JPH0310903B2 - - Google Patents
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- JPH0310903B2 JPH0310903B2 JP55114070A JP11407080A JPH0310903B2 JP H0310903 B2 JPH0310903 B2 JP H0310903B2 JP 55114070 A JP55114070 A JP 55114070A JP 11407080 A JP11407080 A JP 11407080A JP H0310903 B2 JPH0310903 B2 JP H0310903B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- plate
- ray diffraction
- casing
- filling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20008—Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
- G01N23/20025—Sample holders or supports therefor
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は粉末試料のＸ線回折を行うためのＸ線
回折試料シール装置に関するものである。
回折試料シール装置に関するものである。
一般にＸ線回折装置においては、板状容器に粉
末試料を充填し、大気中でＸ線を照射することに
よつて測定が行われている。しかしながら、粉末
試料が酸素や水分などに鋭敏で変化を起こし易い
場合には、試料充填後、Ｘ線回折装置にセツト
し、測定を行つている間に試料が変質を起こすこ
とがあり、真の測定ができない。
末試料を充填し、大気中でＸ線を照射することに
よつて測定が行われている。しかしながら、粉末
試料が酸素や水分などに鋭敏で変化を起こし易い
場合には、試料充填後、Ｘ線回折装置にセツト
し、測定を行つている間に試料が変質を起こすこ
とがあり、真の測定ができない。
このような試料の変質を防止するためには、測
定系全体を乾燥不活性ガスでシールすることが考
えられるが、大懸りな装置となつてコスト高にな
るとともに、実際の測定操作も煩雑とならざるを
得ない。
定系全体を乾燥不活性ガスでシールすることが考
えられるが、大懸りな装置となつてコスト高にな
るとともに、実際の測定操作も煩雑とならざるを
得ない。
また側方に開口部を有する容器本体の前記開口
部に気密性でかつＸ線を透過する薄膜を設け、こ
の容器本体上方の開口部に真空活栓を有する蓋体
を気密性を保つて着脱するように構成し、前記容
器内部に固定した粉末試料支持台上に、試料板を
挿入抜出し自在に設けたＸ線回折用試料密封容器
が提案されている（実開昭52−108985号）。
部に気密性でかつＸ線を透過する薄膜を設け、こ
の容器本体上方の開口部に真空活栓を有する蓋体
を気密性を保つて着脱するように構成し、前記容
器内部に固定した粉末試料支持台上に、試料板を
挿入抜出し自在に設けたＸ線回折用試料密封容器
が提案されている（実開昭52−108985号）。
しかしながら、上記のＸ線回折用試料密封容器
は、試料板の全体を容器内に収容し、容器の底部
に設けたＸ線回折装置への取付位置決め部をＸ線
回折装置のゴニオメータに取付けて位置決めする
ようになつているため、密封容器を使用しない場
合に使用する通常の試料板とは異なる試料板を別
に準備する必要があり、また試料板を容器内に収
容したときに、容器底部に設けられた取付位置決
め部と試料板の位置を正確に一致させることが困
難であり、分析精度が低下するという問題点があ
つた。
は、試料板の全体を容器内に収容し、容器の底部
に設けたＸ線回折装置への取付位置決め部をＸ線
回折装置のゴニオメータに取付けて位置決めする
ようになつているため、密封容器を使用しない場
合に使用する通常の試料板とは異なる試料板を別
に準備する必要があり、また試料板を容器内に収
容したときに、容器底部に設けられた取付位置決
め部と試料板の位置を正確に一致させることが困
難であり、分析精度が低下するという問題点があ
つた。
本発明の目的は、上記のような問題点を解決す
るため、通常のＸ線回折装置および試料板をその
まま使用し、粉末試料の変質を防止しながら正確
に位置決めして、精度よくＸ線回折を行うことが
できるＸ線回折試料シール装置である。
るため、通常のＸ線回折装置および試料板をその
まま使用し、粉末試料の変質を防止しながら正確
に位置決めして、精度よくＸ線回折を行うことが
できるＸ線回折試料シール装置である。
本発明は、粉末試料を充填する試料充填部およ
びＸ線回折装置への取付位置決め部を有する試料
板と、この試料板の試料充填部を収容し、かつ取
付位置決め部を突出させるように試料板を取付け
るケーシングと、前記試料板の試料充填部の周辺
部に気密状に密着するように前記ケーシングの基
部に形成された試料取付板と、この試料取付板の
前記試料充填部に対応する位置に形成された窓部
と、この窓部から間隔を保つて前記ケーシングの
対向位置に設けられたＸ線透過部と、前記試料板
を前記試料取付板に押圧して固定するとともに前
記ケーシングを密閉状態にする押圧機構とを有す
るＸ線回折試料シール装置である。
びＸ線回折装置への取付位置決め部を有する試料
板と、この試料板の試料充填部を収容し、かつ取
付位置決め部を突出させるように試料板を取付け
るケーシングと、前記試料板の試料充填部の周辺
部に気密状に密着するように前記ケーシングの基
部に形成された試料取付板と、この試料取付板の
前記試料充填部に対応する位置に形成された窓部
と、この窓部から間隔を保つて前記ケーシングの
対向位置に設けられたＸ線透過部と、前記試料板
を前記試料取付板に押圧して固定するとともに前
記ケーシングを密閉状態にする押圧機構とを有す
るＸ線回折試料シール装置である。
本発明のＸ線回折試料シール装置は、不活性ガ
ス中など、空気を遮断した状態で、試料板の試料
充填部に粉末試料を充填し、この試料板の試料充
填部をケーシング内に収容し、かつ取付位置決め
部をケーシングから突出させるように、試料板を
ケーシングに取付ける。このとき試料板を試料充
填部が窓部に対向するようにケーシングの試料取
付板に取付け、押圧機構により押圧して、試料板
を固定するとともに、ケーシングを密閉状態にす
る。
ス中など、空気を遮断した状態で、試料板の試料
充填部に粉末試料を充填し、この試料板の試料充
填部をケーシング内に収容し、かつ取付位置決め
部をケーシングから突出させるように、試料板を
ケーシングに取付ける。このとき試料板を試料充
填部が窓部に対向するようにケーシングの試料取
付板に取付け、押圧機構により押圧して、試料板
を固定するとともに、ケーシングを密閉状態にす
る。
こうしてＸ線回折試料シール装置に取付けた試
料板のケーシングから突出する取付位置決め部を
Ｘ線回折装置のゴニオメータに装着して位置決め
し、Ｘ線回折試料シール装置のＸ線透過部を通し
て、試料板に充填された粉末試料にＸ線を照射
し、再度Ｘ線透過部を透過した回折線を検出して
測定を行う。この場合、試料を充填した試料板は
取付位置決め部により直接Ｘ線回折装置のゴニオ
メータに取付けて位置決めされるので、位置決め
は正確であり、またケーシング内は密閉状態に維
持されているため、酸素、水等による粉末試料の
変質は防止され、正確な測定を行うことができ
る。
料板のケーシングから突出する取付位置決め部を
Ｘ線回折装置のゴニオメータに装着して位置決め
し、Ｘ線回折試料シール装置のＸ線透過部を通し
て、試料板に充填された粉末試料にＸ線を照射
し、再度Ｘ線透過部を透過した回折線を検出して
測定を行う。この場合、試料を充填した試料板は
取付位置決め部により直接Ｘ線回折装置のゴニオ
メータに取付けて位置決めされるので、位置決め
は正確であり、またケーシング内は密閉状態に維
持されているため、酸素、水等による粉末試料の
変質は防止され、正確な測定を行うことができ
る。
以下、本発明の実施例を図面により説明する。
第１図は実施例のＸ線回折試料シール装置を示
す正面透視図、第２図はその−断面図、第３
図は−断面図、第４図は試料板の正面図であ
る。
す正面透視図、第２図はその−断面図、第３
図は−断面図、第４図は試料板の正面図であ
る。
図において、１は試料板で、ガラス等の長方形
の平板からなり、長手方向の一半部の片面に凹状
の試料充填部２が形成され、他半部は平板状のま
まＸ線回折装置への取付位置決め部１ａとなつて
いる。試料充填部２は凹部が粗面化され、粉末試
料３が充填された場合落下することなく保持され
るようになつている。
の平板からなり、長手方向の一半部の片面に凹状
の試料充填部２が形成され、他半部は平板状のま
まＸ線回折装置への取付位置決め部１ａとなつて
いる。試料充填部２は凹部が粗面化され、粉末試
料３が充填された場合落下することなく保持され
るようになつている。
４は試料板１を取付けるケーシングで、試料板
１の試料充填部２を収容し、取付位置決め部１ａ
を突出させるように形成されている。ケーシング
４は、試料板１の試料充填部２の周辺部と気密状
に密着するように形成された平板状の試料取付板
５と、この試料取付板５の試料充填部２に対応す
る位置に形成された窓部６と、この窓部６の対向
位置に間隔を保つて半円筒状に設けられたＸ線透
過部としてのＸ線透過フイルム７と、このフイル
ム７の周辺部を保持する枠部８と、ケーシング４
の側面を形成する半円状の側面板９とからなる。
試料取付板５の窓部６周囲の試料板１と接する部
分には、シール材としてポリテトラフルオロエチ
レン等からなる薄いパツキング１０が張られてい
る。
１の試料充填部２を収容し、取付位置決め部１ａ
を突出させるように形成されている。ケーシング
４は、試料板１の試料充填部２の周辺部と気密状
に密着するように形成された平板状の試料取付板
５と、この試料取付板５の試料充填部２に対応す
る位置に形成された窓部６と、この窓部６の対向
位置に間隔を保つて半円筒状に設けられたＸ線透
過部としてのＸ線透過フイルム７と、このフイル
ム７の周辺部を保持する枠部８と、ケーシング４
の側面を形成する半円状の側面板９とからなる。
試料取付板５の窓部６周囲の試料板１と接する部
分には、シール材としてポリテトラフルオロエチ
レン等からなる薄いパツキング１０が張られてい
る。
ケーシング４の試料取付板５側には押圧機構１
１が設けられている。押圧機構１１は、ケーシン
グ４の試料取付板５を覆うように一体化されたコ
字状の支持板１２と、この支持板１２および試料
取付板５間に形成された試料板装着空間１３に試
料板１を押圧できるように移動可能に配置された
押圧板１４と、押圧板１４に固着されかつ支持板
１２にねじ付けられたねじ１５と、試料板１を試
料取付板５側に押圧する板ばね１６と、試料板１
を両側から中央方向に押圧する板ばね１７とから
なる。１８は試料板１の先端を規制するストツパ
である。
１が設けられている。押圧機構１１は、ケーシン
グ４の試料取付板５を覆うように一体化されたコ
字状の支持板１２と、この支持板１２および試料
取付板５間に形成された試料板装着空間１３に試
料板１を押圧できるように移動可能に配置された
押圧板１４と、押圧板１４に固着されかつ支持板
１２にねじ付けられたねじ１５と、試料板１を試
料取付板５側に押圧する板ばね１６と、試料板１
を両側から中央方向に押圧する板ばね１７とから
なる。１８は試料板１の先端を規制するストツパ
である。
ケーシング４の試料取付板５、枠部８、側面板
９等はＸ線不透過性材料、例えば金属で構成され
ているが、フイルム７はＸ線透過性材料、例えば
ベリリウム、ポリエステル、ポリオレフイン、ニ
ツケル、アルミニウムなどで構成されており、フ
イルム７を通過したＸ線が粉末試料３に照射さ
れ、回折Ｘ線がフイルム７を透過して出ていくの
で、従来同様の測定が行えるようになつている。
フイルム７としてはできるだけ薄いものが好まし
く、また酸素透過性の小さいものが好ましい。フ
イルム７は試料測定の際、フイルム７のＸ線回折
が認められない程度に窓部６と離れている必要が
あり、Ｘ線の透過に支障がなければ如何なる形状
になつていてもよく、円筒形に限らない。
９等はＸ線不透過性材料、例えば金属で構成され
ているが、フイルム７はＸ線透過性材料、例えば
ベリリウム、ポリエステル、ポリオレフイン、ニ
ツケル、アルミニウムなどで構成されており、フ
イルム７を通過したＸ線が粉末試料３に照射さ
れ、回折Ｘ線がフイルム７を透過して出ていくの
で、従来同様の測定が行えるようになつている。
フイルム７としてはできるだけ薄いものが好まし
く、また酸素透過性の小さいものが好ましい。フ
イルム７は試料測定の際、フイルム７のＸ線回折
が認められない程度に窓部６と離れている必要が
あり、Ｘ線の透過に支障がなければ如何なる形状
になつていてもよく、円筒形に限らない。
上記のＸ線回折試料シール装置は、不活性ガス
中など、空気を遮断した状態で試料板１の試料充
填部２に粉末試料３を指またはガラス板等で押し
て充填し、この試料板１の試料充填部２をケーシ
ング４内に収容し、かつ取付位置決め部１ａをケ
ーシング４の下側から突出させるように、試料板
１をケーシング４に取付ける。このとき試料板１
を試料充填部２が窓部６に対向するようにケーシ
ング４の試料取付板５に取付け、押圧機構１１に
より押圧して、試料板１を固定するとともに、ケ
ーシング４を密閉状態にする。
中など、空気を遮断した状態で試料板１の試料充
填部２に粉末試料３を指またはガラス板等で押し
て充填し、この試料板１の試料充填部２をケーシ
ング４内に収容し、かつ取付位置決め部１ａをケ
ーシング４の下側から突出させるように、試料板
１をケーシング４に取付ける。このとき試料板１
を試料充填部２が窓部６に対向するようにケーシ
ング４の試料取付板５に取付け、押圧機構１１に
より押圧して、試料板１を固定するとともに、ケ
ーシング４を密閉状態にする。
このとき試料板１をケーシング４と押圧機構１
１間の試料板装着空間１３に挿入すると、試料板
１はストツパ１８により上下方向に位置決めさ
れ、板ばね１７により横方向に位置決めされ、試
料充填部２に充填された粉末試料３が窓部６に対
向した状態で、板ばね１６によりパツキング１０
に圧着される。この状態でねじ１５により押圧板
１４を前進させると、試料板１はパツキング１０
を介してケーシング４の試料取付板５に押圧され
て、気密状に密着して固定され、ケーシング４内
は密閉状態になる。
１間の試料板装着空間１３に挿入すると、試料板
１はストツパ１８により上下方向に位置決めさ
れ、板ばね１７により横方向に位置決めされ、試
料充填部２に充填された粉末試料３が窓部６に対
向した状態で、板ばね１６によりパツキング１０
に圧着される。この状態でねじ１５により押圧板
１４を前進させると、試料板１はパツキング１０
を介してケーシング４の試料取付板５に押圧され
て、気密状に密着して固定され、ケーシング４内
は密閉状態になる。
こうしてＸ線回折試料シール装置に取付けた試
料板１のケーシング４から突出する取付位置決め
部１ａをＸ線回折装置のゴニオメータに装着して
位置決めし、Ｘ線回折試料シール装置に設けられ
たＸ線透過部としてのフイルム７を通して、試料
板１に充填された粉末試料３にＸ線を照射し、再
度フイルム７を透過した回折線を検出して測定を
行う。この場合、粉末試料３を充填した試料板１
は取付位置決め部１ａにより直接Ｘ線回折装置の
ゴニオメータに取付けて位置決めされるので、位
置決めは正確である。またケーシング４内は密閉
状態に維持されているため、酸素、水等による粉
末試料の変質は防止され、正確な測定を行うこと
ができる。
料板１のケーシング４から突出する取付位置決め
部１ａをＸ線回折装置のゴニオメータに装着して
位置決めし、Ｘ線回折試料シール装置に設けられ
たＸ線透過部としてのフイルム７を通して、試料
板１に充填された粉末試料３にＸ線を照射し、再
度フイルム７を透過した回折線を検出して測定を
行う。この場合、粉末試料３を充填した試料板１
は取付位置決め部１ａにより直接Ｘ線回折装置の
ゴニオメータに取付けて位置決めされるので、位
置決めは正確である。またケーシング４内は密閉
状態に維持されているため、酸素、水等による粉
末試料の変質は防止され、正確な測定を行うこと
ができる。
すなわち、空気中の成分、例えば酸素や水分等
に対して変質し易い粉末試料のＸ線回折を行うに
当つては、乾燥不活性ガス雰囲気中、例えば窒素
ボツクス中で粉末試料３を試料板１に充填すると
ともに、本発明のＸ線回折シール装置への試料板
１の取付も同様に行えば、試料板１取付後にＸ線
回折試料シール装置を窒素ボツクスより取り出
し、Ｘ線回折を行つても、粉末試料３は密室に封
じ込められた不活性ガスに触れるのみで、大気に
全く接触せずに測定できるので正確な分析を行う
ことができる。また試料板１の上記取付操作は簡
単に行うことができ、作業性が良好である。
に対して変質し易い粉末試料のＸ線回折を行うに
当つては、乾燥不活性ガス雰囲気中、例えば窒素
ボツクス中で粉末試料３を試料板１に充填すると
ともに、本発明のＸ線回折シール装置への試料板
１の取付も同様に行えば、試料板１取付後にＸ線
回折試料シール装置を窒素ボツクスより取り出
し、Ｘ線回折を行つても、粉末試料３は密室に封
じ込められた不活性ガスに触れるのみで、大気に
全く接触せずに測定できるので正確な分析を行う
ことができる。また試料板１の上記取付操作は簡
単に行うことができ、作業性が良好である。
本発明によれば、Ｘ線透過部を有するケーシン
グに試料板の試料充填部の周辺部を押圧して試料
充填部を密閉状態とし、ケーシングから突出する
試料板の取付位置決め部をＸ線回折装置に直接装
着して、位置決めした状態でＸ線回折を行うよう
にしたので、通常のＸ線回折装置および試料板を
そのまま使用し、粉末試料の変質を防止しながら
正確に位置決めして、精度よくＸ線回折を行うこ
とができ、操作も簡単である。
グに試料板の試料充填部の周辺部を押圧して試料
充填部を密閉状態とし、ケーシングから突出する
試料板の取付位置決め部をＸ線回折装置に直接装
着して、位置決めした状態でＸ線回折を行うよう
にしたので、通常のＸ線回折装置および試料板を
そのまま使用し、粉末試料の変質を防止しながら
正確に位置決めして、精度よくＸ線回折を行うこ
とができ、操作も簡単である。
第１図は実施例のＸ線回折試料シール装置を示
す正面透視図、第２図はその−断面図、第３
図は−断面図、第４図は試料板の正面図であ
る。 各図中、同一符号は同一または相当部分を示
し、１は試料板、２は試料充填部、３は粉末試
料、４はケーシング、５は試料取付板、６は窓
部、７はＸ線透過フイルム、１１は押圧機構、１
４は押圧板、１６，１７は板ばねである。
す正面透視図、第２図はその−断面図、第３
図は−断面図、第４図は試料板の正面図であ
る。 各図中、同一符号は同一または相当部分を示
し、１は試料板、２は試料充填部、３は粉末試
料、４はケーシング、５は試料取付板、６は窓
部、７はＸ線透過フイルム、１１は押圧機構、１
４は押圧板、１６，１７は板ばねである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 粉末試料を充填する試料充填部およびＸ線回
折装置への取付位置決め部を有する試料板と、こ
の試料板の試料充填部を収容し、かつ取付位置決
め部を突出させるように試料板を取付けるケーシ
ングと、前記試料板の試料充填部の周辺部に気密
状に密着するように前記ケーシングの基部に形成
された試料取付板と、この試料取付板の前記試料
充填部に対応する位置に形成された窓部と、この
窓部から間隔を保つて前記ケーシングの対向位置
に設けられたＸ線透過部と、前記試料板を前記試
料取付板に押圧して固定するとともに前記ケーシ
ングを密閉状態にする押圧機構とを有するＸ線回
折試料シール装置。 ２ 押圧機構が試料板を押圧する押圧板を有する
特許請求の範囲第１項記載のＸ線回折試料シール
装置。 ３ 押圧機構が試料板を位置決めする位置決め機
構を有する特許請求の範囲第１項または第２項記
載のＸ線回折試料シール装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55114070A JPS5739338A (en) | 1980-08-21 | 1980-08-21 | Sealing apparatus of sample for x-ray diffraction |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55114070A JPS5739338A (en) | 1980-08-21 | 1980-08-21 | Sealing apparatus of sample for x-ray diffraction |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5739338A JPS5739338A (en) | 1982-03-04 |
| JPH0310903B2 true JPH0310903B2 (ja) | 1991-02-14 |
Family
ID=14628280
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55114070A Granted JPS5739338A (en) | 1980-08-21 | 1980-08-21 | Sealing apparatus of sample for x-ray diffraction |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5739338A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11969212B2 (en) | 2019-12-27 | 2024-04-30 | Ohio State Innovation Foundation | Methods and apparatus for detecting a presence and severity of a cataract in ambient lighting |
| US11969210B2 (en) | 2019-12-27 | 2024-04-30 | Ohio State Innovation Foundation | Methods and apparatus for making a determination about an eye using color temperature adjusted lighting |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5045123A (en) * | 1988-05-17 | 1991-09-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Thermopile |
| JPH01180646U (ja) * | 1988-05-31 | 1989-12-26 | ||
| FR2770908B1 (fr) * | 1997-11-12 | 1999-12-10 | Commissariat Energie Atomique | Porte-echantillon pour analyse de caracteristiques cristallographiques |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS537746Y2 (ja) * | 1974-02-26 | 1978-02-27 | ||
| JPS5928351Y2 (ja) * | 1976-02-16 | 1984-08-16 | 工業技術院長 | 粉末ｘ線回折用密封容器 |
-
1980
- 1980-08-21 JP JP55114070A patent/JPS5739338A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11969212B2 (en) | 2019-12-27 | 2024-04-30 | Ohio State Innovation Foundation | Methods and apparatus for detecting a presence and severity of a cataract in ambient lighting |
| US11969210B2 (en) | 2019-12-27 | 2024-04-30 | Ohio State Innovation Foundation | Methods and apparatus for making a determination about an eye using color temperature adjusted lighting |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5739338A (en) | 1982-03-04 |
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