JPH03105992A - 光半導体素子 - Google Patents
光半導体素子Info
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- JPH03105992A JPH03105992A JP1244576A JP24457689A JPH03105992A JP H03105992 A JPH03105992 A JP H03105992A JP 1244576 A JP1244576 A JP 1244576A JP 24457689 A JP24457689 A JP 24457689A JP H03105992 A JPH03105992 A JP H03105992A
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- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/06209—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in single-section lasers
- H01S5/0622—Controlling the frequency of the radiation
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/11—Comprising a photonic bandgap structure
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- H01S5/06206—Controlling the frequency of the radiation, e.g. tunable twin-guide lasers [TTG]
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/50—Amplifier structures not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/5045—Amplifier structures not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30 the arrangement having a frequency filtering function
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[IR要]
光半導体素子に係り、特に波長多重化された光信号の中
からある特定の波長の光信号を取り出す波長可変フィル
タ又は複数の波長の光信号を選択的に発振する波長可変
レーザに関し、 透過光又は発振光の強度を一定に保ちながら共振波長を
大きく変えることができ、光ネットワークの波長多重度
を大きくすることができる光半導体素子を提供すること
を目的とし、 第1導電型の半導体基板と、前記半導体基板上に形成さ
れた光ガイド層と、前記光ガイド層上に形成された第2
導電型のセパレート層と、前記セパレート層により前記
光ガイド層と電気的に分離された活性層と、前記光ガイ
ド層、前記セパレート層、及び前記活性層の両開に形成
された第2導電型の埋込み層と、前記活性層上に第1導
電型のクラッド層を介して形成された第1の電極と、前
記半導体基板底面上に形成された第2の電極と、前記埋
込み層上に形或された第3の電極とを有し、前記光ガイ
ド層及び前記活性層にそれぞれ独立に電流を流すことに
より、共振波長を変えるように構成する. [産業上の利用分野] 本発明は光半導体素子に係り、特に波長多重化された光
信号の中からある特定の波長の光信号を取り出す波長可
変フィルタ又は複数の波長の光信号を選択的に発振する
波長可変レーザに関する.近年、長距離・大容量の光通
信システムの実用化に伴い、光の波長多重を利用した光
ネットワークの有用性が高まっている.そしてこの光ネ
ットワークの高性能化を図るためには、波長多重のチャ
ネル数を増やすことが必要となっている.従って、光ネ
ットワークを楕或する重要な素子である波長可変フィル
タの可変波長幅を拡大することが求められている。又同
様にして、波長可変レーザの可変波長幅を拡大すること
も求められている。
からある特定の波長の光信号を取り出す波長可変フィル
タ又は複数の波長の光信号を選択的に発振する波長可変
レーザに関し、 透過光又は発振光の強度を一定に保ちながら共振波長を
大きく変えることができ、光ネットワークの波長多重度
を大きくすることができる光半導体素子を提供すること
を目的とし、 第1導電型の半導体基板と、前記半導体基板上に形成さ
れた光ガイド層と、前記光ガイド層上に形成された第2
導電型のセパレート層と、前記セパレート層により前記
光ガイド層と電気的に分離された活性層と、前記光ガイ
ド層、前記セパレート層、及び前記活性層の両開に形成
された第2導電型の埋込み層と、前記活性層上に第1導
電型のクラッド層を介して形成された第1の電極と、前
記半導体基板底面上に形成された第2の電極と、前記埋
込み層上に形或された第3の電極とを有し、前記光ガイ
ド層及び前記活性層にそれぞれ独立に電流を流すことに
より、共振波長を変えるように構成する. [産業上の利用分野] 本発明は光半導体素子に係り、特に波長多重化された光
信号の中からある特定の波長の光信号を取り出す波長可
変フィルタ又は複数の波長の光信号を選択的に発振する
波長可変レーザに関する.近年、長距離・大容量の光通
信システムの実用化に伴い、光の波長多重を利用した光
ネットワークの有用性が高まっている.そしてこの光ネ
ットワークの高性能化を図るためには、波長多重のチャ
ネル数を増やすことが必要となっている.従って、光ネ
ットワークを楕或する重要な素子である波長可変フィル
タの可変波長幅を拡大することが求められている。又同
様にして、波長可変レーザの可変波長幅を拡大すること
も求められている。
[従来の技術〕
従来の波長可変フィルタを第2図に示す。
例えばn型InP基板32上に、回折格子34を介して
、n型! nGaAs P光ガイド層36,ノンドープ
I nGaAsP活性層38、p型InPクラッド層4
0,及びp型1 nGaAsPコンタクト層42が順に
形戒されている.そしてメサ形状になっているp型I
nGaAsPコンタクト層42、p型InPクラッド層
40、I nGaAsP活性層38、及びInGaAs
P光ガイド層36の測面には、n型InP埋込み層44
が形成されている.そしてp型I nGaAsPコンタ
クトNJ42上には、例えば3個の@極46,48.5
0が光の進行方向即ち共振器方向に配置され,またn型
InP基板32底面上には、電極52が形或されている
. こうして多電極DFB (分布帰還型)レーザと同じ横
遣の波長可変フィルタが形成されている.次に、動作を
説明する. 通常、DFBレーザの発振波長は内部に形成されている
回折格子のピッチにより決まる。すなわちDFBレーザ
の発振波長λは、 λ”=2N−A−n.tt で与えられる。ここで、Nは回折格子の次数、Aは回折
格子のピッチ、n ar+は活性層を伝播する光の等価
屈折率である. 第2図と同じ構造のDFBレーザのn型InP基板32
底面上の電極52を接地し、p型1nGaAsPコンタ
クト層42上の3個の電極4648.50に所定の電圧
を印加して駆動電流を均一に注入すると、所定の波長で
レーザ発振を行なう.これに対して、3個の電[!46
,48.50にから駆動電流に近い値の@流を均一に注
入してレーザ発振直前の状態にし、外部からいろいろな
波長或分をもつ光信号を入射すると、レーザ発振波長に
相当する光のみが選択的に増幅されて出力される.すな
わち、DFBレーザの発振波長に相当する特定の波長の
光信号のみを通過させる光フィルタが構成される. また、3個のt極46,48.50から注入する電流の
量を変えると、プラズマ効果によってInGaAsP活
性層38内のキャリア数が変化して光の等価屈折率n.
,,が変化する.これにより、DFBレーザの発振波長
を変化させることができる.従って、このDFBレーザ
をフィルタとして用いると、発振波長の変化に対応して
、フィルタ動作時の透過中心波長を変えることができる
,こうして波長可変フィルタが構成される.しかし、こ
の波長可変DFBレーザにおいては、発振波長を変える
ために電流注入量を変えるが、これによってInGaA
sP活I1!.層38の利得が変化し、光の増幅率が変
わる.同様にして、波長可変フィルタの場合には、透過
中心波長を変えるために電流注入量を変えることにより
、I nGaAsP活性層38の利得が変化し、透過す
る光の増幅率が変わる. また、3個の電極46,48.50から注入する電流の
比率を変えると、InGaAsP活性層38内のキャリ
ア数の変化によって共振器方向における屈折率分布が不
均一となり、光の等価屈折率n@ytが変化する。この
ため、波長可変DFBレーザの発振波長と利得との関係
を示す第3図のグラフに表されるように、InGaAs
P活性層38の利得を一定に保ったままでDFBレーザ
の発振波長が変化する.従って、この波長可変DFBレ
ーザをフィルタとして用いると、光増幅率を一定に保っ
たままで、フィルタ動作時の透過中心波長を発振波長の
変化に対応して変えることができる. しかし、この波長可変DFBレーザにおいては、3個の
電極46.48.50から注入する電流の比率を調整す
ることができる範囲は限られていて、光増幅率を一定に
保った状態では発振波長を余り大きく変えることができ
ない.従って、波長可変フィルタにおいても同様に、光
増幅率を一定に保つた状態では透過中心波長を余り大き
く変えることができない. [発明が解決しようとする課題] このように、上記従来の波長可変フィルタ又は波長可変
DFBレーザにおいては、透過中心波長又は発振波長を
変えるために電流注入量を変えると活性層の利得が変化
して透過する光の増幅率が変わってしまう.光増幅率が
一定になるように複数の電極から活性層に流す電流の比
率を調整する方法を用いても、調整することができる範
囲は限られているため、光増幅率を一定に保った状態で
は透過中心波長又は発振波長を余り大きく変えることが
できない. このため、波長可変フィルタ又は波長可変レーザを用い
てシステムを構成する際に、共振波長の可変領域が狭く
、波長多重度を大きくとることができないという問題が
あった. そこで本発明は、透過光又は発振光の強度を一定に保ち
ながら共振波長を大きく変えることができ、光ネットワ
ークの波長多重度を大きくすることができる光半導体素
子を提供することを目的とする. [課題を解決するための手段] 上記課題は、第1導電型の半専体基板と、前記半導体基
板上に形成された光ガイド層と、前記光ガイド層上に形
成された第2導電型のセパレート層と、前記セパレート
層により前記光ガイド層と電気的に分離された活性層と
、前記光ガイド層、前記セパレート層、及び前記活性層
の両開に形成された第2導電型の埋込み層と、前記活性
層上に第1導電型のクラッド層を介して形戒された第l
の電極と、前記半導体基板底面上に形成された第2の電
極と、前記埋込み屑上に形成された第3の電極とを有し
、前記光ガイド層及び前記活性層にそれぞれ独立に電流
を流すことにより、共振波長を変えることを特徴とする
光半導体素子によって達戒される. [作 用] すなわち本発明は、セパレート層によって活性層と電気
的に分離された光ガイド層に独立に電流を流すことによ
り、光ガイド層の屈折率を独立に変化させることができ
る.従って活性層の利得を一定に保ちながら、共振波長
を大きく変えることができる。
、n型! nGaAs P光ガイド層36,ノンドープ
I nGaAsP活性層38、p型InPクラッド層4
0,及びp型1 nGaAsPコンタクト層42が順に
形戒されている.そしてメサ形状になっているp型I
nGaAsPコンタクト層42、p型InPクラッド層
40、I nGaAsP活性層38、及びInGaAs
P光ガイド層36の測面には、n型InP埋込み層44
が形成されている.そしてp型I nGaAsPコンタ
クトNJ42上には、例えば3個の@極46,48.5
0が光の進行方向即ち共振器方向に配置され,またn型
InP基板32底面上には、電極52が形或されている
. こうして多電極DFB (分布帰還型)レーザと同じ横
遣の波長可変フィルタが形成されている.次に、動作を
説明する. 通常、DFBレーザの発振波長は内部に形成されている
回折格子のピッチにより決まる。すなわちDFBレーザ
の発振波長λは、 λ”=2N−A−n.tt で与えられる。ここで、Nは回折格子の次数、Aは回折
格子のピッチ、n ar+は活性層を伝播する光の等価
屈折率である. 第2図と同じ構造のDFBレーザのn型InP基板32
底面上の電極52を接地し、p型1nGaAsPコンタ
クト層42上の3個の電極4648.50に所定の電圧
を印加して駆動電流を均一に注入すると、所定の波長で
レーザ発振を行なう.これに対して、3個の電[!46
,48.50にから駆動電流に近い値の@流を均一に注
入してレーザ発振直前の状態にし、外部からいろいろな
波長或分をもつ光信号を入射すると、レーザ発振波長に
相当する光のみが選択的に増幅されて出力される.すな
わち、DFBレーザの発振波長に相当する特定の波長の
光信号のみを通過させる光フィルタが構成される. また、3個のt極46,48.50から注入する電流の
量を変えると、プラズマ効果によってInGaAsP活
性層38内のキャリア数が変化して光の等価屈折率n.
,,が変化する.これにより、DFBレーザの発振波長
を変化させることができる.従って、このDFBレーザ
をフィルタとして用いると、発振波長の変化に対応して
、フィルタ動作時の透過中心波長を変えることができる
,こうして波長可変フィルタが構成される.しかし、こ
の波長可変DFBレーザにおいては、発振波長を変える
ために電流注入量を変えるが、これによってInGaA
sP活I1!.層38の利得が変化し、光の増幅率が変
わる.同様にして、波長可変フィルタの場合には、透過
中心波長を変えるために電流注入量を変えることにより
、I nGaAsP活性層38の利得が変化し、透過す
る光の増幅率が変わる. また、3個の電極46,48.50から注入する電流の
比率を変えると、InGaAsP活性層38内のキャリ
ア数の変化によって共振器方向における屈折率分布が不
均一となり、光の等価屈折率n@ytが変化する。この
ため、波長可変DFBレーザの発振波長と利得との関係
を示す第3図のグラフに表されるように、InGaAs
P活性層38の利得を一定に保ったままでDFBレーザ
の発振波長が変化する.従って、この波長可変DFBレ
ーザをフィルタとして用いると、光増幅率を一定に保っ
たままで、フィルタ動作時の透過中心波長を発振波長の
変化に対応して変えることができる. しかし、この波長可変DFBレーザにおいては、3個の
電極46.48.50から注入する電流の比率を調整す
ることができる範囲は限られていて、光増幅率を一定に
保った状態では発振波長を余り大きく変えることができ
ない.従って、波長可変フィルタにおいても同様に、光
増幅率を一定に保つた状態では透過中心波長を余り大き
く変えることができない. [発明が解決しようとする課題] このように、上記従来の波長可変フィルタ又は波長可変
DFBレーザにおいては、透過中心波長又は発振波長を
変えるために電流注入量を変えると活性層の利得が変化
して透過する光の増幅率が変わってしまう.光増幅率が
一定になるように複数の電極から活性層に流す電流の比
率を調整する方法を用いても、調整することができる範
囲は限られているため、光増幅率を一定に保った状態で
は透過中心波長又は発振波長を余り大きく変えることが
できない. このため、波長可変フィルタ又は波長可変レーザを用い
てシステムを構成する際に、共振波長の可変領域が狭く
、波長多重度を大きくとることができないという問題が
あった. そこで本発明は、透過光又は発振光の強度を一定に保ち
ながら共振波長を大きく変えることができ、光ネットワ
ークの波長多重度を大きくすることができる光半導体素
子を提供することを目的とする. [課題を解決するための手段] 上記課題は、第1導電型の半専体基板と、前記半導体基
板上に形成された光ガイド層と、前記光ガイド層上に形
成された第2導電型のセパレート層と、前記セパレート
層により前記光ガイド層と電気的に分離された活性層と
、前記光ガイド層、前記セパレート層、及び前記活性層
の両開に形成された第2導電型の埋込み層と、前記活性
層上に第1導電型のクラッド層を介して形戒された第l
の電極と、前記半導体基板底面上に形成された第2の電
極と、前記埋込み屑上に形成された第3の電極とを有し
、前記光ガイド層及び前記活性層にそれぞれ独立に電流
を流すことにより、共振波長を変えることを特徴とする
光半導体素子によって達戒される. [作 用] すなわち本発明は、セパレート層によって活性層と電気
的に分離された光ガイド層に独立に電流を流すことによ
り、光ガイド層の屈折率を独立に変化させることができ
る.従って活性層の利得を一定に保ちながら、共振波長
を大きく変えることができる。
[実施例]
以下、本発明を図示する実施例に基づいて具体的に説明
する. 第1図(a>,(b>は、それぞれ本発明のー実施例に
よる波長可変フィルタを示す斜視図及び断面図である. 例えばキャリア濃度p=5X10′8cm−’の(10
0)p型1nP基板2上に、ピッチ240nm、深さ3
0nmの回折格子4を介して、フォトルミネセンス波長
1.4μm、厚さ1,2μmのノンドーブInGaAs
P光ガイド層6が通常の液相成長法によって形成されて
いる。またこのInGaAsP光ガイド層6上に、キャ
リア濃度n=2X10”cm− 、厚さ1.2μmのn
型InPセパレート層8を介して、フォトルミネセンス
波長1.55μm、厚さ0.1μmのノンドーブInG
aAsP活性層10が液相成長法によって形成されてい
る.従って、このn型InPセパレート層8により、I
nGaAsP光ガイド層6及びI nGaAsP活性層
10は互いに電気的に分離されている. また、このInGaAsP活性層10上には、キャリア
濃度P=5X10”cm− 、厚さ1.5μmのp型I
nPクラッド層12及びフォトルミネセンス波長1.3
μm、キャリア濃度p=1×10”am一、厚さ0.4
,umのp型InGaAsPコンタクト層14が液相成
長法によって順に形成されている.そしてメサ形状にな
っているP型InGaAsPコンタクト層14、P型I
nPクラッド層12、I nGaAsP活性層10,n
型InPセパレート層8、及びInGaAsP光ガイド
層6の測面には、n型InP埋込み層16が液相成長法
によって形成されている.そしてP型InGaAspコ
ンタクト114表面にZnを拡散して形成されたZn拡
散領域18上には、I nGaAsP活性層10に電流
!aを注入する第1の電極20が形成されている.また
、p型InP基板2底面上には、I nGaAs P光
ガイド層6に電流Isを注入する第2の電極22が形成
されている.さらに、n型InP埋込み層16上にはグ
ランドに接地された第3の電極24が形或されている. 次に、動作を説明する. 第1の電[i20に所定の電圧を印加してInGaAs
P活性層10に電流Iaを注入し、波長可変フィルタを
レーザ発振直前の状態にする.これにより、波長可変フ
ィルタの共振波長、即ち透過中心波長がまず決定する.
次いで、第2の電極22に所定の電圧を印加してI n
GaAsP光ガイド層6に電流Isを注入すると、この
I nGaAsP光ガイド層6の等価屈折率naffが
プラズマ効果によって小さくなる.これにより、透過中
心波長は短波長開にシフトされる.そしてこのとき、I
nGaAsP活性層10に流れる電流Iaは変わらない
ため、光増幅率は変化しない.このように本実施例によ
れば、n型1nPセパレート層8によってInGaAs
P活性層10と電気的に分離されているInGaAsP
光ガイド層6に、p型InP基板2底面上に設けられた
第2の電[i22からInGaAsP活性層1oと独立
に電流Isを注入し、この電流Isを制御することによ
り、波長可変フィルタの透過中心波長を大きく変えるこ
とができる. なお、上記実施例においては、波長可変フィルタの場合
について述べたが、第1図に示す構造と同等の構造で可
変波長レーザを形或することができる.そしてこの可変
波長レーザにおいても、上記実施例による波長可変フィ
ルタの場合と同様にして、活性層と独立に光ガイド層に
電流Isを注入制御することにより、レーザ発振波長を
大きく変えることができる。
する. 第1図(a>,(b>は、それぞれ本発明のー実施例に
よる波長可変フィルタを示す斜視図及び断面図である. 例えばキャリア濃度p=5X10′8cm−’の(10
0)p型1nP基板2上に、ピッチ240nm、深さ3
0nmの回折格子4を介して、フォトルミネセンス波長
1.4μm、厚さ1,2μmのノンドーブInGaAs
P光ガイド層6が通常の液相成長法によって形成されて
いる。またこのInGaAsP光ガイド層6上に、キャ
リア濃度n=2X10”cm− 、厚さ1.2μmのn
型InPセパレート層8を介して、フォトルミネセンス
波長1.55μm、厚さ0.1μmのノンドーブInG
aAsP活性層10が液相成長法によって形成されてい
る.従って、このn型InPセパレート層8により、I
nGaAsP光ガイド層6及びI nGaAsP活性層
10は互いに電気的に分離されている. また、このInGaAsP活性層10上には、キャリア
濃度P=5X10”cm− 、厚さ1.5μmのp型I
nPクラッド層12及びフォトルミネセンス波長1.3
μm、キャリア濃度p=1×10”am一、厚さ0.4
,umのp型InGaAsPコンタクト層14が液相成
長法によって順に形成されている.そしてメサ形状にな
っているP型InGaAsPコンタクト層14、P型I
nPクラッド層12、I nGaAsP活性層10,n
型InPセパレート層8、及びInGaAsP光ガイド
層6の測面には、n型InP埋込み層16が液相成長法
によって形成されている.そしてP型InGaAspコ
ンタクト114表面にZnを拡散して形成されたZn拡
散領域18上には、I nGaAsP活性層10に電流
!aを注入する第1の電極20が形成されている.また
、p型InP基板2底面上には、I nGaAs P光
ガイド層6に電流Isを注入する第2の電極22が形成
されている.さらに、n型InP埋込み層16上にはグ
ランドに接地された第3の電極24が形或されている. 次に、動作を説明する. 第1の電[i20に所定の電圧を印加してInGaAs
P活性層10に電流Iaを注入し、波長可変フィルタを
レーザ発振直前の状態にする.これにより、波長可変フ
ィルタの共振波長、即ち透過中心波長がまず決定する.
次いで、第2の電極22に所定の電圧を印加してI n
GaAsP光ガイド層6に電流Isを注入すると、この
I nGaAsP光ガイド層6の等価屈折率naffが
プラズマ効果によって小さくなる.これにより、透過中
心波長は短波長開にシフトされる.そしてこのとき、I
nGaAsP活性層10に流れる電流Iaは変わらない
ため、光増幅率は変化しない.このように本実施例によ
れば、n型1nPセパレート層8によってInGaAs
P活性層10と電気的に分離されているInGaAsP
光ガイド層6に、p型InP基板2底面上に設けられた
第2の電[i22からInGaAsP活性層1oと独立
に電流Isを注入し、この電流Isを制御することによ
り、波長可変フィルタの透過中心波長を大きく変えるこ
とができる. なお、上記実施例においては、波長可変フィルタの場合
について述べたが、第1図に示す構造と同等の構造で可
変波長レーザを形或することができる.そしてこの可変
波長レーザにおいても、上記実施例による波長可変フィ
ルタの場合と同様にして、活性層と独立に光ガイド層に
電流Isを注入制御することにより、レーザ発振波長を
大きく変えることができる。
[発明の効果]
以上のように本発明によれば、活性層と光ガイド層との
間にセパレート層を設けて活性層と独立に光ガイド層に
電流を流すことにより、光ガイド層の屈折率を独立に変
化させて、透過光又は発振光の強度を一定に保ちながら
透過中心波長又は発振波長を大きく変えることができる
。
間にセパレート層を設けて活性層と独立に光ガイド層に
電流を流すことにより、光ガイド層の屈折率を独立に変
化させて、透過光又は発振光の強度を一定に保ちながら
透過中心波長又は発振波長を大きく変えることができる
。
これにより、可変波長幅の大きな波長可変レーザ又は波
長可変フィルタを実現し、光ネットワークの波長多重度
を大きくすることができる。
長可変フィルタを実現し、光ネットワークの波長多重度
を大きくすることができる。
第1図は本発明の一実熊例による波長可変フィルタを示
す図、 第2図は従来の波長可変フィルタを示す図、第3図は第
2図の波長可変フィルタの動作を説明するためのグラフ
である. 図において、 2・・・・・・P型1nP基板、 4.34・・・・・・回折格子、 6・・・・・・InGaAsP光ガイド層、8・・・・
・・n型1nPセパレート層、1 0.38・・−I
nGaAs P活性層、12.40・・・・・・p型1
nPクラッド層、14.42p型1nGaAsPコンタ
クト層、16.44・・・・・・n型InP埋込み層、
18・・・・・・Zn拡散領域、 20, 22. 24.46. 48, 50
. 52・・・・・・電極、 32・・・・・・n型InP基板、 36・・・・・・n型InGaAsP光ガイド層。
す図、 第2図は従来の波長可変フィルタを示す図、第3図は第
2図の波長可変フィルタの動作を説明するためのグラフ
である. 図において、 2・・・・・・P型1nP基板、 4.34・・・・・・回折格子、 6・・・・・・InGaAsP光ガイド層、8・・・・
・・n型1nPセパレート層、1 0.38・・−I
nGaAs P活性層、12.40・・・・・・p型1
nPクラッド層、14.42p型1nGaAsPコンタ
クト層、16.44・・・・・・n型InP埋込み層、
18・・・・・・Zn拡散領域、 20, 22. 24.46. 48, 50
. 52・・・・・・電極、 32・・・・・・n型InP基板、 36・・・・・・n型InGaAsP光ガイド層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 第1導電型の半導体基板と、 前記半導体基板上に形成された光ガイド層と、前記光ガ
イド層上に形成された第2導電型のセパレート層と、 前記セパレート層により前記光ガイド層と電気的に分離
された活性層と、 前記光ガイド層、前記セパレート層、及び前記活性層の
両側に形成された第2導電型の埋込み層と、 前記活性層上に第1導電型のクラッド層を介して形成さ
れた第1の電極と、 前記半導体基板底面上に形成された第2の電極と、 前記埋込み層上に形成された第3の電極とを有し、 前記光ガイド層及び前記活性層にそれぞれ独立に電流を
流すことにより、共振波長を変えることを特徴とする光
半導体素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1244576A JPH03105992A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-19 | 光半導体素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1244576A JPH03105992A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-19 | 光半導体素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03105992A true JPH03105992A (ja) | 1991-05-02 |
Family
ID=17120776
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1244576A Pending JPH03105992A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-19 | 光半導体素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03105992A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05315706A (ja) * | 1992-05-11 | 1993-11-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ |
| JPH0653606A (ja) * | 1992-07-27 | 1994-02-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体レーザ |
| US5325379A (en) * | 1992-01-20 | 1994-06-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Tunable laser diode |
-
1989
- 1989-09-19 JP JP1244576A patent/JPH03105992A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5325379A (en) * | 1992-01-20 | 1994-06-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Tunable laser diode |
| JPH05315706A (ja) * | 1992-05-11 | 1993-11-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ |
| JPH0653606A (ja) * | 1992-07-27 | 1994-02-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 半導体レーザ |
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