JPH03110409A - 超音波距離計式のｈ型材フランジ幅測定方法及び装置 - Google Patents
超音波距離計式のｈ型材フランジ幅測定方法及び装置Info
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- JPH03110409A JPH03110409A JP24832089A JP24832089A JPH03110409A JP H03110409 A JPH03110409 A JP H03110409A JP 24832089 A JP24832089 A JP 24832089A JP 24832089 A JP24832089 A JP 24832089A JP H03110409 A JPH03110409 A JP H03110409A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、常温状態のＨ型鋼のフランジ幅を走行中に非
接触で測定するのに好適な、超音波距離計を用いたト■
型材フランジ幅測定方法及び装置に関する。
接触で測定するのに好適な、超音波距離計を用いたト■
型材フランジ幅測定方法及び装置に関する。
従来、Ｈ型材、例えばＨ型鋼のフランジ幅を測定する技
術には、例えば文献「鉄と鋼」の７０巻Ｎ０１５に記載
されているようないわゆるバックライト法がある。この
バックライト法においては、第４図に示すように、Ｈ型
鋼１４の両フランジ１０内に投光器１を挿入すると共に
両フランジ外側に対向してリニアイメージセンサを有す
るカメラ２を設け、この投光器１からの光（平行光）を
前記カメラ２で受光してフランジのエツジ位置を検出し
、フランジ幅を測定する。 又、特開昭５７−１４４４０４に示された、光切断法が
ある。この光切断法においては、第５図に示すように、
Ｈ型鋼フランジ１０の両側面にスリット光（帯状光束）
３．４を投射し、その反射光をカメラ５．６で撮像し、
その撮像画像を解析することによりフランジ幅を測定す
る。
術には、例えば文献「鉄と鋼」の７０巻Ｎ０１５に記載
されているようないわゆるバックライト法がある。この
バックライト法においては、第４図に示すように、Ｈ型
鋼１４の両フランジ１０内に投光器１を挿入すると共に
両フランジ外側に対向してリニアイメージセンサを有す
るカメラ２を設け、この投光器１からの光（平行光）を
前記カメラ２で受光してフランジのエツジ位置を検出し
、フランジ幅を測定する。 又、特開昭５７−１４４４０４に示された、光切断法が
ある。この光切断法においては、第５図に示すように、
Ｈ型鋼フランジ１０の両側面にスリット光（帯状光束）
３．４を投射し、その反射光をカメラ５．６で撮像し、
その撮像画像を解析することによりフランジ幅を測定す
る。
しかしながら、前記従来のフランジ幅測定技術には、次
のような問題点がある。 前記バックライト法においては、投光器及びリニアイメ
ージセンナを有するカメラを必要とするなめ構造が複雑
となり高価になってしまう、又、Ｈ型材が小さな寸法の
もの（例えばフランジ幅Ｘウェブ高さ＝５０Ｘ１００ｖ
ｉ程度）では、投光器と測定しようとするＨ型材とが接
触を起こす恐れがあり、実用上の問題が生じる。 又、前記光切断法においては、スリット光を投射する光
源とカメラを必要とし、装置構成が大型、且つ、高価に
なってしまう、又、高精度な測定を確保するためには、
スリット光の入射角を小さくする必要があるが、入射角
を小さくすると測定結果に曲がりの影響が強く出てしま
い精度が悪くなる恐れがある。又、装置構成が大きくな
るため、取付工事、特に、下面側の基礎工事が大掛りと
なる。 本発明は、前記従来の問題点に鑑みてなされたもので、
少ない費用で、且つ小型の装置構成で、Ｈ型材のフラン
ジ幅を走行中に非接触で精度良く測定できるＨ型材のフ
ランジ幅測定方法及び装置を提供することを課題とする
。
のような問題点がある。 前記バックライト法においては、投光器及びリニアイメ
ージセンナを有するカメラを必要とするなめ構造が複雑
となり高価になってしまう、又、Ｈ型材が小さな寸法の
もの（例えばフランジ幅Ｘウェブ高さ＝５０Ｘ１００ｖ
ｉ程度）では、投光器と測定しようとするＨ型材とが接
触を起こす恐れがあり、実用上の問題が生じる。 又、前記光切断法においては、スリット光を投射する光
源とカメラを必要とし、装置構成が大型、且つ、高価に
なってしまう、又、高精度な測定を確保するためには、
スリット光の入射角を小さくする必要があるが、入射角
を小さくすると測定結果に曲がりの影響が強く出てしま
い精度が悪くなる恐れがある。又、装置構成が大きくな
るため、取付工事、特に、下面側の基礎工事が大掛りと
なる。 本発明は、前記従来の問題点に鑑みてなされたもので、
少ない費用で、且つ小型の装置構成で、Ｈ型材のフラン
ジ幅を走行中に非接触で精度良く測定できるＨ型材のフ
ランジ幅測定方法及び装置を提供することを課題とする
。
本発明は、Ｈ型材のフランジ両端面に対向して設置され
た超音波距離計で、フランジ端面までの距離を検出し、
検出距離からフランジ幅を求め、前記フランジの、その
側面に垂直な方向への変位を検出し、検出変位及びフラ
ンジ厚に基づき、前記超音波距離計の中心線に対するフ
ランジの偏り量を算出し、算出漏り量から、予め求めら
れた偏り量とフランジ幅測定誤差との関係に基づきフラ
ンジ幅の補正量を求め、該補正量で前記求められたフラ
ンジ幅を補正することにより、前記課題を達成したもの
である。 又本発明は、Ｈ型材のフランジ両端面に対向して設けら
れた、フランジ端面までの距離を検出するための超音波
距離計と、検出距離からフランジ幅を求めるための手段
と、前記フランジの、その側面に垂直な方向への変位を
検出するための手段と、検出変位及びフランジ厚に基づ
き、前記超音波距離計の中心線に対するフランジの偏り
量を算出するための手段と、予め求められた偏り量とフ
ランジ幅測定誤差との関係をテーブルとして記憶するた
めの手段と、前記算出偏り量から、前記テーブルに基づ
きフランジ幅の補正量を求めるための手段と、該補正量
で、前記求められたフランジ幅を補正するための手段と
、補正されたフランジ堪を表示するための手段とを儒え
たことにより、同じく前記課題を達成したものである。
た超音波距離計で、フランジ端面までの距離を検出し、
検出距離からフランジ幅を求め、前記フランジの、その
側面に垂直な方向への変位を検出し、検出変位及びフラ
ンジ厚に基づき、前記超音波距離計の中心線に対するフ
ランジの偏り量を算出し、算出漏り量から、予め求めら
れた偏り量とフランジ幅測定誤差との関係に基づきフラ
ンジ幅の補正量を求め、該補正量で前記求められたフラ
ンジ幅を補正することにより、前記課題を達成したもの
である。 又本発明は、Ｈ型材のフランジ両端面に対向して設けら
れた、フランジ端面までの距離を検出するための超音波
距離計と、検出距離からフランジ幅を求めるための手段
と、前記フランジの、その側面に垂直な方向への変位を
検出するための手段と、検出変位及びフランジ厚に基づ
き、前記超音波距離計の中心線に対するフランジの偏り
量を算出するための手段と、予め求められた偏り量とフ
ランジ幅測定誤差との関係をテーブルとして記憶するた
めの手段と、前記算出偏り量から、前記テーブルに基づ
きフランジ幅の補正量を求めるための手段と、該補正量
で、前記求められたフランジ幅を補正するための手段と
、補正されたフランジ堪を表示するための手段とを儒え
たことにより、同じく前記課題を達成したものである。
発明者は、従来技術よりも簡単、小型で、且つ、少ない
費用の測定装置でＨ型材のフランジ幅測定を可能にする
ために、種々検討を行った。この結果、少ない費用で装
置を構成するためには、安価なセンサを利用すればよい
ことから、超音波距離計の利用を考えな、超音波距離計
でフランジ幅を測定する場合、フランジの両端面に対向
して、所定間隔で距離計を設け、それら両距離計の検出
値を前記間隔から差引けばフランジ幅は算出される。 しかしながら、超音波距離計でフランジ幅を測定しよう
とする場合、当該距離計でフランジの両端面までの距離
を測定する必要があるが、フランジ端面の幅は狭く（実
施例の場合、最小フランジ厚が４．５ｎｎ）、そのため
、超音波の反射面が小さくなり、更に、搬送中のＨ型材
には横振れ（蛇行ともいう）が生じるため、検出精度は
保証できないものである。 そこで、超音波距離計の測定値に対する横振れの影響を
調査したところ、横振れ量と測定誤差との間には一定の
関係があることがわかった。当該調査結果の例を第１図
に示す、この場合には、偏り量（横振れｆｆ１）Ｃは、
第１図中に示すように、超音波距離計１２の中心線に対
するフランジ１０の偏り量をいう、ス、検出しようとす
る前記距離計１２からフランジ１０の端面までの距離を
１６０１ＨＩとし、フランジの厚さが６．１ａＩＩと１
７１１とのＨ型鋼について測定している。 第１図の結果から、フランジ端面の超音波距離計に対す
る幾何学的位置関係、即ち、該距離計中心からのフラン
ジの渭り量がわかれば、ｔａ振れによる測定誤差が求め
られることがわかった。 そこで、この横振れによる測定誤差を予めフランジ厚毎
に調査して例えばテーブル化しておく。 オンラインでは、横振れを測定し、前記テーブルを用い
て横振れによる測定誤差を求め、当該測定誤差による補
正量で前記超音波距離計で測定したフランジ幅を補正す
れば、精度良くフランジ幅を求めることができる。 本発明は、前記のような知見に基づき創案されたもので
ある。 本発明によれば、安価な超音波距離計を用いており、且
つ、光源を必要としないため、装置構成全体が小型化で
き、大岳すな工事も必要とされない、ス、光源をフラン
ジ間に挿入する必要がないため、光源とＨ型材の接触の
恐れがない、又、横振れによる測定誤差を軽減するため
、走行中のＨ型材のフランジ幅を非接触で精度良く測定
することができる。
費用の測定装置でＨ型材のフランジ幅測定を可能にする
ために、種々検討を行った。この結果、少ない費用で装
置を構成するためには、安価なセンサを利用すればよい
ことから、超音波距離計の利用を考えな、超音波距離計
でフランジ幅を測定する場合、フランジの両端面に対向
して、所定間隔で距離計を設け、それら両距離計の検出
値を前記間隔から差引けばフランジ幅は算出される。 しかしながら、超音波距離計でフランジ幅を測定しよう
とする場合、当該距離計でフランジの両端面までの距離
を測定する必要があるが、フランジ端面の幅は狭く（実
施例の場合、最小フランジ厚が４．５ｎｎ）、そのため
、超音波の反射面が小さくなり、更に、搬送中のＨ型材
には横振れ（蛇行ともいう）が生じるため、検出精度は
保証できないものである。 そこで、超音波距離計の測定値に対する横振れの影響を
調査したところ、横振れ量と測定誤差との間には一定の
関係があることがわかった。当該調査結果の例を第１図
に示す、この場合には、偏り量（横振れｆｆ１）Ｃは、
第１図中に示すように、超音波距離計１２の中心線に対
するフランジ１０の偏り量をいう、ス、検出しようとす
る前記距離計１２からフランジ１０の端面までの距離を
１６０１ＨＩとし、フランジの厚さが６．１ａＩＩと１
７１１とのＨ型鋼について測定している。 第１図の結果から、フランジ端面の超音波距離計に対す
る幾何学的位置関係、即ち、該距離計中心からのフラン
ジの渭り量がわかれば、ｔａ振れによる測定誤差が求め
られることがわかった。 そこで、この横振れによる測定誤差を予めフランジ厚毎
に調査して例えばテーブル化しておく。 オンラインでは、横振れを測定し、前記テーブルを用い
て横振れによる測定誤差を求め、当該測定誤差による補
正量で前記超音波距離計で測定したフランジ幅を補正す
れば、精度良くフランジ幅を求めることができる。 本発明は、前記のような知見に基づき創案されたもので
ある。 本発明によれば、安価な超音波距離計を用いており、且
つ、光源を必要としないため、装置構成全体が小型化で
き、大岳すな工事も必要とされない、ス、光源をフラン
ジ間に挿入する必要がないため、光源とＨ型材の接触の
恐れがない、又、横振れによる測定誤差を軽減するため
、走行中のＨ型材のフランジ幅を非接触で精度良く測定
することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。 この実施例は、第２図に示すようなＨ型鋼１４のフラン
ジ１０の幅Ｂｌ、Ｂ２を測定するためのフランジ幅測定
装置である。なお、測定対象のＨ型鋼１４は、フランジ
の各部厚さがｔｆｊ〜ｔｆ、のらのである、第２図にお
いて、符号１１はＨ型鋼１４のウェブ、１３はフランジ
１０の各端面である。 前記フランジ幅測定装置の構成を第３図に示す。 第３図に示すように、このフランジ幅測定装置には、Ｈ
型１１１４のフランジ工０両端面に対向して上方、下方
に設けられていて、各々フランジ端面までの距ｌｌＩ！
Ｊ２１．１２を検出するための超音波距離計１２Ａ、１
２Ｂと、フランジ１０の上部側面、下部側面の位置をそ
れら面までの距ＨＪ２３、Ａ＜から検出するための、超
音波距離計からなりフランジ１０に垂直方向に設けられ
たフランジ位置測定用距離計１６Ａ、１６Ｂと、検出さ
れた距［３、ｉ４からフランジの偏り量（横振れ量）Ｃ
＋、Ｃ２を算出するための偏り量演算器１８Ａ、１８Ｂ
と、算出された偏り量ｃ、、ｃ２から、予め設定された
テーブルを用いて、フランジ幅を求める際の補正値Ｅ
＋ 、Ｅ ２を算出するための偏り補正値演算器２ＯＡ
、２０Ｂと、検出距離及び前記補正値Ｅ ｔ 、Ｅ ｚ
からフランジ＠Ｂを算出するためのフランジ幅演算器２
２と、前記偏り量演算器１８Ａ、１８Ｂにフランジ厚を
設定するためのフランジ厚設定器２４と、算出されたフ
ランジ幅を表示する表示部２６とが備えられる。 なお、第３図においては、Ｈ型ｆＩ４１４の第３図中左
側のフランジ幅Ｂ１を測定する装置の構成のみを示して
いるが、右側のフランジ幅Ｂ２を測定するための装置構
成も同様のものであるなめ、その構成の図示及び説明は
略する。又、片側のみのフランジ幅測定装置を設けてお
き、一方のフランジ幅Ｂ１を測定し、その後、Ｈ型ｇ４
１４の位置を変える等して同じ装置で他方のフランジＩ
！Ｂ２を測定することもできる。 次に、実施例の作用を説明する。 第３図に示すフランジ幅測定装置が、Ｈ型ｇＡ１４のフ
ランジ＠Ｂ（実施例では、図の左側のフランジ幅Ｂ＋）
を測定するに際しては、まず超音波距離計１２Ａ、１２
Ｂでフランジ両端面１３までの距離ぶ１、λ２を検出す
る。一方、フランジ位置測定用の距離計１６Ａ、１６Ｂ
でフランジ側面までの距ＲｔＪ！、３、ｆｌ＊を同時に
検出し、フランジ側面の位置を知る。偏り量演算器１８
Ａ、１８Ｂは、この検出圧Ｎｉ１３、Ｊ２ｓから、次の
ようにしてフランジ１ｏの漏り量を算出する。この場合
、予めフランジ厚設定器２４に設定されたフランジ厚ｔ
ｆを各演算器１８Ａ、１８Ｂに入力する。 当該間り量演算器１８Ａ、１８Ｂは、入力された検出圧
ｕｉ、３、Ｊ！ｓと設定されたフランジ厚ｔｆとから、
フランジ１０の上部、下部の偏りｆｆ１ｃ＋、Ｃ２を次
式（１）、（２）のように求める。 Ｃ＋＝Ｌｏａ−Ｊｓ−（ｔｆ／２）”（１）Ｃ２＝ＬＯ
４−、＋２４ （ｔｆ／２）・・・〈２）但し、Ｌ
Ｏ３は、前記距離計１６Ａと、前記超音波距離計１２Ａ
の中心線（Ｃ＋＝Ｏの線）との間隔、Ｌｏｇは、前記能
の距離計１６Ｂと前記能の超音波距離計１２Ｂの中心線
（Ｃ２＝Ｏの線）との間隔である。 偏り補正値演算器２０Ａ、２０Ｂには、予め、前出第１
図の如き、偏り量に対する測定誤差がフランジ厚毎にテ
ーブルとして記憶されている。そこで、ぼり補正値演算
器２ＯＡ、２０Ｂでは、前記（１）、（２）で算出され
た偏り量Ｃｔ 、Ｃ２から、前記テーブルを用いて補正
値Ｅ＋、Ｅｚを求める。 次いで、フランジ幅演算器２２では、前記のように求め
られた補正値Ｅｌ、Ｅ２と前記超音波距離計１２Ａ、１
２Ｂで検出されたフランジ端面までの距離β１．１２か
ら、フランジ幅Ｂを次式（３）で算出する。 Ｂ＝Ｌｏ＋−（ｉ＋＋Ｅ＋）−＜Ｊｚ＋Ｅｚ）・・・
（３） 但し、Ｌ、ｏ＋は各超音波距離計１２Ａ、１２Ｂ間の間
隔である。 算出されたフランジ幅Ｂは表示部２６に表示し、Ｈ型鋼
の品質管理のデータ等にする。 この実施例においては、フランジ位置測定用距離計に安
価な超音波距離計を用いているため、少ない費用で装置
を構成することができる。しかしながら、本発明を実施
する場合、フランジ位置測定用距離計には、このような
超音波距離計を用いることに限定されるものではなく、
他の、例えばレーザ距離計等、非接触でフランジ側面ま
での距離が検出可能なものであれば、いずれの種類の距
離計を用いることもできる。 又、前記実施例ではＨ型材としてＨ型鋼を例示したが、
本発明でフランジ幅が検出可能なＨ型材は、Ｈ型鋼に限
定されるものではない。
。 この実施例は、第２図に示すようなＨ型鋼１４のフラン
ジ１０の幅Ｂｌ、Ｂ２を測定するためのフランジ幅測定
装置である。なお、測定対象のＨ型鋼１４は、フランジ
の各部厚さがｔｆｊ〜ｔｆ、のらのである、第２図にお
いて、符号１１はＨ型鋼１４のウェブ、１３はフランジ
１０の各端面である。 前記フランジ幅測定装置の構成を第３図に示す。 第３図に示すように、このフランジ幅測定装置には、Ｈ
型１１１４のフランジ工０両端面に対向して上方、下方
に設けられていて、各々フランジ端面までの距ｌｌＩ！
Ｊ２１．１２を検出するための超音波距離計１２Ａ、１
２Ｂと、フランジ１０の上部側面、下部側面の位置をそ
れら面までの距ＨＪ２３、Ａ＜から検出するための、超
音波距離計からなりフランジ１０に垂直方向に設けられ
たフランジ位置測定用距離計１６Ａ、１６Ｂと、検出さ
れた距［３、ｉ４からフランジの偏り量（横振れ量）Ｃ
＋、Ｃ２を算出するための偏り量演算器１８Ａ、１８Ｂ
と、算出された偏り量ｃ、、ｃ２から、予め設定された
テーブルを用いて、フランジ幅を求める際の補正値Ｅ
＋ 、Ｅ ２を算出するための偏り補正値演算器２ＯＡ
、２０Ｂと、検出距離及び前記補正値Ｅ ｔ 、Ｅ ｚ
からフランジ＠Ｂを算出するためのフランジ幅演算器２
２と、前記偏り量演算器１８Ａ、１８Ｂにフランジ厚を
設定するためのフランジ厚設定器２４と、算出されたフ
ランジ幅を表示する表示部２６とが備えられる。 なお、第３図においては、Ｈ型ｆＩ４１４の第３図中左
側のフランジ幅Ｂ１を測定する装置の構成のみを示して
いるが、右側のフランジ幅Ｂ２を測定するための装置構
成も同様のものであるなめ、その構成の図示及び説明は
略する。又、片側のみのフランジ幅測定装置を設けてお
き、一方のフランジ幅Ｂ１を測定し、その後、Ｈ型ｇ４
１４の位置を変える等して同じ装置で他方のフランジＩ
！Ｂ２を測定することもできる。 次に、実施例の作用を説明する。 第３図に示すフランジ幅測定装置が、Ｈ型ｇＡ１４のフ
ランジ＠Ｂ（実施例では、図の左側のフランジ幅Ｂ＋）
を測定するに際しては、まず超音波距離計１２Ａ、１２
Ｂでフランジ両端面１３までの距離ぶ１、λ２を検出す
る。一方、フランジ位置測定用の距離計１６Ａ、１６Ｂ
でフランジ側面までの距ＲｔＪ！、３、ｆｌ＊を同時に
検出し、フランジ側面の位置を知る。偏り量演算器１８
Ａ、１８Ｂは、この検出圧Ｎｉ１３、Ｊ２ｓから、次の
ようにしてフランジ１ｏの漏り量を算出する。この場合
、予めフランジ厚設定器２４に設定されたフランジ厚ｔ
ｆを各演算器１８Ａ、１８Ｂに入力する。 当該間り量演算器１８Ａ、１８Ｂは、入力された検出圧
ｕｉ、３、Ｊ！ｓと設定されたフランジ厚ｔｆとから、
フランジ１０の上部、下部の偏りｆｆ１ｃ＋、Ｃ２を次
式（１）、（２）のように求める。 Ｃ＋＝Ｌｏａ−Ｊｓ−（ｔｆ／２）”（１）Ｃ２＝ＬＯ
４−、＋２４ （ｔｆ／２）・・・〈２）但し、Ｌ
Ｏ３は、前記距離計１６Ａと、前記超音波距離計１２Ａ
の中心線（Ｃ＋＝Ｏの線）との間隔、Ｌｏｇは、前記能
の距離計１６Ｂと前記能の超音波距離計１２Ｂの中心線
（Ｃ２＝Ｏの線）との間隔である。 偏り補正値演算器２０Ａ、２０Ｂには、予め、前出第１
図の如き、偏り量に対する測定誤差がフランジ厚毎にテ
ーブルとして記憶されている。そこで、ぼり補正値演算
器２ＯＡ、２０Ｂでは、前記（１）、（２）で算出され
た偏り量Ｃｔ 、Ｃ２から、前記テーブルを用いて補正
値Ｅ＋、Ｅｚを求める。 次いで、フランジ幅演算器２２では、前記のように求め
られた補正値Ｅｌ、Ｅ２と前記超音波距離計１２Ａ、１
２Ｂで検出されたフランジ端面までの距離β１．１２か
ら、フランジ幅Ｂを次式（３）で算出する。 Ｂ＝Ｌｏ＋−（ｉ＋＋Ｅ＋）−＜Ｊｚ＋Ｅｚ）・・・
（３） 但し、Ｌ、ｏ＋は各超音波距離計１２Ａ、１２Ｂ間の間
隔である。 算出されたフランジ幅Ｂは表示部２６に表示し、Ｈ型鋼
の品質管理のデータ等にする。 この実施例においては、フランジ位置測定用距離計に安
価な超音波距離計を用いているため、少ない費用で装置
を構成することができる。しかしながら、本発明を実施
する場合、フランジ位置測定用距離計には、このような
超音波距離計を用いることに限定されるものではなく、
他の、例えばレーザ距離計等、非接触でフランジ側面ま
での距離が検出可能なものであれば、いずれの種類の距
離計を用いることもできる。 又、前記実施例ではＨ型材としてＨ型鋼を例示したが、
本発明でフランジ幅が検出可能なＨ型材は、Ｈ型鋼に限
定されるものではない。
以上説明した通り、本発明によれば費用がかからず、且
つ小型な装置構成でＨ型材のフランジ幅を非接触で精度
良く測定することができるという優れた効果が得られる
。 又、超音波距離計を用いていることから、測定するフラ
ンジ端面との距離が大きく（約２００ｎＩｌ）とれるた
め、距離計が測定対象と接触する可能性が極めて少なく
、安全性が高い、又、測定周期を５１３ＣＩＣ（従来の
光切断方法の約１１５）と短くできるため、４１１／５
１３Ｃの走間中でも問題を生じることなく測定が可能で
ある。従って、本発明は極めて有用性が高いものである
といえる。
つ小型な装置構成でＨ型材のフランジ幅を非接触で精度
良く測定することができるという優れた効果が得られる
。 又、超音波距離計を用いていることから、測定するフラ
ンジ端面との距離が大きく（約２００ｎＩｌ）とれるた
め、距離計が測定対象と接触する可能性が極めて少なく
、安全性が高い、又、測定周期を５１３ＣＩＣ（従来の
光切断方法の約１１５）と短くできるため、４１１／５
１３Ｃの走間中でも問題を生じることなく測定が可能で
ある。従って、本発明は極めて有用性が高いものである
といえる。
第１図は、本発明の詳細な説明するための間り量に対す
る誤差の例を示す線図、 第２図は、本発明の実施例に係るフランジ嘔測定装置の
測定対象のＨ型鋼を示す断面図、第３図は、前記実施例
装置の全体構成を示す、一部所面図を含むブロック図、 第４図は、従来のバックライト法によるフランジ幅測定
装置の構成を示す断面図、 第５図は、同じく、光切断法の装置構成を示す斜視図で
ある。 １０・・・フランジ、 １２．１２Ａ、１２Ｂ・・・超音波距離計、１３・・・
フランジ端面、 １４・・・Ｈ型鋼、 １６Ａ、１６Ｂ・・・フランジ位置測定用の距離計、１
８Ａ、１８Ｂ・・・偏り１演算器、 ２ＯＡ、２０Ｂ・・・偏り補正値演算器、２２・・・フ
ランジ幅演算器、 ２４・・・フランジ厚設定器、 ２６・・・表示部。
る誤差の例を示す線図、 第２図は、本発明の実施例に係るフランジ嘔測定装置の
測定対象のＨ型鋼を示す断面図、第３図は、前記実施例
装置の全体構成を示す、一部所面図を含むブロック図、 第４図は、従来のバックライト法によるフランジ幅測定
装置の構成を示す断面図、 第５図は、同じく、光切断法の装置構成を示す斜視図で
ある。 １０・・・フランジ、 １２．１２Ａ、１２Ｂ・・・超音波距離計、１３・・・
フランジ端面、 １４・・・Ｈ型鋼、 １６Ａ、１６Ｂ・・・フランジ位置測定用の距離計、１
８Ａ、１８Ｂ・・・偏り１演算器、 ２ＯＡ、２０Ｂ・・・偏り補正値演算器、２２・・・フ
ランジ幅演算器、 ２４・・・フランジ厚設定器、 ２６・・・表示部。
Claims (2)
- （１）Ｈ型材のフランジ両端面に対向して設置された超
音波距離計で、フランジ端面までの距離を検出し、 検出距離からフランジ幅を求め、 前記フランジの、その側面に垂直な方向への変位を検出
し、 検出変位及びフランジ厚に基づき、前記超音波距離計の
中心線に対するフランジの偏り量を算出し、 算出偏り量から、予め求められた偏り量とフランジ幅測
定誤差との関係に基づきフランジ幅の補正量を求め、 該補正量で前記求められたフランジ幅を補正することを
特徴とする超音波距離計式のＨ型材フランジ幅測定方法
。 - （２）Ｈ型材のフランジ両端面に対向して設けられた、
フランジ端面までの距離を検出するための超音波距離計
と、 検出距離からフランジ幅を求めるための手段と、前記フ
ランジの、その側面に垂直な方向への変位を検出するた
めの手段と、 検出変位及びフランジ厚に基づき、前記超音波距離計の
中心線に対するフランジの偏り量を算出するための手段
と、 予め求められた偏り量とフランジ幅測定誤差との関係を
テーブルとして記憶するための手段と、前記算出偏り量
から、前記テーブルに基づきフランジ幅の補正量を求め
るための手段と、 該補正量で、前記求められたフランジ幅を補正するため
の手段と、 補正されたフランジ幅を表示するための手段とを備えた
ことを特徴とする超音波距離計式のＨ型材フランジ幅測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24832089A JPH0769168B2 (ja) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | 超音波距離計式のｈ型材フランジ幅測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24832089A JPH0769168B2 (ja) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | 超音波距離計式のｈ型材フランジ幅測定方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03110409A true JPH03110409A (ja) | 1991-05-10 |
| JPH0769168B2 JPH0769168B2 (ja) | 1995-07-26 |
Family
ID=17176329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24832089A Expired - Fee Related JPH0769168B2 (ja) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | 超音波距離計式のｈ型材フランジ幅測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0769168B2 (ja) |
-
1989
- 1989-09-25 JP JP24832089A patent/JPH0769168B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0769168B2 (ja) | 1995-07-26 |
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