JPH0295204A - 回転式自動寸法測定装置 - Google Patents
回転式自動寸法測定装置Info
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- JPH0295204A JPH0295204A JP24877588A JP24877588A JPH0295204A JP H0295204 A JPH0295204 A JP H0295204A JP 24877588 A JP24877588 A JP 24877588A JP 24877588 A JP24877588 A JP 24877588A JP H0295204 A JPH0295204 A JP H0295204A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
童棗工叫秤皿分…
本発明は棒材、管材等の断面寸法を高精度に測定すると
ともにその断面形状を画面表示する回転式自動寸法測定
装置に関する。
ともにその断面形状を画面表示する回転式自動寸法測定
装置に関する。
丈末夙技否
この種の回転式自動寸法測定装置は、例えば製鉄所等の
熱間線材圧延ラインに装備されており、圧延段階におけ
る熱間圧延材の直径を計測するために使用されている。
熱間線材圧延ラインに装備されており、圧延段階におけ
る熱間圧延材の直径を計測するために使用されている。
回転式自動寸法測定装置の概略構成を第１図を参照して
説明する（実願昭５２−１７７６２９参照）。
説明する（実願昭５２−１７７６２９参照）。
熱間圧延材等の被測定物ａは、これに平行光線束すを照
射してこれによる影を形成する光学系ＩＯの中に通され
るようになっている。この光学系１０は、光源１１、投
光レンズ１２、受光レンズ１３、スリン１−１４、受光
レンズ１５等から構成されており、光源ＩＩ、投光レン
ズ１２にて生成された平行光線束すを被測定物ａの側方
から照射するとともに、平行光線束すに基づく被測定物
ａの影（光学陰影像）を光電素子群２０の面上に結像す
るようになっている。この光電素子群２０はＣＣＤ （
Ｃｌｌａｒｇｅ ＣｏｕｐｌｅｄＤｅｖ １ｃｅ）等か
らなるイメージセンサであって、被測定物ａの直径ｄに
応じた影の寸法を電気パルス信号に変換するとともに、
これを所定のタイミングでコンピュータδ０に逐次出力
するようになっている。しかも光電素子群２０と光学系
１０とは、被測定物ａの長手方向を軸芯として回転駆動
機構２０によって逐次回転駆動されるようになっている
。この回転駆動機構２０はコンピュータ５０からの命令
に基づいて光電素子群２０と光学系１０とを所定角度単
位で逐次回転するようになっており、被測定物ａに対す
る光電素子群２０及び光学系１０の回転角度θは、ロー
クリエンコーダ等の角度検出器４０によって検出されコ
ンピュータ５０に逐次データ出力されるようになってい
る。つまりコンピュータ５０では光電素子群２０からの
電気パルス信号に基づいて被測定物ａの直径ｄを算出す
るとともに、回転駆動機構２０に命令を与えて光電素子
群２０及び光学系ｌＯを回転させ、全周にわたった被測
定物ａの直径ｄを算出するようになっている。そしてこ
の直径ｄと回転角度θとのデータ対からなる測定値デー
タを座標データとして所定のメモリに格納し、このデー
タに基づいて被測定物ａの断面形状を直径寸法のデータ
とともにＣＲＴ６０に画面表示するようになっている。
射してこれによる影を形成する光学系ＩＯの中に通され
るようになっている。この光学系１０は、光源１１、投
光レンズ１２、受光レンズ１３、スリン１−１４、受光
レンズ１５等から構成されており、光源ＩＩ、投光レン
ズ１２にて生成された平行光線束すを被測定物ａの側方
から照射するとともに、平行光線束すに基づく被測定物
ａの影（光学陰影像）を光電素子群２０の面上に結像す
るようになっている。この光電素子群２０はＣＣＤ （
Ｃｌｌａｒｇｅ ＣｏｕｐｌｅｄＤｅｖ １ｃｅ）等か
らなるイメージセンサであって、被測定物ａの直径ｄに
応じた影の寸法を電気パルス信号に変換するとともに、
これを所定のタイミングでコンピュータδ０に逐次出力
するようになっている。しかも光電素子群２０と光学系
１０とは、被測定物ａの長手方向を軸芯として回転駆動
機構２０によって逐次回転駆動されるようになっている
。この回転駆動機構２０はコンピュータ５０からの命令
に基づいて光電素子群２０と光学系１０とを所定角度単
位で逐次回転するようになっており、被測定物ａに対す
る光電素子群２０及び光学系１０の回転角度θは、ロー
クリエンコーダ等の角度検出器４０によって検出されコ
ンピュータ５０に逐次データ出力されるようになってい
る。つまりコンピュータ５０では光電素子群２０からの
電気パルス信号に基づいて被測定物ａの直径ｄを算出す
るとともに、回転駆動機構２０に命令を与えて光電素子
群２０及び光学系ｌＯを回転させ、全周にわたった被測
定物ａの直径ｄを算出するようになっている。そしてこ
の直径ｄと回転角度θとのデータ対からなる測定値デー
タを座標データとして所定のメモリに格納し、このデー
タに基づいて被測定物ａの断面形状を直径寸法のデータ
とともにＣＲＴ６０に画面表示するようになっている。
が′″゛ しようとする
しかしながら、上記従来例による場合には、被測定物ａ
が断面円状であれば何の支障もないものの、これが断面
角状であると被測定物ａの正確な径測定と断面表示を行
うことができないという欠点がある。被測定物ａが四角
材である場合を例に掲げて第３図を参照して説明する。
が断面円状であれば何の支障もないものの、これが断面
角状であると被測定物ａの正確な径測定と断面表示を行
うことができないという欠点がある。被測定物ａが四角
材である場合を例に掲げて第３図を参照して説明する。
第３図（ａ）に示すように被測定物ａに対して平行光線
束すが５°ずつ半回転ずれば、コンピュータ５０のメモ
リには合計３６個の測定データが取り込まれることにな
るが、被測定物ａのエツジ部分により形成される影の影
響で、取り込まれた測定データの中でも直径ｄの殆どは
測定誤差の含んだものとなっている。この誤差を含む測
定データに基づいて被測定物ａの断面形状を表示すれば
、第３図（ｂ）に示すような断面形状となり、実際の被
測定物ａの断面形状とはかなり相違し、元来、高性能で
ある回転式自動寸法測定装置の適用範囲が規制される結
果となっている。
束すが５°ずつ半回転ずれば、コンピュータ５０のメモ
リには合計３６個の測定データが取り込まれることにな
るが、被測定物ａのエツジ部分により形成される影の影
響で、取り込まれた測定データの中でも直径ｄの殆どは
測定誤差の含んだものとなっている。この誤差を含む測
定データに基づいて被測定物ａの断面形状を表示すれば
、第３図（ｂ）に示すような断面形状となり、実際の被
測定物ａの断面形状とはかなり相違し、元来、高性能で
ある回転式自動寸法測定装置の適用範囲が規制される結
果となっている。
本発明は上記事情に鑑みて創案されたものであり、如何
なる断面形状の被測定物であっても正確な径寸法測定と
断面表示を行うことができる回転式自動寸法測定装置を
提供することを目的とする。
なる断面形状の被測定物であっても正確な径寸法測定と
断面表示を行うことができる回転式自動寸法測定装置を
提供することを目的とする。
ａ−′ ”るための −
本発明にかかる回転式自動寸法測定装置は、ｎ、ｐ、ｑ
、「が夫々自然数であって、ｐ ＜ ｑ ＜ ｒの大小
関係があるとするとき、被ａｌｌｌ定物に平行光線束を
照射し照射された平行光線束に基づく前記被測定物の光
学陰影像を得る光学系と、前記光学陰影像が結ばれる平
面上に配置してあり光学陰影像に応じた信号を出力する
光電素子群と、ＩｔｌＸ射直交方向を軸芯として前記光
学系及び光電素子群を所定角度単位で回転する回転駆動
機構と、ｎ；１記光学系及び光電素子群の前記被測定物
に対する回転角度θを検出する角度検出器と、前記光学
系及び光電素子群が逐次回転する毎に前記光電素子群の
出力信号に基づき前記被測定物の径寸法ｄを算出する寸
法算出部と、回転角度θと径寸法ｄからなる測定データ
（θｒ、ｄ、）に基づいて前記被測定物の断面形状を画
面表示するＣＲＴとを備える回転式自動寸法測定装置に
おいて、測定データ（θｒ、ｄ、、）の中でも径寸法ｄ
のピーク値を採る測定データ（θｐ、ｄｐ）、（θ１、
ｄｒ）を真のデータとして選び出すとともに、更に、測
定データ（Ｏｑ、ｄｑ）の中から、ｄｐ −ＣＯ５（θ
ｑ−θｐ）＜ｄｑかつｄ、−ＣＯＳ（θｒ−θｑ）〈ｄ
ｑの関係を満足する測定データ（θｑ、ｄｑ）を真のデ
ータとして選び出すようにしである。
、「が夫々自然数であって、ｐ ＜ ｑ ＜ ｒの大小
関係があるとするとき、被ａｌｌｌ定物に平行光線束を
照射し照射された平行光線束に基づく前記被測定物の光
学陰影像を得る光学系と、前記光学陰影像が結ばれる平
面上に配置してあり光学陰影像に応じた信号を出力する
光電素子群と、ＩｔｌＸ射直交方向を軸芯として前記光
学系及び光電素子群を所定角度単位で回転する回転駆動
機構と、ｎ；１記光学系及び光電素子群の前記被測定物
に対する回転角度θを検出する角度検出器と、前記光学
系及び光電素子群が逐次回転する毎に前記光電素子群の
出力信号に基づき前記被測定物の径寸法ｄを算出する寸
法算出部と、回転角度θと径寸法ｄからなる測定データ
（θｒ、ｄ、）に基づいて前記被測定物の断面形状を画
面表示するＣＲＴとを備える回転式自動寸法測定装置に
おいて、測定データ（θｒ、ｄ、、）の中でも径寸法ｄ
のピーク値を採る測定データ（θｐ、ｄｐ）、（θ１、
ｄｒ）を真のデータとして選び出すとともに、更に、測
定データ（Ｏｑ、ｄｑ）の中から、ｄｐ −ＣＯ５（θ
ｑ−θｐ）＜ｄｑかつｄ、−ＣＯＳ（θｒ−θｑ）〈ｄ
ｑの関係を満足する測定データ（θｑ、ｄｑ）を真のデ
ータとして選び出すようにしである。
作朋
回転駆動機構を動作させて、被測定物に対して光学系及
び光電素子群を所定角度単位で回転させ、全周にわたる
被測定物ａの測定データ（θ７、ｄｆｉ）を得る。そし
て寸法算出部において全ての測定データ（θｒ、ｄ、）
の中から、径寸法ｄのピーク値を採る測定データ（θｒ
、ｄ、）、（θ。
び光電素子群を所定角度単位で回転させ、全周にわたる
被測定物ａの測定データ（θ７、ｄｆｉ）を得る。そし
て寸法算出部において全ての測定データ（θｒ、ｄ、）
の中から、径寸法ｄのピーク値を採る測定データ（θｒ
、ｄ、）、（θ。
ｄｉを選び出す。その後、測定データ（θ。
、ｄ、）と測定データ（θｒ、ｄ、）との間に相当する
測定データ（θ４、ｄｑ）が、ｄｐ−ＣＯＳ（θｑ−θ
ｒ）＜ｄＱかつｄ、−ＣＯ５（θｒ−θ１）＜ｄｑの関
係を満足すると寸法算出部が判断する場合には、これを
真のデータとして扱い、真値とみなされた全ての測定デ
ータに基づいてＣＲＴ上に被測定物の断面表示を行う。
測定データ（θ４、ｄｑ）が、ｄｐ−ＣＯＳ（θｑ−θ
ｒ）＜ｄＱかつｄ、−ＣＯ５（θｒ−θ１）＜ｄｑの関
係を満足すると寸法算出部が判断する場合には、これを
真のデータとして扱い、真値とみなされた全ての測定デ
ータに基づいてＣＲＴ上に被測定物の断面表示を行う。
尖施拠
以下、本発明にかかる回転式自動寸法測定装置の一実施
例を図面を参照して説明する。第１図は回転式自動寸法
測定装置の構成図、第２図は回転式自動寸法測定装置の
動作説明を行うためのコンピュータのプログラムフロー
チャート図、第３図（ａ）は被測定物に平行光線束が照
射されている様子を示す図、第３図（ｂ）は被測定物の
断面形状が写し出された様子を示すＣＲ’Ｉ”の画面表
示図である。但し、第３図（ｂ）では被測定物の半分の
断面形状のみが描かれている。
例を図面を参照して説明する。第１図は回転式自動寸法
測定装置の構成図、第２図は回転式自動寸法測定装置の
動作説明を行うためのコンピュータのプログラムフロー
チャート図、第３図（ａ）は被測定物に平行光線束が照
射されている様子を示す図、第３図（ｂ）は被測定物の
断面形状が写し出された様子を示すＣＲ’Ｉ”の画面表
示図である。但し、第３図（ｂ）では被測定物の半分の
断面形状のみが描かれている。
ここに掲げる回転式自動寸法測定装置は、圧延段階にお
ける熱間圧延材の直径ｄを計測するための装置であって
、装置の基本的構成については従来例で説明したものと
同一であるので（第１Ｍ参照）、重複する部分について
は説明を省略するが、寸法算出部に相当するコンピュー
タ５０にて行う処理のみが異なるような構成となってい
る。
ける熱間圧延材の直径ｄを計測するための装置であって
、装置の基本的構成については従来例で説明したものと
同一であるので（第１Ｍ参照）、重複する部分について
は説明を省略するが、寸法算出部に相当するコンピュー
タ５０にて行う処理のみが異なるような構成となってい
る。
以下、第２図に示すコンピュータ２０のプログラムを参
照して回転式自動寸法測定装置の動作説明を行う。
照して回転式自動寸法測定装置の動作説明を行う。
まず、角度検出器４０の検出データを見ながら回転駆動
機構３０を駆動させて、光学系１０及び光学素子群２０
を初期位置（回転角度θ＝０）に戻すという初期設定を
行う（Ｓｌ）。
機構３０を駆動させて、光学系１０及び光学素子群２０
を初期位置（回転角度θ＝０）に戻すという初期設定を
行う（Ｓｌ）。
次に、回転駆動機構３０を動作させ、光学系１０及び光
電素子群２０を被測定物ａに対して５°の角度単位で回
転駆動させる（第３図（ａ）参照）。そして光電素子群
２０からの電気パルス信号に基づいて被測定物ａの直径
ｄを算出し、この直径ｄのデータを角度検出器４０から
の回転角度θのデータととともに所定のメモリに格納す
る。つまり光学系ＩＯ及び光電素子群２０が被測定物ａ
に対して半回転すれば、当該メモリには、回転角度θと
直径ｄとのデータ対からなる測定データ（θｒ、ｄｎ）
が合計３６個格納されることになる（Ｓ３）。但し、添
字のｎは３６以下の自然数である。
電素子群２０を被測定物ａに対して５°の角度単位で回
転駆動させる（第３図（ａ）参照）。そして光電素子群
２０からの電気パルス信号に基づいて被測定物ａの直径
ｄを算出し、この直径ｄのデータを角度検出器４０から
の回転角度θのデータととともに所定のメモリに格納す
る。つまり光学系ＩＯ及び光電素子群２０が被測定物ａ
に対して半回転すれば、当該メモリには、回転角度θと
直径ｄとのデータ対からなる測定データ（θｒ、ｄｎ）
が合計３６個格納されることになる（Ｓ３）。但し、添
字のｎは３６以下の自然数である。
そして格納された測定データ（θｒ、ｄ、）の中から直
径ｄに関してピーク値を有するものをｉ３沢する。即ち
、測定データ（θｒ、ｄ、）の中からピーク値ｄ、、ｄ
、を有する測定データ（θ２ｄＰ）、（θｒ、ｄ、）等
を選び出すのである（Ｓ３）。但し、添字ｐ、ｑ、ｒは
ｎとともに３６以下の自然数であって、ｐ＜ｑ＜ｒの大
小関係があるとする。
径ｄに関してピーク値を有するものをｉ３沢する。即ち
、測定データ（θｒ、ｄ、）の中からピーク値ｄ、、ｄ
、を有する測定データ（θ２ｄＰ）、（θｒ、ｄ、）等
を選び出すのである（Ｓ３）。但し、添字ｐ、ｑ、ｒは
ｎとともに３６以下の自然数であって、ｐ＜ｑ＜ｒの大
小関係があるとする。
次に測定データ（ａｐ、ａｒ）、（ａｒ、ｄｒ）の間に
相当する上記選択に漏れた測定データ（θ４、ｄｑ）が
真のデータであるか否かを次式を用いて判定する。
相当する上記選択に漏れた測定データ（θ４、ｄｑ）が
真のデータであるか否かを次式を用いて判定する。
ｄｐ−ＣＯ５（θｑ−θｐ ）＜ ｄｑかつｄ、−ＣＯ
５（θｒ−〇〇）＜ｄＱ ・・・■ つまり測定データ（ａｐ、ａｐ）、（θｑ、ｄｑ）、（
θｒ、ｄ、）として代表する３つの測定データが式■の
関係を満足した時には、Ｗｔｌｌ定デー少データ、ｄｑ
）は真のデータであると判定するのである（Ｓ４）。
５（θｒ−〇〇）＜ｄＱ ・・・■ つまり測定データ（ａｐ、ａｐ）、（θｑ、ｄｑ）、（
θｒ、ｄ、）として代表する３つの測定データが式■の
関係を満足した時には、Ｗｔｌｌ定デー少データ、ｄｑ
）は真のデータであると判定するのである（Ｓ４）。
メモリに格納された測定データ（θｒ、ｄ、）の中でも
測定データ（θ１ ｄ、）、（ａＳ、ｄ、）、（θ１
ｏｓｄｌ。）・・ ・・がピーク（１αを採ると仮定し
、測定データ（θ＋ 、ｄ＋ ）と（θ６、ａＳ）との
間に相当する測定データ（θ２、ｄ２）、（θｘ、ｄ：
＋）、（θ４、ｄ４）が真のデー夕か否かは、次の手順
を踏んで判定される。
測定データ（θ１ ｄ、）、（ａＳ、ｄ、）、（θ１
ｏｓｄｌ。）・・ ・・がピーク（１αを採ると仮定し
、測定データ（θ＋ 、ｄ＋ ）と（θ６、ａＳ）との
間に相当する測定データ（θ２、ｄ２）、（θｘ、ｄ：
＋）、（θ４、ｄ４）が真のデー夕か否かは、次の手順
を踏んで判定される。
まず、測定データ（θ＋ 、ｄｔ ）、（ａＳ、ｄ５）
に基づいて測定データ（θ２、ｄ２）が真のデータか否
かを判定する。即ち、測定データ（θ２、ｄ、）が ｄ
ｌ ・ＣＯ５（θ２−θ＋）＜ｄｚｄ３ ・Ｃ０５（θ
ｒ−〇□）〈ｄ２ の関係を満足したならば、このデータは真のデータであ
ると判定する。その後、真のデータと判定された測定デ
ータ（ｄｚ、ｄｚ）と、測定データ（θｓ、ｄｓ）とに
基づいて今度は測定データ（ｄｓ、ｄ：＋）を同様に判
定する。一方、測定データ（θ２、ｄ２）が上記関係を
満足しないと判定したならば、測定データ（θ＋ 、ｄ
ｔ ）と測定データ（ｄｓ、ｄｓ）とに基づい°ζ測定
データ（θ３、ｄ３）を同様に判定する。このような手
順を踏んで測定データ（θ＋ 、Ｌ ）、（θ３、ｄＳ
）、（θ１゜、ｄｌ。）等以外の全ての測定データ（ｄ
ｚ、ｄｚ）、（ｄｓ、ｄ：＋） ・・・の判定を行い
、この結果、真のデータと判定された測定データを、測
定データ（θｒ 、ｄ、）、（θ５、ａＳ）、（θ１゜
、ｄｌ。）等とともに別のメモリに格納する。
に基づいて測定データ（θ２、ｄ２）が真のデータか否
かを判定する。即ち、測定データ（θ２、ｄ、）が ｄ
ｌ ・ＣＯ５（θ２−θ＋）＜ｄｚｄ３ ・Ｃ０５（θ
ｒ−〇□）〈ｄ２ の関係を満足したならば、このデータは真のデータであ
ると判定する。その後、真のデータと判定された測定デ
ータ（ｄｚ、ｄｚ）と、測定データ（θｓ、ｄｓ）とに
基づいて今度は測定データ（ｄｓ、ｄ：＋）を同様に判
定する。一方、測定データ（θ２、ｄ２）が上記関係を
満足しないと判定したならば、測定データ（θ＋ 、ｄ
ｔ ）と測定データ（ｄｓ、ｄｓ）とに基づい°ζ測定
データ（θ３、ｄ３）を同様に判定する。このような手
順を踏んで測定データ（θ＋ 、Ｌ ）、（θ３、ｄＳ
）、（θ１゜、ｄｌ。）等以外の全ての測定データ（ｄ
ｚ、ｄｚ）、（ｄｓ、ｄ：＋） ・・・の判定を行い
、この結果、真のデータと判定された測定データを、測
定データ（θｒ 、ｄ、）、（θ５、ａＳ）、（θ１゜
、ｄｌ。）等とともに別のメモリに格納する。
このメモリに格納された測定データは被測定物ａの真の
輪郭を与える座標データとなっており、この座標データ
に基づいて映像信号を生成してＣＲＴ６０に出力し、被
測定物ａの断面形状を直径ｄのデータとともにＣＲＴ６
０上に画面表示する（Ｓ５）。なお、測定された測定デ
ータのデータ数に比較して真値とされた測定データの数
はかなり少ないのが通常であることから、被測定物ａの
輪郭を与えるプロットを隣同士直線で結ぶよう処理し対
処している。
輪郭を与える座標データとなっており、この座標データ
に基づいて映像信号を生成してＣＲＴ６０に出力し、被
測定物ａの断面形状を直径ｄのデータとともにＣＲＴ６
０上に画面表示する（Ｓ５）。なお、測定された測定デ
ータのデータ数に比較して真値とされた測定データの数
はかなり少ないのが通常であることから、被測定物ａの
輪郭を与えるプロットを隣同士直線で結ぶよう処理し対
処している。
上記したような回転式自動寸法測定装置では如何なる形
状の被測定物ａであっても正確な径寸法測定と断面表示
を行うことができるが、かかる原理を被測定物ａが四角
材である場合を例に掲げて第３図（ｂ）を参照して説明
する。但し、図中示すＰ点、Ｑ点、Ｒ点の座標データに
関連する測定データは夫々（θ２、ｄ、）、（θｑ、ｄ
、）、（θｒ、ｄ、）であると仮定する。
状の被測定物ａであっても正確な径寸法測定と断面表示
を行うことができるが、かかる原理を被測定物ａが四角
材である場合を例に掲げて第３図（ｂ）を参照して説明
する。但し、図中示すＰ点、Ｑ点、Ｒ点の座標データに
関連する測定データは夫々（θ２、ｄ、）、（θｑ、ｄ
、）、（θｒ、ｄ、）であると仮定する。
まず、従来例のように全ての測定データ（θ１、ｄ、、
）を座標データとして扱い、これに基づいてＣＲＴ６０
上に被測定物ａの断面形状を表示すれば、第３図（ｂ）
に示すように、被測定物ａのエツジ部分により生成され
る影の影響で実際のものとは異なる画面表示となるが、
本実施例による場合には、影の影響を受けた測定データ
（θｑ、ｄ９）はステップＳ４の処理で排除されること
になる。即ち、測定データ（θｑ、ｄｑ）を排除するか
否かを判定するに用いられる式■は、被測定物ａのエツ
ジ部分（Ｐ点、Ｑ点等）により生成されるであろう影を
関係を与える弐となっており、測定データ（θｑ、ｄｑ
）が式■の関係を満足しなければ、この測定データ（θ
ｑ、ｄ９）は影の影響を受けた偽りのデータであるとみ
なすのである。
）を座標データとして扱い、これに基づいてＣＲＴ６０
上に被測定物ａの断面形状を表示すれば、第３図（ｂ）
に示すように、被測定物ａのエツジ部分により生成され
る影の影響で実際のものとは異なる画面表示となるが、
本実施例による場合には、影の影響を受けた測定データ
（θｑ、ｄ９）はステップＳ４の処理で排除されること
になる。即ち、測定データ（θｑ、ｄｑ）を排除するか
否かを判定するに用いられる式■は、被測定物ａのエツ
ジ部分（Ｐ点、Ｑ点等）により生成されるであろう影を
関係を与える弐となっており、測定データ（θｑ、ｄｑ
）が式■の関係を満足しなければ、この測定データ（θ
ｑ、ｄ９）は影の影響を受けた偽りのデータであるとみ
なすのである。
つまり全ての測定データ（θｒ、ｄ、）の中でも直径ｄ
の大きさに関してピーク値を採る測定データ以外は、こ
の部分による影の影響を受は得るので、ごの影響を受け
ると判断されるデータを予め排除し、排除した測定デー
タをもとにＣＲＴ６０に画面表示するようにすれば、正
確な被測定物ａの断面形状を表示することができるとと
もに、正確な直径ｄのデータを得ることができるのであ
る。
の大きさに関してピーク値を採る測定データ以外は、こ
の部分による影の影響を受は得るので、ごの影響を受け
ると判断されるデータを予め排除し、排除した測定デー
タをもとにＣＲＴ６０に画面表示するようにすれば、正
確な被測定物ａの断面形状を表示することができるとと
もに、正確な直径ｄのデータを得ることができるのであ
る。
以上の説明は四角材の被測定物ａについてであるが、四
角材以外のものでも事情は全く同じであり、ここに如何
なる断面形状を有する被測定物ａであっても正確な径寸
法測定と断面表示を行うことができ、しかも、元来、高
性能な回転式自動寸法ｉ１１’Ｊ定装置の適用範囲を現
状以上にＶム大することができるというメリットを奏す
る。
角材以外のものでも事情は全く同じであり、ここに如何
なる断面形状を有する被測定物ａであっても正確な径寸
法測定と断面表示を行うことができ、しかも、元来、高
性能な回転式自動寸法ｉ１１’Ｊ定装置の適用範囲を現
状以上にＶム大することができるというメリットを奏す
る。
なお、本発明にかかる回転式自動寸法測定装置は上記実
施例に限定されず、例えば光学系の構成や光電素子群の
種類等についての若干の設計変更は十分に考えられる。
施例に限定されず、例えば光学系の構成や光電素子群の
種類等についての若干の設計変更は十分に考えられる。
主班■四呆
以上、本発明にかかる回転式自動寸法ａｌ１１定装置は
、得られた全ての測定データの中で被測定物のエツジ部
分により形成される影の影響の受は得るデータを排除す
るような構成となっているので、如何なる種類の被測定
物であってもこの正確な径寸法測定と断面表示を行うこ
とができる。それ故、元来、高性能を有する装置の適用
範囲を拡大することができるというメリットがある。
、得られた全ての測定データの中で被測定物のエツジ部
分により形成される影の影響の受は得るデータを排除す
るような構成となっているので、如何なる種類の被測定
物であってもこの正確な径寸法測定と断面表示を行うこ
とができる。それ故、元来、高性能を有する装置の適用
範囲を拡大することができるというメリットがある。
第１図から第３図にかけては本発明にかかる回転式自動
寸法測定装置の一実施例を説明するための図であって、
第１図は回転式自動寸法測定装置の構成図、第２図は回
転式自動寸法測定装置の動作説明を行うためのコンピュ
ータのプログラムフローチャート図、第３図（ａ）は被
測定物に平行光線束が照射されている様子を示す図、第
３図（ｂ）は被測定物の断面形状が写し出された様子を
示すＣＲＴの画面表示図である。 ａ・・・被測定物 ｂ・・・平行光線束
寸法測定装置の一実施例を説明するための図であって、
第１図は回転式自動寸法測定装置の構成図、第２図は回
転式自動寸法測定装置の動作説明を行うためのコンピュ
ータのプログラムフローチャート図、第３図（ａ）は被
測定物に平行光線束が照射されている様子を示す図、第
３図（ｂ）は被測定物の断面形状が写し出された様子を
示すＣＲＴの画面表示図である。 ａ・・・被測定物 ｂ・・・平行光線束
Claims (1)
- （１）ｎ、ｐ、ｑ、ｒが夫々自然数であって、ｐ＜ｑ＜
ｒの大小関係があるとするとき、被測定物に平行光線束
を照射し照射された平行光線束に基づく前記被測定物の
光学陰影像を得る光学系と、前記光学陰影像が結ばれる
平面上に配置してあり光学陰影像に応じた信号を出力す
る光電素子群と、照射直交方向を軸芯として前記光学系
及び光電素子群を所定角度単位で回転する回転駆動機構
と、前記光学系及び光電素子群の前記被測定物に対する
回転角度θを検出する角度検出器と、前記光学系及び光
電素子群が逐次回転する毎に前記光電素子群の出力信号
に基づき前記被測定物の径寸法ｄを算出する寸法算出部
と、回転角度θと径寸法ｄからなる測定データ（θ＿ｎ
、ｄ＿ｎ）に基づいて前記被測定物の断面形状を画面表
示するＣＲＴとを備える回転式自動寸法測定装置におい
て、測定データ（θ＿ｎ、ｄ＿ｎ）の中でも径寸法ｄの
ピーク値を採る測定データ（θ＿ｐ、ｄ＿ｐ）、（θ＿
ｒ、ｄ＿ｒ）を真のデータとして選び出すとともに、更
に、測定データ（θ＿ｑ、ｄ＿ｑ）の中から、ｄ＿ｐ・
ＣＯＳ（θ＿ｑ−θ＿ｐ）＜ｄ＿ｑかつｄ＿ｒ−ＣＯＳ
（θ＿ｒ−θ＿ｑ）＜ｄ＿ｑの関係を満足する測定デー
タ（θ＿ｑ、ｄ＿ｑ）を真のデータとして選び出すよう
にしてあることを特徴とする回転式自動寸法測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24877588A JPH0295204A (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 回転式自動寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24877588A JPH0295204A (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 回転式自動寸法測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0295204A true JPH0295204A (ja) | 1990-04-06 |
Family
ID=17183199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24877588A Pending JPH0295204A (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 回転式自動寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0295204A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08184416A (ja) * | 1994-08-25 | 1996-07-16 | Owens Brockway Glass Container Inc | 容器仕上部形状パラメータの光学的検査 |
| JP2002116013A (ja) * | 2000-10-10 | 2002-04-19 | Keyence Corp | 非接触型外形測定装置 |
| EP3112800B1 (fr) * | 2015-07-02 | 2022-10-12 | Rolex Sa | Procede de mesure d'au moins une dimension d'un composant horloger |
-
1988
- 1988-09-30 JP JP24877588A patent/JPH0295204A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08184416A (ja) * | 1994-08-25 | 1996-07-16 | Owens Brockway Glass Container Inc | 容器仕上部形状パラメータの光学的検査 |
| JP2002116013A (ja) * | 2000-10-10 | 2002-04-19 | Keyence Corp | 非接触型外形測定装置 |
| EP3112800B1 (fr) * | 2015-07-02 | 2022-10-12 | Rolex Sa | Procede de mesure d'au moins une dimension d'un composant horloger |
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