JPH03113308A - パスライン位置の測定方法及びその装置 - Google Patents
パスライン位置の測定方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH03113308A JPH03113308A JP25350789A JP25350789A JPH03113308A JP H03113308 A JPH03113308 A JP H03113308A JP 25350789 A JP25350789 A JP 25350789A JP 25350789 A JP25350789 A JP 25350789A JP H03113308 A JPH03113308 A JP H03113308A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- path
- line position
- pass line
- detection signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、パスライン位置の測定方法及びその装置に関
し、更に詳しくは、走行する被測定体の物理量を連続的
に測定する分析装置に搭載され該被測定体の位置を測定
するパスライン位置の測定方法及びその測定装置に関す
るものである。
し、更に詳しくは、走行する被測定体の物理量を連続的
に測定する分析装置に搭載され該被測定体の位置を測定
するパスライン位置の測定方法及びその測定装置に関す
るものである。
〈従来の技術〉
シート状の紙などでなる被測定体の物理量（ＰＡえば光
沢度）を検出するセンサ群は、該被測定体の位置が変動
すると、測定誤差が生じ易い、このため、各センサ毎に
誤差が生じないように工夫を凝らしたり、被測定体にロ
ーラやボタンを接触させ該被測定体の変動を規制するパ
スライン規制器が用いられたりしている。
沢度）を検出するセンサ群は、該被測定体の位置が変動
すると、測定誤差が生じ易い、このため、各センサ毎に
誤差が生じないように工夫を凝らしたり、被測定体にロ
ーラやボタンを接触させ該被測定体の変動を規制するパ
スライン規制器が用いられたりしている。
第３図はこのようなパスライン規制器の構成説明図であ
り、図中、１は例えば平滑光沢度計のセンナ本体、２は
センサ本体１に取りつけられたローラー、３はシート状
の紙などでなる被測定体である。このような構成からな
る従来例において、測定時にはローラー２により、走行
している被測定体３の位置を規制していた。このため、
被測定体３とローラー２が接触して被測定体３を損傷し
たり被測定体の光沢に変化をきたすなどの欠点があった
。
り、図中、１は例えば平滑光沢度計のセンナ本体、２は
センサ本体１に取りつけられたローラー、３はシート状
の紙などでなる被測定体である。このような構成からな
る従来例において、測定時にはローラー２により、走行
している被測定体３の位置を規制していた。このため、
被測定体３とローラー２が接触して被測定体３を損傷し
たり被測定体の光沢に変化をきたすなどの欠点があった
。
〈発明が解決しようとする技術的課題〉本発明は、かか
る従来例の欠点に鑑みてなされたものであり、その目的
は、被測定体の上下方向のバタツキを機械的に規制する
ことなく被測定体の位置を検出すると共に該検出信号に
一定の信号処理によってパスラインを補正するパスライ
ン位置の測定方法及びその装置を提供することにある。
る従来例の欠点に鑑みてなされたものであり、その目的
は、被測定体の上下方向のバタツキを機械的に規制する
ことなく被測定体の位置を検出すると共に該検出信号に
一定の信号処理によってパスラインを補正するパスライ
ン位置の測定方法及びその装置を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉
本発明は、走行する被測定体の物理量を連続的に測定す
る分析装置に搭載され前記被測定体のパスライン位置を
測定する方法及びその装置において、 前記被測定体のパスライン位置が変化した場合に検出信
号が影響を受けるセンサのパスライン特性を調べて予め
マイクロプロセッサユニットに入力しておき、光源と前
記被測定体からの反射光を受光する位置検出素子からな
る光学的変位センサを用いて得られる前記被測定体のパ
スライン位置検出信号を前記パスライン特性の値で除算
する補正演算を行なうことによって前記課題を解決した
ものである。
る分析装置に搭載され前記被測定体のパスライン位置を
測定する方法及びその装置において、 前記被測定体のパスライン位置が変化した場合に検出信
号が影響を受けるセンサのパスライン特性を調べて予め
マイクロプロセッサユニットに入力しておき、光源と前
記被測定体からの反射光を受光する位置検出素子からな
る光学的変位センサを用いて得られる前記被測定体のパ
スライン位置検出信号を前記パスライン特性の値で除算
する補正演算を行なうことによって前記課題を解決した
ものである。
く作用〉
本発明は次のように作用する。即ち、
最初、被測定体のパスライン位置が変化した場合に検出
信号が影響を受けるセンサのパスライン特性を実験等で
調ベマイクロプロセッサユニットに入力しておく。
信号が影響を受けるセンサのパスライン特性を実験等で
調ベマイクロプロセッサユニットに入力しておく。
次に、被測定体の測定状態にすると、赤外レーザダイオ
ードの光束が被測定体に照射させられ、その反射光が受
光レンズによって位置検出素子上に集光させられる。こ
の位置検出素子で検出した位置信号の変化は被測定体の
変位に相当する。このため、信号増幅器の出力をコント
ローラ８内で演算処理し、パスライン特性を与えるアナ
ログ電圧がマイクロプロセッサユニット（ＭＰＵ）へ送
られる。また、コントローラ内には信号量を一定に保つ
ためのＡＰＣ回路が内蔵されており、被測定体の反射率
が変化しても被測定体の位置を高精度に測定できるよう
に赤外レーザダイオードの発光強度を制御している。こ
のため、被測定体がばたついても、被測定体のパスライ
ン位置を正確に測定できる。
ードの光束が被測定体に照射させられ、その反射光が受
光レンズによって位置検出素子上に集光させられる。こ
の位置検出素子で検出した位置信号の変化は被測定体の
変位に相当する。このため、信号増幅器の出力をコント
ローラ８内で演算処理し、パスライン特性を与えるアナ
ログ電圧がマイクロプロセッサユニット（ＭＰＵ）へ送
られる。また、コントローラ内には信号量を一定に保つ
ためのＡＰＣ回路が内蔵されており、被測定体の反射率
が変化しても被測定体の位置を高精度に測定できるよう
に赤外レーザダイオードの発光強度を制御している。こ
のため、被測定体がばたついても、被測定体のパスライ
ン位置を正確に測定できる。
その後、マイクロプロセッサユニット内でパスライン特
性を予め記憶されているパスライン特性で除算する演算
が行なわれ、被測定体のバタツキの影響を受けないパス
ライン特性が得られる。このため、被測定体がばたつい
ても、マイクロプロセッサユニットからは常に被測定体
のパスライン位置変動に影響されない出力が得られよう
になる。
性を予め記憶されているパスライン特性で除算する演算
が行なわれ、被測定体のバタツキの影響を受けないパス
ライン特性が得られる。このため、被測定体がばたつい
ても、マイクロプロセッサユニットからは常に被測定体
のパスライン位置変動に影響されない出力が得られよう
になる。
〈実施例〉
第１図は本発明実施例の使用例説明図であり、図中、第
３図と同一記号は同一意味を持たせて使用しここでの重
複説明は省略する。また、１ａは上側センサヘッド、１
ｂは下側センサヘッド、４ａは投光レンズ、４ｂは受光
レンズ、５は赤外レーザダイオード、６は位置検出素子
、７は信号処理回路、８はコントローラ、９はマイクロ
プロセッサユニット、８１は減算回路、８２は加算回路
、８３はサンプルホールド回路、８４はアナログ演算回
路、８５は自動電圧側１１１ｉ （Ａ Ｐ Ｃ） 回路
、８５は駆動回路である。また、第２図はマイクロプロ
セッサユニット９内の演算内容を説明するための概念図
である。
３図と同一記号は同一意味を持たせて使用しここでの重
複説明は省略する。また、１ａは上側センサヘッド、１
ｂは下側センサヘッド、４ａは投光レンズ、４ｂは受光
レンズ、５は赤外レーザダイオード、６は位置検出素子
、７は信号処理回路、８はコントローラ、９はマイクロ
プロセッサユニット、８１は減算回路、８２は加算回路
、８３はサンプルホールド回路、８４はアナログ演算回
路、８５は自動電圧側１１１ｉ （Ａ Ｐ Ｃ） 回路
、８５は駆動回路である。また、第２図はマイクロプロ
セッサユニット９内の演算内容を説明するための概念図
である。
第１図において、最初、被測定体３のパスライン位置が
変化した場合に検出信号が影響を受けるセンサ（例えば
、秤量計センサ、水分計センサ。
変化した場合に検出信号が影響を受けるセンサ（例えば
、秤量計センサ、水分計センサ。
灰分針センサ、平滑針センサ等）のパスライン特性を実
験等で調べ、例えば第２図（ロ）に示すようなパスライ
ン特性をマイクロプロセッサユニット９に入力しておく
。
験等で調べ、例えば第２図（ロ）に示すようなパスライ
ン特性をマイクロプロセッサユニット９に入力しておく
。
次に、被測定体３の測定状態にすると、パルス点灯され
ている赤外レーザダイオード５の光束が投光レンズ４ａ
を通して被測定体３に照射させられ、その反射光が受光
レンズ４ｂによって位置検出素子６上に集光させられる
。この位置検出素子６で検出した位置信号の変化は被測
定体３の変位に相当する。このため、信号増幅器７の出
力をコントローラ８内で演算処理し、例えば第２図（イ
に示すようなパスライン特性を与えるアナログ電圧Ｓが
マイクロプロセッサユニット＜ＭＰＵ＞９へ送られる。
ている赤外レーザダイオード５の光束が投光レンズ４ａ
を通して被測定体３に照射させられ、その反射光が受光
レンズ４ｂによって位置検出素子６上に集光させられる
。この位置検出素子６で検出した位置信号の変化は被測
定体３の変位に相当する。このため、信号増幅器７の出
力をコントローラ８内で演算処理し、例えば第２図（イ
に示すようなパスライン特性を与えるアナログ電圧Ｓが
マイクロプロセッサユニット＜ＭＰＵ＞９へ送られる。
また、コントローラ８内には信号量を一定に保つための
ＡＰＣ回路８５が内蔵されており、被測定体３の反射率
が変化しても被測定体３の位置を高精度に測定できるよ
うに赤外レーザダイオード５の発光強度を制御している
。このため、被測定体３がバタツキ例えばパスライン位
置が被測定体３−の位置に変化しても、被測定体３のパ
スライン位置を正確に測定できる。
ＡＰＣ回路８５が内蔵されており、被測定体３の反射率
が変化しても被測定体３の位置を高精度に測定できるよ
うに赤外レーザダイオード５の発光強度を制御している
。このため、被測定体３がバタツキ例えばパスライン位
置が被測定体３−の位置に変化しても、被測定体３のパ
スライン位置を正確に測定できる。
その後、マイクロプロセッサユニット（ＭＰＵ）９内で
第２図（イ）に示すようなパスライン特性を第２図（ロ
）に示すようなパスライン特性で除算する演算が行なわ
れ、第２図（ハ）に示すようなパスライン特性が得られ
る。このため、被測定体３がバタツキ例えばパスライン
位置が被測定体３″の位置に変化しても、マイクロプロ
セッサユニット（ＭＰＵ）９からは常に第２図（ハ）に
示す如く被測定体３のパスライン位置変動に影響されな
い出力が得られようになる。
第２図（イ）に示すようなパスライン特性を第２図（ロ
）に示すようなパスライン特性で除算する演算が行なわ
れ、第２図（ハ）に示すようなパスライン特性が得られ
る。このため、被測定体３がバタツキ例えばパスライン
位置が被測定体３″の位置に変化しても、マイクロプロ
セッサユニット（ＭＰＵ）９からは常に第２図（ハ）に
示す如く被測定体３のパスライン位置変動に影響されな
い出力が得られようになる。
尚、本発明は上述の実施例に限定されることなく種々の
変形が可能であり、例えば、赤外レーザダイオード５は
ＬＥＤであってもよく、また、位置検出素子６をリニア
ダイオードアレイとしても良い。
変形が可能であり、例えば、赤外レーザダイオード５は
ＬＥＤであってもよく、また、位置検出素子６をリニア
ダイオードアレイとしても良い。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明は、走行する被測定体の物
理量を連続的に測定する分析装置に搭載され前記被測定
体のパスライン位置を測定する方法および装置において
、 前記被測定体のパスライン位置が変化した場合に検出信
号が影響を受けるセンサのパスライン特性を調べて予め
マイクロプロセッサユニットに入力しておき、光源と前
記被測定体からの反射光を受光する位置検出素子からな
る光学的変位センサを用いて得られる前記被測定体のパ
スライン位置検出信号を前記パスライン特性の値で除算
する補正演算を行なうように構成した。
理量を連続的に測定する分析装置に搭載され前記被測定
体のパスライン位置を測定する方法および装置において
、 前記被測定体のパスライン位置が変化した場合に検出信
号が影響を受けるセンサのパスライン特性を調べて予め
マイクロプロセッサユニットに入力しておき、光源と前
記被測定体からの反射光を受光する位置検出素子からな
る光学的変位センサを用いて得られる前記被測定体のパ
スライン位置検出信号を前記パスライン特性の値で除算
する補正演算を行なうように構成した。
この結果、従来の接触式パスライン規制装置と異なり被
測定体に接触しないなめ、被測定体に傷等の変化を与え
ることなく被測定体を正確に測定できるという利点があ
る。また、センサの測定面に紙粉などが発生することも
なく、測定面に紙粉等が付着すると測定誤差が生ずるセ
ンサにも安心して使えるなどの利点がある。
測定体に接触しないなめ、被測定体に傷等の変化を与え
ることなく被測定体を正確に測定できるという利点があ
る。また、センサの測定面に紙粉などが発生することも
なく、測定面に紙粉等が付着すると測定誤差が生ずるセ
ンサにも安心して使えるなどの利点がある。
第１図は本発明実施例に係わる装置の構成説明図、第２
図はマイクロプロセッサ内の演算内容を説明するための
概念図である。 １ａ・・・上側センサヘッド、１ｂ・・・下側センサヘ
ッド、４ａ・・・投光レンズ、４ｂ・・・受光レンズ、
５・・・赤外レーザダイオード、６・・・位置検出素子
、７・・・信号処理回路、８・・・コントローラ、９・
・・マイクロプロセッサユニット、８１・・・減算回路
、８２・・・加算回路、８３・・・サンプルホールド回
路、８４・・・アナログ演算回路、８５・・・自動電圧
調整（ＡＰＣ）回路、８５・・・駆動回路
図はマイクロプロセッサ内の演算内容を説明するための
概念図である。 １ａ・・・上側センサヘッド、１ｂ・・・下側センサヘ
ッド、４ａ・・・投光レンズ、４ｂ・・・受光レンズ、
５・・・赤外レーザダイオード、６・・・位置検出素子
、７・・・信号処理回路、８・・・コントローラ、９・
・・マイクロプロセッサユニット、８１・・・減算回路
、８２・・・加算回路、８３・・・サンプルホールド回
路、８４・・・アナログ演算回路、８５・・・自動電圧
調整（ＡＰＣ）回路、８５・・・駆動回路
Claims (2)
- （１）走行する被測定体の物理量を連続的に測定する分
析装置に搭載され前記被測定体のパスライン位置を測定
する方法において、 前記被測定体のパスライン位置が変化した場合に検出信
号が影響を受けるセンサのパスライン特性を調べて予め
マイクロプロセッサユニットに入力しておき、光源と前
記被測定体からの反射光を受光する位置検出素子からな
る光学的変位センサを用いて得られる前記被測定体のパ
スライン位置検出信号を前記パスライン特性の値で除算
する補正演算を行なうことを特徴とするパスライン位置
測定方法。 - （２）走行する被測定体の物理量を連続的に測定する分
析装置に搭載され前記被測定体のパスライン位置を測定
するパスライン位置測定装置において、 前記被測定体のパスライン位置が変化した場合に検出信
号が影響を受けるセンサのパスライン特性を調べて予め
入力されるマイクロプロセッサユニットと、光源と前記
被測定体からの反射光を受光する位置検出素子からなる
光学的変位センサとを具備し、該光学的変位センサを用
いて得られる前記被測定体のパスライン位置検出信号を
前記パスライン特性の値で除算する補正演算を行なうこ
とを特徴とするパスライン位置測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25350789A JPH03113308A (ja) | 1989-09-28 | 1989-09-28 | パスライン位置の測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25350789A JPH03113308A (ja) | 1989-09-28 | 1989-09-28 | パスライン位置の測定方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03113308A true JPH03113308A (ja) | 1991-05-14 |
Family
ID=17252339
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25350789A Pending JPH03113308A (ja) | 1989-09-28 | 1989-09-28 | パスライン位置の測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03113308A (ja) |
-
1989
- 1989-09-28 JP JP25350789A patent/JPH03113308A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6323954B1 (en) | Process and device for the detection or determination of the position of edges | |
| JP3953520B2 (ja) | Ｘ―ｙ平面における測定ヘッドの光学的アライメントのための方法および装置 | |
| US9612213B2 (en) | Automatic z-correction for basis weight sensors | |
| CA1226453A (en) | Device and method for measuring light diffusely reflected from a nonuniform specimen | |
| JPH04295705A (ja) | シートの坪量を計測する装置 | |
| US4365165A (en) | Level measurement device | |
| US5108176A (en) | Method of calibrating scanners and arrangement for producing defined scattered light amplitudes | |
| US4812043A (en) | Method for measuring a physical quantity providing digital data using analog-value measuring devices, and measuring apparatus for applying this method | |
| JPH02284008A (ja) | 帯状シート材のトラックずれ測定装置 | |
| US7224447B2 (en) | System and method for measuring the permeability of a material | |
| JPH02137849A (ja) | フイルムの画像領域の位置決め方法及び装置 | |
| JP3423518B2 (ja) | 含水分検知装置・含水分測定方法および含水分測定装置 | |
| US5581354A (en) | Method and device for thickness assessment | |
| US7259858B2 (en) | Imaging apparatus having media sensing system | |
| JPH03113308A (ja) | パスライン位置の測定方法及びその装置 | |
| GB2062219A (en) | Contactless measurement for substance concentration | |
| US7030402B2 (en) | Optical distance measuring device and printing apparatus using the same | |
| JP3994669B2 (ja) | 光検出装置 | |
| JPH02114146A (ja) | 構造部品や試験片における亀裂長さやひずみを測定する方法とその装置 | |
| RU2035721C1 (ru) | Способ контроля прозрачности плоских светопропускающих материалов | |
| JP2743038B2 (ja) | レーザー光による水中測距装置 | |
| Hanke | Applying optical measurement techniques | |
| US10480930B2 (en) | Optical displacement measuring instrument, adjustment method and measuring method of optical displacement measuring instrument | |
| JPS6396541A (ja) | ガス濃度測定装置 | |
| JP2545311B2 (ja) | レ―ザ―光による水中測距装置 |