JPH03116842A - ボンディング方法 - Google Patents
ボンディング方法Info
- Publication number
- JPH03116842A JPH03116842A JP1251908A JP25190889A JPH03116842A JP H03116842 A JPH03116842 A JP H03116842A JP 1251908 A JP1251908 A JP 1251908A JP 25190889 A JP25190889 A JP 25190889A JP H03116842 A JPH03116842 A JP H03116842A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bonding
- lead frame
- gas
- stage
- rust preventive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/0711—Apparatus therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/0711—Apparatus therefor
- H10W72/07141—Means for applying energy, e.g. ovens or lasers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
- H10W72/07341—Controlling the bonding environment, e.g. atmosphere composition or temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/536—Shapes of wire connectors the connected ends being ball-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/5363—Shapes of wire connectors the connected ends being wedge-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ボンディング技術、特に、被ボンディング物
のボンダビリティ−の向上技術に関し、例えば、半導体
装置の製造工程において、ペレットとリードフレームと
をボンディングし、このペレットとリードフレームの各
リードとを電気的に接続するボンディング装置に利用し
て有効なものに関する。
のボンダビリティ−の向上技術に関し、例えば、半導体
装置の製造工程において、ペレットとリードフレームと
をボンディングし、このペレットとリードフレームの各
リードとを電気的に接続するボンディング装置に利用し
て有効なものに関する。
半導体装置の製造工程において、ペレットとリードフレ
ームの各リードとをワイヤにより電気的に接続する手段
として、特開昭61−253824号公報、および特開
昭61−253825号公報に記載されているように、
リードフレームが一方向に歩道送りされる搬送路(フィ
ーダ)を還元性ガスS囲気に保ち、リードフレームを歩
道送りする間に所定温度まで力n熱した後、ボンディン
グステージにおいてワイヤボンディングが実行されるよ
うに構成されているワイヤボンディング装置、が使用さ
れている。
ームの各リードとをワイヤにより電気的に接続する手段
として、特開昭61−253824号公報、および特開
昭61−253825号公報に記載されているように、
リードフレームが一方向に歩道送りされる搬送路(フィ
ーダ)を還元性ガスS囲気に保ち、リードフレームを歩
道送りする間に所定温度まで力n熱した後、ボンディン
グステージにおいてワイヤボンディングが実行されるよ
うに構成されているワイヤボンディング装置、が使用さ
れている。
また、リードフレームの保管中における錆によるボンダ
ビリティ−の低下等を回避する技術として、例えば、特
開昭63−10547号公報に記載されているように、
リードフレームの表面に金属と有機物との化合物から成
る防錆処理剤を被着さ廿る技術が提案されている。
ビリティ−の低下等を回避する技術として、例えば、特
開昭63−10547号公報に記載されているように、
リードフレームの表面に金属と有機物との化合物から成
る防錆処理剤を被着さ廿る技術が提案されている。
しかし、前記したようなワイヤボンディング装置を使用
して、防錆処理剤が表面に被着されたリードフレームに
ワイヤボンディングを実施した場合、リードフレームの
表面に被着された防錆処理剤により、ボンディングワイ
ヤとリードフレームとの接合強度が低下するという問題
点があることが、本発明者によって明らかにされた。
して、防錆処理剤が表面に被着されたリードフレームに
ワイヤボンディングを実施した場合、リードフレームの
表面に被着された防錆処理剤により、ボンディングワイ
ヤとリードフレームとの接合強度が低下するという問題
点があることが、本発明者によって明らかにされた。
本発明の目的は、表面に防錆処理剤が被着された被ボン
ディング物についてのボンダビリティ−を向上させるこ
とができるボンディング技術を提供することにある。
ディング物についてのボンダビリティ−を向上させるこ
とができるボンディング技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、次の通りである。
を説明すれば、次の通りである。
すなわち、表面に処理剤が被着された被ボンディング物
にボンディングが実施される前に、この被ボンディング
物を非酸化雰囲気中で加熱することにより、前記被着さ
れた処理剤を除去するようにしたものである。
にボンディングが実施される前に、この被ボンディング
物を非酸化雰囲気中で加熱することにより、前記被着さ
れた処理剤を除去するようにしたものである。
前記した手段によれば、ボンディングが実施される前に
防錆処理剤が被ボンディング物の表面から除去されるた
め、防錆処理剤によるボンダビリティ−の低下は防止さ
れることになる。
防錆処理剤が被ボンディング物の表面から除去されるた
め、防錆処理剤によるボンダビリティ−の低下は防止さ
れることになる。
第1図は本発明の一実施例であるボンディング装置を示
す正面断面図、第2図はその一部省略一部切断斜視図、
第3図は第1図の[f[−III線に沿う側面断面図で
ある。
す正面断面図、第2図はその一部省略一部切断斜視図、
第3図は第1図の[f[−III線に沿う側面断面図で
ある。
本実施例において、本発明に係るボンディング装置1は
半導体集積回路が作り込まれたベレット2を多連リード
フレーム3にボンディングし、このベレット2の電極パ
ッドと多連リードフレーム3のリード4とにワイヤ5を
それぞれボンディングすることにより、ベレット2と各
リード4とを電気的に接続するように構成されている。
半導体集積回路が作り込まれたベレット2を多連リード
フレーム3にボンディングし、このベレット2の電極パ
ッドと多連リードフレーム3のリード4とにワイヤ5を
それぞれボンディングすることにより、ベレット2と各
リード4とを電気的に接続するように構成されている。
ここで、多連リードフレーム3は複数個の単位リードフ
レーム3aが一方向に規則的に配列されて一体的に構成
されており、このボンディング装置llにおいて、搬送
は多連リードフレーム3毎に行われる力(ベレットおよ
びワイヤボンディングは各単位リードフレーム3a毎に
行われるようになっている。
レーム3aが一方向に規則的に配列されて一体的に構成
されており、このボンディング装置llにおいて、搬送
は多連リードフレーム3毎に行われる力(ベレットおよ
びワイヤボンディングは各単位リードフレーム3a毎に
行われるようになっている。
このボンディング装置1は多連リードフレーム3を一方
向に送るためのフィーダ6を備えており、フィーダ6は
多連リードフレーム3をガイドテーブル7により摺動自
在に載置しながら、適当な間欠送り手段(図示せず)に
より単位リードフレーム3aのピッチをもって歩進送り
するように構成されている。フィーダ6における下流側
領域にはワイヤボンディングステージ27が設定されて
おり、このワイヤボンディングステージ(後記される。
向に送るためのフィーダ6を備えており、フィーダ6は
多連リードフレーム3をガイドテーブル7により摺動自
在に載置しながら、適当な間欠送り手段(図示せず)に
より単位リードフレーム3aのピッチをもって歩進送り
するように構成されている。フィーダ6における下流側
領域にはワイヤボンディングステージ27が設定されて
おり、このワイヤボンディングステージ(後記される。
)27の外部にはXY子テーブルがXY力方向移動し得
るように設備されており、XYチーフル8上にはボンデ
ィングヘッド9が搭載されている。ボンディングヘッド
9にはボンディングアーム10が基端を回転自在に軸支
されて支持されており、このアームlOはその先端に固
設されたキャピラリー11が上下動されるように、カム
機構(図示せず)により駆動されるように構成されてい
る。ボンディングアーム10の上側には一対のクランパ
アーム12.13がNmプランジャ機構等のような適当
な手段(図示せず)により作動されるように設備されて
おり、両アーム12.13の各先端はキャピラリー11
の真上位置に配されてクランパ14を形成している。ク
ランパ14にはリール(図示せず)から操り出されるワ
イヤ5がガイド15を介して挿通されており、ワイヤ5
ばさらにキャピラリー11に挿通されている。
るように設備されており、XYチーフル8上にはボンデ
ィングヘッド9が搭載されている。ボンディングヘッド
9にはボンディングアーム10が基端を回転自在に軸支
されて支持されており、このアームlOはその先端に固
設されたキャピラリー11が上下動されるように、カム
機構(図示せず)により駆動されるように構成されてい
る。ボンディングアーム10の上側には一対のクランパ
アーム12.13がNmプランジャ機構等のような適当
な手段(図示せず)により作動されるように設備されて
おり、両アーム12.13の各先端はキャピラリー11
の真上位置に配されてクランパ14を形成している。ク
ランパ14にはリール(図示せず)から操り出されるワ
イヤ5がガイド15を介して挿通されており、ワイヤ5
ばさらにキャピラリー11に挿通されている。
キャピラリー11の近傍には放電電極16が独立して設
備されており、この放電電極16はその上端部が回転自
在に軸支されることにより、その先端部がキャピラリー
11の下方位置、すなわち、ワイヤ5の先端の真下位置
と、このキャピラリ−11の側方位置(退避位置)との
間を移動されるように構成されている。また、この放1
aTi極16と前記クランパ14との間には@’di回
路17が接続されており、これにより、クランパ14、
すなわち、これに挿通されるワイヤ5を陽極とするとと
もに、電極16を陰極とし、電極16からワイヤ5に向
かって放電アークが生成されるようになっている。
備されており、この放電電極16はその上端部が回転自
在に軸支されることにより、その先端部がキャピラリー
11の下方位置、すなわち、ワイヤ5の先端の真下位置
と、このキャピラリ−11の側方位置(退避位置)との
間を移動されるように構成されている。また、この放1
aTi極16と前記クランパ14との間には@’di回
路17が接続されており、これにより、クランパ14、
すなわち、これに挿通されるワイヤ5を陽極とするとと
もに、電極16を陰極とし、電極16からワイヤ5に向
かって放電アークが生成されるようになっている。
前記フィーダ6上にはカバー18がフィーダ6を送られ
る多連リードフレーム3を略全体にわたって被覆し得る
ように設備されており、このカバー18には略長方形形
状の開口部19がワイヤボンディングステージとなる位
置に配されて、単位リードフレーム3aの被ボンディン
グ領域をカバーし得るように開設されている。開口部1
9には略長方形枠形状に形成されたリードフレーム押さ
え部材20が昇降自在に嵌合されており、この押さえ部
材20はカム機構等の適当な駆動手段(図示せず)によ
りフィーダ6の歩道送り作動に連携して昇蹄するように
構成されている。
る多連リードフレーム3を略全体にわたって被覆し得る
ように設備されており、このカバー18には略長方形形
状の開口部19がワイヤボンディングステージとなる位
置に配されて、単位リードフレーム3aの被ボンディン
グ領域をカバーし得るように開設されている。開口部1
9には略長方形枠形状に形成されたリードフレーム押さ
え部材20が昇降自在に嵌合されており、この押さえ部
材20はカム機構等の適当な駆動手段(図示せず)によ
りフィーダ6の歩道送り作動に連携して昇蹄するように
構成されている。
一方、フィーダ6のガイドテーブル7にはヒートブロッ
ク21がワイヤボンディングステージに配されて設備さ
れており、ヒートブロック21はヒータ21aにより温
度制御されるように構成されている。ワイヤボンディン
グステージ、すなわち、開口部19が含まれる領域に配
設されているし−トブロツク2Iには、多連リードフレ
ーム3の酸化を防止するためのリードフレーム酸化防止
用ガス22を供給する手段としてのガス供給装置23が
設備されており、この供給装置23は吹出口24を備え
ている。吹出口24は多連リードフレーム3の周囲にリ
ードフレーム酸化防止用ガス22を緩やかに吹き出し得
るように、ヒートプロtり21の上面に複数個開設され
ており、この吹出口24群にはガス供給路25が接続さ
れている。
ク21がワイヤボンディングステージに配されて設備さ
れており、ヒートブロック21はヒータ21aにより温
度制御されるように構成されている。ワイヤボンディン
グステージ、すなわち、開口部19が含まれる領域に配
設されているし−トブロツク2Iには、多連リードフレ
ーム3の酸化を防止するためのリードフレーム酸化防止
用ガス22を供給する手段としてのガス供給装置23が
設備されており、この供給装置23は吹出口24を備え
ている。吹出口24は多連リードフレーム3の周囲にリ
ードフレーム酸化防止用ガス22を緩やかに吹き出し得
るように、ヒートプロtり21の上面に複数個開設され
ており、この吹出口24群にはガス供給路25が接続さ
れている。
ガス供給路25はガス供給ユニット26に接続されてお
り、ガス供給ユニット2Gはり一ドフレーム酸化防止用
ガス、例えば、窒素(N1)ガス等のような不活性ガス
を、予め設定された流量をもって供給し得るように構成
されている。そして、ヒートブロック21が設備されて
いる領域はワイヤボンディングステージ27を実質的に
構成している。
り、ガス供給ユニット2Gはり一ドフレーム酸化防止用
ガス、例えば、窒素(N1)ガス等のような不活性ガス
を、予め設定された流量をもって供給し得るように構成
されている。そして、ヒートブロック21が設備されて
いる領域はワイヤボンディングステージ27を実質的に
構成している。
また、このフィーダ6におけるワイヤボンディングステ
ージ27の上流側領域にはペレットボンディングステー
ジ30が設定されており、このステージ30には第2ヒ
ートブロツク31が、ガイドレール7に前記ワイヤボン
ディングステージ27における第1ヒートブロツク21
に隣合うように配されて設備されている。この第2ヒー
トブロツク3】はそのヒータ31aにより、第1ヒート
ブロツク21とは各別に温度制御されるように構成され
ている。第2ヒートブロツク31には多連リードフレー
ム3の酸化を防止するための酸化防止用ガス32を供給
する手段としてのガス供給装置33が設備されでおり、
この供給装置33は吹出口34を備えている。吹出口3
4は多連リードフレーム3の周囲に酸化防止用ガス32
を緩やかに゛吹き出し得るように、ヒートブロック31
の上面に複数個開設されており、この吹出口34群には
ガス供給路35が接続されている。ガス供給路35はガ
ス供給ユニット36に接続されており、ガス供給路36
ば酸化防止用ガス、例えば、窒素ガスを予め設定されて
いる流量をもって供給し得るように構成されている。
ージ27の上流側領域にはペレットボンディングステー
ジ30が設定されており、このステージ30には第2ヒ
ートブロツク31が、ガイドレール7に前記ワイヤボン
ディングステージ27における第1ヒートブロツク21
に隣合うように配されて設備されている。この第2ヒー
トブロツク3】はそのヒータ31aにより、第1ヒート
ブロツク21とは各別に温度制御されるように構成され
ている。第2ヒートブロツク31には多連リードフレー
ム3の酸化を防止するための酸化防止用ガス32を供給
する手段としてのガス供給装置33が設備されでおり、
この供給装置33は吹出口34を備えている。吹出口3
4は多連リードフレーム3の周囲に酸化防止用ガス32
を緩やかに゛吹き出し得るように、ヒートブロック31
の上面に複数個開設されており、この吹出口34群には
ガス供給路35が接続されている。ガス供給路35はガ
ス供給ユニット36に接続されており、ガス供給路36
ば酸化防止用ガス、例えば、窒素ガスを予め設定されて
いる流量をもって供給し得るように構成されている。
一方、このペレットボンディングステージ30における
カバー18には、デイスペンサ用の挿入口37およびコ
レット用の挿入口38が上流寄り位置に配されて、単位
リードフレーム3aの被ボンディング領域をカバーし得
るようにそれぞれ開設されている。デイスペンサ用挿入
口37の真上にはデイスペンサ39が、この挿入口37
に対して出没し得るように設備されており、このデイス
ペンサ37はペレットボンディング材料としてのiff
(Ag)ペースト40を単位リードフレーム3aにおけ
るタブ上に塗布し得るように構成されている。また、コ
レット用挿入口3Bの真上にはコレット41が、この挿
入口38に対して出没し得るように設備されており、こ
のコレット41はフィーダ6の近傍に置かれた(図示せ
ず)ベレツト2をピンクアップした後、これを保持した
状態で挿入口38から挿入して、単位リードフレーム3
aにおけるタブに塗布されたAgペースト40上にポン
ディングし得るように構成されている。
カバー18には、デイスペンサ用の挿入口37およびコ
レット用の挿入口38が上流寄り位置に配されて、単位
リードフレーム3aの被ボンディング領域をカバーし得
るようにそれぞれ開設されている。デイスペンサ用挿入
口37の真上にはデイスペンサ39が、この挿入口37
に対して出没し得るように設備されており、このデイス
ペンサ37はペレットボンディング材料としてのiff
(Ag)ペースト40を単位リードフレーム3aにおけ
るタブ上に塗布し得るように構成されている。また、コ
レット用挿入口3Bの真上にはコレット41が、この挿
入口38に対して出没し得るように設備されており、こ
のコレット41はフィーダ6の近傍に置かれた(図示せ
ず)ベレツト2をピンクアップした後、これを保持した
状態で挿入口38から挿入して、単位リードフレーム3
aにおけるタブに塗布されたAgペースト40上にポン
ディングし得るように構成されている。
さらに、本実施例においては、フィーダ6におけるペレ
ットポンディングステージ30の土浦側領域には防錆処
理剤除去ステージ50が設定されており、このステージ
50には第3ヒートブロンク51が、ガイドレール7に
前記ペレットポンディングステージ30における第2ヒ
ートブロツク31に隣合うように配されて設備されてい
る。この第3ヒートブロツク51はそのヒータ51aに
より、第1ヒートブロツク21および第2ヒートブロツ
ク31とは各別に温度制御されるように構成されている
。
ットポンディングステージ30の土浦側領域には防錆処
理剤除去ステージ50が設定されており、このステージ
50には第3ヒートブロンク51が、ガイドレール7に
前記ペレットポンディングステージ30における第2ヒ
ートブロツク31に隣合うように配されて設備されてい
る。この第3ヒートブロツク51はそのヒータ51aに
より、第1ヒートブロツク21および第2ヒートブロツ
ク31とは各別に温度制御されるように構成されている
。
この防錆処理剤除去ステージ50の領域に配設されてい
るm3ヒートブロツク51には、防錆処理剤を除去し、
かつ、多連リードフレーム3を還元するための還元性ガ
ス52を供給する手段としてのガス供給装置53が設備
されており、この供給装置53は吹出口54を備えてい
る。吹出口54は多連リードフレーム3の周囲に還元性
ガス52を暖やかに吹き出し得るように、ヒートブロッ
ク51の上面に複数個開設されており、この吹出口54
群にはガス供給路55が接続されている。
るm3ヒートブロツク51には、防錆処理剤を除去し、
かつ、多連リードフレーム3を還元するための還元性ガ
ス52を供給する手段としてのガス供給装置53が設備
されており、この供給装置53は吹出口54を備えてい
る。吹出口54は多連リードフレーム3の周囲に還元性
ガス52を暖やかに吹き出し得るように、ヒートブロッ
ク51の上面に複数個開設されており、この吹出口54
群にはガス供給路55が接続されている。
ガス供給路55はガス供給ユニット56に接続されてお
り、ガス供給ユニット56は還元性ガス、例えば、窒素
ガスおよび水素ガスから成る混合ガスを、予め設定され
た流量もって供給し得るように構成されている。
り、ガス供給ユニット56は還元性ガス、例えば、窒素
ガスおよび水素ガスから成る混合ガスを、予め設定され
た流量もって供給し得るように構成されている。
そして、フィーダ6上に被せられたカバー18の内面に
は、ガス流障害部18aが第2ヒートブロツク31と第
3ヒートプロンク51との略境目の位置に横断するよう
に配されて、第2ヒートブロツク31側のガス流と第3
ヒートブロツク51側のガス流との混流を可及的に防止
するように下向きに突設されている。
は、ガス流障害部18aが第2ヒートブロツク31と第
3ヒートプロンク51との略境目の位置に横断するよう
に配されて、第2ヒートブロツク31側のガス流と第3
ヒートブロツク51側のガス流との混流を可及的に防止
するように下向きに突設されている。
次に、前記構成に係るポンディング装置の作用を説明す
ることにより、本発明に係るポンディング方法の一実施
例を説明する。
ることにより、本発明に係るポンディング方法の一実施
例を説明する。
表面に金属と有機物とから成る防錆剤被膜3bを被着さ
れた多連リードフレーム3は、フィーダ6の上流端に設
備されたローディング装置(図示せず)によりそのガイ
ドテーブル7上に設定された防錆剤除去ステージ50に
供給されて来る。
れた多連リードフレーム3は、フィーダ6の上流端に設
備されたローディング装置(図示せず)によりそのガイ
ドテーブル7上に設定された防錆剤除去ステージ50に
供給されて来る。
なお、防錆剤を構成する有機物としては、ベンゾトリア
ゾール(C4Hs Ns ) 、ドデシルメルカプタン
(C+z[zsSH) 、プロパルギルアルコール(C
,H,OH)等が挙げられる。また、これらから成る防
錆剤被膜3bはリードフレームに浸漬法等のような適当
な手段により、約20人程度の厚さに被着されている。
ゾール(C4Hs Ns ) 、ドデシルメルカプタン
(C+z[zsSH) 、プロパルギルアルコール(C
,H,OH)等が挙げられる。また、これらから成る防
錆剤被膜3bはリードフレームに浸漬法等のような適当
な手段により、約20人程度の厚さに被着されている。
この除去ステージ50には還元性ガス52が還元性ガス
供給ユニット56によりガス供MrB55を介して吹出
口54群から吹き出されており、吹き出された還元性ガ
ス52がカバー1Bにより散逸を防止されるため、還元
ステージ50には還元性ガス雲囲気が形成されているこ
とになる。ちなみに、ベレットボンディングステージ3
0側へのガスの散逸はカバー18に突設されたガス流障
害部18aにより防止される。
供給ユニット56によりガス供MrB55を介して吹出
口54群から吹き出されており、吹き出された還元性ガ
ス52がカバー1Bにより散逸を防止されるため、還元
ステージ50には還元性ガス雲囲気が形成されているこ
とになる。ちなみに、ベレットボンディングステージ3
0側へのガスの散逸はカバー18に突設されたガス流障
害部18aにより防止される。
そして、この還元性ガス52は第3ヒートブロツク51
により、最も効果的に防錆剤除去作用が発揮される温度
(例えば、防錆剤の有機物がベンゾトリアゾールの場合
、250℃)であって、多連リードフレーム3に悪影響
を及ぼさない温度(350℃)以下に加熱される。しか
も、還元性ガス52は第3ヒートブロツク51の内部を
流通されるため、効果的に、かつ、安定的に加熱される
ことになる。
により、最も効果的に防錆剤除去作用が発揮される温度
(例えば、防錆剤の有機物がベンゾトリアゾールの場合
、250℃)であって、多連リードフレーム3に悪影響
を及ぼさない温度(350℃)以下に加熱される。しか
も、還元性ガス52は第3ヒートブロツク51の内部を
流通されるため、効果的に、かつ、安定的に加熱される
ことになる。
このようにして最も効果的に還元反応が活性化された還
元性ガス52の雰囲気に、前記防錆剤液H3bが被着さ
れた多連リードフレーム3が供給されると、vi請剤被
膜3bは効果的に分解されて完全に除去される。また、
例えば、酸化し易い銅系(tliiまたは銅合金)材料
が使用されている場合であっても、防錆剤被膜3bが除
去されたリードフレーム3の表面は確実に酸化を防止さ
れ、また、還元されることになる。
元性ガス52の雰囲気に、前記防錆剤液H3bが被着さ
れた多連リードフレーム3が供給されると、vi請剤被
膜3bは効果的に分解されて完全に除去される。また、
例えば、酸化し易い銅系(tliiまたは銅合金)材料
が使用されている場合であっても、防錆剤被膜3bが除
去されたリードフレーム3の表面は確実に酸化を防止さ
れ、また、還元されることになる。
また、多連リードフレーム3は第3ヒートブロンク51
によって加熱されることにより、次のベレットボンディ
ング作業番こ対して予熱されることになる。
によって加熱されることにより、次のベレットボンディ
ング作業番こ対して予熱されることになる。
そして、防錆剤除去ステージ50に供給された多連リー
ドフレーム3は前述した防錆剤除去、還元および予熱作
用を受けながら、フィーダ6によって歩進送りされるこ
とにより、ペレットボンディングステージ30へ順次供
給されて行く。
ドフレーム3は前述した防錆剤除去、還元および予熱作
用を受けながら、フィーダ6によって歩進送りされるこ
とにより、ペレットボンディングステージ30へ順次供
給されて行く。
このベレットボンディングステージ30にはリードフレ
ーム酸化防止用ガス32が、ガス供給装置ユニット36
により供給路35を介して吹出口34から吹き出されて
おり、吹き出された酸化防止用ガス32がカバー18に
より散逸を防止されるため、ペレットボンディングステ
ージ30には酸化防止用ガス雰囲気が形成されているこ
とになる。したがって、防錆剤被膜が除去されたリード
フレーム3はこのベレットボンディングステージ301
こ送り込まれた後も、酸化されるのを防止される。
ーム酸化防止用ガス32が、ガス供給装置ユニット36
により供給路35を介して吹出口34から吹き出されて
おり、吹き出された酸化防止用ガス32がカバー18に
より散逸を防止されるため、ペレットボンディングステ
ージ30には酸化防止用ガス雰囲気が形成されているこ
とになる。したがって、防錆剤被膜が除去されたリード
フレーム3はこのベレットボンディングステージ301
こ送り込まれた後も、酸化されるのを防止される。
ベレットボンディングステージ30に送給された多連リ
ードフレーム3には単位リードフレーム3a毎に、デイ
スペンサ39によりタブ上にAgペースト40が塗布さ
れた後、ペレット2がAgペースト40上にコレット4
1により挿着される。
ードフレーム3には単位リードフレーム3a毎に、デイ
スペンサ39によりタブ上にAgペースト40が塗布さ
れた後、ペレット2がAgペースト40上にコレット4
1により挿着される。
ペレット2がAgペースト40を介してボンディングさ
れた多連リードフレーム3は、フィーダ6によりワイヤ
ボンディングステージ27の方向へ次第に歩道送りされ
る。この送り中、多連り−ドフレーム3が第2ヒートブ
ロツク31によりAg40の硬化温度に加熱されるため
、Agペースト40は加熱硬化される。その結果、ペレ
ット2はAgペースト40から成るボンディング層によ
りリードフレームにペレットボンディングされるシとに
なる。
れた多連リードフレーム3は、フィーダ6によりワイヤ
ボンディングステージ27の方向へ次第に歩道送りされ
る。この送り中、多連り−ドフレーム3が第2ヒートブ
ロツク31によりAg40の硬化温度に加熱されるため
、Agペースト40は加熱硬化される。その結果、ペレ
ット2はAgペースト40から成るボンディング層によ
りリードフレームにペレットボンディングされるシとに
なる。
このようにして、ベレットボンディングステージ30に
おいて、ペレットボンディングを実施された多連リード
フレーム3は硬化作用を受けながら、フィーダ6によっ
て歩進送りされることにより、ワイヤボンディングステ
ージ27に順次供給されて行く。
おいて、ペレットボンディングを実施された多連リード
フレーム3は硬化作用を受けながら、フィーダ6によっ
て歩進送りされることにより、ワイヤボンディングステ
ージ27に順次供給されて行く。
このボンディングステージ27にはリードフレーム酸化
防止用ガス22がガス供給装置ユニット26により供給
路25を介して吹出口24群から吹き出されており、吹
き出された酸化防止用ガス22がカバー18により散逸
を防止されるため、ボンディングステージ27には酸化
防止用ガス雰囲気が形成されていることになる。
防止用ガス22がガス供給装置ユニット26により供給
路25を介して吹出口24群から吹き出されており、吹
き出された酸化防止用ガス22がカバー18により散逸
を防止されるため、ボンディングステージ27には酸化
防止用ガス雰囲気が形成されていることになる。
フィーダ6におけるワイヤボンディングステージ27に
おいて、リードフレーム押さえ部材20の中空部内に単
位リードフレーム3aが整合すると、多連リードフレー
ム3は間欠停止される。
おいて、リードフレーム押さえ部材20の中空部内に単
位リードフレーム3aが整合すると、多連リードフレー
ム3は間欠停止される。
続いて、リードフレーム押さえ部材20が下降されて、
中空部内における単位リードフレーム3iの外周辺部が
押さえられる。そして、このボンディングステージ27
には酸化防止用ガス雰囲気が形成されているため、単位
リードフレーム3aは酸化防止用ガス雰囲気内に浸漬さ
れる。したがって、防錆剤除去ステージ30において既
に防錆剤液111i3bを除去された多連リードフレー
ム3は酸化を確実に防止されることになる。
中空部内における単位リードフレーム3iの外周辺部が
押さえられる。そして、このボンディングステージ27
には酸化防止用ガス雰囲気が形成されているため、単位
リードフレーム3aは酸化防止用ガス雰囲気内に浸漬さ
れる。したがって、防錆剤除去ステージ30において既
に防錆剤液111i3bを除去された多連リードフレー
ム3は酸化を確実に防止されることになる。
一方、キャピラリー11においては、放!電極16がワ
イヤ5の下端に接近されてiit源回路17が閉じられ
ることにより、ワイヤ5の先端にボール5aが溶融形成
される。このとき、ボンディングステージ27に従来例
のように還元性ガス雰囲気が形成されていると、放!電
極16のアークにより還元性ガスに含まれている水素ガ
スのような可燃性ガスが引火される危険がある。
イヤ5の下端に接近されてiit源回路17が閉じられ
ることにより、ワイヤ5の先端にボール5aが溶融形成
される。このとき、ボンディングステージ27に従来例
のように還元性ガス雰囲気が形成されていると、放!電
極16のアークにより還元性ガスに含まれている水素ガ
スのような可燃性ガスが引火される危険がある。
しかし、本実施例においては、ボンディングステージ2
7には窒素ガス等のような不活性ガスによる酸化防止用
ガス雰囲気が形成されているに過ぎないため、引火の危
険性はな(、作業上、きわめて安全である。
7には窒素ガス等のような不活性ガスによる酸化防止用
ガス雰囲気が形成されているに過ぎないため、引火の危
険性はな(、作業上、きわめて安全である。
続いて、キャピラリー11がボンディングヘッド9によ
り下降されてカバー18の開口部19に挿通され、ワイ
ヤ5の先端部に形成されたポール5aが開口部19に整
合した単位リードフレーム3aにおけるベレット2のパ
ッドにjlf1着される。
り下降されてカバー18の開口部19に挿通され、ワイ
ヤ5の先端部に形成されたポール5aが開口部19に整
合した単位リードフレーム3aにおけるベレット2のパ
ッドにjlf1着される。
このとき、ベレット2が第1ヒートブロック21によっ
て加熱されているため、ポール5aはベレット2のパッ
ド上に熱圧着される。
て加熱されているため、ポール5aはベレット2のパッ
ド上に熱圧着される。
第1ボンディング部が形成された後、キャピラリー11
がXY子テーブルおよびボンディングヘッド9により開
口部19内において3次元的に相対移動され、開口部1
9に整合した単位リードフレーム3aにおける所定のり
一ド4にワイヤ5の中間部を挿着させる。このとき、リ
ード4が第1ヒートブロツク21によって加熱されてい
るため、ワイヤ5はリード4上に熱圧着される。
がXY子テーブルおよびボンディングヘッド9により開
口部19内において3次元的に相対移動され、開口部1
9に整合した単位リードフレーム3aにおける所定のり
一ド4にワイヤ5の中間部を挿着させる。このとき、リ
ード4が第1ヒートブロツク21によって加熱されてい
るため、ワイヤ5はリード4上に熱圧着される。
ちなみに、第1ヒートブロツク21は還元性ガスを活性
化させる必要がないため、その加熱温度は、半導体装置
に悪影響を及ぼさない温度であって、前記第1および第
2ボンディング部の熱圧着′4(、確保される温度、例
えば、160″C〜340 ”Cに設定すればよい。
化させる必要がないため、その加熱温度は、半導体装置
に悪影響を及ぼさない温度であって、前記第1および第
2ボンディング部の熱圧着′4(、確保される温度、例
えば、160″C〜340 ”Cに設定すればよい。
第2ボンディングが終了すると、クランパ14によりワ
イヤ5が把持され、クランパ14はキャピラリー11と
ともに第2ボンディング部に対して離反移動される。こ
の離反移動により、ワイヤ5は第2ボンディング部から
引き千切られる。その後、クランパ14によるワイヤ5
の把持が解除されるとともに、キャピラリー11が若干
上昇されることにより、ワイヤ5の先端部がポール5a
の成形に必要な長さだけ突き出される(テール出し)。
イヤ5が把持され、クランパ14はキャピラリー11と
ともに第2ボンディング部に対して離反移動される。こ
の離反移動により、ワイヤ5は第2ボンディング部から
引き千切られる。その後、クランパ14によるワイヤ5
の把持が解除されるとともに、キャピラリー11が若干
上昇されることにより、ワイヤ5の先端部がポール5a
の成形に必要な長さだけ突き出される(テール出し)。
以後、前記作動が繰り返されることにより、第1番目の
単位リードフレーム3aにおける各パッドおよびリード
についてワイヤボンディング作業が順次実施される。
単位リードフレーム3aにおける各パッドおよびリード
についてワイヤボンディング作業が順次実施される。
第1番目の単位リードフレーム3aについてのワイヤボ
ンディングが完了すると、リードフレーム押さえ部材2
0が上昇される。リードフレーム押さえ部材20が上死
点まで上昇すると、フィーダ6により多連リードフレー
ム3が1ピンチ先方に送られ、新規の単位リードフレー
ム3aが押さえ部材20内に対応するボンディングステ
ージに供給される。
ンディングが完了すると、リードフレーム押さえ部材2
0が上昇される。リードフレーム押さえ部材20が上死
点まで上昇すると、フィーダ6により多連リードフレー
ム3が1ピンチ先方に送られ、新規の単位リードフレー
ム3aが押さえ部材20内に対応するボンディングステ
ージに供給される。
以後、前記作動が操り返されることにより、多連リード
フレーム3における全ての単位リードフレーム3aにつ
いてワイヤボンディング作業が実施される。
フレーム3における全ての単位リードフレーム3aにつ
いてワイヤボンディング作業が実施される。
ところで、リードフレームとして銅系のリードフレーム
が使用され、ボンディング部に部分銀めっき等が施され
ておらず、しかも、防錆剤被膜が除去されている場合、
銅は酸化され易く、酸化膜がボンディング面に厚く形成
されるため、第2ボンディングにおけるボンダビリティ
−が低下する。
が使用され、ボンディング部に部分銀めっき等が施され
ておらず、しかも、防錆剤被膜が除去されている場合、
銅は酸化され易く、酸化膜がボンディング面に厚く形成
されるため、第2ボンディングにおけるボンダビリティ
−が低下する。
すなわち、酸化膜が形成されると、ワイヤとの金属結合
性が低下するため、ボンダビリティ−が低下する。
性が低下するため、ボンダビリティ−が低下する。
しかし、本実施例においては、リードフレームは防錆剤
除去ステージにおいてきわめて効果的に還元されるとと
もに、ペレットおよびワイヤボンディングステージに供
給された後は、酸化防止ガス雰囲気に浸漬されることに
より酸化を効果的に防止されているため、酸化され易い
銅系リードフレームが使用され、かつ、防錆処理剤が除
去されていでも、その表面に酸化膜が形成されることは
なく、その結果、ワイヤ5は良好なボンダビリティ−を
もってリード4上にボンディングされることになる。
除去ステージにおいてきわめて効果的に還元されるとと
もに、ペレットおよびワイヤボンディングステージに供
給された後は、酸化防止ガス雰囲気に浸漬されることに
より酸化を効果的に防止されているため、酸化され易い
銅系リードフレームが使用され、かつ、防錆処理剤が除
去されていでも、その表面に酸化膜が形成されることは
なく、その結果、ワイヤ5は良好なボンダビリティ−を
もってリード4上にボンディングされることになる。
ちなみに、ワイヤのリードへのボンディング時に、リー
ド4の表面に防錆剤被膜3bが被着されたままであると
、前記第2ボンディング時において、その防錆剤がワイ
ヤ5とリード4との接合面間に介在することにより、第
2ボンディング部における接合強度が低下ないしは接合
が不能になる。
ド4の表面に防錆剤被膜3bが被着されたままであると
、前記第2ボンディング時において、その防錆剤がワイ
ヤ5とリード4との接合面間に介在することにより、第
2ボンディング部における接合強度が低下ないしは接合
が不能になる。
しかし、本実施例においては、既に、多連リードフレー
ム3の表面から防錆剤は完全に除去されているため、こ
のような防錆剤の介在よるボンダビリティ−の低下は未
然に回避されることになる。
ム3の表面から防錆剤は完全に除去されているため、こ
のような防錆剤の介在よるボンダビリティ−の低下は未
然に回避されることになる。
前記実施例によれば次の効果が得られる。
0) 表面にv3DI剤等の処理剤が被着された被ボ
ンディング物にボンディングが実施される前に、この被
ボンディング物を非酸化雰囲気中で加熱して前記被着さ
れた処理剤を除去することにより、この被ボンディング
物に対するボンディング実施時に処理剤が介在するのを
回避することができるため、その処理剤介在によるボン
ダビリティ−の低下を防止することができる。
ンディング物にボンディングが実施される前に、この被
ボンディング物を非酸化雰囲気中で加熱して前記被着さ
れた処理剤を除去することにより、この被ボンディング
物に対するボンディング実施時に処理剤が介在するのを
回避することができるため、その処理剤介在によるボン
ダビリティ−の低下を防止することができる。
(2)前記(1)により、半導体装置の品質および信鯨
性を高めることができる。
性を高めることができる。
(3) リードフレームの表面に被着された防錆剤被
膜を除去するための防錆剤除去ステージをボンディング
ステージの前段階に設けるとともに、この防錆剤除去ス
テージに供給する酸化防止用ガスとして還元性ガスを使
用することにより、還元性ガスの使用量を抑制しながら
、リードフレームの適正なボンダビリティ−を確保する
ことができるため、所期の品質および信顛性を確保しな
がら、コストを低減させることができる。
膜を除去するための防錆剤除去ステージをボンディング
ステージの前段階に設けるとともに、この防錆剤除去ス
テージに供給する酸化防止用ガスとして還元性ガスを使
用することにより、還元性ガスの使用量を抑制しながら
、リードフレームの適正なボンダビリティ−を確保する
ことができるため、所期の品質および信顛性を確保しな
がら、コストを低減させることができる。
(滲 防錆剤除去ステージの温度1i1J御がペレット
およびワイヤボンディングステージから独立して実行さ
れるように構成することにより、両ボンディングステー
ジの温度に規制されずに還元性ガスの還元反応を最も効
果的に活性化させることができるため、防錆剤除去作用
売高めることができる。
およびワイヤボンディングステージから独立して実行さ
れるように構成することにより、両ボンディングステー
ジの温度に規制されずに還元性ガスの還元反応を最も効
果的に活性化させることができるため、防錆剤除去作用
売高めることができる。
(5)防錆剤除去ステージとボンディングステージとの
境界にガス流障害部を介設することにより、還元性ガス
のボンディングステージへの散逸を抑制することができ
るため、還元性ガスの使用量をより一層低減させること
ができる。
境界にガス流障害部を介設することにより、還元性ガス
のボンディングステージへの散逸を抑制することができ
るため、還元性ガスの使用量をより一層低減させること
ができる。
(6) ボンディングステージを酸化防止ガス雰囲気
に形成することにより、還元性ガスに含まれている水素
等のような可燃性ガスの引火を回避することができるた
め、ネイルボール形成のための放電電極やトーチを使用
するワイヤボンディング作業の安全性を高めることがで
きる。
に形成することにより、還元性ガスに含まれている水素
等のような可燃性ガスの引火を回避することができるた
め、ネイルボール形成のための放電電極やトーチを使用
するワイヤボンディング作業の安全性を高めることがで
きる。
(7) リードフレームを効果的に還元させるととも
に、酸化膜の形成を確実に防止することにより、良好な
金属結合性を維持して適正なボンディング、強いては製
品の品質および信較性を高めることができ、また、銅系
のように酸化され易いリードフレームであっても酸化膜
の形成を確実に防止することができるため、銅系のリー
ドフレームの使用を実現化することにより、コストの低
減化等を促進させることができる。
に、酸化膜の形成を確実に防止することにより、良好な
金属結合性を維持して適正なボンディング、強いては製
品の品質および信較性を高めることができ、また、銅系
のように酸化され易いリードフレームであっても酸化膜
の形成を確実に防止することができるため、銅系のリー
ドフレームの使用を実現化することにより、コストの低
減化等を促進させることができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、被ボンディング物表面から処理剤を除去する工
程は、ペレットおよびワイヤボンディング工程にオンラ
インに設定するに限らず、オフラインに設定してもよい
。
程は、ペレットおよびワイヤボンディング工程にオンラ
インに設定するに限らず、オフラインに設定してもよい
。
また、処理剤除去工程は、ペレットボンディング工程よ
りも前に設定するに限らず、ペレットボンディング工程
とワイヤボンディング工程との間に設定してもよい。
りも前に設定するに限らず、ペレットボンディング工程
とワイヤボンディング工程との間に設定してもよい。
処理剤除去ステージに供給される酸化防止用ガスとして
は、還元性ガスを使−用するに限らず、窒素等のような
不活性ガスを使用してもよい。
は、還元性ガスを使−用するに限らず、窒素等のような
不活性ガスを使用してもよい。
ペレットボンディング材料としては、Agペーストを使
用するに限らず、はんだ材料を使用してもよい、はんだ
材料が使用される場合、リードフレームが処理剤除去ス
テージによって還元されることにより、ボンディング床
のはんだ濡れ性が高められるため、ベレ・ントポンディ
ングの接合性を高めることができる。
用するに限らず、はんだ材料を使用してもよい、はんだ
材料が使用される場合、リードフレームが処理剤除去ス
テージによって還元されることにより、ボンディング床
のはんだ濡れ性が高められるため、ベレ・ントポンディ
ングの接合性を高めることができる。
リードフレームとしては銅系のものを使用するに限らず
、鉄−ニッケル系のリードフレーム等を使用してもよい
し、また、複数のリードフレームが一方向に配列されて
いる多連リードフレームを使用するに限らず、複数のリ
ードフレームが縦横に配列されたマルチリードフレーム
等を使用してもよい、ワイヤボンディングステージに設
置されるワイヤボンディング装置の数は、ペレットボン
ディングステージに設置されるペレットボンディング1
1tMの数より′も多くしてもよい。
、鉄−ニッケル系のリードフレーム等を使用してもよい
し、また、複数のリードフレームが一方向に配列されて
いる多連リードフレームを使用するに限らず、複数のリ
ードフレームが縦横に配列されたマルチリードフレーム
等を使用してもよい、ワイヤボンディングステージに設
置されるワイヤボンディング装置の数は、ペレットボン
ディングステージに設置されるペレットボンディング1
1tMの数より′も多くしてもよい。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるAgペーストによる
ペレットボンディング技術および熱圧着式ワイヤポンデ
ィング技ihに適用した場合について説明したが、それ
に限定されるものではなく、超音波熱圧着式や超音波式
のワイヤボンディング技術単独、さらには、プリント配
線基板への電子部品の実装技fR等のようなボンディン
グ技術全般に適用することができる。
をその背景となった利用分野であるAgペーストによる
ペレットボンディング技術および熱圧着式ワイヤポンデ
ィング技ihに適用した場合について説明したが、それ
に限定されるものではなく、超音波熱圧着式や超音波式
のワイヤボンディング技術単独、さらには、プリント配
線基板への電子部品の実装技fR等のようなボンディン
グ技術全般に適用することができる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによつ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
表面に防錆等の処理剤が被着された被ボンディング物に
ボンディングが実施される前に、この被ボンディング物
を非酸化雰囲気中で加熱して前記被着された処理剤を除
去することにより、この被ボンディング物に対するボン
ディング実施時に処理剤が介在するのを回避することが
できるため、その処理剤介在によるボンダビリティ−の
低下を防止することができる。
ボンディングが実施される前に、この被ボンディング物
を非酸化雰囲気中で加熱して前記被着された処理剤を除
去することにより、この被ボンディング物に対するボン
ディング実施時に処理剤が介在するのを回避することが
できるため、その処理剤介在によるボンダビリティ−の
低下を防止することができる。
第1図は本発明の一実施例であるボンディング装置を示
す正面断面図、 第2図はその一部省略一部切断斜視図、第3図は第1図
の■−■線に沿う側面断面図である。 l・・・ボンディング装置、2・・・ベレント、3・・
・多連リードフレーム(被ボンディング物)、3a・・
・単位リードフレーム、3b・・−防錆剤被膜、4・・
・リード、5・・・ワイヤ、5a・・・ボール、6・・
・フィーダ、7・・・ガイドテーブル、8・・・XY子
テーブル9・・・ボンディングヘッド、10・・・ボン
ディングアーム、11・・・キャピラリー(ボンディン
グツール)、12.13・・・クランパアーム、14・
・・クランパ、15・・・ガイド、16・・・放電電極
、17・・・電源回路、18・・・カバー 18a・・
・ガス流障害部、19・・・開口部、20・・・リード
フレーム押さえ部材、21・・・第1ヒートブワツク、
22・・・リードフレーム酸化防止用ガス、23・・・
酸化防止用ガス供給装置、24・・・吹出口、25・・
・供給路、26・・・ガス供給ユニット、27・・・ワ
イヤボンディングステージ、30・・・ペレットボンデ
インダステージ、31・・・第2ヒートブロツク、32
・・・酸化防止用ガス、33・・・酸化防止用ガス供給
装置、34−吹出口、35・・・供給路、36・・・ガ
ス供給ユニット、37・・・デイスペンサ用挿入口、3
日・・−コレット用挿入口、39・・・デイスペンサ、
40・・・Agペースト(ベレントボンディング材)、
41・・・コレット、50・・・防錆剤除去ステージ、
51・・−第3ヒートブロツク、52・・・還元性ガス
、53・・・還元性ガス供給装置、54・・・吹出口、
55・・・ガス供給路、56・・・ガス供給ユニット。
す正面断面図、 第2図はその一部省略一部切断斜視図、第3図は第1図
の■−■線に沿う側面断面図である。 l・・・ボンディング装置、2・・・ベレント、3・・
・多連リードフレーム(被ボンディング物)、3a・・
・単位リードフレーム、3b・・−防錆剤被膜、4・・
・リード、5・・・ワイヤ、5a・・・ボール、6・・
・フィーダ、7・・・ガイドテーブル、8・・・XY子
テーブル9・・・ボンディングヘッド、10・・・ボン
ディングアーム、11・・・キャピラリー(ボンディン
グツール)、12.13・・・クランパアーム、14・
・・クランパ、15・・・ガイド、16・・・放電電極
、17・・・電源回路、18・・・カバー 18a・・
・ガス流障害部、19・・・開口部、20・・・リード
フレーム押さえ部材、21・・・第1ヒートブワツク、
22・・・リードフレーム酸化防止用ガス、23・・・
酸化防止用ガス供給装置、24・・・吹出口、25・・
・供給路、26・・・ガス供給ユニット、27・・・ワ
イヤボンディングステージ、30・・・ペレットボンデ
インダステージ、31・・・第2ヒートブロツク、32
・・・酸化防止用ガス、33・・・酸化防止用ガス供給
装置、34−吹出口、35・・・供給路、36・・・ガ
ス供給ユニット、37・・・デイスペンサ用挿入口、3
日・・−コレット用挿入口、39・・・デイスペンサ、
40・・・Agペースト(ベレントボンディング材)、
41・・・コレット、50・・・防錆剤除去ステージ、
51・・−第3ヒートブロツク、52・・・還元性ガス
、53・・・還元性ガス供給装置、54・・・吹出口、
55・・・ガス供給路、56・・・ガス供給ユニット。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、表面に処理剤が被着された被ボンディング物にボン
ディングが実施される前に、この被ボンディング物を非
酸化雰囲気中で加熱することにより、前記被着された処
理剤を除去することを特徴とするボンディング方法。 2、被ボンディング物に対するボンディングが実行され
るボンディングステージの前段階に、被ボンディング物
を加熱することにより、この被ボンディング物の表面に
被着された処理剤を除去する処理剤除去ステージが設け
られているとともに、この処理剤除去ステージには酸化
防止用ガスが供給されるように構成されていることを特
徴とするボンディング装置。 3、前記処理剤除去ステージが、被ボンディング物を一
方向に搬送するフィーダ上におけるボンディングステー
ジの上流側に配設されていることを特徴とする特許請求
の範囲第2項記載のボンディング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1251908A JP2834218B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | ボンディング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1251908A JP2834218B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | ボンディング方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03116842A true JPH03116842A (ja) | 1991-05-17 |
| JP2834218B2 JP2834218B2 (ja) | 1998-12-09 |
Family
ID=17229747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1251908A Expired - Lifetime JP2834218B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | ボンディング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2834218B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002353378A (ja) * | 2001-05-22 | 2002-12-06 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置 |
| JP2010045160A (ja) * | 2008-08-12 | 2010-02-25 | Canon Machinery Inc | ダイボンダおよびボンディング方法 |
| JP2016127219A (ja) * | 2015-01-08 | 2016-07-11 | 三菱電機株式会社 | 半導体デバイスの製造方法および半導体デバイス |
| US12421479B2 (en) | 2021-09-16 | 2025-09-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cleaning agent and method for manufacturing semiconductor device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6065541A (ja) * | 1983-09-20 | 1985-04-15 | Shinkawa Ltd | 半導体部品の製造方法 |
-
1989
- 1989-09-29 JP JP1251908A patent/JP2834218B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6065541A (ja) * | 1983-09-20 | 1985-04-15 | Shinkawa Ltd | 半導体部品の製造方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002353378A (ja) * | 2001-05-22 | 2002-12-06 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置 |
| JP2010045160A (ja) * | 2008-08-12 | 2010-02-25 | Canon Machinery Inc | ダイボンダおよびボンディング方法 |
| JP2016127219A (ja) * | 2015-01-08 | 2016-07-11 | 三菱電機株式会社 | 半導体デバイスの製造方法および半導体デバイス |
| US12421479B2 (en) | 2021-09-16 | 2025-09-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cleaning agent and method for manufacturing semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2834218B2 (ja) | 1998-12-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR960009982B1 (ko) | 와이어 본딩 방법 및 와이어 본딩 장치 및 그 와이어 본딩 방법에 의해 생산되는 반도체 장치 | |
| JP2834218B2 (ja) | ボンディング方法 | |
| JPS62276840A (ja) | ボンデイング装置 | |
| US5087590A (en) | Method of manufacturing semiconductor devices | |
| JPH02112246A (ja) | ボンディング装置 | |
| JP2796343B2 (ja) | 半導体装置又は半導体集積回路装置及びその製造方法 | |
| JP2738753B2 (ja) | ペレットボンディング装置 | |
| JPH01256134A (ja) | ワイヤボンディング装置 | |
| JPS61101040A (ja) | ボンデイング装置 | |
| JPS63164230A (ja) | ワイヤボンディング方法 | |
| JP5056039B2 (ja) | 半導体チップの実装方法 | |
| JPH03253045A (ja) | ワイヤボンディング装置 | |
| JPH04253345A (ja) | ダイボンダー用半田供給装置 | |
| JPH01205538A (ja) | ボンディング装置 | |
| JPS63266845A (ja) | ワイヤボンデイング装置 | |
| JPS63266846A (ja) | 電子装置の製造方法および装置 | |
| JP2007311653A (ja) | 半田塗布方法および半田塗布ユニット、ダイボンダー | |
| JPH0345539B2 (ja) | ||
| JP2637430B2 (ja) | ボンディング装置及びボンディング方法 | |
| JPS59201447A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2733282B2 (ja) | 半導体装置およびそのワイヤボンディング方法、並びにその半導体装置のワイヤボンディング装置および製造方法 | |
| JP2859349B2 (ja) | ワイヤボンディング装置 | |
| JPH01280326A (ja) | 半導体装置 | |
| JP3481025B2 (ja) | ペレットボンディング装置 | |
| JP2761922B2 (ja) | ワイヤボンディング方法および装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071002 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081002 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081002 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091002 Year of fee payment: 11 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |