JPH03100697A - 液晶ディスプレイパネル検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は液晶ディスプレイパネル検査装置に関する。

〔従来の技術〕

従来の液晶ディスプレイパネル検査装置は、撮像系と、
Ｘ−Ｙテーブルと、液晶ディスプレイパネル固定治具と
、演算部とを含んで構成される。

第５図は、従来の一例を示すブロック図である。

液晶ディスプレイパネル５１を、液晶ディスプレイパネ
ル固定治具５２にセットし、撮像系５３に対して、液晶
ディスプレイパネル５１面上の検査領域をＸ−Ｙテーブ
ル５４で演算部５５から指定された位置に移動し、液晶
ディスプレイパネル５１面上の検査画像な撮像系５３で
取り込み、演算部５５で欠陥検出をしていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の検査装置は、液晶ディスプレイパネルを
固定治具にセットし、撮像系に対して検査領域をＸ−Ｙ
テーブルにより移動し検査していたので、固定治具のセ
ットずれ、Ｘ−Ｙテーブルの位置ずれにより欠陥部の位
置がずれるという欠点があった。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の液晶ディスプレイパネル検査装置は、画像を入
力するためのカメラと、前記カメラより入力された画像
情報をデジタル信号に変換する入力回路と、前記入力回
路でデジタル信号に変換された画像情報を記憶する画像
メモリーと、前記画像メモリーに記憶された画像情報に
対して指定されたしきい値で二値化する二値化回路と、
前記二値化回路で二値化された画像データの位置及び面
積を計測する計測回路と、液晶ディスプレイパネルの液
晶層に光を透過させるバックライトと、前記液晶ディス
プレイパネルの液晶層に対して前記バックライトの光の
透過率を決める駆動回路と、前記液晶ディスプレイパネ
ル上の重ね合わせマークを認識し前記液晶ディスプレイ
パネルの基準セル位置を算出し欠陥部の位置ずれを補正
する補正部と、前記カメラに対して前記液晶ディスプレ
イパネル面上の検査領域を移動するＸ−Ｙテーブル部と
前記入力回路と前記二値化回路と前記計測回路と前記駆
動回路と前記補正部と前記Ｘ−Ｙテーブル部を制御する
制御部を含んで構成される。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。

第１図は、本考案の一実施例を示すブロック図である。

第一１図に示す液晶ディスプレイパネル検査装置は、画
像を入力するためのカメラ１と、カメラｌより入力され
た画像情報をデジタル信号に変換する入力回路２と、入
力回路２でデジタル信号に変換された画像情報を記憶す
る画像メモリー３と、画像メモリー３に記憶された画像
情報に対して、指定されたしきい値で二値化する二値化
回路４と、二値化回路４で二値化された画像データの位
置及び面積を計測する計測回路５と、液晶ディスプレイ
パネル７の液晶層に対して光を透過させるノ５ツクライ
ト６と、液晶ディスプレイパネル７の液晶層に対して前
記バックライト６の光の透過率を決める駆動回路８と、
液晶ディスプレイパネル７上の重ね合わせマークを認識
し、液晶ディスプレイパネル７の基準セル位置を算出し
、欠陥部の位置ずれを補正する補正部９と、カメラｌに
対して、液晶ディスプレイパネル７面上の検査領域を移
動するＸ−Ｙテーブル部１０と、入力回路２と、二値化
回路４と、計測回路５と、駆動回路８と、補正部９と、
Ｘ−Ｙテーブル部１０を制御する制御部１１を含んで構
成される。

第２図は、液晶ディスプレイパネルの画素配列重ね合わ
せマーク位置を示す図である。

画素配列の外側に、重ね合わせマーク（左）２１と、重
ね合わせマーク（右）２２とがある。

検査前に、液晶ディスプレイパネル７の画素配列部が黒
表示になるような駆動条件を制御部１１より駆動回路８
に送り、液晶ディスプレイパネル７を表示させる。

この結果、液晶ディスプレイパネル７０面上は、重ね合
わせマーク（左）２１と、重ね合わせマーク（右）２２
のみがバックライト６の光を透過する。

次に、第３図（ａ）　、　（ｂ）に示す通り、重ね合わ
せマーク（左）３１と重ね合わせマーク（右）３２をカ
メラ１で撮像し、二値化回路４で二値化し、計測回路５
で二値化画像の重ね合わせマーク（左）３１と重ね合わ
せマーク３２の位置（Ｘｌ＊７１）ｙ（ＸｌｌＶ２）を
計算し、次式よりカメラ撮像範囲のカメラ中心点３２　
（Ｘｃ＋＋　ｙｃ＋）およびカメラ中心点３３　（ｘ　
ａｔ　ａ　）’　ａ２）からのずれ量を求める。

ｅ＝Ｘｃ＋−Ｘｅｚ　ｆ＝ｙａ、　　７＋　　　・・”
・　（１）ｇ”Ｘｅｚ−Ｘｘｒ　１１＝ｙ、　　）’２
　　−”・（２）ただし、カメラ中心点３１．３２は基
準点からの絶対位置とする。

次に、カメラ１に対しての液晶ディスプレイパネル７の
傾きを次式より求める。

θ＝θ。−θ。　　　　　　　　　　　・・・・・・　
（４）ただし、θ。は、カメラ１に対する液晶ディスプ
レイパネル７の傾き、θ。は設計上の傾き、ｍは液晶デ
ィスプレイパネル７の画素配列の長さ、θは実際の液晶
ディスプレイパネル７の傾き。

次に、第４図に示す通り、基準点４４より基準セル位置
４３を（１）、　（２）、　（３）、　（４）の式より
求めると、Ｘ：Ｘｃ、−ｘ１＋ａｓｉｎθ＋ｂ　ｃｏｓ
θ　　・−・−・（５）ｙ＝（ｙｃ＋−ｙ＋）−ａｃｏ
ｓθ＋ｂｓｉｎθ　・・・・・・（６）となる。

又、任意の欠陥セル４１の基準セル位置４３からの座標
値（ｘ＋＋＋　７＋＋）は（５）、　（６）式より次の
通りになる。

Ｘ＋＋＝（Ｘｃｓ　Ｘ５）−（Ｘｃ＋　ｘ＋＋ａｓｉｎ
θ＋ｂ　ｃｏｓθ）　　−（７））’＋＋＝（）’ｇｓ
　　）’ｓ）　ＣＣ”ｌｅ＋　　７＋）　　１ＬｃＯ３
θ＋ｂｓｉｎθ）　・（８）〔発明の効果〕 本発明の液晶ディスプレイパネル検査装置は、カメラと
、入力回路と、画像メモリーと、二値化回路と、計測回
路と、バックライトと、駆動回路と、液晶ディスプレイ
パネルの上の重ね合わせマークを認識し、液晶ディスプ
レイパネルの基準セル位置を算出し、欠陥部の位置ずれ
を補正する補正部と、Ｘ−Ｙテーブル部と、前記入力回
路と、二値化回路と、計測回路と、駆動回路と、補正部
と、Ｘ−Ｙテーブル部を制御する制御部を設けることに
より、固治治具のセットずれ、Ｘ−Ｙテーブルの位置ず
れによる液晶ディスプレイパネルの欠陥部の位置ずれを
補正し、欠陥部の正しい位置が計測できるという効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
液晶ディスプレイパネルの画素配列及び重ね合わせマー
ク位置を示す説明図、第３図（ａ）。 （ｂ）および第４図は重ね合わせマークを認識し、任意
の欠陥部の座標値を求めるための説明図、第５図は従来
の一例を示すブロック図である。 １・・・・・・カメラ、２・・・・・・入力回路、３・
旧・・画像メモリー　４・・・・・・二値化回路、５・
・・・・・計測回路、６・・・・・・バックライト、７
・・・・・・液晶ディスプレイパネル、８・・・・・・
駆動回路、９・・・・・・補正部、１０・・・・・・Ｘ
−Ｙテーブル部、１１・・・・・・制御部、２１・・・
・・・重ね合わせマーク（左）、２２・・・・・・重ね
合わせマーク（右）、２３・・・・・・基準セル。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 画像を入力するためのカメラと、前記カメラより入力さ
   れた画像情報をデジタル信号に変換する入力回路と、前
   記入力回路でデジタル信号に変換された画像情報を記憶
   する画像メモリーと、前記画像メモリーに記憶された画
   像情報に対して指定されたしきい値で二値化する二値化
   回路と、前記二値化回路で二値化された画像データの位
   置及び面積を計測する計測回路と、液晶ディスプレイパ
   ネルの液晶層に光を透過させるバックライトと、前記液
   晶ディスプレイパネルの液晶層に対して前記バックライ
   トの光の透過率を決める駆動回路と、前記液晶ディスプ
   レイパネル上の重ね合わせマークを認識し前記液晶ディ
   スプレイパネルの基準セル位置を算出し欠陥部の位置ず
   れを補正する補正部と、前記カメラに対して前記液晶デ
   ィスプレイパネル面上の検査領域を移動するＸ−Ｙテー
   ブル部と前記入力回路と前記二値化回路と前記計測回路
   と前記駆動回路と前記補正部と前記Ｘ−Ｙテーブル部を
   制御する制御部とを含むことを特徴とする液晶ディスプ
   レイパネル検査装置。