JPH0288936A - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
- Publication number
- JPH0288936A JPH0288936A JP63239740A JP23974088A JPH0288936A JP H0288936 A JPH0288936 A JP H0288936A JP 63239740 A JP63239740 A JP 63239740A JP 23974088 A JP23974088 A JP 23974088A JP H0288936 A JPH0288936 A JP H0288936A
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- JP
- Japan
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- light
- fiber
- detector
- signal
- optical
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は光パルス試験器に係り、特に被測定ファイバか
らの戻り光の検出信号を処理する信号処理装置のトリガ
のとり方を工夫した光パルス試験器に関するものである
。
らの戻り光の検出信号を処理する信号処理装置のトリガ
のとり方を工夫した光パルス試験器に関するものである
。
［従来の技術］
従来の、光パルス試験器を第３図に示す。パルス発振器
１１により、レーザー１２をパルス発光させ（レーザー
１２は、半導体、気体、固体レーザー等である。）被測
定ファイバ１４に入射させる。被測定ファイバ１４から
は、入射光強度に応じた後方散乱光が、入射方向とは逆
向きに戻ってくる。この光は、光方向性結合器１３によ
り、光路を切り換えられ、検出器１５にて検出された後
、信号処理装置１６及び、コンビエータ−１７にて必要
な情報に変換される。この時、信号処理・の基準信号（
トリガ信号）としては、通常パルス発振器１１のクロッ
ク信号が用いられていた。
１１により、レーザー１２をパルス発光させ（レーザー
１２は、半導体、気体、固体レーザー等である。）被測
定ファイバ１４に入射させる。被測定ファイバ１４から
は、入射光強度に応じた後方散乱光が、入射方向とは逆
向きに戻ってくる。この光は、光方向性結合器１３によ
り、光路を切り換えられ、検出器１５にて検出された後
、信号処理装置１６及び、コンビエータ−１７にて必要
な情報に変換される。この時、信号処理・の基準信号（
トリガ信号）としては、通常パルス発振器１１のクロッ
ク信号が用いられていた。
また半導体レーザーなどでは発光面とは逆の面に、検出
器を設け、光を電気信号に変え、トリガ信号としている
ものもあった。
器を設け、光を電気信号に変え、トリガ信号としている
ものもあった。
［発明が解決しようとする課題］
従来の光パルス試験器は、前述のような構成を有してい
るので、パルス発振器の電気的信号が発振してからレー
ザーが発光するまでに時間的遅延がある０通常この時間
的遅延は１〜２（μＳ）のオーダーであるが、数１０（
ｎｓ）のオーダーで考えた場合、必ずしも常に一定とは
なっていないのが現状である。
るので、パルス発振器の電気的信号が発振してからレー
ザーが発光するまでに時間的遅延がある０通常この時間
的遅延は１〜２（μＳ）のオーダーであるが、数１０（
ｎｓ）のオーダーで考えた場合、必ずしも常に一定とは
なっていないのが現状である。
光パルス試験器において、その検出信号が微弱な為、通
常１０．０００回程度のアベレージング処理が行なわれ
るが、上記のような発光タイミングのバラつきがあると
得られる情報にも誤差を生じ、分解能の低下を招く、恐
れがあった。
常１０．０００回程度のアベレージング処理が行なわれ
るが、上記のような発光タイミングのバラつきがあると
得られる情報にも誤差を生じ、分解能の低下を招く、恐
れがあった。
この問題点を、解決する為に、半導体レーザーパッケー
ジの中に発光面とは逆向きに、検出器を設は光を電気信
号に変え、トリガ信号をとるというものもあるが、これ
らの半導体レーザーは、数１０＋ａｗ程度の出力である
為、分布型光フアイバ温度センサ等に用いるには、出力
が低すぎるなどの問題点があった。
ジの中に発光面とは逆向きに、検出器を設は光を電気信
号に変え、トリガ信号をとるというものもあるが、これ
らの半導体レーザーは、数１０＋ａｗ程度の出力である
為、分布型光フアイバ温度センサ等に用いるには、出力
が低すぎるなどの問題点があった。
［課題を解決するための手段］
本発明は、前述の問題点を解決すべくなされたものであ
り、被測定ファイバへパルスレーザ−光を入射する光源
と、被測定ファイバからの戻り光を検出器へ光路変換す
る光方向性結合器と、検出器からの信号を処理する信号
処理装置とを具備してなる光パルス試験器において、光
源からの入射光又は被測定ファイバからの戻り光のいず
れかを検出する他の検出器を設けて、前記能の検出器に
よって取り出された信号を前記信号処理装置の同期をと
るためのトリガ信号とすることを特徴とする光パルス試
験器を提供するものである。
り、被測定ファイバへパルスレーザ−光を入射する光源
と、被測定ファイバからの戻り光を検出器へ光路変換す
る光方向性結合器と、検出器からの信号を処理する信号
処理装置とを具備してなる光パルス試験器において、光
源からの入射光又は被測定ファイバからの戻り光のいず
れかを検出する他の検出器を設けて、前記能の検出器に
よって取り出された信号を前記信号処理装置の同期をと
るためのトリガ信号とすることを特徴とする光パルス試
験器を提供するものである。
［作用］
本発明において、光パルス試験器のトリガ信号にレーザ
ー光を直接用いたり、被測定ファイバからの近端フレネ
ル反射光を用いる機構は、光源用のレーザーの入力電気
信号と発光の時間的遅延及びその変動の影響を解消する
ことができ、測定誤差の減少及び安定した高分解能を得
ることができる。
ー光を直接用いたり、被測定ファイバからの近端フレネ
ル反射光を用いる機構は、光源用のレーザーの入力電気
信号と発光の時間的遅延及びその変動の影響を解消する
ことができ、測定誤差の減少及び安定した高分解能を得
ることができる。
本発明の、光パルス試験器の１実施例を第１図に示す、
大出力パルス発振型のレーザー２からのパルスレーザ−
光を、光の進向方向に対して傾けて配置された低反射ミ
ラー（反射率数％程度）にて分離し、ピンフォトダイオ
ードなどの光検出器７に入射する。入射された光は０／
Ｅ変換され、同期信号として、信号処理装置８に接続さ
れる。
大出力パルス発振型のレーザー２からのパルスレーザ−
光を、光の進向方向に対して傾けて配置された低反射ミ
ラー（反射率数％程度）にて分離し、ピンフォトダイオ
ードなどの光検出器７に入射する。入射された光は０／
Ｅ変換され、同期信号として、信号処理装置８に接続さ
れる。
また、第２図にもう１つの実施例を示す６分布型光ファ
イバ温度センサの場合、検出対象となるのは、レーザー
２からの光に対して、波長がシフトしたストークス光、
反ストークス光である為、入射レーザー光と、同波長成
分は、検出機構に対して遮断されなければならない。そ
こで、光方向性、結合器４内にフィルター１０゜１０’
を設け、ラマン散乱成分は検出器６へ、レーザー光と同
波長成分は検出器６′へ導かれるようにする。検出器６
′へは、近端フレネル成分や、シー９−敗乱成分が検出
される。この時近端フレネル反射光は、被測定ファイバ
端面での反射光である為、非常にレベルが大きい成分で
あり（入射レーザー光の３〜５％程度）これをシステム
の同期信号に用いることもできる。
イバ温度センサの場合、検出対象となるのは、レーザー
２からの光に対して、波長がシフトしたストークス光、
反ストークス光である為、入射レーザー光と、同波長成
分は、検出機構に対して遮断されなければならない。そ
こで、光方向性、結合器４内にフィルター１０゜１０’
を設け、ラマン散乱成分は検出器６へ、レーザー光と同
波長成分は検出器６′へ導かれるようにする。検出器６
′へは、近端フレネル成分や、シー９−敗乱成分が検出
される。この時近端フレネル反射光は、被測定ファイバ
端面での反射光である為、非常にレベルが大きい成分で
あり（入射レーザー光の３〜５％程度）これをシステム
の同期信号に用いることもできる。
第１図に示した実施例において、光路変換器としては入
射光の１部を検出器７へ導光するものが好ましく、ハー
フミラ−の他にプリズムを利用したビームスプリッタ−
や光ファイバ、光導波路を利用した光分配器を用いるこ
とができる。該光路変換器は、光源であるレーザー２と
被測定ファイバ５の入射端面との光路上のどこかに配置
すれば良いが、レーザー２と光方向性結合器４との間の
光路上に設けるのが被測定。
射光の１部を検出器７へ導光するものが好ましく、ハー
フミラ−の他にプリズムを利用したビームスプリッタ−
や光ファイバ、光導波路を利用した光分配器を用いるこ
とができる。該光路変換器は、光源であるレーザー２と
被測定ファイバ５の入射端面との光路上のどこかに配置
すれば良いが、レーザー２と光方向性結合器４との間の
光路上に設けるのが被測定。
ファイバ５からの戻り光を測定するうえで好ましい、光
方向性結合器４としては音響光学素子、電気光学効果型
素子、磁気光学効果型素子、光導波路型光スイッチ等を
用いることができる。検出器７としてはフォトダイ、オ
ード、ＣＣＤ等が用いられる。
方向性結合器４としては音響光学素子、電気光学効果型
素子、磁気光学効果型素子、光導波路型光スイッチ等を
用いることができる。検出器７としてはフォトダイ、オ
ード、ＣＣＤ等が用いられる。
第２図の実施例において、近端フレネル反射光を取り出
す光路変換器は光方向性結合器４と検出器６との間の光
路上に設けるのが測定の感度の点で好ましい。該光路変
換器としてはプリズムを利用したフィルター等を組み合
せて用いても良い。
す光路変換器は光方向性結合器４と検出器６との間の光
路上に設けるのが測定の感度の点で好ましい。該光路変
換器としてはプリズムを利用したフィルター等を組み合
せて用いても良い。
［発明の効果］
本発明は、測定誤差の減少及び安定した高分解能が得ら
れるなどの優れた効果を有している。
れるなどの優れた効果を有している。
本発明の光パルス試験器は、光学系での継続的な位置ズ
レな光速で割った程度の誤差しか生じないが、光学系の
位置ズレはほとんどない為、誤差はほとんど無視できる
。また、使用するレーザーに半導体、気体、固体レーザ
ー等のいかなるレーザーを用いた場合でも、その駆動回
路から、同期信号をとらない為、同じように、高分解能
を得ることができる。
レな光速で割った程度の誤差しか生じないが、光学系の
位置ズレはほとんどない為、誤差はほとんど無視できる
。また、使用するレーザーに半導体、気体、固体レーザ
ー等のいかなるレーザーを用いた場合でも、その駆動回
路から、同期信号をとらない為、同じように、高分解能
を得ることができる。
第１図と第２図は本発明の２つの実施例を示し、第１図
は入射光の１部からトリガ信号をとり出した光パルス試
験器のブロック図であり、第２図は近端フレネル反射光
からトリガ信号をとり出した光パルス試験器のブロック
図であり、第３図は従来の光パルス試験器のブロック図
である。 １・・・パルス発振器、 ２・・・レーザー４・・・光
方向性結合器、５・・・被測定ファイバ。 第 １ 回 第 ３ 面 萬 ２ 回
は入射光の１部からトリガ信号をとり出した光パルス試
験器のブロック図であり、第２図は近端フレネル反射光
からトリガ信号をとり出した光パルス試験器のブロック
図であり、第３図は従来の光パルス試験器のブロック図
である。 １・・・パルス発振器、 ２・・・レーザー４・・・光
方向性結合器、５・・・被測定ファイバ。 第 １ 回 第 ３ 面 萬 ２ 回
Claims (3)
- （１）被測定ファイバへパルスレーザー光を入射する光
源と、被測定ファイバからの戻り光を検出器へ光路変換
する光方向性結合器と、検出器からの信号を処理する信
号処理装置とを具備してなる光パルス試験器において、
光源からの入射光又は被測定ファイバからの戻り光のい
ずれかを検出する他の検出器を設けて、前記他の検出器
によって取り出された信号を前記信号処理装置の同期を
とるためのトリガ信号とすることを特徴とする光パルス
試験器。 - （２）前記光源と被測定ファイバの入射端面との光路上
にパルスレーザー光の１部を取り出す光路変換器を設け
、該光路変換器によって取り出された光を前記信号処理
装置の同期をとるためのトリガ信号とする請求項１記載
の光パルス試験器。 - （３）前記検出器と被測定ファイバの入射端面との光路
上に被測定ファイバ端面からの近端フレネル反射光を取
り出す光路変換器を設け、該光路変換器によって取り出
された光を前記信号処理装置の同期をとるためのトリガ
信号とする請求項１記載の光パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63239740A JP2722524B2 (ja) | 1988-09-27 | 1988-09-27 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63239740A JP2722524B2 (ja) | 1988-09-27 | 1988-09-27 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0288936A true JPH0288936A (ja) | 1990-03-29 |
| JP2722524B2 JP2722524B2 (ja) | 1998-03-04 |
Family
ID=17049229
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63239740A Expired - Fee Related JP2722524B2 (ja) | 1988-09-27 | 1988-09-27 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2722524B2 (ja) |
-
1988
- 1988-09-27 JP JP63239740A patent/JP2722524B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2722524B2 (ja) | 1998-03-04 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |