JPS62142765A - マグネトロンスパツタにおける膜厚調整方法 - Google Patents
マグネトロンスパツタにおける膜厚調整方法Info
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- JPS62142765A JPS62142765A JP28493485A JP28493485A JPS62142765A JP S62142765 A JPS62142765 A JP S62142765A JP 28493485 A JP28493485 A JP 28493485A JP 28493485 A JP28493485 A JP 28493485A JP S62142765 A JPS62142765 A JP S62142765A
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は、マグネトロンスパッタにおいて基板上に形
成される薄膜の膜厚分布を均一に調整する膜厚分布調整
方法に関する。
成される薄膜の膜厚分布を均一に調整する膜厚分布調整
方法に関する。
(ロ)従来の技術
従来、マグネトロンスパッタにおいては、同一の磁力を
有するl又は2の磁石片を組合わせた磁石により、アル
ミニウム(A!り仮等よりなるターゲット近傍に磁場を
形成していた。
有するl又は2の磁石片を組合わせた磁石により、アル
ミニウム(A!り仮等よりなるターゲット近傍に磁場を
形成していた。
例えば、プレーナマグネトロンスバフタ装置においては
、第5図に示すように、磁石支持板37上中央に、角棒
状の永久磁石よりなる磁石片38を−の磁極が上面とな
るように取着けし、さらに前記支持板37周縁上には、
前記磁石片38を囲むような枠状の、磁石片38と同じ
高さの永久磁石よりなる磁石片39が、磁石片38と反
対の磁極を上面として取付たちのが知られている。
、第5図に示すように、磁石支持板37上中央に、角棒
状の永久磁石よりなる磁石片38を−の磁極が上面とな
るように取着けし、さらに前記支持板37周縁上には、
前記磁石片38を囲むような枠状の、磁石片38と同じ
高さの永久磁石よりなる磁石片39が、磁石片38と反
対の磁極を上面として取付たちのが知られている。
(ハ)発明が解決しようとする問題点
上記従来の磁石を用いてターゲット近傍空間に磁界を形
成するマグネトロンスパッタにおいては、ターゲットの
材質等の相違により、ターゲソ1−に対向して置かれる
基板上に形成される薄膜の膜厚分布が不均一となる場合
があったが、その場合には、ターゲットや基板の位置を
調整するごとにより、基板上に形成される薄膜の膜厚分
布を均一になるように調整していた。しかし、この調整
操作によっては、おおまかな膜厚調整しか行うことがて
きず、膜厚の不均一を完全に取除くことは困蓮である不
都合があった。
成するマグネトロンスパッタにおいては、ターゲットの
材質等の相違により、ターゲソ1−に対向して置かれる
基板上に形成される薄膜の膜厚分布が不均一となる場合
があったが、その場合には、ターゲットや基板の位置を
調整するごとにより、基板上に形成される薄膜の膜厚分
布を均一になるように調整していた。しかし、この調整
操作によっては、おおまかな膜厚調整しか行うことがて
きず、膜厚の不均一を完全に取除くことは困蓮である不
都合があった。
また、11;1記クーゲノ1やJ、(板等は、真空容器
内に16′かhているため、上記、+1!]整ト■作は
手間がかかる不都合もあった。
内に16′かhているため、上記、+1!]整ト■作は
手間がかかる不都合もあった。
この発明は、上記不都合に鑑みなされたもので、膜厚調
整操作が容易で、且つ細かな膜IN、調Jβを可能にす
るマグネトロンスパッタの膜厚調整方法の1に供を目的
としている。
整操作が容易で、且つ細かな膜IN、調Jβを可能にす
るマグネトロンスパッタの膜厚調整方法の1に供を目的
としている。
(ニ)問題点を解決するだめの手段
上記不都合を解決するための手段として、この発明のマ
グネトロンスパ・7タにおける膜厚調整方法は、第1に
、ターゲット近傍空間に磁界を形成するだめの磁石を3
以上の磁石片より構成し、第2に、これら磁石片の極と
ターゲット間の距離及び/又は磁力をそれぞれ独立に可
変とし、前記ターゲット近傍空間に形成される磁界の分
布を変更可jiヒとしている。
グネトロンスパ・7タにおける膜厚調整方法は、第1に
、ターゲット近傍空間に磁界を形成するだめの磁石を3
以上の磁石片より構成し、第2に、これら磁石片の極と
ターゲット間の距離及び/又は磁力をそれぞれ独立に可
変とし、前記ターゲット近傍空間に形成される磁界の分
布を変更可jiヒとしている。
(ホ)作用
ごの発明のマグネトロンスパッタにおける膜厚調整カン
去は、磁石を3以上の磁石片より構成し、各々の磁石片
とターゲ、1・間の距離・磁力を独立に可変とした結果
、ターゲット近傍空間に形成されるril界の分布を細
かく変更するごとが可11ピどなる。そして、ターゲッ
ト上に発生ずるプラズマの密度も細かく変更することが
可能となり、プラズマ中のアルゴンガス等の分子がクー
ゲット表面に衝突し、ターゲソI・表面から飛出ずアル
ミニウムなどの原子の数が制御できる結果、基板表面に
形成される薄膜の膜厚分布を細かく均一に3PJ整する
ことが可能である。
去は、磁石を3以上の磁石片より構成し、各々の磁石片
とターゲ、1・間の距離・磁力を独立に可変とした結果
、ターゲット近傍空間に形成されるril界の分布を細
かく変更するごとが可11ピどなる。そして、ターゲッ
ト上に発生ずるプラズマの密度も細かく変更することが
可能となり、プラズマ中のアルゴンガス等の分子がクー
ゲット表面に衝突し、ターゲソI・表面から飛出ずアル
ミニウムなどの原子の数が制御できる結果、基板表面に
形成される薄膜の膜厚分布を細かく均一に3PJ整する
ことが可能である。
また、ターゲットや基板の位置を調節する必要がないの
で、膜厚の調整操作を容易化できる。
で、膜厚の調整操作を容易化できる。
(へ)実施例
この発明の一実施例を、第1し1乃至第4図に基づいて
、以下に説明する。
、以下に説明する。
第2図は、この発明の膜厚調整方法が適用されるプレー
ナマグネトロンスパッタ装置lの縦断面図である。2は
、基台4上にヘルジャ−3を載置して構成される真空容
器である。基台4には、下方より、図示しない1−L空
ポンプに接続されるパイプ5が挿通され、真空容器2内
の空気が排気され、高真空に保たれる。また、W台・1
中夫には、長方形成の開1]部6が開設されている。
ナマグネトロンスパッタ装置lの縦断面図である。2は
、基台4上にヘルジャ−3を載置して構成される真空容
器である。基台4には、下方より、図示しない1−L空
ポンプに接続されるパイプ5が挿通され、真空容器2内
の空気が排気され、高真空に保たれる。また、W台・1
中夫には、長方形成の開1]部6が開設されている。
前記開口部6は、フッ素樹脂等よりなるインシュレータ
7aを介して、カソード9上面により下方から閉塞され
る。カソード9は、下面を基台4下面にボルト7C17
Cで固着されるL字状のフッ素樹脂等よりなるインシュ
レータ7b、7bにより支持されている。このカソード
9は、1つの極か接地されている直流又は高周波電圧源
■の他の極に接続される。1111記力ソード9上面に
は、凹部10が設&Jられ、さらに、この四部10を密
閉するように、八ソー1−ングプレ−1−11によって
被蓋される。前記四部10内には、図示しない循環手段
により冷却水Wが循環される。前記ハフ:1−ングプレ
−1・11上には、アルミニウム、等よりなる〃 ゲノ
I・12が固定される。さらに、開口部6」二縁に沿っ
てシールF’ 8が設けられ、カソード9−L而及びハ
、=12ングプレ−1−11の周縁を遮蔽している。
7aを介して、カソード9上面により下方から閉塞され
る。カソード9は、下面を基台4下面にボルト7C17
Cで固着されるL字状のフッ素樹脂等よりなるインシュ
レータ7b、7bにより支持されている。このカソード
9は、1つの極か接地されている直流又は高周波電圧源
■の他の極に接続される。1111記力ソード9上面に
は、凹部10が設&Jられ、さらに、この四部10を密
閉するように、八ソー1−ングプレ−1−11によって
被蓋される。前記四部10内には、図示しない循環手段
により冷却水Wが循環される。前記ハフ:1−ングプレ
−1・11上には、アルミニウム、等よりなる〃 ゲノ
I・12が固定される。さらに、開口部6」二縁に沿っ
てシールF’ 8が設けられ、カソード9−L而及びハ
、=12ングプレ−1−11の周縁を遮蔽している。
このターゲノ1−12上方には、ターゲット12表面に
対向するように、図示しない支持手段によって、表面に
薄膜を形成すべき基板13が支持され、適当な手段によ
り接地又はバイアス電圧が加えられる。
対向するように、図示しない支持手段によって、表面に
薄膜を形成すべき基板13が支持され、適当な手段によ
り接地又はバイアス電圧が加えられる。
カソード9下面には、磁石16がボルト14.14によ
ってカソード9下面に固着される磁石押さえ部材15.
15により取付けられる。磁石16は、第1図に示すよ
うに、支持板17上の中央には磁極の内の1極、例えば
N極を上面にし、永久磁石よりなる磁石片18a、18
bが並べて固着される。一方、支持板17周縁上には、
前記磁石片18a、18′上面の磁性とは反対の[伍、
この場合にはS極を上面にして、永久磁石よりなる磁石
片19a、19b、20a、20b、20C120dが
枠状に配され、取付けられる。1lfi石片18aと1
8b、1.9aと19b、20a20b、20cと20
dは、磁力及びその高さ、すなわら磁極とタルゲット間
の距離の異なるものを含ませるごとができる。あるいは
、各磁石片のそれぞれの支詩板17に対する高さを調整
する機構を設けることができる。
ってカソード9下面に固着される磁石押さえ部材15.
15により取付けられる。磁石16は、第1図に示すよ
うに、支持板17上の中央には磁極の内の1極、例えば
N極を上面にし、永久磁石よりなる磁石片18a、18
bが並べて固着される。一方、支持板17周縁上には、
前記磁石片18a、18′上面の磁性とは反対の[伍、
この場合にはS極を上面にして、永久磁石よりなる磁石
片19a、19b、20a、20b、20C120dが
枠状に配され、取付けられる。1lfi石片18aと1
8b、1.9aと19b、20a20b、20cと20
dは、磁力及びその高さ、すなわら磁極とタルゲット間
の距離の異なるものを含ませるごとができる。あるいは
、各磁石片のそれぞれの支詩板17に対する高さを調整
する機構を設けることができる。
次に、この実施例に使用されるプレーナマグネトロンス
パッタ装置ス lの使用例を説明する。
パッタ装置ス lの使用例を説明する。
先ず、ペルジャー3を上方に上げて、バッキングプレー
1−11上にターゲノ1−12を、図示しない支持手段
に基板13 (被膜が必要な面を下方に向ける)をそれ
ぞれセントする。
1−11上にターゲノ1−12を、図示しない支持手段
に基板13 (被膜が必要な面を下方に向ける)をそれ
ぞれセントする。
次いで、・ペルジャー3を基台4上に降ろし、真空容器
2を密閉し、パイプ5より真空容器2内の空気を排気し
、高真空状態が得られたならば、図示しない注入手段に
よりアルゴンガス等を少量、真空容器2内に注入する。
2を密閉し、パイプ5より真空容器2内の空気を排気し
、高真空状態が得られたならば、図示しない注入手段に
よりアルゴンガス等を少量、真空容器2内に注入する。
そして、カソード9と基板13には、電圧源■の直流又
は高周波電圧(例えば5KV)が加えられる。
は高周波電圧(例えば5KV)が加えられる。
以下、アルゴンガスを例にとって説明を続けると、アル
ゴンガスの分子は、カソード9と基板13間に生した電
界によりアルゴン陽イオン(以下Ar” と記す)と電
子e−に電離される。A r、 +はタ〜ゲノ1−12
表面に衝突し、ターゲット12表面のAl原子を−L方
に飛出させる。また、前記Ar’及び電子e−は、ター
ゲット12近傍に形成される((1石16の磁場に捉え
られ、ナイクロイト運動をし、このサイクロイド運動す
るAr’及び電子e−がアルゴン分子に衝突して電離さ
せ、Ar’ と電子e−が増殖される結果、密度の高い
プラズマがターゲット12近傍に発生する。このプラズ
マ中よりA r +がターゲット12表面に衝突し、さ
らに多くのAl原子が上方に飛ばされる。
ゴンガスの分子は、カソード9と基板13間に生した電
界によりアルゴン陽イオン(以下Ar” と記す)と電
子e−に電離される。A r、 +はタ〜ゲノ1−12
表面に衝突し、ターゲット12表面のAl原子を−L方
に飛出させる。また、前記Ar’及び電子e−は、ター
ゲット12近傍に形成される((1石16の磁場に捉え
られ、ナイクロイト運動をし、このサイクロイド運動す
るAr’及び電子e−がアルゴン分子に衝突して電離さ
せ、Ar’ と電子e−が増殖される結果、密度の高い
プラズマがターゲット12近傍に発生する。このプラズ
マ中よりA r +がターゲット12表面に衝突し、さ
らに多くのAl原子が上方に飛ばされる。
このように、ターゲット12表面より飛出したAl原子
が、基板13表面に捉えられて堆積し、Affの薄膜が
形成されるが、ターゲット12の材質等の微妙な相違に
より、基板13表面に形成される薄膜の膜厚分布が均一
とならない場合には、ボルト14.14を緩めて磁石1
6を取外し、磁石16を構成する磁石片18a、18b
、19a、19b、20a、20 b、 20 c、
20 dの内、必要なものを予め用意されている磁力又
は高さの異なる磁石片と交換した後、再度、カソード9
下面に取付ける。
が、基板13表面に捉えられて堆積し、Affの薄膜が
形成されるが、ターゲット12の材質等の微妙な相違に
より、基板13表面に形成される薄膜の膜厚分布が均一
とならない場合には、ボルト14.14を緩めて磁石1
6を取外し、磁石16を構成する磁石片18a、18b
、19a、19b、20a、20 b、 20 c、
20 dの内、必要なものを予め用意されている磁力又
は高さの異なる磁石片と交換した後、再度、カソード9
下面に取付ける。
一最に、ターゲット12上の磁場の強い部分と対向する
基板13表面に一形成される薄膜の膜厚は大きくなるた
め、基板13表面の薄膜の膜厚の小さい部分に対向する
ターゲット12の部分の下方に位置する1又は2以上の
磁石片を、磁力の強いもの又は高さが高いものと交換し
、ターゲット12の当該部分の薄膜の膜厚が大きい部分
が生じた場合には、上記操作と逆の操作を行う。
基板13表面に一形成される薄膜の膜厚は大きくなるた
め、基板13表面の薄膜の膜厚の小さい部分に対向する
ターゲット12の部分の下方に位置する1又は2以上の
磁石片を、磁力の強いもの又は高さが高いものと交換し
、ターゲット12の当該部分の薄膜の膜厚が大きい部分
が生じた場合には、上記操作と逆の操作を行う。
薄膜の形成された基板13は、真空容器2内に空気を導
入し、大気圧とした後、ヘルジャ−3を上方に上げて、
外部に取出される。
入し、大気圧とした後、ヘルジャ−3を上方に上げて、
外部に取出される。
なお、この実施例に示す装置は、単品制作用の比較的節
易なプレーナマグネトロンスパッタ装置であるが、多数
の2.(板を処理するために、基板を真空容器に搬入、
搬出するための+C送手段を備え、自動化されたプレー
ナマグネトロンスパッタ装置にも、この発明の膜厚調整
方法は適用できるものである。
易なプレーナマグネトロンスパッタ装置であるが、多数
の2.(板を処理するために、基板を真空容器に搬入、
搬出するための+C送手段を備え、自動化されたプレー
ナマグネトロンスパッタ装置にも、この発明の膜厚調整
方法は適用できるものである。
第3図及び第4図は、この発明の第2の実施例に使用さ
れる磁石26の外観斜視図及び縦断面図をそれぞれ示し
ている。この磁石26は、支詩板27上に電磁石片28
.28.29.29.30、・・・・・・、30を前記
第1の実施例と同様に配され、固着される。これら電磁
石片28.28.29.29.30、・・・・・・、3
0は、それぞれ同じ高さのコア28a、28a、29a
、29a、30a1・・・・・・、30aの側部に巻線
28b、28b、29b、29b、30b1・・・・・
・、30bをそれぞれ巻着している。各巻線28b、2
8b、29b、29b、30b1・・・・・・、30b
の始端及び終端は、図示しない電圧源に接続され、各々
その流れる電流が個別に制御・調整される。
れる磁石26の外観斜視図及び縦断面図をそれぞれ示し
ている。この磁石26は、支詩板27上に電磁石片28
.28.29.29.30、・・・・・・、30を前記
第1の実施例と同様に配され、固着される。これら電磁
石片28.28.29.29.30、・・・・・・、3
0は、それぞれ同じ高さのコア28a、28a、29a
、29a、30a1・・・・・・、30aの側部に巻線
28b、28b、29b、29b、30b1・・・・・
・、30bをそれぞれ巻着している。各巻線28b、2
8b、29b、29b、30b1・・・・・・、30b
の始端及び終端は、図示しない電圧源に接続され、各々
その流れる電流が個別に制御・調整される。
・この磁石26は、第1の実施例で使用したプレーナマ
グネトロンスパッタ装置lのカソード9底面に取付けて
使用される。基板13表面に形成される薄膜の膜厚分布
の調整を行うには、各巻線28b、28b、29b、2
9b、30b、・・・・・・、30bに流れる電流を調
整し、ターゲツト12近傍空間に形成される磁界の強度
・分布を変えることにより行われる。
グネトロンスパッタ装置lのカソード9底面に取付けて
使用される。基板13表面に形成される薄膜の膜厚分布
の調整を行うには、各巻線28b、28b、29b、2
9b、30b、・・・・・・、30bに流れる電流を調
整し、ターゲツト12近傍空間に形成される磁界の強度
・分布を変えることにより行われる。
なお、この磁石26は、真空容器2外部からカソード9
底面に取付けする代わりに、真空容器2内に設け、電流
導入端子を介して各電磁石片の巻線28b、28b、2
9b、29b、3Qb、・・・・・・、30bに電流を
流せるように構成してもよい。
底面に取付けする代わりに、真空容器2内に設け、電流
導入端子を介して各電磁石片の巻線28b、28b、2
9b、29b、3Qb、・・・・・・、30bに電流を
流せるように構成してもよい。
また、上記第1及び第2の実施例においては、プレーナ
マグネトロンスパッタ装置にこの発明の膜厚調整方法を
適用したものを示しているが、5−Gunスパッタ装置
や同軸マグネトロンスパッタ装置等の他のマグネトロン
スパッタ装置についても応用可能なものである。
マグネトロンスパッタ装置にこの発明の膜厚調整方法を
適用したものを示しているが、5−Gunスパッタ装置
や同軸マグネトロンスパッタ装置等の他のマグネトロン
スパッタ装置についても応用可能なものである。
(ト)発明の効果
この発明のマグネトロンスパッタにおける膜厚調整方法
は、ターゲ・7ト近傍空間に磁界を形成するための磁石
を3以上の磁石片より構成すると共に、各磁石片のその
磁極と前記ターゲット間の距qt及び/又は前記各磁石
片の磁力を変化させ、前記ターゲット近傍空間に生じる
磁界の分布を変更し、前記ターゲラ1−に対向して位置
する基板上に形成される薄膜の膜厚分布を調整するもの
であるから、クーゲット材質等により生じる前記膜厚分
布の不均一をターゲット近傍空間に生じる磁界を細かく
変更することによって防止できる利点を有すると共に、
真空容器内のターゲット(カソード)と基板間の距離を
変更することなく、前記膜厚分布を容易に調整できる利
点を有する。
は、ターゲ・7ト近傍空間に磁界を形成するための磁石
を3以上の磁石片より構成すると共に、各磁石片のその
磁極と前記ターゲット間の距qt及び/又は前記各磁石
片の磁力を変化させ、前記ターゲット近傍空間に生じる
磁界の分布を変更し、前記ターゲラ1−に対向して位置
する基板上に形成される薄膜の膜厚分布を調整するもの
であるから、クーゲット材質等により生じる前記膜厚分
布の不均一をターゲット近傍空間に生じる磁界を細かく
変更することによって防止できる利点を有すると共に、
真空容器内のターゲット(カソード)と基板間の距離を
変更することなく、前記膜厚分布を容易に調整できる利
点を有する。
第1図は、この発明の第1の実施例に使用される磁石の
外観斜視図、第2図は、この発明の第1及び第2の実施
例に共通して使用されるプレーナマグネトロンスパッタ
装置の縦断面図、第3図はこの発明の第2の実施例に使
用される磁石の外観斜視図、第4図は、同磁石の縦断面
図、第5図は、従来の磁石の外観斜視図である。 12:ターゲット、 13:基板1 .16・26:磁石、 18a・18b・19a・19b20a・20b20c
・20d28・2829・29・30・・・・・・30
: if1石片。 第1図 第5図 あ
外観斜視図、第2図は、この発明の第1及び第2の実施
例に共通して使用されるプレーナマグネトロンスパッタ
装置の縦断面図、第3図はこの発明の第2の実施例に使
用される磁石の外観斜視図、第4図は、同磁石の縦断面
図、第5図は、従来の磁石の外観斜視図である。 12:ターゲット、 13:基板1 .16・26:磁石、 18a・18b・19a・19b20a・20b20c
・20d28・2829・29・30・・・・・・30
: if1石片。 第1図 第5図 あ
Claims (1)
- (1)ターゲット近傍空間に磁界を形成するための磁石
を3以上の磁石片により構成すると共に、その磁極と前
記ターゲット間の距離及び/またはその磁力をそれぞれ
変化させ、前記ターゲット近傍空間に形成される磁界の
分布を変更し、前記ターゲットに対向して位置する基板
上に形成される薄膜の膜厚分布を調整するマグネトロン
スパッタにおける膜厚調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60284934A JPH0726202B2 (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | マグネトロンスパッタにおける膜厚調整方法 |
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| JP60284934A JPH0726202B2 (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | マグネトロンスパッタにおける膜厚調整方法 |
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| JPH0726202B2 JPH0726202B2 (ja) | 1995-03-22 |
Family
ID=17684950
Family Applications (1)
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| JP60284934A Expired - Lifetime JPH0726202B2 (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | マグネトロンスパッタにおける膜厚調整方法 |
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-
1985
- 1985-12-17 JP JP60284934A patent/JPH0726202B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
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| JPH0726202B2 (ja) | 1995-03-22 |
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