JPH03105206A - 測距モジュールの測距精度検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はオートフォーカス用としてカメラやビデオに用
いられている測距モジュールの測距精度検査方法に関す
るものである。

［従来の技術］ オートフォーカスカメラ等において、被写体までの距離
を測る方法として、アクティブ方式が知られている。

アクティブ式の測距モジュールは、一Ｍに、発光部から
被写体へ赤外線ビームを投光し、その反射光を受光部で
受光し、投射ビームと反射ビームのなす角度から、いわ
ゆる三角測量法にに従って距離を測定するものである。

このアクティブ式にも種々の方式があり、例えば発光部
からのビームを左右に振らせ、その反射光を固定式の受
光部で検出して測距する方式や、発光部からビームを被
写体に向けて直進させ、その反射光を受光部どの位置で
受光したかを検出し、その受光位置から距離を測る方式
などが知られている。

このような測距モジュールは、カメラ等の製品に組み込
まれる前、あるいは組み込んだ後、正確に測距動作をす
るか否かを検査する必要がある。

このような測距精度を検査する場合、カメラから実際の
測距距離の位置に照射板を配して正しく測距されたか否
かを調べる方法が通常用いられているが、場合によって
は１０ｍ以上の距離を測距することもあり、これだけの
距離をもつ空間部を工場内に設けることは、工場のスペ
ース有効利用とい′う観点から不都合である。

このため、短い空間距離であっても、必要な距離の測距
検査を行なえるようにした方法が、近時、本発明者によ
って提案された。

第５図はその測距精度検査法の原理図を示したものであ
る。

図中、６３は測距モジュール、６０はその投光部、６１
は受光部であり，測距モジュール６３から所定距離Ｌの
位置に照射板６４を配置し、投光部６０の前方に光学レ
ンズ６５を配置している。そして、投光部６０からのビ
ームＡを光学レンズ６５で屈曲させ、照射板６４のＰ位
置に照射させ、その反射光を受光部６１で受光すること
により、該反射光の入射角θ１から、三角測量法に基き
、測距しているものである。即ち、前記照射板６４及び
光学レンズ６５を省いたと仮定した場合、投光部６０か
ら投射したビームが実際の被写体（距離測定板）６６に
照射され、その受光部６１方向への反射角θが、前記入
射角θ，と等しければ、被写体６６までの実際の距ｉｉ
ｉｔＤと等価距離を測定したものとみなすことができる
。

［発明が解決しようとする問題点］ 上記した方法は、短いスペースで長い距離の測定検査を
行なうことができ、省空間化を図ることができる。しか
しながら、上記方法を実施化する場合、はじめに光学レ
ンズ６５を調整してビームＡが照射板６４のＰ位置に正
確に照射するように、即ち、θ１＝θとなるように、該
光学レンズ６５を調整する必要があり、その光学レンズ
の基準位置の調整が面倒であった。

本発明はこのような問題点を解決するために提案された
ものであり、測距モジュールの投光部から投射されたビ
ームを、照射部材の所定位置に正確に照射できるように
した測距方法を提供することをその目的とするものであ
る。

［問題点を解決するための手段］ 上記目的のため、本発明は、投光部と受光部を備えた測
距モジュールの測距精度を検査する方法であって、 前記測距モジュールの前方にビーム照射部材を配し、該
ビーム照射部材と測距モジュールの投光部の間に光学部
材を配すると共に、測距モジュールの受光部とは別に前
記照射部材からの反射光を受光する受光手段を設け、 前記洞距モジュールの投光部からのビームを照射部材に
照射したときの照射位置と、光学部材を介して照射した
ときの照射位置を前記受光手段で検出し、これら照射位
置の間隔が、測定距離に応じた設定値となるように前記
光学部材を移動させること特徴とするものである。

また、本発明は上記光学部材を移動させる方法に代えて
、両照射位置の間隔が、測定距離に応じた設定値となる
ように照射部材を移動させることを特徴とするものであ
る。

［実施例］ 以下本発明の実施例を添付図面に従って説明する。

第１図は本発明の原理図を示したものであり、１は測距
モジュールを組み込んだ被検カメラ、２はそのカメラの
投光部、３は受光部である。前記投光部２はＬＥＤ等の
発光素子と投光レンズとから構成され、受光部３は位置
検出素子（ＰＳＤ等）と受光レンズとから構成されてい
る。

４は後述する光学部材の調整のときに使用される受光装
置であり、被検カメラ１の受光部３の近傍に配置されて
いる。この受光装置４は、前記被検カメラ１の受光部３
と同じく位置検出素子と受光レンズから構成されている
。

６は前記被検カメラ１の前方に配置された照射部材であ
り、通常は板材である。

５は被検カメラ１の投光部２の前方に配置された光学部
材であり、図示しない駆動機構により、第１図に向って
上下方向に変位可能となっている。

次に上記した検査装置による測距精度検査方法を第２図
及び第３図により説明する。

第２図は上記検査装置による検査方法のフローチャート
、第３図は同検査装置の制御システムのブロック図を示
したちのである。

まず被検カメラ１を検査装置の所定位置にセット２０し
、検査開始指令をコントローラ３０に送る。つぎにコン
トローラ３０の記憶手段内に格納されているデータを初
期化２１ｔ，、駆動部３ｌにより光学部材５を移動させ
、ビーム光路から退避させた状態にする。その後、コン
トローラ３０からの指令により被検カメラ１の投光部２
がＯＮとなり、投光部２からビームａを投光２２させる
。このビームａは直進して照射部材６のＰ。の位置に照
射され、その反射光が受光装置４で受光２３される。

受光装置４では位置検出素子により、前記ビームａの照
射位置Ｐ０が検出され、コントローラ３０の記憶手段に
記憶される。

つぎにこの状態で（一旦投光部２をＯＦＦとしてもよい
）、光学部材５がビームａの光路上にセット２４され、
投光部２からのビームが屈折される（ビームｂ）。そし
て、このビームｂの照射部材６からの反射光が受光装置
４で受光２５されると共に、ビームｂの照射位置Ｐが前
記受光装置４で検出され、その検出値がコントローラ３
０に入力される。

コントローラ３０おいては、演算処理部において前記Ｐ
とＰ。どの間隔Ｗ　（Ｗ：　Ｐ　−　Ｐ　ｏ　）が算出
２６され，Ｗが設定基準値ｗ０となるように、即ちＰ＝
Ｐｏ　＋ｗｏとなるまで光学部材５の駆動部３ｌに指令
が出され、光学部材５の基準位置が調整２７される。

Ｐが設定基準値となったとき、投光部２からのビーム投
射がＯＦＦ２８となり、測距検査２９が行なわれる。該
測距検査は前述した第５図の原理に従い、光学部材５を
介して照射部材６のＰ位置に照射したビームｂの反射光
を受光部３で受光し、三角測量法に基づき、測距するも
のである。

この測距検査での設定距離の変更は、上記実施例では光
学部材５を第１図の矢視方向に変位させているが、該光
学部材５を第１図の左右方向に変位させることにより設
定距離を変更するようにしてもよい。

即ち、前記光学部材５が凸レンズである場Ｗ：照射部材
６にビームが照射される位置℃：光学部材から照射部材
までの距離 α：光学部材によるビームの屈折角 ｆ：光学部材の焦点距離 δ：投光部の中心から光学部材の中心までの偏心量 とすると（第４図参照）、 上式から、ｆｌ，ｆを一定としたとき、Ｗはδによって
調整され、光学部材５は第１図の上下方向に移動すれば
よいことになる。

また、光学部材５がプリズムの場合、αは一定であり、
ｗ　＝　４２　ｔａｎαであるから、Ｗは２によって調
整され、従って光学部材５を第１図に向って左右方向に
移動すればよいことになる。

この設定距離を変更する方法としては、照射部材６を第
１図の左右方向に移動するようにしてもよい。また上記
設定距離の調整は何らかの原因で被検カメラのセット位
置が狂わない限り、最初の検査の際に調整すればよく、
被検カメラ毎にその調整を行なう必要はない。

上記した実施例は本発明の一例を示したものであり、本
発明を実施するためのフローチャートや制御システムは
第２図及び第３図に実施例に限定されるものではなく、
必要に応じて変更することができる。

［発明の効果］ 上記した本発明によれば、測距モジュールの測距精度検
査を行なう場合、短いスペースを有効利用して長い距離
の測距検査を行なうことができ、また、測距距離設定の
ための照射部材へのビーム照射位置の位置決めを、簡単
にかつ精度よく行なうことができる。さらに、本発明は
測距モジュールの投光部のビームを利用しているため、
製品のバラツキ等による測定誤差がなく，位置決め精度
が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を説明するための原理図、第２図は本発
明のフローチャート図、第３図は本発明の制御システム
のブロック図、第４図は本発明の測定距離設定法を説明
するための原理図、第５図は本発明の背景技術を説明す
るための原理図である。 ｌ・・・被検カメラ、２・・・投光部、３・・・受光部
、４・・・受光装置、５・・・光学部材、６・・・照射
部材

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）投光部と受光部を備えた測距モジュールの測距精
   度を検査する方法であって、 前記測距モジュールの前方にビーム照射部材を配し、該
   ビーム照射部材と測距モジュールの投光部の間に光学部
   材を配すると共に、測距モジュールの受光部とは別に前
   記照射部材からの反射光を受光する受光手段を設け、 前記測距モジュールの投光部からのビームを照射部材に
   照射したときの照射位置と、光学部材を介して照射した
   ときの照射位置を前記受光手段で検出し、これら照射位
   置の間隔が、測定距離に応じた設定値となるように前記
   光学部材を移動させること特徴とする測距モジュールの
   測距精度検査方法。
2. （２）請求項１記載の測距モジュールの測距精度検査方
   法において、光学部材を移動させる方法に代え、両照射
   位置の間隔が、測定距離に応じた設定値となるように照
   射部材を移動させることを特徴とする測距モジュールの
   測距精度検査方法。