、ターゲット板1に対向
しながら、ターゲット板1の短手方向に移動して、皮膜
が形成される。
従来のこの種の装置では、プラズマリングのコーナ一部
分に、ターゲット板の侵食が他の領域よりも速く進行す
る領域がある。第2図はグロー放電プラズマリング中心
線21によってグロー放電プラズマリングの移動範囲の
両端を示したもので、10はターゲット中心線である。
分に、ターゲット板の侵食が他の領域よりも速く進行す
る領域がある。第2図はグロー放電プラズマリング中心
線21によってグロー放電プラズマリングの移動範囲の
両端を示したもので、10はターゲット中心線である。
このような範囲でグロー放電プラズマリングを往復運動
させた場合、プラズマリング重なり部分9で示した領域
上付近では、プラズマリング滞在時間が他の部分上での
滞在時間よりも長い。そこで、本実施例では、後記する
ように、この部分の磁界強度を弱めることによって、侵
食の進行速度を他の部分より遅くする。これによって1
局所的なターゲット消耗を防止でき、ターゲット板の侵
食パターンを示す第3図において、従来の侵食パターン
131に比べ、本実施例では侵食パターン132で示し
たように均一になり、発明の顕著な効果が認められた。
させた場合、プラズマリング重なり部分9で示した領域
上付近では、プラズマリング滞在時間が他の部分上での
滞在時間よりも長い。そこで、本実施例では、後記する
ように、この部分の磁界強度を弱めることによって、侵
食の進行速度を他の部分より遅くする。これによって1
局所的なターゲット消耗を防止でき、ターゲット板の侵
食パターンを示す第3図において、従来の侵食パターン
131に比べ、本実施例では侵食パターン132で示し
たように均一になり、発明の顕著な効果が認められた。
ここで、上記のように磁界強度を部分的に弱めるときの
磁石の配置の一例を第4図に示す。これは、外側マグネ
ット41の厚みについて、コーナー部マグネット厚さ1
11を平行部マグネット厚さ112より小さくし、コー
ナ一部分に近づくほど磁界強度が弱くなるように磁界を
制御したものである。
磁石の配置の一例を第4図に示す。これは、外側マグネ
ット41の厚みについて、コーナー部マグネット厚さ1
11を平行部マグネット厚さ112より小さくし、コー
ナ一部分に近づくほど磁界強度が弱くなるように磁界を
制御したものである。
この場合の磁界強度の具体例を記すと、プラズマリング
中心線21上の、ターゲット板l上2m+iの場所のう
ち、平行部分の代表的な磁界としてとりあげた平行部磁
界計測点121でのターゲット面平行方向の磁界強度の
絶対値が0.03T程度であるのに対し、コーナ一部分
の代表的な磁界としてとりあげたコーナ一部磁界計測点
122でのターゲット面平行方向の磁界強度は0.02
5T程度であった。
中心線21上の、ターゲット板l上2m+iの場所のう
ち、平行部分の代表的な磁界としてとりあげた平行部磁
界計測点121でのターゲット面平行方向の磁界強度の
絶対値が0.03T程度であるのに対し、コーナ一部分
の代表的な磁界としてとりあげたコーナ一部磁界計測点
122でのターゲット面平行方向の磁界強度は0.02
5T程度であった。
上記のような磁界分布を実現する手段として、このほか
に、コーナ一部分の磁極とターゲット板との距離を、直
線部分の磁極とターゲット板との距離よりも大きくする
方法と、コーナ一部分の永久磁石を小型にし、多数の部
分に分割して、それぞれの磁石と磁石との間に空間を設
け、コーナー部分の磁界を制御する方法とを実施したが
、いずれも磁界に及ぼす効果は、第4図に示した方法の
場合とほぼ同様であった。また、永久磁石の代りに1個
の電磁石を使用しても、それらの効果は、第4図に示し
た方法の場合とほぼ同様であった。
に、コーナ一部分の磁極とターゲット板との距離を、直
線部分の磁極とターゲット板との距離よりも大きくする
方法と、コーナ一部分の永久磁石を小型にし、多数の部
分に分割して、それぞれの磁石と磁石との間に空間を設
け、コーナー部分の磁界を制御する方法とを実施したが
、いずれも磁界に及ぼす効果は、第4図に示した方法の
場合とほぼ同様であった。また、永久磁石の代りに1個
の電磁石を使用しても、それらの効果は、第4図に示し
た方法の場合とほぼ同様であった。
さらに、電磁石のコイルを複数の部分に分割し、それぞ
れのコイル部分に対する励磁電流を制御することによっ
て、平行部分とコーナ一部分の磁界強度の絶対値をそれ
ぞれ0.03’r、 0.02T程度に制御する方法も
実施したが、それらの効果も、第4図に示した方法の場
合とほぼ同様であった。
れのコイル部分に対する励磁電流を制御することによっ
て、平行部分とコーナ一部分の磁界強度の絶対値をそれ
ぞれ0.03’r、 0.02T程度に制御する方法も
実施したが、それらの効果も、第4図に示した方法の場
合とほぼ同様であった。
次に1本発明によるスパッタ電極の第2の実施例を第5
図に従って説明する。本図は、長方形のターゲット板上
に、一定の場所から移動しないクロー放電プラズマリン
グを発生させてスパッタリング成膜を行うスパッタ電極
の短手方向の断面を概略的に示したものである。ただし
、第1図と同様、スパッタ電極の説明に関係のない真空
槽、支持部材、電源、真空排気装置およびガス導入装置
などは、図示を省略しである。図において、1はターゲ
ット板、2はグロー放電プラズマリング、3は継鉄、4
1は外側マグネット、42は内側マグネット、5は弓状
磁界である。なお、図示しない基板は、ターゲット板1
に対向しながら、ターゲット板1の短手方向に移動して
、皮膜が形成される。
図に従って説明する。本図は、長方形のターゲット板上
に、一定の場所から移動しないクロー放電プラズマリン
グを発生させてスパッタリング成膜を行うスパッタ電極
の短手方向の断面を概略的に示したものである。ただし
、第1図と同様、スパッタ電極の説明に関係のない真空
槽、支持部材、電源、真空排気装置およびガス導入装置
などは、図示を省略しである。図において、1はターゲ
ット板、2はグロー放電プラズマリング、3は継鉄、4
1は外側マグネット、42は内側マグネット、5は弓状
磁界である。なお、図示しない基板は、ターゲット板1
に対向しながら、ターゲット板1の短手方向に移動して
、皮膜が形成される。
本実施例は、コーナ一部分のターゲット面平行方向の磁
界強度の絶対値を、直線部分の磁界強度よりも20%程
度大きくすることによって、コーナー部分における侵食
速度を直線部分よりも速くし、成膜膜厚の分布を表わす
第6図に符号142で示すように、コーナ一部分の侵食
速度を直線部分の侵食速度と同じにしたものである。第
6図において、従来の膜厚分布141に比較して本実施
例の膜厚分布142は、ターゲットの有効領域長を、両
側で各1.5mm、全長で30mm程度長くでき、本発
明の顕著な効果が認められた。
界強度の絶対値を、直線部分の磁界強度よりも20%程
度大きくすることによって、コーナー部分における侵食
速度を直線部分よりも速くし、成膜膜厚の分布を表わす
第6図に符号142で示すように、コーナ一部分の侵食
速度を直線部分の侵食速度と同じにしたものである。第
6図において、従来の膜厚分布141に比較して本実施
例の膜厚分布142は、ターゲットの有効領域長を、両
側で各1.5mm、全長で30mm程度長くでき、本発
明の顕著な効果が認められた。
次に、本発明によるスパッタ電極の第3の実施例を第7
図に従って説明する。本図は、第2の実施例として示し
た第5図と同様な長方形のターゲット板上に、一定の場
所から移動しないグロー放電プラズマリングを発生させ
てスパッタリング成膜を行うスパッタ電極に対して、電
磁石を利用した磁界発生手段を用いた場合の、磁石部分
の半分の正面図を概略的に示したものである。ただし、
スパッタ電極の説明に関係のない支持部材などは、図示
を省略しである。なお、図中には、弓状の磁界が形成さ
れて放電が生じたときの、グロー放電プラズマリング中
心線21のおよその位置を示しである。また、31は内
側磁極である。
図に従って説明する。本図は、第2の実施例として示し
た第5図と同様な長方形のターゲット板上に、一定の場
所から移動しないグロー放電プラズマリングを発生させ
てスパッタリング成膜を行うスパッタ電極に対して、電
磁石を利用した磁界発生手段を用いた場合の、磁石部分
の半分の正面図を概略的に示したものである。ただし、
スパッタ電極の説明に関係のない支持部材などは、図示
を省略しである。なお、図中には、弓状の磁界が形成さ
れて放電が生じたときの、グロー放電プラズマリング中
心線21のおよその位置を示しである。また、31は内
側磁極である。
本実施例では、コーナ一部分の磁界強度を直線部分の磁
界強度よりも強くして、コーナ一部分の侵食速度を直線
部分よりも速くするために、4個に分割された電磁石を
使用し、電磁石の駆動には、それぞれの駆動電流を任意
に設定できる2個の電源を使用した。すなわち、コーナ
一部コイル152と、図中に回路記号で示した反対側の
コーナ一部コイル153とは直列に接続された上、コー
ナ一部コイル電源162に接続されている。また、2個
の直線部コイル151は直列に接続された上、直線部コ
イル電源161に接続されている。そして、コーナ一部
の磁界と直線部の磁界を別々に制御するために、これら
2台の電源は電流が可変であるものを使用し、コーナ一
部分の磁界強度が直線部分の磁界強度より20%程度強
くなるように、コーナー部分と直線部分の電磁石のそれ
ぞれの励磁電流を調整した。この結果、第2の実施例と
ほぼ同様の効果が得られた。また、第6図に示したもの
とほぼ同様の膜厚分布が得られ、コーナ一部分の侵食速
度を直線部分と同じにした場合に比較して、ターゲット
の有効領域長を30%程度長くでき、本発明の顕著な効
果が認められた。
界強度よりも強くして、コーナ一部分の侵食速度を直線
部分よりも速くするために、4個に分割された電磁石を
使用し、電磁石の駆動には、それぞれの駆動電流を任意
に設定できる2個の電源を使用した。すなわち、コーナ
一部コイル152と、図中に回路記号で示した反対側の
コーナ一部コイル153とは直列に接続された上、コー
ナ一部コイル電源162に接続されている。また、2個
の直線部コイル151は直列に接続された上、直線部コ
イル電源161に接続されている。そして、コーナ一部
の磁界と直線部の磁界を別々に制御するために、これら
2台の電源は電流が可変であるものを使用し、コーナ一
部分の磁界強度が直線部分の磁界強度より20%程度強
くなるように、コーナー部分と直線部分の電磁石のそれ
ぞれの励磁電流を調整した。この結果、第2の実施例と
ほぼ同様の効果が得られた。また、第6図に示したもの
とほぼ同様の膜厚分布が得られ、コーナ一部分の侵食速
度を直線部分と同じにした場合に比較して、ターゲット
の有効領域長を30%程度長くでき、本発明の顕著な効
果が認められた。
本実施例のコーナ一部コイル電源162を2台使用し、
それぞれを両側のコーナ一部コイル152.153にそ
れぞれ単独で接続し、両コイルに別々の励磁電流を流し
た場合のコーナ一部分の磁界強度の絶対値は、それぞれ
0.OIT〜0.043T程度の範囲で別々に制御する
ことができた。−例として、一方のコーナ一部を0.0
3T、反対側のコーナ一部を0.04T、平行部を0.
025 Tに励磁した場合の基板上の膜厚は、平行部に
対応した領域を100%としたとき、コーナ一部の磁界
強度を0.04T、0.03Tに対応する領域では、そ
れぞれ148%と127%の膜厚が得られ、電磁石を複
数に分割したときに、それぞれの電磁石の励磁電流を制
御することによって膜厚の分布が制御できることが確か
められ、本発明の顕著な効果が認められた。
それぞれを両側のコーナ一部コイル152.153にそ
れぞれ単独で接続し、両コイルに別々の励磁電流を流し
た場合のコーナ一部分の磁界強度の絶対値は、それぞれ
0.OIT〜0.043T程度の範囲で別々に制御する
ことができた。−例として、一方のコーナ一部を0.0
3T、反対側のコーナ一部を0.04T、平行部を0.
025 Tに励磁した場合の基板上の膜厚は、平行部に
対応した領域を100%としたとき、コーナ一部の磁界
強度を0.04T、0.03Tに対応する領域では、そ
れぞれ148%と127%の膜厚が得られ、電磁石を複
数に分割したときに、それぞれの電磁石の励磁電流を制
御することによって膜厚の分布が制御できることが確か
められ、本発明の顕著な効果が認められた。
次に、」二連の本発明によるスパッタ電極を装備したス
パッタリング装置を第8図により説明する。
パッタリング装置を第8図により説明する。
第8図は該スパッタリング装置の主要部分のみを示した
概略構成図であり、同図(a)は磁界発生手段として永
久磁石を使用した場合を示し、同図(b)は磁界発生手
段として電磁石を使用した場合を示す。第8図(a)に
おいて、201は真空槽であり、槽内を真空排気するた
めの排気口202と、槽内にスパッタリングガスを導入
するためのガス導入口203とを備えている。真空槽2
01の内部には、本発明によるスパッタ電極を構成する
ターゲラ1〜板204が設置され、これと対向して、ス
パッタリング成膜を施そうとする基板206と基板ホル
ダ207が配置されている。205は永久磁石を使用し
た磁界発生手段であり、208は磁界発生手段205の
永久磁石を駆動するためのモータであり、209はモタ
208に電気を供給するモータ電源である。ただし、こ
の図は、前述の第1の実施例のスパッタ電極に対応する
ものであり、第2の実施例のスパッタ電極の場合は、モ
ータ208とその電源関係は除かれる。また、第8図(
b)は、磁界発生手段205が電磁石を使用している点
を除き、第8図(a)とほぼ同じ構成である。なお、磁
界発生手段205の電磁石に電気を供給する電源として
は。
概略構成図であり、同図(a)は磁界発生手段として永
久磁石を使用した場合を示し、同図(b)は磁界発生手
段として電磁石を使用した場合を示す。第8図(a)に
おいて、201は真空槽であり、槽内を真空排気するた
めの排気口202と、槽内にスパッタリングガスを導入
するためのガス導入口203とを備えている。真空槽2
01の内部には、本発明によるスパッタ電極を構成する
ターゲラ1〜板204が設置され、これと対向して、ス
パッタリング成膜を施そうとする基板206と基板ホル
ダ207が配置されている。205は永久磁石を使用し
た磁界発生手段であり、208は磁界発生手段205の
永久磁石を駆動するためのモータであり、209はモタ
208に電気を供給するモータ電源である。ただし、こ
の図は、前述の第1の実施例のスパッタ電極に対応する
ものであり、第2の実施例のスパッタ電極の場合は、モ
ータ208とその電源関係は除かれる。また、第8図(
b)は、磁界発生手段205が電磁石を使用している点
を除き、第8図(a)とほぼ同じ構成である。なお、磁
界発生手段205の電磁石に電気を供給する電源として
は。
実際には第7図に示すように複数の電源から電気を供給
する構成であるが、ここでは簡略化して電磁石電源21
0として示した。この図は、第2の実施例に対応してお
り、第1の実施例の場合には、モータ208とその電源
関係が付加される。
する構成であるが、ここでは簡略化して電磁石電源21
0として示した。この図は、第2の実施例に対応してお
り、第1の実施例の場合には、モータ208とその電源
関係が付加される。
上記スパッタリング装置を用いてスパッタリングを行う
ときには、まず、排気口202に接続された、図示しな
い真空排気口によって真空槽201内部を所定の圧力ま
で排気した後、ガス導入口203からスパッタガスを真
空槽内に導入して、所定の圧力に保持する。第8図(a
)では磁界発生手段205により、ターゲラ1〜板20
4上に弓状磁場が発生しているが、第8図(b)の例で
は、電磁石を使用しているため、電磁石電源210を作
動させ、ターゲット上に磁界を発生させる。その後、図
示しないスパッタ用電源によって、ターゲット板204
を付勢し、スパッタリングが行われる。このときのスパ
ッタには、直流スパッタリングが生じる直流電源と、交
流スパッタリングが生じる交流電源とを使用したが、本
発明の効果は、電源の種類によらず、有効であった。
ときには、まず、排気口202に接続された、図示しな
い真空排気口によって真空槽201内部を所定の圧力ま
で排気した後、ガス導入口203からスパッタガスを真
空槽内に導入して、所定の圧力に保持する。第8図(a
)では磁界発生手段205により、ターゲラ1〜板20
4上に弓状磁場が発生しているが、第8図(b)の例で
は、電磁石を使用しているため、電磁石電源210を作
動させ、ターゲット上に磁界を発生させる。その後、図
示しないスパッタ用電源によって、ターゲット板204
を付勢し、スパッタリングが行われる。このときのスパ
ッタには、直流スパッタリングが生じる直流電源と、交
流スパッタリングが生じる交流電源とを使用したが、本
発明の効果は、電源の種類によらず、有効であった。
第8図(b)の例では、複数の電磁石電源を使用してい
る場合には、ターゲット上に望ましい磁界が発生するよ
うに、あらかじめ決定しておいた電流を、それぞれの電
源から流す。ターゲラ1〜の消費や真空槽の状態によっ
て、望ましい磁界が異なる場合には、電磁石電源の電流
を変更することによって、その都度磁界を変更する。こ
のような電磁石電源210の電流制御は、人手を介して
直接実施することも、図示していないコンピュータを用
いて制御することも可能である。いずれの方法でも、磁
界の変更が行え、本発明の効果が有効であった。
る場合には、ターゲット上に望ましい磁界が発生するよ
うに、あらかじめ決定しておいた電流を、それぞれの電
源から流す。ターゲラ1〜の消費や真空槽の状態によっ
て、望ましい磁界が異なる場合には、電磁石電源の電流
を変更することによって、その都度磁界を変更する。こ
のような電磁石電源210の電流制御は、人手を介して
直接実施することも、図示していないコンピュータを用
いて制御することも可能である。いずれの方法でも、磁
界の変更が行え、本発明の効果が有効であった。
本発明によれば、第1に、マグネトロンスパッタリング
成膜時にターゲット板において均一な深さの侵食を実現
できるため、ターゲット材料の使用効率を上昇させ、タ
ーゲット寿命を延長する効果がある。その結果、ターゲ
ット材料のコストが低減できるとともに、ターゲットの
交換頻度が城少して、生産の効率が向上する。
成膜時にターゲット板において均一な深さの侵食を実現
できるため、ターゲット材料の使用効率を上昇させ、タ
ーゲット寿命を延長する効果がある。その結果、ターゲ
ット材料のコストが低減できるとともに、ターゲットの
交換頻度が城少して、生産の効率が向上する。
また、第2に、他の膜厚分布を修正する手段を全く使用
せずに、スパッタ電極のみで基板上に形成される皮膜の
膜厚分布を制御できるため、有効成膜領域を拡大するこ
とができる。
せずに、スパッタ電極のみで基板上に形成される皮膜の
膜厚分布を制御できるため、有効成膜領域を拡大するこ
とができる。
第1図は本発明によるスパッタ電極の第1の実施例の概
略断面図、第2図はプラズマリング重なり部分を示す説
明図、第3図はスパッタ後のターゲット板侵食深さ分布
を示す図、第4図は第1の実施例での永久磁石の配置の
一例を示す図、第5図はスパッタ電極の第2の実施例の
概略断面図、第6図は基板上の膜厚分布を示す図、第7
図はスパッタ電極の第3の実施例の概略正面図、第8図
は本発明によるスパッタ電極を装備したスパッタリング
装置の概略構成図である。 符号の説明 1・・・ターゲット板 2・・・グロー放電プラズマリング 21・・グロー放電プラズマリング中心線3・・・継鉄 41・・・外側マグネット 5・・・弓状磁界 10・・・ターゲット中心線 152・・・コーナ一部コイル 161・・・直線部コイル電源 162・・・コーナ一部コイル電源 201・・・真空槽 204・・・ターゲラ2
05・・・磁界発生手段 206・・・基板31・・
内側磁極 42・・・内側マグネット 6・・・磁石駆動用モータ 151・・・直線部コイル ト板
略断面図、第2図はプラズマリング重なり部分を示す説
明図、第3図はスパッタ後のターゲット板侵食深さ分布
を示す図、第4図は第1の実施例での永久磁石の配置の
一例を示す図、第5図はスパッタ電極の第2の実施例の
概略断面図、第6図は基板上の膜厚分布を示す図、第7
図はスパッタ電極の第3の実施例の概略正面図、第8図
は本発明によるスパッタ電極を装備したスパッタリング
装置の概略構成図である。 符号の説明 1・・・ターゲット板 2・・・グロー放電プラズマリング 21・・グロー放電プラズマリング中心線3・・・継鉄 41・・・外側マグネット 5・・・弓状磁界 10・・・ターゲット中心線 152・・・コーナ一部コイル 161・・・直線部コイル電源 162・・・コーナ一部コイル電源 201・・・真空槽 204・・・ターゲラ2
05・・・磁界発生手段 206・・・基板31・・
内側磁極 42・・・内側マグネット 6・・・磁石駆動用モータ 151・・・直線部コイル ト板
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、真空槽内に取り付けられ、ターゲット板と、該ター
ゲット板の真空槽側表面上に弓状磁界を発生せしめる磁
界発生手段とを具備し、該ターゲット板に近接して環状
グロー放電プラズマを発生させてスパッタリングを行う
プレーナマグネトロン型のスパッタ電極において、該環
状グロー放電プラズマを生じる磁界の強度を、該環状グ
ロー放電プラズマまたはターゲット板の特定部分におい
て他の部分と異なった強度とする手段を設けたことを特
徴とするスパッタ電極。 2、特許請求の範囲第1項に記載のスパッタ電極におい
て、スパッタ電極が、磁界発生手段によって弓状磁界の
分布を変化させることにより、ターゲット板上で環状グ
ロー放電プラズマの移動が可能で、かつ該移動に際して
、該ターゲット板の特定部分において他の部分に比較し
てグロー放電プラズマの通過頻度が高いかまたは通過時
間が長いスパッタ電極であり、かつ該磁界発生手段が該
特定部分に発生する磁界の強度が他の部分に発生する磁
界の強度よりも小さくなるようにする手段を設けたこと
を特徴とするスパッタ電極。 3、特許請求の範囲第1項に記載のスパッタ電極におい
て、スパッタ電極が、環状グロー放電プラズマがターゲ
ット板上の特定位置に固定されていて、かつ該ターゲッ
ト板に対向して被成膜基板が位置するようになされたス
パッタ電極であり、かつ磁界発生手段が特定部分に発生
する磁界の強度と他の部分に発生する磁界の強度と異な
る値になるようにする手段を設けたことを特徴とするス
パッタ電極。 4、特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか1項
に記載のスパッタ電極において、磁界発生手段が永久磁
石もしくは永久磁石と継鉄とからなり、かつ磁界の強度
を変える手段が、特定部分に対応する該永久磁石の起磁
力もしくは形状または該永久磁石とターゲット板との距
離を他の部分と異ならせるか、あるいは該継鉄の形状ま
たは該継鉄とターゲット板との距離を他の部分と異なら
せるものであることを特徴とするスパッタ電極。 5、特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか1項
に記載のスパッタ電極において、磁界発生手段が単一ま
たは複数の電磁石と継鉄とからなり、かつ磁界の強度を
変える手段が、特定部分に対応する該電磁石の起磁力も
しくは形状または該電磁石とターゲット板との距離を他
の部分と異ならせるか、あるいは該継鉄の形状または該
継鉄とターゲット板との距離を他の部分と異ならせるも
のであることを特徴とするスパッタ電極。 6、真空槽、真空排気機構、スパッタリングガス導入機
構および電源を具備し、かつ特許請求の範囲第1項ない
し第5項のいずれか1項に記載のスパッタ電極を装備し
てなることを特徴とするスパッタリング装置。 7、特許請求の範囲第6項に記載のスパッタリング装置
を使用してスパッタリングを行うことを特徴とするスパ
ッタリング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23869788A JPH0288766A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | スパッタ電極、スパッタリング装置およびスパッタリング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23869788A JPH0288766A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | スパッタ電極、スパッタリング装置およびスパッタリング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0288766A true JPH0288766A (ja) | 1990-03-28 |
Family
ID=17033954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23869788A Pending JPH0288766A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | スパッタ電極、スパッタリング装置およびスパッタリング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0288766A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0417671A (ja) * | 1990-05-11 | 1992-01-22 | Ube Ind Ltd | 通過式スパッタリング方法および装置 |
| JP2007039712A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Ulvac Japan Ltd | スパッタリング装置、成膜方法 |
| WO2008140060A1 (ja) | 2007-05-09 | 2008-11-20 | The University Of Tokyo | 活性化プロテアーゼインジケーター |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61246367A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-01 | Nec Corp | マグネトロン型スパツタリング装置 |
| JPS62142765A (ja) * | 1985-12-17 | 1987-06-26 | Rohm Co Ltd | マグネトロンスパツタにおける膜厚調整方法 |
-
1988
- 1988-09-26 JP JP23869788A patent/JPH0288766A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61246367A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-01 | Nec Corp | マグネトロン型スパツタリング装置 |
| JPS62142765A (ja) * | 1985-12-17 | 1987-06-26 | Rohm Co Ltd | マグネトロンスパツタにおける膜厚調整方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0417671A (ja) * | 1990-05-11 | 1992-01-22 | Ube Ind Ltd | 通過式スパッタリング方法および装置 |
| JP2007039712A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Ulvac Japan Ltd | スパッタリング装置、成膜方法 |
| WO2008140060A1 (ja) | 2007-05-09 | 2008-11-20 | The University Of Tokyo | 活性化プロテアーゼインジケーター |
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