JPH03112940U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH03112940U JPH03112940U JP2114790U JP2114790U JPH03112940U JP H03112940 U JPH03112940 U JP H03112940U JP 2114790 U JP2114790 U JP 2114790U JP 2114790 U JP2114790 U JP 2114790U JP H03112940 U JPH03112940 U JP H03112940U
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- JP
- Japan
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- terminals
- terminal
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案のＩＣクリツプの一実施例の概
略構成図である。 １……クリツプ部、１ａ，２ａ……端子、２…
…プローブ部、３……ＤＩＰ型ＩＣ、３ａ……ピ
ン、４ａ，４ｂ……プリント基板、５……ケーブ
ル、６……測定器、６ａ，６ｂ……端子、７……
電気部品。
略構成図である。 １……クリツプ部、１ａ，２ａ……端子、２…
…プローブ部、３……ＤＩＰ型ＩＣ、３ａ……ピ
ン、４ａ，４ｂ……プリント基板、５……ケーブ
ル、６……測定器、６ａ，６ｂ……端子、７……
電気部品。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 被測定物であるＩＣをはさむことにより該ＩＣ
の各ピンに接触する複数本の端子を有するクリツ
プ部と、 クリツプ部の各端子に一端がそれぞれ接続され
た複数本の導線と、 各導線の他端にそれぞれ接続された複数本の端
子を備えるプローブ部とを有するＩＣクリツプ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2114790U JPH03112940U (ja) | 1990-03-01 | 1990-03-01 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2114790U JPH03112940U (ja) | 1990-03-01 | 1990-03-01 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03112940U true JPH03112940U (ja) | 1991-11-19 |
Family
ID=31524205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2114790U Pending JPH03112940U (ja) | 1990-03-01 | 1990-03-01 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03112940U (ja) |
-
1990
- 1990-03-01 JP JP2114790U patent/JPH03112940U/ja active Pending
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